X射线荧光分析仪操作流程

X射线荧光光谱仪的两种分析方法X射线荧光光谱仪（X-ray fluorescence spectrometer，XRF）是一种常见的化学分析仪器，可以在不破坏样品的情况下进行非破坏性的化学分析。

在XRF分析中，通过照射样品并测量样品辐射出的荧光X射线，可以确定样品中各种元素的含量。

本文介绍XRF的两种常见分析方法：定量分析和定性分析。

定量分析定量分析是通过测量样品辐射出的荧光X射线的强度，并根据已知标准样品的荧光强度与元素含量的关系，来计算样品中某种元素的含量。

在定量分析中，需要用到标准样品，这些样品已知各种元素的含量，例如NIST（美国国家标准技术研究所）的SRM（标准参考材料）。

定量分析的具体步骤如下：1.样品制备样品需要制备成薄片或颗粒状，通常需要使用磨片机或压片机进行制备。

为了获得准确的分析结果，样品制备时需要注意不要引入其他元素。

2.样品照射将样品放置在X射线荧光光谱仪中，使其受到射线照射，激发出元素的荧光X 射线。

3.测量荧光X射线利用荧光X射线探测器测量样品辐射出的荧光X射线的强度。

4.标准样品校准用标准样品进行校准，建立荧光强度与元素含量之间的关系。

对于每种元素，建立一个标准曲线。

5.计算元素含量利用标准曲线和样品荧光强度计算样品中某种元素的含量。

定性分析定性分析是通过比较样品荧光X射线的能量和强度与已知标准样品的对比，来确定样品中各种元素的类型和含量。

与定量分析不同，定性分析不需要对荧光强度进行精确的量化测量。

定性分析的具体步骤如下：1.样品制备和照射与定量分析相同。

2.测量荧光X射线与定量分析相同。

3.谱图比较将样品荧光X射线的能量和强度与标准样品进行比较，确定样品中含有哪些元素。

4.确定元素类型和含量通过谱图比较确定元素类型，通过谱峰强度的相对大小和谱图形状确定元素含量。

总结定量分析和定性分析是X射线荧光光谱仪中常用的分析方法，在各自的分析领域中都有广泛的应用。

定量分析需要进行精确的荧光强度测量和标准曲线建立，适用于需要准确测量各种元素含量的分析场合，例如矿石、环境样品等。

9/9页次1.0测试环境要求温度：10-30℃；湿度：40-70%。

2.0开机操作2.1检查液氮1)打开仪器的上盖。

2)拔出液氮罐的盖。

3)用钢尺伸进罐内，若液面低于6CM（相当于1L）,就要添加液氮。

4)添加液氮。

用A3纸做成一个漏斗放在罐口，或用毛巾围在罐口，戴上橡胶手套和护目镜，将液氮小心地倒入罐内，在液氮快满前停止添加液氮（液氮罐深18CM或总容量为3L）。

5)等待30分钟，冷却检测器。

注意：①液氮为一种极低温液体（-196℃），用来冷却检测器，添加时要防止冻伤；②若测试过程发现液氮不够，必须关闭仪器，并关闭仪器的电源才能添加液氮。

2.2依次打开UPS电源、变压器电源、EDX主机、计算机和EDX软件。

2.3监控检测器温度：点“监控”，点“Detail View”，看检测温度是否达到-180℃以下。

2.4主程序中点击“维护”。

9/9页次2.5初始化仪器：点击“初始化仪器”，听到快门和准直器动作的声音完成，且“维护”菜单下面7项内容显示为“OK”之后，可以进行下一步操作。

注意：如果3天以上没开机，就要做“光管老化”，自“2.5初始化仪器”以后做，做完后直接到“2.8仪器点检”。

光管老化操作：1)点击主程序“维护”。

9/9页次2)点击“仪器设置”，将Xray的电压、电流分别输入5kV、5uA，点击“执行启动”约一分钟，关闭窗口（注意不能点击“保存启动条件”）3)放样品A750，点击“分析”→“分析组选择”→“定量”→“Set-up X-ray-tube”→“OK”→“开始”。

