织构分析

残余奥氏体含量测定 xrd物相法织构法残余奥氏体是指在金属材料中保留的奥氏体相，它对材料的力学性能和耐腐蚀性能有重要影响。

因此，准确测定残余奥氏体的含量对于材料的性能评估和工程应用至关重要。

XRD（X射线衍射）是一种常用的物相分析方法，通过测量材料的衍射峰来确定样品中的晶体结构和组成。

在残余奥氏体含量测定中，XRD 可以用来确定样品中奥氏体相的含量。

XRD 方法的基本原理是利用入射的 X 射线与晶体中的原子发生衍射，衍射的角度和强度可以提供有关晶体结构和组成的信息。

对于奥氏体相的测定，常用的 XRD 方法是通过测量奥氏体相的特征衍射峰的强度来计算其含量。

织构法是一种用来描述材料晶体取向分布的方法。

在残余奥氏体含量测定中，织构法可以用来分析材料中奥氏体相的取向分布情况。

织构分析可以提供有关材料力学性能的重要信息，特别是在材料加工过程中，奥氏体相的取向分布对材料的力学性能有着显著的影响。

织构分析主要通过测量材料的衍射峰的强度和位置来获得晶体取向分布的信息。

常用的织构分析方法包括极坐标图法、奥氏体取向分布图法等。

通过对衍射峰的分析，可以得到奥氏体相的取向分布函数，进而计算出残余奥氏体的含量。

在实际应用中，XRD 物相法和织构法通常是结合使用的。

首先，利用 XRD 方法确定样品中奥氏体相的含量；然后，使用织构法分析奥氏体相的取向分布。

通过这两种方法的综合应用，可以准确测定残余奥氏体的含量，并获得关于材料晶体结构和组成的详细信息。

XRD 物相法和织构法是测定残余奥氏体含量的重要方法。

它们不仅可以提供关于奥氏体相含量和取向分布的信息，还可以为材料的性能评估和工程应用提供有价值的参考。

在实际应用中，我们可以根据具体的需求选择合适的方法，并结合其他分析技术进行综合分析，以获得更全面的材料性能评估结果。

怎么用极图分析材料的织构篇一：材料分析方法XRF1．基本原理X射线管产生入射X射线（一次射线），照射到被测样品上。

样品中的每一种元素会放射出具有特定能量特征的二次X射线（荧光X射线）。

二次X射线投射到分光晶体的表面，按照布拉格定律产生衍射，不同波长的荧光X射线按波长顺序排列成光谱。

这些谱线由检测器在不同的衍射角上检测，转变为脉冲信号，经电路放大，最后由计算机处理输出。

2．XRF样品制备理想待测试样应满足的条件有足够的代表性（因为荧光分析样品的有效厚度一般只有10～100μｍ；试样均匀；表面平整、光洁、无裂纹；试样在Ｘ射线照射及真空条件下应该稳定、不变型、不引起化学变化；组织结构一致!3．特点，应用范围X射线光谱分析技术是一种化学成分分析，相对于传统的化学分析，最大的优点就是无损检测，应用领域及其广泛，如：冶金、材料、地质、环境及工业等。

它具有分析速度快、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单，光谱干扰少等优点。

X射线荧光光谱分析不仅可以分析块状、粉末还可以分析液体样品。

4.XRF与传统化学分析相比无损检测、重复性高、分析速度快、测试过程简单5.XRF与icP仪器法相比icP需要融掉样品，相对于XRF样品前处理较复杂icP的基体效应小，微含量元素测量占优势，而XRF对高含量元素测量准确度更高第一章X射线内应力的测定1．第i类应力（σⅠ）：在物体宏观较大体积或多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。

此类应力释放会使物体宏观体积或形状发生变化，称之为“宏观应力”或“残余应力”。

衍射效应：能使衍射线产生位移。

第ii类内应力（σⅡ）：在一个或少数个晶粒范围内存在并保持平衡的内应力。

衍射效应：引起线形变化（峰宽化）。

第iii类应力（σⅢ）：在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。

衍射效应：能使衍射强度减弱。

2.X射线应力测定的基本原理通过测定弹性应变量推算应力（σ=Eε）。

通过晶面间距的变化来表征应变（σ=Eε=E△d/d0）晶面间距的变化与衍射角2θ的变化有关。

织构的测定一、定义定义多晶体材料中的各个晶粒，因为某种原因使其取向形成某种有规律的集中的象称为择优向向形成某种有规律的集中的现象，称为择优取向，具有择优取向的组织称为织构。

