氢化物发生—原子吸收法的干扰产生机理及分类
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消除原子吸收法中的物理干扰的方法在化学分析中,原子吸收光谱法是一种非常重要的分析方法。
它可以用于测定金属元素、非金属元素和有机物等物质的含量。
在实际应用中,原子吸收光谱法往往会受到一些物理干扰的影响,从而导致分析结果的不准确性。
因此,如何消除这些干扰,提高原子吸收光谱法的准确性,成为了研究的重要课题。
本文将从理论和实践两个方面,探讨消除原子吸收法中的物理干扰的方法。
一、理论方面的研究1.1 背景知识介绍原子吸收光谱法是基于原子对特定波长的光有选择性吸收的原理设计的。
当样品溶液中的金属元素或非金属元素处于激发态时,它们会向基底发射出特定波长的光子。
通过测量这些光子的强度,可以计算出样品中金属元素或非金属元素的浓度。
在实际操作过程中,由于各种因素的影响,样品溶液中的元素可能会发生化学反应、挥发、吸附等现象,从而导致光子的能量发生变化,进而影响到原子吸收光谱法的准确性。
因此,需要采取一定的方法来消除这些干扰。
1.2 消除物理干扰的方法消除原子吸收法中的物理干扰,主要可以从以下几个方面入手:(1)选择合适的光源和检测器:不同的光源和检测器具有不同的波长范围和灵敏度,可以根据需要选择合适的光源和检测器,以便更好地检测样品中的元素。
例如,对于某些非金属元素,可以选择较长波长的光源和较宽波段的检测器,以减少其他元素的干扰。
(2)优化样品制备过程:样品制备过程中的各种因素,如溶剂的选择、温度、pH值等,都可能影响到样品溶液中的元素分布和性质。
因此,可以通过优化这些因素来减少物理干扰的影响。
例如,可以选择适当的溶剂并控制其浓度和pH值,以保持样品溶液的稳定性;同时还可以采用固相萃取、气相萃取等技术来提高样品的前处理效果。
(3)采用多种分析方法进行对比分析:不同的分析方法具有不同的优缺点和适用范围,可以根据需要选择合适的方法进行对比分析。
例如,可以先采用传统的原子吸收光谱法进行初步测定,然后再结合其他方法(如电感耦合等离子体质谱法、荧光光谱法等)进行进一步验证和校正。
原子吸收分析方法(氢化物发生法)氢化物发生法 As,Sb,Bi,Ge,Sn,Pb,Se,Te八种元素的最佳分析线都处于近紫外区,用常规的火焰原子汲取法会产生严峻的背景汲取,石墨炉原子汲取法的基体干扰和灰化损失比较严峻,甚至等离子放射光谱法对上述元素加上汞的检出能力都无法满足测定普通样品的需要。
氢化物发生法是按照上述八种元素的氢化物在常温下为气态,且热稳定性差的特点,利用某些能产生初生态的还原剂或者化学反应,与样品中的分析元素形成挥发性共价氢化物,并用惰性气体作载气,将氢化物蒸气导入加热的T形石英管中,氢化物受热后快速分解,将被测元素离解为基态原子蒸气,从而汲取该元素的特征放射信号。
1969年,澳大利亚的Holak首次利用氢化物发生技术测定了砷,因为砷以砷化氢的形式与基体分别,基体的干扰显然降低。
氢化物发生办法有金属酸还原体系、(钾)-酸体系以及电解法三种。
目前应用最多的是(钾)-酸体系,它的反应原理如下: NaBH4+3H2O+HCl→H3BO3+NaCI+8H+ 8H++Em+→EHn ↑+H2↑(过剩)其中,Em+为正m价的被测元素离子;EHn为被测元素的氢化物。
氢化物的形成取决于两个因素,一是被测元素与氢化合的速度,二是在酸性溶液中的分解速度。
1.氢化物发生中的干扰氢化物发生中的干扰类型主要有液相干扰和蔼相干扰。
实际样品分析中,往往会碰到不同程度的多种干扰现象,干扰机理可概括为如下七个方面。
(1)形成固态氢化物酸度是十分重要的条件,酸度不合适,既影响氢化物的生成速度,又简单产生固态氢化物和泡沫状的衍生物。
例如,测定砷时,假如酸度低,会发生如下反应: AsH3+HOAsH2→As2H4(s)+H2O As2H4→As2H2(s)+H2↑这样就削减了AsH3的生成量。
测定锑、锗时也会浮现同样问题。