此过程将自动进行老化，约75分钟。

2.6启动X光管及检测器：点击“仪器设置”，再点击“执行启动”。

9/9页次2.7预热30分钟：等待30分钟为预热X光管，让仪器处于稳定工作状态。

2.8仪器点检：用定性定量easy测试组别测试A750。

1)按EDX主机“OPEN”键打开样品室，将样品A750放在样品室测试孔上，并点击EyeXRF2k 程序打开摄像头确认对准测试部位。

X射线荧光光谱仪操作步骤1.开机准备：a.确保光谱仪的电源已连接，并且电源开关已打开。

b.确保样品槽内没有样品，并关闭样品槽。

2.调整仪器位置:a.将X射线荧光光谱仪放置在水平的台面上，并确保光谱仪的稳定性。

b.确保仪器周围环境干燥、整洁，并没有灰尘或其他污染物。

3.准备样品：a.准备待测样品，并将其切割成适当的大小和形状，以适应样品槽。

b.清洁样品表面，以去除可能存在的污垢或杂质。

4.打开软件程序：a.启动与光谱仪连接的软件程序，并确保软件正常工作。

b.在软件界面上选择合适的实验参数，例如测试时间、样品类型等。

5.样品安装：a.打开样品槽，并将待测样品放入样品槽中。

b.关闭样品槽，确保样品稳定地固定在样品槽中。

c.确保样品没有与样品槽接触，以避免可能的污染或干扰。

6.选择分析模式：a.在软件界面上选择适当的分析模式，例如定性分析或定量分析。

b.根据需要选择适当的元素库，并校准X射线荧光光谱仪。

7.启动测试：a.在软件界面上点击“开始测试”按钮，启动测试过程。

b.仪器将开始发射X射线，并对样品进行扫描和分析。

8.观察结果：a.等待测试过程完成后，软件界面将显示分析结果。

可以查看元素含量、光谱图等信息。

b.分析结果还可以以报表或图形的形式导出和保存。

9.分析数据处理：a.对分析结果进行数据处理和解释，例如计算元素含量、比较不同样品之间的差异等。

b.如果需要，可以使用统计软件对分析结果进行进一步的数据处理和分析。

10.仪器关机：a.在测试完成后，关闭软件程序，并断开与光谱仪的连接。

b.将光谱仪的电源开关关闭，并将电源线断开。

以上是使用X射线荧光光谱仪的一般操作步骤。

实际操作中，还需要根据具体的样品和实验要求进行相关参数的调整。

在使用X射线荧光光谱仪时，应注意安全操作，避免与X射线直接接触，并根据实际情况选择合适的防护措施。

X射线荧光光谱仪的原理与使用使用篇 X射线荧光光谱仪操作规程上一篇文章里我们说过了X射线荧光光谱仪的原理，接下来我们就来谈一谈X射线荧光光谱仪的操作：一、仪器自检为了随时得到精准的分析结果，很多仪器都需要进行人工校正，而能量色散型X射线荧光分析仪 EDX—LE在开启后会对能量校正和定量值校正的操作进行帮忙，当需要进行校正时可自动进行校正，极大的缩短了仪器校正时间时间，便利了用户操作使用。

二、针对RoHS指令进行检测能量色散型X射线荧光分析仪 EDX—LE将针对RoHS指令有害5元素+氯元素所需的筛选操作步骤尽可能的自动化，以便进行RoHS 法规5元素+氯元素（选配）的高速筛选分析。

因此，EDX—LE从开始分析到得到结果只需要（依据样品）约1分钟，筛选分析速度得到了加强，但检测精准度仍旧保持在较高的水平。

三、操作自动化能量色散型X射线荧光分析仪 EDX—LE操作简洁便利，一个指令即可开始全自动测定。

测定条件的选择由装置自动判定，削减了传统仪器繁琐的操作步骤，让初学者也能够进行简便、高精度地测定，极大提升了用户体验，并将智能化理念美妙的融入到了仪器设计之中。

除了这三点优势之外，X射线荧光光谱仪还具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。

能分析F（9）～U（92）之间全部元素。

样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品，广泛的应用于我们的生产生活当中。

X射线荧光光谱仪的原理X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。

能分析B（5）～U（92）之间全部元素。

样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。

无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果精准度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。

