黄金饰品X射线荧光光谱法无损检测探讨

浅谈高端珠宝首饰鉴定中的现代测试技术随着科技的不断发展，现代测试技术在珠宝首饰鉴定领域也得到了广泛的应用。

高端珠宝首饰鉴定是一项复杂而严谨的过程，需要借助先进的测试技术来确保首饰的真伪、材质和品质。

在这篇文章中，我们将浅谈一下在高端珠宝首饰鉴定中所运用的现代测试技术，以及这些技术在提升鉴定精准度和效率方面所起到的作用。

现代高端珠宝首饰鉴定中最常用的测试技术之一就是X射线荧光分析。

这项技术可以通过射入样品的X射线来激发样品发出荧光，通过测量样品荧光的能量和强度来确定样品的成分和含量。

这种非破坏性的测试方法可以准确地分析出首饰中的各种金属元素的含量，包括贵金属如黄金、铂金和银等。

通过X射线荧光分析，鉴定人员可以快速而准确地确定首饰的材质，避免了传统化学分析方法所需的繁琐步骤和耗时。

表面放射性测定技术也是高端珠宝首饰鉴定中的常用手段之一。

这项技术通过仪器测量样品表面的α和β放射性元素的特征能量和强度，进而识别和鉴定首饰中可能存在的放射性元素。

这项技术对于检测首饰中是否存在锇、铯等放射性元素具有很高的灵敏度和准确度，可以帮助鉴定人员排除来自核辐射或其他放射性污染的首饰，保障消费者的健康和安全。

红外光谱分析也被广泛应用于高端珠宝首饰的鉴定过程中。

红外光谱通过测量样品对不同波长的红外光的吸收情况，分析样品中的化学键和功能团，从而确定首饰的材质和类型。

这项技术对于检测首饰中的宝石和有机物质具有很高的准确性和精度，可以快速而准确地分析出首饰中的宝石种类和含量，避免了传统宝石鉴定方法所需的取样和加工步骤。

近年来，质谱分析技术也开始在高端珠宝首饰鉴定中得到应用。

质谱分析通过将样品化合物分子化成离子，并测量不同离子的质量比，以确定样品的化学组成和结构。

这项技术在鉴定首饰中可能存在的有机污染物、添加剂和痕量元素方面具有很高的敏感度和分辨率，可以帮助鉴定人员排除可能存在的污染和伪造行为，保障首饰的品质和可靠性。

现代测试技术在高端珠宝首饰鉴定中发挥着越来越重要的作用，通过X射线荧光分析、表面放射性测定、红外光谱分析和质谱分析等技术手段，鉴定人员可以更加准确和快速地判定首饰的材质、真伪和品质。

黄金饰品X射线荧光光谱法无损检测探讨作者：伍艳来源：《现代商贸工业》2012年第11期摘要：X荧光能谱仪主要由信号处理和数据计算、样品室、X荧光探测器、X荧光激发源四个部分构成。