(2)形成难融化合物假如待测元素与干扰元素之间生成了一种难溶于酸的化合物,则势必影响氢化物的释放效率从而引起负干扰,铜对硒的干扰比对砷的干扰强,就是由于还原产生的硒化氢与溶液中的铜离子生成不溶性的硒化铜,而砷化铜是可溶于酸的,明显抑制干扰元素与待测元素之间形成难溶于酸的化第1页共4页。
原子吸收光谱分析中的干扰因素分析及消除方法作者:李晓杰来源:《科学与财富》2016年第31期摘要:本文主要针对原子吸收光谱分析中的干扰因素及消除方法展开了分析,通过结合具体的试验实例,对原子吸收光谱分析中的干扰因素作了详细的阐述,并给出了相应的消除方法,以期能为有关方面的需要提供参考借鉴。
关键词:原子吸收光谱法;干扰;消除方法;分析所谓的原子吸收光谱法,是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光范围的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量为基础的分析方法。
在实际的应用过程中,会存在着一定的干扰因素,因此,为了原子吸收光谱法试验的科学和准确,就需要采取有效的消除方法对感染因素做好应对。
基于此,本文就原子吸收光谱分析中的干扰因素及消除方法进行了分析,相信对有关方面的需要能有一定的帮助。
1 原子吸收光谱分析中的干扰因素及其消除方法1.1 物理干扰及其消除方法物理干扰是指试样在转移、蒸发和原子化过程中,由于试样的任何物理变化而引起的原子吸收强度变化的效应。
物理干扰是一种非选择性干扰,对试剂中各元素的影响基本上是相似的。
吸样毛细管的长度和直径、溶剂的蒸气压、溶液的黏度、雾化器的压力以及侵入试剂溶液中的深度这些因素都会影响进样速度,从而影响到分析元素的原子化效率。
消除物理干扰的主要方法有:(1)配制与分析试样组成相似的标准系列溶液制作校正曲线,这是最常用的方法。
(2)配置与分析试样组成相似的标准溶液有困难时,可用标准加入法,可以提高测定的准确度。
(3)试样中分析元素浓度较高时,在灵敏度能满足要求的情况下,可以采用稀释溶液的方法减小或消除物理干扰。
(4)用双道原子吸收分光光度计时,以待测元素与内标元素的原子吸收强度比制作校正曲线进行定量,可以有效地消除物理干扰。
(5)在电热原子吸收光谱法中,加入某种化学改进剂与待测元素生成难挥发化合物,可以消除在干燥与灰化过程中的物理干扰。
1.2 化学干扰及其消除方法化学干扰是指在试样溶液中或气相中分析元素与共存物质之间的化学作用而引起的干扰效应,它主要影响分析元素化合物的解离与原子化的速度和程度,降低原子吸收信号。
原子吸收四大干扰因素及解决方法原子吸收分析主要存在4大干扰,分别是:光谱干扰、物理干扰、化学干扰、背景干扰。
今天为大家解释一下干扰形成因素,及相应解决方法。
一、光谱干扰光谱干扰又可以划分为谱线重叠、分子吸收、光散射等几大部分。
待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全,这类干扰主要来自光源和原子化装置,主要有以下几种:1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。
2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射换用纯度较高的单元素灯减小干扰。
3.灯的辐射中有连续背景辐射。
用较小通带或更换灯二、物理干扰及抑制试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应,主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小等。
可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。
三、化学干扰及抑制指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,主要影响到待测元素的原子化效率,是主要干扰源。