薄膜分析软件FP—MULT1能作镀层分析，薄膜分析。

测量样品的最大尺寸要求为直径51mm，高40mm。

xrf实验流程X射线荧光光谱(XRF)技术是一种分析物质成分的常用技术，它可以分析出物体中的元素及其浓度。

XRF实验的操作流程是：安装、校准、准备样品、实验操作、数据处理以及实验结果分析。

一、安装XRF仪器由三大部分组成：样品支架、X射线源和探测器。

首先，表面应平整，确保安装面光滑，然后将探测器固定在台座上，接着需要将样品支架安装到台座上，最后将X射线源安装在支架上。

二、校准安装完成后，需要进行校准，校准可以保证实验结果的精准度。

XRF仪器的校准包括基础校准和样品校准两部分：基础校准要确保X 射线源的能量输出和探测器的探测能力，样品校准就是利用校准物来校准检测仪器；三、准备样品在准备样品时，需要先把样品量化、储藏、研磨，然后进行分析。

一般样品分析，需要将样品研磨成粉末，如果想进行散料的分析，只需要将样品用木屑保护起来，把样品放在X射线仪器上即可。

四、实验操作实验操作前，需要熟练掌握XRF仪器的操作步骤，操作步骤包括：设置实验参数、维护源和探测器、收集和处理数据、完成计算以及解释结果。

设置实验参数时，要确保每个参数都满足实验条件；维护源和探测器，要查看仪器的安全性；收集和处理数据，使用合适的统计方法进行分析，对数据进行处理。

五、数据处理数据处理是保证XRF实验结果准确的关键，在数据处理中，可以实现以下目标：1、确定检测极限；2、调整检测性能；3、修正检测结果；4、计算检测定量；5、转换检测结果；6、根据检测结果进行相应报告准备。

六、实验结果分析XRF实验得到的结果，首先要进行结果分析，将分析数据进行比较，根据实验结果，确定检测物质的成分分布状况，以及在不同样品中的比较，了解材料的性质和特性。

综上所述，XRF实验的操作流程主要包括安装、校准、准备样品、实验操作、数据处理以及实验结果分析六个步骤，在每一步都需要严格按照规定的操作流程来进行，才能得到准确的实验结果。

XRF实验能够快速、准确地分析出样品中的元素成分和浓度，是一种重要的化学分析方法。

波长色散x射线荧光光谱仪的检定及不确定度评定波长色散X射线荧光光谱仪的检定及不确定度评定相对比较复杂，需要专业的检测人员和仪器设备。

以下是一般的检定及不确定度评定流程：
一、检定流程：
1. 准备样品：选择测试对象作为样品，样品应具有一定的代表性和稳定性。

2. 将样品固定到样品台上，调节仪器参数：开机，调节仪器参数，使其处于最佳工作状态。

3. 测量：进行样品测量，并记录测量结果。

4. 分析数据：将测量结果进行数据分析，包括计算和处理。

5. 判断检定结果：根据分析结果，判断是否符合指标要求，并发出检定报告。

二、不确定度评定流程：
1. 确定主要误差来源：波长色散X射线荧光光谱仪检定中主要的误差来源有分辨能力误差、位置重复性误差、能量校准误差等。

2. 确定误差量级：根据实际测量数据及相关标准，确定误差的量级。

3. 计算不确定度：根据误差来源和量级，计算不确定度，并按照相关标准进行处理和评定。

4. 发布报告：将评定结果以报告的形式发布，并提示误差来源及其量级。

X射线荧光光谱仪1 适用范围本规范适用于使用中和修理后的能量色散X射线荧光光谱仪的校准。

2 参考文献JJG 810-1993 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程SN/T2003.1：2005 X射线荧光光谱法测铅，汞，铬，镉，溴SJ/T11365-2006 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法3 概述能量色散X射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。