X荧光能谱仪能够对黄金饰品进行无损检测，具有准确、快速、简便、不破坏黄金饰品的特点。

关键词：黄金饰品；X射线；无损检测0 引言随着经济水平的不断提高，市场上黄金饰品的样式、品种越来越多样化。

由于制作工艺的不断进步，以假乱真的伪劣黄金饰品的数量越来越多，严重侵害了消费者的利益。

因此，在不破坏黄金饰品的情况下，对饰品进行检测就显得格外重要。

1 X荧光光谱法无损检测概述1.1 X荧光在电子跃迁中，外层电子携带的能量高于内层电子携带的能量，电子从外层迁移到内层空穴后，将释放多余的能量。

能量释放的形式是电磁波，高频电磁波的频率位于X波段上时，就是一种X射线，即X荧光。

由于不同原子的电子能级存在特征性，当原子受到外界激发时，电子跃迁中的X荧光也存在特征性，存在着特定的能量与波长。

为了使被检测物质产生特征的X荧光，就应当选用较高能量的光子源激发。

通常，光子源可以选用高能量的加速离子或电子，可以选用X射线，可以选用γ射线。

通常为了进行激发，可以采取以下几种方法。

首先，源激发。

因为放射性同位素物质能够连续发出γ射线，所以可以激发X荧光。

通常，源激发采用的放射性同位素物质包括109Cd、55Fe、244Cm、241Am等。

将反射性同位素位置放置于密封的铅罐中，在铅罐上留出几十毫米或几毫米孔径的小孔，便于γ射线照射被待检测物质。

信噪比高、单色性好、重量轻、体积小、可制造简易式便携的仪器，是源激发的主要特点。

但是，源激发具有功率低的缺点，测量灵敏度与荧光前度较低。

此外，一种放射性同位素只可以分析少量的元素，在分析更多的元素时，需要混合使用多种放射性同位素源。

其次，管激发。

激发源是X射线管，即是管激发。

使用密封金属管作为X射线管，利用高压将高速阴极电子束打在Mo靶、W靶、Rh靶、Cu靶等阳极金属材料靶上，从而激发X射线。

X射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量中的技巧随着国内黄金交易市场的全面开放，无损验货接踵而来。

本文从贵金属首饰无损检测应用x荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。

一、x射线荧光分析基本原理所谓荧光，就是在光的照射下发出的光。

x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述x射线荧光的分析，确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪。

用x射线荧光分析仪测量贵金属首饰含量是一种不接触、非破坏的测试方法。

这种方法是将一束初级x射线照射被分析的样品，使样品中的每种元素的原子都发射出各自特征的x射线荧光。

于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的x射线的能量也是特定的，称之为特征x射线。

通过测定特征x射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征x射线的强弱(或者说x射线光子的多少)则代表该元素的含量。

二、x射线荧光分析仪的分类1.根据分光方式的不同，x射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪。

通过测定荧光x射线的能量实现对被测样品分析的方式称之为能量色散x射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光x射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散x射线荧光分析，相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。

2.根据激发方式的不同，x射线荧光分析可分为源激发和管激发两种:用放射性同位素源发出的x射线作为原级x射线的x射线荧光分析仪称为源激发仪器，其特点是体积较小、结构简单，价格低廉;用x射线发生器(又称x光管)产生原级x射线的x射线荧光分析仪称为管激发仪器，特点是体积较大、输出强度高且可调，价格也较昂贵。

以上我们介绍了x射线荧光分析仪的基本原理及其主要类型，下面我们着重阐述一下用x射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量所应注意避免的误区。

误区1:强调“荧光”。

过分迷信依赖大型仪器。

许多用户错误地认为只有用x光管作为激发源的管激发仪器才是x荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。

X荧光能谱技术应用于珠宝首饰检测的原理和方法发布时间：2022-03-17T01:21:29.489Z 来源：《科学与技术》2021年30期作者：凌艳华马艳[导读] 珠宝首饰的开发应用对国家的进步和社会条件的改善有很大的影响。

凌艳华马艳新疆维吾尔自治区产品质量监督检验研究院 832000摘要：珠宝首饰的开发应用对国家的进步和社会条件的改善有很大的影响。

传统的技术应用不能满足现有工作的要求，造成了很大的局限性。

X荧光能谱技术应用的提出和应用，可以更好地创新珠宝多元素分析方法，促进对元素的具体比例、应用价值和开发难度的合理控制，为珠宝未来的开发和规划做出很大贡献，X荧光能谱技术的操作需要不断完善技术设施，提高技术数据的精细化。