化学干扰的类型(1)待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物,致使参与吸收的基态原子减少。
例:a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。
(2)待测离子发生电离反应,生成离子,不产生吸收,总吸收强度减弱,电离电位≤6eV的元素易发生电离,火焰温度越高,干扰越严重,(如碱及碱土元素)。
化学干扰的抑制主要的方法有:使用高温火焰、加入适量的释放剂或保护剂。
1)利用高温火焰。
高温火焰的温度较高,所以会对样品产生蒸发、熔融等现象的发生。
在低温火焰试验中遇到的问题在高温火焰的试验中完全不用担心发生。
例如:在研究对高温火焰中磷酸根的干扰就不需要加钙来进行。
2)加入释放剂。
在高温火焰中对元素的干扰产生化合物时,再加入一种元素,使它与干扰的元素进行反应最终形成抗元素,形成的抗元素大多都挥发性很强,通过化学反应释放出所需要的元素,所以开始加的那种物质就被称为释放剂。
其中最常见的释放剂是氯化锶和氯化镧。
吴 鸣 吉林省梅河口市产品质量检验所摘要:原子吸收光谱法可以对60多种金属元素和部分非金属元素来进行测量。
这种测定方法不但速度快,方法简便,而且检测结果比较精准。
和其他检测仪器比起来,其设施费用要低一些。
文章主要介绍了原子吸收法中存在的干扰现象及其消除方法。
关键词:原子吸收光谱;干扰;消除中图分类号:O652 文献识别码:A 文章编号:1001-828X(2016)001-000388-01一、前言我国从80年代开始在检测重金属方面使用原子吸收光谱法,且使用范围越来越广。
不过该方法存在干扰因素,包括光谱干扰以及非光谱干扰两种类型。
光谱干扰是因为测定仪器内部出现了问题而造成的,非光谱干扰则包括化学和物理等干扰。
二、干扰类型和消除方法(一)光谱干扰及消除1.多重谱线干扰多重谱线干扰指的是光谱通带里同时存在几条发射线,并且这些发射线都参与到吸收当中。
像Co等过渡族元素就很容易出现这种情况。
要是这几条发射线的波长都差不多,那它们就很容易在同一个时候参与吸收,因为这些谱线的吸收系数比主线的吸收系数要低,因而导致光度计的灵敏度降低,造成其工作曲线出现弯曲的情况。
理论研究和实验结果表明,干扰的大小取决于吸收线重叠程度,干扰元素的浓度及其灵敏度。
当两种元素的吸收线的波长差小于0.03nm时,则认为吸收线重叠干扰是严重的。
消除方法:可以根据实际情况降低检测的狭缝宽度,不过需要注意的是,如果狭缝宽度太低的话会因为信噪比下降,造成光度计的灵敏度下降,影响测定。
2.非吸收线干扰在分析线的周围可能会存有一些不是等待检测元素的谱线,这部分谱线也许是检测元素的吸收线,也许是等待检测元素的非吸收线。
这些谱线会对光度计产生干扰,造成工作曲线出现弯曲。
消除方法:将光谱通带减小到能够把非吸收线分离出来,所以需要将狭缝宽度降低到一定位置。
3.背景吸收背景吸收分为分子吸收与光散射两种。
这两种干扰的程度不一,但其消除方法是一样的。
消除方法:如果是火焰原子吸收可以采取归零的方式来解决,如果是石墨原子吸收的背景则需要选择合适的干燥灰化,并确定好合适的原子化的温度或者石墨管的改造来进行消除。
任务名称:在原子吸收分光光度法中存在的干扰一、引言原子吸收分光光度法是一种常用的分析化学技术,用于测定溶液中的金属元素含量。
然而,在使用原子吸收分光光度法时,我们经常会面临干扰的问题。
干扰是指其他物质对于分析结果的影响,这些物质可以导致偏高或偏低的测量结果,从而降低了分析的准确性和可靠性。
本文将探讨原子吸收分光光度法中存在的常见干扰及其影响,并介绍一些常用的干扰消除方法。
二、常见干扰及其影响2.1 矩阵干扰矩阵干扰是指样品基质中其他成分对分析目标的吸收光谱造成的干扰。
这种干扰主要是由于基质吸收和散射引起的,在光谱中呈现为连续的背景信号。
矩阵干扰会导致分析结果的偏高或偏低,从而降低了准确性。
2.2 吸收光谱干扰吸收光谱干扰是指其他物质对于分析目标的吸收光谱产生的干扰。
这种干扰主要是由于其他物质吸收光谱的重叠引起的,使得分析结果的准确性受到影响。