工作的基本原理是X射线管发出的初级X射线激发试样中的原子，测定由此产生的X射线的荧光的能量强度，根据各种元素特征X荧光光谱线的能量强度进行元素的定性和定量分析。

工厂购买能量色散X射线荧光光谱仪，主要用来确定产品中有害物质含量是否超标，主要依据是欧盟委员会先后颁布的（2002/95/EC）指令和2005/618/EC决议。

其中铅（Pb）、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)的最大允许含量为0.1%(1000mg/kg)，镉(cd)为0.01%(100 mg/kg)该限值是制定产品是否符合RoHS指令的法定依据。

金属材质只需要做重金属检测（铅、汞、镉、六价铬），塑料材质需要做规定的六项（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚），其它材质只需做重金属测试。

X射线荧光光谱仪主要作用是做有害物质总含量的分析，对产品起到快速筛选的作用。

基体matrix含有或附有被分析物的材料或物质。

背景background叠加在分析线上的连续谱，主要来自试料对入射辐射的散射。

检出限limit of detection在一定置信水平下能检出的最低含量。

干扰线interference lines与分析线重叠或部分重叠，从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线。

4 计量性能要求4.1外观4.1.1 仪器应有仪器名称、制造厂、出厂日期和编号的标志。

4.1.2 所有部件连接良好、动作正常。

4.1.3 面板上的仪表、指示灯和安全保护装置工作正常。

ARL 9900荧光光谱仪操作规程目录1. 目的2. 适用范围3. 开机操作4. 日常分析5. 分析结果查询6. 关机操作7. 注意事项1.目的规范ARL 9900 荧光光谱仪操作2.适用范围适用于ARL9900 X 射线分析仪3.开机操作3.1 荧光仪开机操作3.1.1 开机之打开P10 气，检查减压表，压力调整在0.025MPa～0.03MPa 之间。

3.1.2 打开冷却循环水系统。

3.1.3 开启交流参数稳压器。

3.1.4 开启X 荧光主电源“MAIN”，开启X 射线发生器“X-RAY GENERATOR”。

3.1.5 按一下面板上的绿色断电保护器，仪器进行自检，转盘旋转。

3.2 启动计算机操作3.2.1 开启计算机，用户名为“arlservice”,密码为“369852147”点击OK 计算机启动，3.2.2 桌面双击“WinXRF”进入应用程序。

在用户名，密码框分别输入“9900”，“395”，点击“Login”进入设备初始化“Download Parameters”, 点击OK初始化完后，设备进入正常工作状态。

3.3 X 光管加高压3.3.1 点击Initialisation进入设备初始化程序，点击Set X-Ray,设置光管电压和电流，从10KV、10mA 开始，每10 分钟一步，每步10 个单位，升至50KV、50mA。

4.日常分析4.1 点击Production/Analysis 日常分析的浓度分析Concentration Analysis 或直接按F2 进入日常分析。

4.2 点击Change Task 选择分析任务，点击OK。

4.3 在Number of Runs 设定分析次数，在Cassette 设定样盒位置号，在Sample Name 设定分析样号。

4.4 在设定样盒位置上放入相应试样，点击Sample Details OK仪器开始进行分析。

5.分析结果查询5.1 点击Production/Analysis→Results Processing→Results Database 或直接在激活主画面时点击F85.2 在此画面中可以选择更改结果类型result type,日期和时间date and time查询,还要点击result db选择以月份为文件夹名的结果备份文件。

x射线荧光光谱仪的具体步骤
x射线荧光光谱仪是一种广泛应用于材料科学、地质学、环境科学等领域的分析仪器，下面是一般的操作步骤：
1. 准备样品：将待测样品制备成均匀的粉末或固体块，并确保样品表面的平整度和洁净度。