二、织构的分类1、根据织构的形成方式分1)气态凝聚织构2)液态凝聚织构3)电解沉淀织构4)形变织构5))再结晶织构2根据取向方式分2、根据取向方式分1)丝织构在多晶材料中,某一晶向<uvw>与该材料的某一在多晶材料中某晶向<>与该材料的某宏观特定方向平行或对称分布,而其它晶向不受任何限制。

其中的宏观特定方向称为织构轴。

何限制其中的宏观特定方向称为2、板织构金属在受到较复杂的应力作用时，如在轧制过金属在受到较复杂的应力作用时如在轧制过程中，金属沿轧制方向（RD）要伸长，厚度方向要减薄，而沿横向（TD）的宽度基本保持不变，要减薄而沿横向（TD）的宽度基本保持不变因此这时晶粒的取向即受轧制方向的限制，也受轧面的限制，形成所谓板织构。

板织构均以某一个晶面（hkl）平行于某一个特殊面，称为织构面，某晶向平行于某特殊方向，某晶向平行于某一特殊方向[uvw]，称为板织构的织构轴。

三、织构的表示方法1、指数表示法丝织构，用平行于织构轴的晶向指数表示1）丝织构，用平行于织构轴的晶向指数<uvw>表示。

如冷拔钢丝中，绝大多数晶粒的[111]方向都平行于拔丝方向，则记为<111>（或[111]）。

于拔方向，则记为或[]如果试样中有两种或两种以上的晶向平行于拉伸方向，称为双重织构或多重织构，表示为：伸方向称为双重织构或多重织构表示为：<u1v1w1>+ <u2v2w2>+ <u3v3w3>+…..2）板织构，同时标明各晶粒平行于轧面及轧向的晶2）板织构面指数（hkl）和晶向指数[uvw]，表示为（hkl）[]（或{hkl}<>）[uvw]（或{hkl} <uvw> ）。

织构分析1-丝织构材料研究方法南京理工大学材料学院·朱和国课程内容织构及其表征丝织构的测定择优取向：多晶材料在制备和加工过程中，部分晶粒取向规则分布的现象。

把具有择优取向的这种组织状态称为“织构”。

织构：多个晶体的择优取向形成了多晶材料的织构，织构是择优取向的结果。

织构分类：根据择优取向分布的特点分为：1）基本概念丝织构：是指多晶体中晶粒中的某个晶向<uvw>与丝轴或镀层表面法线平行，晶粒取向呈轴对称分布的一种织构，主要存在于拉、扎、挤压成形的丝、棒材以及各种表面镀层中。

面织构：是指一些多晶材料在锻压或压缩时，多数晶粒的某一晶面法线方向平行于压缩力轴向所形成的织构。

常用垂直于压缩力轴向的晶面{hkl}表征。

板织构：是指多晶体中晶粒的某晶向<uvw>平行于轧制方向（简称轧向），同时晶粒的某晶面{hkl}平行于轧制表面（简称轧面）的织构。

板织构一般存在于轧制成形的板状、片状工件中。

注意：面织构可以看成板织构的特例，本书仅介绍丝织构和板织构。

织构影响衍射强度的分布，多晶衍射锥与反射球的交线环不再连续，形成不连续的弧段。

2）织构的表征通常有以下四种方法：1）指数法2）极图法3）反极图法4）三维取向分布函数法一）指数法指采用晶向指数或晶面指数与晶向指数的复合共同表示织构的方法。

指数法特点：能够精确、形象、鲜明地表达织构中晶向或晶面的位向关系，但不能表示织构的漫散（偏离理想位置）的程度，而漫散普遍存在于织构的实际测量中。

uvw {}hkl uvw{hkl }多晶体居于参考球心中央，某一个设定的{hkl}晶面的法线与球面的交点（极点），然后极射赤面投影所获得图。

投影面：宏观坐标面板织构为扎面，丝织构为丝轴平行或垂直的平面。

极图多用于板织构，丝织构一般不需要测定极图。

[110](a) 无织构的{100}极图(b) 冷拔铁丝{100}极图（投影面平行丝轴[110]）(c){100}板织构极图极图能够较全面地反映织构信息，在织构强的情况下，根据极点的几率分布能够判断织构的类型与漫散情况。