关键词：X荧光能谱技术；珠宝首饰检测；应用策略一、x射线荧光光谱法概述在科学技术不断发展的背景下，x射线荧光光谱法引起了广泛的关注。

作为一种更有效的检测方法，它比化学方法有更多的优点。

比较常见的方法有粉末压制法和玻璃熔化法。

其中，粉末压片法的应用受到粒度和矿物当量反应的限制，这将影响整个应用和测试过程的准确性。

另外，在实际应用过程中，只适用于对生产出来的产品进行测试。

玻璃熔片法应用比较广泛，可以有效消除颗粒尺寸反应，保持检测处理过程的准确性。

但应注意的是，珠宝首饰本身具有复杂性质的特点。

因此，为了对具体情况进行多样化的分析，有必要结合一种更有效的处理机制。

因此，x射线荧光光谱法应运而生。

该加工机构主要是借助x射线靶线完成相应的加工，全面提高精度[1]。

值得一提的是，在应用x射线荧光光谱法的过程中，一般选用内标散射射线处理方法。

这种加工机制可以在快速完成样品检测的基础上，提高操作的便利性，有效提高操作流程的合理性，操作人员可以在不添加其他内标元素的情况下，按照流程完成基本检查。

它也是内标准x射线荧光光谱法的应用，可以减少不利因素对特定测试程序的影响。

此外，由于铁珠宝首饰中钴的含量不是很多，借助内标x射线荧光光谱法可以提高标准化校准操作的及时性和完整性，真正优化相对处理的效果，保持被测样品和内标材料的应用状态，从而在一定程度上提高x射线荧光光谱法应用和管理的综合水平。

能量色散 X射线荧光光谱法测定贵金属首饰中的铅 ,汞摘要：应用能量色散x荧光光谱法分析，采用基本参数法，较好地解决了样品的大小、光洁度、形状和成分等对检测结果的影响，检测仪的高性能较好地解决了黄金饰品纯度在环境和测量条件有较大改变时对检测结果的影响，并具有较好的精密度和准确度。

在能量色散X射线荧光光谱仪上对金首饰和铂首饰的空白标样进行检测，得出铅和汞的检出限。

本文阐述了用X射线荧光光谱法进行金首饰合金中铅、镉元素的检测。

同等条件下,对各种金合金样品进行铅、镉含量的分析测试,获得检测值。

结合仪器检出限,评估检测值的校正系数,给出判定结果,最后,本文对方法实验中的影响因素进行了讨论。

关键词能量色散X荧光光谱法；金首饰；铂首饰；铅；汞0 引言x射线荧光EDXRF光谱仪，采用si-PIN探测器并具有高稳定性、高精度、高分辨率、同时分析和基于Windows2000/XP的强大分析软件功能,建立起基本参数法数学校正模型，利用该方法对基体元素的吸收增强效应进行校正，同时由于在其浓度归一化的过程中能够消去测量面积和探测立体角项,因此具有校正样品测量面积和形状影响的能力。

通过标准样品实验验证和不同黄金饰品验证以及不同检测仪器和方法的比对，证明该方法对检测黄金饰品纯度具有较好的精密度和准确度。

本方法采用能量色散X射线荧光光谱仪测定贵金属饰品中铬、镉、汞、铅、镍元素的含量。

此方法所用的仪器能率低，对人体伤害小，且样品无需过多预处理，检测快速、准确且满足GB28480-2012中定量筛选的要求。

1 方法原理当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发，使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。