2. 装样：将样品装入光谱仪的样品台或样品架中，固体样品可以用夹具夹紧，粉末样品可以直接放入样品台中。

3. 调整参数：打开光谱仪的电源并开机，根据样品性质和分析要求，调整加速电压和管电流等参数。

一般情况下，加速电压在5-60 kV之间。

4. 开始测量：点击仪器面板上的“测量”按钮，开始进行测量。

光谱仪会发出X射线束照射样品，样品被激发后会产生荧光信号。

5. 数据采集：荧光信号被光谱仪接收并转化为电信号，光谱仪会将这些信号转化为能谱图，并记录下来。

6. 数据分析：获得能谱图后，可以利用光谱仪所配套的分析软件对谱图进行数据处理和分析，比如进行元素定性、定量分析等。

7. 结果解读：根据谱图分析结果，解读样品中的元素含量、成分等信息，以满足实验需求。

8. 清洁和关闭：实验结束后，关闭光谱仪的电源，清洁样品台和样品架，注意避免污染和磨损分析仪器。

这些步骤是一般的操作流程，具体步骤和仪器性能可能会有所不同，需要根据具体的仪器说明和实验要求进行操作。

X射线荧光光谱仪的具体步骤简介X射线荧光光谱仪是一种通过测量材料中的元素原子，确定元素和元素浓度的方法。

它是一种无损分析的技术，可以被广泛应用于各个领域，如材料科学、化学、生物学和环境科学等。

为了更好地理解X射线荧光光谱仪的具体步骤，本文将介绍它的操作流程和样品的制备过程。

操作流程步骤一：准备样品样品的制备是整个分析过程中最重要的一步。

首先，要确保样品足够纯净，以免影响分析结果。

其次，样品需要切割成小块，以便于装在荧光杯中。

最后，样品放入高温石墨容器中，在气氛保护下焙烧一段时间。

这个步骤可以去除样品中的水分和杂质。

步骤二：安装样品将焙烧后的样品装进荧光杯中，然后装在X射线荧光光谱仪的测试室中。

在此期间，避免任何样品污染和人身伤害。

步骤三：调整仪器在进行光谱分析之前，需要调整仪器以达到最佳效果。

主要包括：应用X射线管从样品表面激发元素的原子；用铜、铬、铁、钼等不同的过滤器来过滤X射线；调整能量散射谱仪以测量不同种类的X射线能量等。

步骤四：记录数据当仪器调整好之后，可以开始记录数据。

通过收集X射线光谱线和荧光线强度，可以确定样品中的元素种类和含量。

大多数现代的X射线荧光光谱仪都和电脑连接，可以用软件方便地进行数据处理。

步骤五：分析结果根据记录的数据和已知的元素的荧光特征，可以确定样品中的元素种类和含量。

样品的制备过程步骤一：样品的选择在进行样品制备之前，需要确认所选择的材料是否适合进行X射线荧光光谱分析。

通常来说，应当确保样品中含有需要检测和分析的元素成分。

步骤二：样品的切割在样品制备之前，需要先将样品切割成成小块，以便于放在荧光杯内。

在这个步骤中，需要采用适当的切割工具和技术，以减小污染和样品损坏。

步骤三：样品的焙烧样品在进行荧光光谱分析之前需要进行焙烧处理，以去除水分和杂质。

这个步骤是在高温石墨容器中进行的，需要掌握正确的温度和时间。

步骤四：装入荧光杯焙烧后的样品被放置在荧光杯中，并使用合适的夹紧机构使其固定。

xrf荧光光谱分析仪的使用流程英文回答：XRF fluorescence spectroscopy is a widely used analytical technique for the qualitative and quantitative analysis of various materials. The instrument used for XRF analysis is called an XRF fluorescence spectrometer. Here is a step-by-step guide on how to use an XRF fluorescence spectrometer:1. Sample preparation: Prepare the sample by grinding it into a fine powder. The sample should be homogeneous and representative of the material being analyzed.2. Instrument setup: Turn on the XRF fluorescence spectrometer and allow it to warm up for the recommended time. Ensure that the instrument is properly calibrated and all necessary safety precautions are followed.3. Sample loading: Carefully load the prepared sampleinto the sample cup or tray of the XRF fluorescence spectrometer. Ensure that the sample is evenly distributed and covers the entire surface area of the cup or tray.4. Measurement configuration: Select the appropriate measurement configuration based on the nature of the sample and the elements of interest. This includes selecting theX-ray tube voltage, current, and filter settings.5. Measurement procedure: Start the measurement procedure by initiating the X-ray source. The X-ray beam will excite the atoms in the sample, causing them to emit characteristic X-ray fluorescence radiation.6. Data acquisition: The XRF fluorescence spectrometer will detect and measure the intensity of the emitted X-ray fluorescence radiation. This data is then used to determine the elemental composition and concentration of the sample.7. Data analysis: Analyze the acquired data using specialized software or algorithms. The software will compare the measured intensities with a calibration curveor a pre-determined database to determine the elemental composition and concentration of the sample.8. Interpretation and reporting: Interpret the results obtained from the analysis and report the elemental composition and concentration of the sample. Thisinformation can be used for quality control, material identification, or research purposes.中文回答：XRF荧光光谱分析仪是一种广泛应用于各种材料的定性和定量分析的分析技术。