织构分析1-丝织构材料研究方法南京理工大学材料学院·朱和国课程内容织构及其表征丝织构的测定择优取向：多晶材料在制备和加工过程中，部分晶粒取向规则分布的现象。

把具有择优取向的这种组织状态称为“织构”。

织构：多个晶体的择优取向形成了多晶材料的织构，织构是择优取向的结果。

织构分类：根据择优取向分布的特点分为：1）基本概念丝织构：是指多晶体中晶粒中的某个晶向<uvw>与丝轴或镀层表面法线平行，晶粒取向呈轴对称分布的一种织构，主要存在于拉、扎、挤压成形的丝、棒材以及各种表面镀层中。

面织构：是指一些多晶材料在锻压或压缩时，多数晶粒的某一晶面法线方向平行于压缩力轴向所形成的织构。

常用垂直于压缩力轴向的晶面{hkl}表征。

板织构：是指多晶体中晶粒的某晶向<uvw>平行于轧制方向（简称轧向），同时晶粒的某晶面{hkl}平行于轧制表面（简称轧面）的织构。

板织构一般存在于轧制成形的板状、片状工件中。

注意：面织构可以看成板织构的特例，本书仅介绍丝织构和板织构。

织构影响衍射强度的分布，多晶衍射锥与反射球的交线环不再连续，形成不连续的弧段。

2）织构的表征通常有以下四种方法：1）指数法2）极图法3）反极图法4）三维取向分布函数法一）指数法指采用晶向指数或晶面指数与晶向指数的复合共同表示织构的方法。

指数法特点：能够精确、形象、鲜明地表达织构中晶向或晶面的位向关系，但不能表示织构的漫散（偏离理想位置）的程度，而漫散普遍存在于织构的实际测量中。

uvw {}hkl uvw{hkl }多晶体居于参考球心中央，某一个设定的{hkl}晶面的法线与球面的交点（极点），然后极射赤面投影所获得图。

投影面：宏观坐标面板织构为扎面，丝织构为丝轴平行或垂直的平面。

极图多用于板织构，丝织构一般不需要测定极图。

[110](a) 无织构的{100}极图(b) 冷拔铁丝{100}极图（投影面平行丝轴[110]）(c){100}板织构极图极图能够较全面地反映织构信息，在织构强的情况下，根据极点的几率分布能够判断织构的类型与漫散情况。

织构分析仪的使用方法织构分析仪，是一种广泛应用于材料科学及相关领域的仪器设备。

通过对材料内部结构的表征和分析，可以为研究者提供宝贵的信息和数据。

本文将详细介绍织构分析仪的使用方法，为初学者提供一定的指导。

一、仪器概述织构分析仪主要由样品台、测量头、控制系统等组成。

其工作原理基于电子束投射在材料表面并扫描，通过测量电子束的散射模式，得到材料内部结构的相关信息。

织构分析仪可以用于研究材料的晶体结构、相变行为、应力分布等。

二、样品准备在使用织构分析仪前，首先需要进行样品准备。

通常情况下，样品应具有一定的形状和尺寸，并且表面应平整、光洁。

如果样品表面存在较大的凹凸或瑕疵，可能会影响测量结果的准确性。

因此，在进行测量之前，需要对样品进行必要的处理，例如抛光、镀膜等，以保证样品的质量。

三、测量步骤织构分析仪的测量步骤相对较为繁琐，需要仔细操作。

以下将介绍一般的测量步骤。

1. 仪器开机与预热：按照仪器说明书中的操作步骤开启仪器，并进行必要的预热。

预热时间根据具体仪器的要求而定，通常需要几十分钟到数小时。

2. 样品安装：将经过处理的样品安装在样品台上，并使用夹具固定。

确保样品与夹具接触牢固且位置稳定。

3. 设置测量参数：根据实验需要，设置合适的测量参数。

这些参数可能包括电子束的能量、扫描速度、扫描模式等。

通常情况下，这些参数会选择在仪器的控制系统上进行设置。

4. 开始测量：确认测量参数设置正确后，点击开始测量按钮，仪器会开始进行测量。

在此过程中，织构分析仪会通过控制测量头的运动，对样品表面进行扫描，收集散射模式的数据。

5. 数据处理与分析：测量完成后，可以将测量得到的数据导入相应的软件进行处理与分析。

常用的数据分析方法包括X射线衍射、倒易空间分析等。

这些方法可以帮助研究者了解材料的晶体结构和性质。

四、注意事项在使用织构分析仪时，还需要注意一些事项以确保测量结果的准确性和可靠性。

1. 仪器操作注意安全：织构分析仪通常使用较高的电压和功率，因此在操作时需要注意安全，避免触及高压部件和高温部件。