例如,当分析目标的吸收峰与其他物质的吸收峰重叠时,就会造成测量结果的偏低。
2.3 蒸汽干扰蒸汽干扰是指样品中挥发性物质在原子化过程中产生的干扰。
这些挥发性物质会与分析目标竞争吸收光谱,从而影响测量结果的准确性。
蒸汽干扰主要表现为测量结果的偏高。
2.4 谱线干扰谱线干扰是指其他金属元素对于分析目标的谱线产生的干扰。
这种干扰主要是由于各个金属元素的谱线之间的重叠引起的。
谱线干扰会导致测量结果的偏高或偏低。
三、干扰消除方法3.1 校正方法校正方法是通过添加标准物质进行校正,消除干扰的影响。
其中,内标校正和外标校正是常用的校正方法。
•内标校正:在分析样品中添加已知浓度的内标物质,利用内标物质和分析目标之间的关系进行校正。
内标校正可以消除矩阵干扰和吸收光谱干扰。
•外标校正:通过添加已知浓度的标准物质进行校正。
外标校正可以消除矩阵干扰、吸收光谱干扰和谱线干扰。
3.2 预处理方法预处理方法是在样品分析之前对样品进行处理,以消除干扰的影响。
常用的预处理方法包括稀释、萃取和蒸馏等。
原子吸收分析中常见的四大干扰的原因和消除办法定义:试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应,主要影响试样喷入火焰的速度、进样量、雾化效率、原子化效率、雾滴大小等。
因素:溶液的粘度、表面张力、密度、溶剂的蒸汽压和雾化气体的压力等。
特点:物理干扰是非选择性干扰,对各种元素影响基本相同。
消除方法:1) 配置相似组成的标准样品,采用标准加入法;2) 尽可能避免使用粘度大的硫酸、磷酸来处理试样;3) 当试样浓度较高时,适当稀释试液也可以抑制物理干扰。
定义:待测元素与其它组分之间的化学作用,生成了难挥发或难解离的化合物,使基态原数目减少所引起的干扰效应。
主要影响到待测元素的原子化效率,是主要干扰源。
特点:化学干扰是选择性干扰。
因素:1) 分子蒸发:待测元素形成易挥发卤化物和某些氧化物,在灰化温度下蒸发损失;2) 形成难离解的化合物(氧化物、炭化物、磷化物等);3) 氧化物:较难原子化的元素B、Ti、Zr、V、Mo、Ru、Ir、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、U;4) 很难原子化的元素:Os、Re、Nd、Ta、Hf、W;5) 炭化物:Be、B、Al、Ti、Zr、V、W、Si、U稀土等形成难挥发炭化物;6) 磷化物:Ca3PO4等。
消除方法:1) 提高火焰温度使得难解离的化合物较完全基态原子化。
2) 加入释放剂,与干扰元素生成更稳定或更难挥发的化合物,使待测元素释放出来。
常用的释放剂:LaCl3、Sr(NO3)2等。
(如:火焰原子吸收法测定钙,磷酸盐的存在会生成难挥发的Ca2P2O7,此时可以加入LaCl3,则La3+与PO43-生成热更稳定的LaPO4,抑制了磷酸根对钙测定的干扰。
)3) 加入保护剂,待测元素形成稳定的络合物,防止待测元素与干扰物质生成难挥发化合物。
常用的保护剂:EDTA、8-羟基喹林、乙二醇等。
(如:火焰原子吸收法测定钙,磷酸盐的存在会生成难挥发的Ca2P2O7,加入EDTA,生成EDTA-Ca 络合物,该络合物在火焰中易于原子化,避免磷酸根与钙作用。
一. 氢化物发生-原子荧光光谱法基本原理1.2.概述原子荧光光谱分析是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术,它具有原子吸收和原子发射光谱两种技术的优势并克服了其某些方面的缺点,是一种优良的痕量分析技术。
1974年,Tsujii 和Kuga 将氢化物进样技术与非色散原子荧光分析技术相结合,实现了氢化物发生—原子荧光光谱分析(HG-AFS )。
氢化物发生—原子荧光光谱法是样品溶液中的待测元素(As 、Sb 、Bi 、Ge 、Sn 、Pb 、Se 、Te 等)经与还原剂硼氢化钾(钠)反应转换为挥发性共价化合物,借助载气流将其道入原子化器中原子化为基态原子,基态原子吸收激发光源特定波长(频率)的能量(辐射)而被激发至高能态,而后,激发态原子在去激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光,荧光强度与样品溶液中的待测元素浓度之间具有正比关系,据此进行待测元素的定量分析的。