X荧光分析仪安全操作规程X荧光分析仪是一种用于分析样品中元素成分的仪器设备，它通过X射线激发样品产生特定的荧光，再通过荧光信号的检测和分析确定样品中元素的含量。

在使用X荧光分析仪时，必须严格按照以下安全操作规程进行操作，以确保人员和设备的安全。

二、X荧光分析仪的操作前准备1.检查设备：在使用X荧光分析仪之前，必须对设备进行检查，确保设备的各项功能正常。

如发现设备故障或异常，应立即停止使用并及时通知维修人员进行检修。

2.确认样品：在进行分析前，必须确认所使用的样品符合分析要求，并对样品进行正确的准备处理，确保样品的表面干净整洁，无杂质。

3.穿戴防护装备：在操作X荧光分析仪时，必须穿戴相应的防护装备，包括防护眼镜、手套等，以防止与激光或射线接触造成伤害。

三、X荧光分析仪的操作流程1.打开设备：按照设备操作手册的指引打开X荧光分析仪，确保设备的各项功能正常。

在打开设备时，应注意避免用力过猛，以免造成设备损坏。

2.设置参数：在进行分析前，需要根据样品的特性和分析要求进行设备参数的设置。

确保设备参数的设定正确，以保证分析结果的准确性。

3.放置样品：将准备好的样品放置到分析仪的分析室内，确保样品的位置正确并稳定，避免在分析过程中发生位置偏移或不稳定的情况。

4.启动分析：按照设备操作手册的指引启动X荧光分析仪进行分析，监控分析过程中的各项参数变化，确保分析过程的正常进行。

5.结束分析：在分析完成后，及时关闭X荧光分析仪并对设备进行清洁和维护，确保设备的长期稳定运行。

四、X荧光分析仪的安全注意事项1.避免长时间直接暴露在X射线或激光下，以免对身体造成伤害。

2.在操作过程中，严禁将手部或其他部位伸入设备内部，以免发生危险。

3.在进行样品处理时，必须遵守相关的操作规程，确保样品的处理过程安全可靠。

4.在设备故障或异常情况下，必须立即停止使用并通知维修人员处理，切勿私自拆卸或维修设备。

5.在操作X荧光分析仪时，必须严格按照设备操作手册的指引进行操作，避免出现操作错误导致设备损坏或人员受伤的情况发生。

射线荧光检测仪安全操作及保养规程射线荧光检测仪（X射线荧光分析仪）是一种常用的材料分析仪器，它利用X射线照射样品，使样品产生荧光，通过测量荧光能谱来分析样品成分。