较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差。

测量特征X射线能量及其强度，即可对样品进行定性和定量分析。

2 实验方法2.1 仪器与条件仪器：日本岛津EDX-720X射线荧光光谱仪；条件：温度20℃±5℃；相对湿度20%RH~80%RH；电源50~60Hz。

法医学在贵金属检测鉴定中的技术与方法贵金属的检测鉴定一直是一个重要的领域，它涉及到许多方面，包括贵金属的真伪鉴定、贵金属的纯度检测等。

在这方面，法医学的技术与方法被广泛应用，并取得了显著的成果。

本文将重点介绍法医学在贵金属检测鉴定中的技术与方法。

一、X射线荧光光谱法X射线荧光光谱法是一种常用的贵金属检测鉴定方法，它利用贵金属表面发射的特定特征线来确定贵金属的成分及含量。

通过对贵金属进行X射线照射，测量产生的荧光光谱，可以准确判断贵金属的纯度和真伪。

二、电子显微镜扫描法电子显微镜扫描法是一种高分辨率的贵金属检测鉴定技术，它可以对贵金属的微观结构和成分进行观察和分析。

通过扫描电子显微镜的显微镜头，可以获取贵金属的表面形貌和微观结构信息，进而判定其真伪和纯度。

三、紫外-可见吸收光谱法紫外-可见吸收光谱法是一种常用的贵金属检测鉴定方法，它通过测量贵金属在紫外-可见光范围内吸收或散射光的强度来确定其成分和含量。

该方法准确、快速，可用于分析贵金属的长波长吸收峰和短波长吸收峰，对于检测贵金属的真伪和纯度具有较高的有效性。

四、质谱分析法质谱分析法是一种高灵敏度、高分辨率的贵金属检测鉴定技术，它利用质谱仪对贵金属中的离子进行检测和分析。

通过对贵金属样品进行质谱分析，可以获取其分子结构和质量信息，从而判断其真伪和纯度。

五、原子吸收光谱法原子吸收光谱法是一种常用的贵金属检测鉴定方法，它利用贵金属吸收特定波长的光线来确定其成分和含量。

通过测量贵金属溶液对特定波长光线的吸收程度，可以准确分析贵金属的含量和纯度。

总结：法医学在贵金属检测鉴定中的技术与方法丰富多样，根据不同的应用需求，可以选择合适的技术和方法来进行贵金属的检测鉴定工作。

X 射线荧光光谱法、电子显微镜扫描法、紫外-可见吸收光谱法、质谱分析法和原子吸收光谱法等都是常用的技术与方法，它们在贵金属检测鉴定中发挥着重要的作用。

随着科学技术的不断发展，相信法医学在贵金属检测鉴定领域将会有更多新的突破和创新，为贵金属市场的发展保驾护航。

黄金饰品的无损检测方法——X射线荧光光谱法这里介绍作者在担任贵州黄金珠宝检测中心法人、主任时，由中心贾立宇、李兴森起草制定的，已被贵州省技术监督局1996-12-12批准，列为贵州省地方标准，1997年1月1日实施，文号DB52/T412-1996“黄金饰品的无损检测方法X射线荧光光谱法”。

1 范围本标准规定了X射线荧光光谱仪测定黄金饰品及其它黄金制品中金及杂质元素含量的办法。

本标准适用于均匀组分黄金饰品的无损检测。

2 引用标准下列标准包含的条文，通过本标准引用而构成本标准。

在标准出版时，所示版本均为有效，所有标准均会被修改，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。

GB/T14505 岩石和矿石化学分析方法总则及一般规定GB11887-89 贵金属首饰纯度命名方法3 原理样品在原级X射线激发下，各元素产生各自的二次特征X射线（荧光）辐射。

在激发条件一定的情况下，荧光辐射强度于盖元素在样品中的含量呈正比。

通过测量各元素的荧光辐射强度，并由计算机按一定数学模式计算，可以求出各元素在饰品中的含量。

测量前后，饰品结构、成分和形状均不改变，检测为无损检测。

4 仪器及材料4．1 波长色散X射线荧光光谱仪4．2 聚乙烯薄膜底托透空样品盒4．3 标准物质：首饰金系列成分分析国家标准物质5 测量5．1 环境条件：温度24 ±2℃；相对湿度<60% 。