I f =aC+b3.特点(1)干扰少,谱线简单。
待测元素与可能引起干扰的样品基体分离,消除了光谱干扰,仅需分光本领一般的分光光度计,甚至可以用滤光片等进行简单的分光或用日盲光电倍增管直接测量。
(2)灵敏度高,检出限低。
(3)操作简单,适合于多元素同时测定,宜于实现自动化。
(4)不同价态的元素氢化物发生实现的条件不同,可进行价态分析。
(5)硼氢化钾(钠)—酸还原体系,在还原能力,反应速度,自动化操作,干扰程度以及适用的元素数目等诸多方面都表现出极大的优越性。
4. 激发光源激发光源是原子荧光光谱法仪的主要组成部分,一个理想的激发光源应具有(1)强度高,无自吸,(2)稳定性好,噪声低,(3)辐射光谱重复性好,(4)操作容易,不需复杂的电源,(5)使用寿命长,(6)价格便宜,(7)发射的谱线要足够纯。
原子荧光法中所用的光源有:(1)蒸气放电灯,(2)连续光源—高压汞氙灯,(3)空心阴极灯,(6)无电极放电灯,(7)电感耦合等离子体,(8)温梯原子光谱灯,(9)可调谐染料激光。
氢化物发生—原子吸收法的干扰产生机理及分类
0 引言
Delina曾经对氢化物发生-原子吸收法中的干扰做了系统的分类,大致可以分为液相干扰和气相干扰俩大类,其中液相干扰又可以分为发生过程中的动力学干扰和发生效率干扰,而气相干扰又可以分成物理干扰和化学干扰,物理干扰又可以分成传输过程中的动力学干扰和传输效率干扰,化学干扰可以分为游离基数量引起的干扰和分析元素原子的衰减。
1 干扰的分类及定义
液相干扰产生在氢化物发生形成或形成的氢化物从样品溶液中逸出的过程中,它是由于氢化物发生速度的改变或者是由于发生效率的改变,即转化为氢化物的百分比的改变而引起的,气相干扰是氢化物传输过程中或在原子化器中产生的,可以分为传输过程干扰和原子化器中的干扰。
传输过程干扰发生在氢化物从样品溶液到原子化器的途中,包括分析元素氢化物的传输速度(传输动力学干扰)和损失(传输效率的干扰)引起的干扰。
原子化过程中的干扰包括游离基数量及分析元素原子的衰减所引起的干扰,其中产生游离基干扰的原因是干扰元素争夺游离基使其不够用来使分析元素原子化,产生分析元素衰减的原因是干扰元素加速了光路中游离的分析元素原子的衰减。
所谓“记忆性”干扰是指某种元素产生造成气相干扰之后,即使在以后的溶液中不含有该元素,干扰也继续存在,即存在着记忆效应。
Delina提出的氢化物干扰是目前较为系统和细致的分类,这种分类方法原则上也适用于氢化物发生-原子荧光光谱法。
2 判别气相和液相干扰的方法
要想有效的客服干扰,就必须首先分清干扰是在液相还是在气相中产生,文献中曾经在判别气相和液相干扰方面做过一些工作。
2.1 同位素示踪法
Delina用示踪原子的方法来判别锡、砷、锑、铋、碲、铅、汞对硒的干扰,75Se进行试验,加入硼氢化钠产生氢化物之后,样品溶液与清洗的去离子水一同转移至测定的小瓶中,然后测定其放射性,并计算出溶液中残余的Se含量,在另外的实验中将填有活性炭的塑料管代替原子化器装在发生器的出口处,然后用同样方法测定活性炭吸收的SeH4的放射性,由此计算出Se发生的含量,实验发现汞和铅不产生干扰,只有砷和铋产生液相干扰,锡、砷、锑、铋、碲、产生很强的气相干扰,这种方法比较直观,但是由于使用了示踪原子,一般的实验室较难发现。
2.2 双发生器法
表1
将俩个基本一致的发生器(A和B)的出口相接再引入原子化器中,实验时分三个步骤。
一、在A发生器中加入被测元素M及共存元素N,B发生器中加入空白溶液,测得信号值为A合;二、A发生器中加入被测元素M,B发生器中加入干扰元素N,测得信号为A分;三、A发生器中加入被测元素,B发生器中加入空白溶液,测得信号为A标,根据测量的结果即可判断干扰属于气相干扰还是液相干扰,判断的准则如表1。
3 液相干扰的机理