5．2 测量条件；见附录A（提示的附录）5．3 饰品为各种款式的戒指、耳环、吊坠、手脚链、项链、鸡心等。

5．4 检测步骤5.4.1 装样。

将饰品置于样品盒中央，如遇易移动样品可用一般透明胶纸或水加以固定。

5.4.2 开主机。

5.4.3 开X射线管，升至检测所需电压、电流。

5.4.4 从计算机上调用测量程序，输入样品编号。

5.4.5 将装有样品的样品盒按顺序排列于自动进样器的塔盘上。

5.4.6 启动测量程序，仪器自动进行进样、样品室抽真空、测定、退样、计算及打印结果。

首饰金、银覆盖层厚度的测定 X 射线荧光光谱法一、概述首饰在人们生活中具有重要的地位，而金、银饰品由于其高雅的外观和不易氧化的特性，一直受到人们的喜爱。

然而，随着仿制品和劣质产品的泛滥，人们对首饰品的质量与真伪也越来越关注，确定首饰金、银覆盖层的厚度成为了一项重要的技术。

二、X 射线荧光光谱法的基本原理X 射线荧光光谱法是一种通过激发样品产生荧光来分析样品成分的分析技术。

当样品受到能量高的X 射线照射时，样品中的原子会被激发，产生荧光。

根据不同元素的能级分布，可以通过测量样品荧光的强度和能谱来确定样品中各种元素的含量。

利用X 射线荧光光谱法，可以非破坏性地快速、准确地分析样品的成分和厚度。

三、首饰金、银覆盖层厚度的测定步骤1. 样品制备：需要选择代表性的样品，并在样品表面做好清洁处理，去除表面的污垢和氧化物。

2. 仪器校准：在进行检测之前，需要对X 射线荧光光谱仪进行校准，确保仪器的准确性和稳定性。

3. 检测测量：将样品放入X 射线荧光光谱仪中，利用X 射线照射样品，测量样品表面的荧光强度和能谱分布。

4. 数据分析：根据测得的荧光强度和能谱，利用仪器内置的分析软件对数据进行处理，计算出金、银覆盖层的厚度。

四、X 射线荧光光谱法在首饰金、银覆盖层厚度测定中的应用1. 非破坏性检测：X 射线荧光光谱法无需对样品进行破坏性取样，可以直接对首饰表面进行测量，不会对样品造成任何损伤。

2. 高准确性和精度：X 射线荧光光谱法能够测量出金、银覆盖层的厚度，且具有较高的准确性和精度，可以满足首饰质量控制的需要。

3. 高效快速：X 射线荧光光谱法测量速度快，对于大批量的首饰产品，可以快速进行测量，提高生产效率。

4. 可追溯性强：X 射线荧光光谱法检测数据准确可靠，能够提供可追溯的检测结果，符合质量管理的要求。

五、结论X 射线荧光光谱法作为一种成熟的分析技术，已经在首饰金、银覆盖层厚度测定中得到了广泛应用。

它具有非破坏性、准确性高、快速高效、可追溯等特点，能够满足首饰质量控制的需求，对维护市场秩序和保护用户权益具有重要意义。

黄金饰品X射线荧光光谱法无损检测探讨X荧光能谱仪主要由信号处理和数据计算、样品室、X荧光探测器、X荧光激发源四个部分构成。

X荧光能谱仪能够对黄金饰品进行无损检测，具有准确、快速、简便、不破坏黄金饰品的特点。

标签：黄金饰品；X射线；无损检测0 引言随着经济水平的不断提高，市场上黄金饰品的样式、品种越来越多样化。

由于制作工艺的不断进步，以假乱真的伪劣黄金饰品的数量越来越多，严重侵害了消费者的利益。

因此，在不破坏黄金饰品的情况下，对饰品进行检测就显得格外重要。

1 X荧光光谱法无损检测概述1.1 X荧光在电子跃迁中，外层电子携带的能量高于内层电子携带的能量，电子从外层迁移到内层空穴后，将释放多余的能量。

能量释放的形式是电磁波，高频电磁波的频率位于X波段上时，就是一种X射线，即X荧光。

由于不同原子的电子能级存在特征性，当原子受到外界激发时，电子跃迁中的X荧光也存在特征性，存在著特定的能量与波长。

为了使被检测物质产生特征的X荧光，就应当选用较高能量的光子源激发。

通常，光子源可以选用高能量的加速离子或电子，可以选用X射线，可以选用γ射线。

通常为了进行激发，可以采取以下几种方法。

首先，源激发。

因为放射性同位素物质能够连续发出γ射线，所以可以激发X荧光。

通常，源激发采用的放射性同位素物质包括109Cd、55Fe、244Cm、241Am等。

将反射性同位素位置放置于密封的铅罐中，在铅罐上留出几十毫米或几毫米孔径的小孔，便于γ射线照射被待检测物质。

信噪比高、单色性好、重量轻、体积小、可制造简易式便携的仪器，是源激发的主要特点。

但是，源激发具有功率低的缺点，测量灵敏度与荧光前度较低。

此外，一种放射性同位素只可以分析少量的元素，在分析更多的元素时，需要混合使用多种放射性同位素源。

其次，管激发。

激发源是X射线管，即是管激发。

使用密封金属管作为X射线管，利用高压将高速阴极电子束打在Mo靶、W靶、Rh靶、Cu靶等阳极金属材料靶上，从而激发X射线。