Smith曾系统的研究了氢化物法中的干扰,发现铜、钴、镍、铁等过渡元素对氢化物的发生存在较严重的干扰,另外绝大部分可形成氢化物元素之间也存在严重的相互干扰,他认为在溶液中的干扰可能是由于干扰成分优先还原成其他的价态或金属,它可能引起共沉淀,也可能吸附氢化物并使其接触分解以致氢化物的发生减慢或停止,此外还可能由于干扰元素消耗了一部分硼氢化钠,使其有效浓度降低,造成分析元素还原不充分。
Pierce和Brown发现改变硼氢化钠和盐酸的加入顺序所得到的分析数据会有很大差别,如先加入硼氢化钠就会有黑色沉淀出现,这其中,当Cd2+、Co2+、Fe2+、Pb2+、存在时最为明显,除Cd2+以外,这些沉淀都抑制硒的测量信号,他们认为这是由于干扰离子与硒竞争还原而消耗了还原剂。
Kirkbright和Taddia也注意到当存在镍、钯、铂时,加入还原剂后形成非常细的分散沉淀,并发现测砷时加入镍粉会将信号完全抑制,他们指出镍和其他ⅤIII元素是氢化作用的催化剂,能大量吸收氢气,因此分散的金属微粒可能捕集和分解氢化物。
Mayer等对测定硒做了仔细研究,他们指出,所形成的SeH4通过溶液时有可能与干扰金属的自由离子形成难溶的硒化物或形成稳定的复合物,这种气液反应取决于SeH4向气液界面扩散的速度和溶液中干扰离子的浓度。
Welz和Melcher专门研究了氢化物发生-原子吸收法中过渡元素的干扰机理,在研究液相干扰时,于一系列发生瓶中产生氢化物之后分别导入一个含有铜、钴、镍、铁干扰元素的酸性溶液中,这样由于干扰金属离子不与硼氢化钠溶液接触,因而就不还原和生成沉淀,将上述情况下测得的结果与将干扰元素直接加在反应瓶中(这是将还原产生沉淀)得到的结果比较,证明:细小分散的沉淀对SeH4的捕集和分解是主要的干扰机理,Welz的方法虽然比较简单、实用,但是这种方法很难区分干扰是由于细小分散的沉淀夹带着被测元素,还是由于微粒对氢化物的吸附或催化分解,我们认为,采用双发生器法,但是不将发生器并联连接,而是将其串联连接将有可能更深入的研究相干扰得机理,由于在第二个瓶中同步加入硼氢化钠,所生成的氢化物将通过同时生成的微粒,这将有助于进一步判断干扰是由于共沉淀还是由于吸附或催化分解。
Fleming和Ide曾报道过在测定钢中的锑含量时,加入碘化物将五价锑还原为三价锑,大部分干扰消除了,这个实验现象饮起了Welz和Micher的注意,他们研究了钴、镍、铁对不同价态砷的干扰,发现过渡金属元素对测定五价砷的干扰比对三价砷的干扰严重得多,同时通过记录仪记录到五价砷的发生比三价砷的发生速度缓慢,对这些现象他们解释为由于五价砷的氢化物形成和发生比三价砷慢一段时间,而在这段时间内干扰金属的沉淀将形成的更加完全,因而带来更大的干扰,这就进一步支持了气固反应的干扰机理,Welz和Micher还报道了测定砷和硒时,三价铁有减轻镍干扰的作用。
根据电化学电位:
Fe3++e-= Fe2+ 0.77V
Ni2++2e-= Ni -0.23V(下转第275页)
(上接第258页)Fe2++2e-= Fe -0.41V
Fe3+将比Ni2+优先还原为Fe2+,从而阻滞或减慢了镍金属沉淀的生成,因而减小了气固反应的干扰。
许多文献报了酸度对干扰有很大的影响,并发现适当的增加酸度可以减少过
渡金属的干扰,Kirkbright和Taddia解释为酸度增加可以加大被还原的干扰元素金属的溶解度,从而使干扰降低,Welz和Melcher通过实验也得到了一样的结论,并且指出,许多人提出的加浓硝酸到0.5M盐酸中可以降低VII、IB族元素存在时对硒的干扰,也支持了上述理论,因为这些干扰元素在硝酸与盐酸的混合酸溶液中有很好的溶解度。
实际上,酸度不但可以增加把金属微粒的溶解度,而且直接决定还原反应的电位。
液相干扰主要是由于气固反应引起的,认为干扰是由于争夺试剂的说法证据并不充分,在一般情况下多加试剂并不能减少液相干扰。
4 气相干扰
气相干扰是由于挥发性的氢化物引起的,一般是指可形成氢化物元素之间在传输及原子化过程中的相互干扰.
5 小结
以上总结了干扰的种类以及产生机理,应用于实际情况,取得了良好的效果。