射线荧光检测仪因其高精度、无损分析、快速检测等优点，在材料分析、地质矿产、环境监测、文物保护等领域得到广泛应用。

然而，射线荧光检测仪涉及到放射性物质，操作不当会对人员和设备造成伤害。

因此，本文将介绍射线荧光检测仪安全操作及保养规程，以确保人员和设备的安全。

一、安全操作1.仪器组装在组装射线荧光检测仪之前，请阅读说明书，确保所有零部件均装配正确。

2.戴手套在进行样品制备、样品放置和样品拿取时，应戴上手套以避免放射性物质对手部的伤害。

3.戴防护眼镜在进行样品放置和药液取样时，应戴上防护眼镜以避免放射性物质对眼部的伤害。

4.样品制备在进行样品制备时，应注意以下事项：•样品应用玻璃瓶或其他非透明容器保存。

•样品研磨过程中应用湿法研磨，以避免放射性尘埃飞散。

•样品制备过程中应使用铝箔或其他非透明材料遮挡。

5.操作前调试在进行检测前，请预热仪器并进行调试。

如出现异常，请及时停止操作。

6.工作时间使用射线荧光检测仪的工作人员，在一次操作中的工作时间不应超过4小时。

必要时应进行间歇性操作。

7.防护措施使用射线荧光检测仪时，应遵守以下防护措施：•在安全区内工作。

•不要离开工作区域。

•禁止进食、进入化妆间或将任何物品放入口中。

•工作人员应佩戴剂量仪表并定期检查。

•在操作结束后，应清洗手部和工作区域。

如果可能，尽量淋浴。

8.紧急情况在出现紧急情况时，应立即停止操作，采取必要措施进行应急处理。

紧急情况包括：•仪器突然停机。

•辐射泄漏。

•电源故障。

二、保养规程1.每次使用后，应进行仪器清理。

2.在进行样品制备、样品放置和样品移动时，应保持仪器的表面清洁，避免灰尘和杂物的堆积。

3.工作人员应按时更换滤网和吸尘袋，并对滤网和吸尘袋进行清洗。

4.定期检查仪器运行状态，并按时对其进行维护和升级。

日立LAB-X5000能量色散X射线荧光光谱仪操作规程1 适用范围1.1 本操作规程适用于日立仪器公司LAB-X5000能量色散X射线荧光测定仪的操作。

1.2 本操作规程适用于石油产品硫含量的测定。

1.3 本仪器所用分析方法符合方法标准GB/T 17040《石油和石油产品硫含量的测定能量色散X射线荧光光谱法》；ASTM D4294《能量色散X射线荧光光谱法测定石油及石油产品中的硫含量》。

2 仪器操作步骤2.1 日常样品分析操作步骤2.1.1 仪器开机：将仪器左侧的电源键开关切换到[丨]“开启”位置，并将钥匙插入仪器右侧的圆形锁中，转到“启用X射线”位置。

2.1.2 点触屏幕下方的“”按键，进入PIN码输入界面。

输入标准的操作员PIN码“0000”之后，即出现“就绪”屏幕。

这表示仪器已准备好执行分析。

2.1.3 用手指在屏幕上，从上往下滑，唤出主界面。

在下拉菜单中，点触“方法”按钮。

在跳转的子界面内，点触“选择校正”。

2.1.4 该仪器已建立了“0-150ppm”、“0-1000ppm”、“0.1-5%”三条标准工作曲线，根据预估样品硫含量，选择合适的标准工作曲线。

2.1.5 点触“”以接受输入，并返回“方法”菜单。

然后在点触屏幕下方“”，即出现“就绪”屏幕。

2.1.6 打开样品端口上的玻璃盖，并检查辅助安全窗膜是否干净、平坦、无破损。

2.1.7 将装好样品的样品杯插入仪器顶部的样品端口中，盖上样品端口玻璃盖，按下发光环为绿色的按钮。

在跳转的界面中输入样品名称，点触“”，仪器开始分析。

2.1.8 样品旋转离开样品端口并进入X射线的照射路径，开始按钮周围的发光环将熄灭，取消按钮红色发光环亮起，表示仪器正在分析样品。

若有必要，按“取消”按钮即可随时停止分析。

2.1.9 测量完成后，自动打印分析数据。

仪器会显示结果屏幕，向左或向右滑动可查看之前的结果，点触“”按钮将切换为结果的光谱视图。

点触“”可恢复显示数字结果。

CIT-3000SYB 川制00000175号能量色散X荧光分析仪使用手册使用设备时请严格参考使用手册正确操作四川新先达测控技术有限公司国家核技术工业应用工程技术研究中心目录仪器开机必读 (1)第一章概述 (2)1.1 公司背景介绍 (2)1.2主要检测方法 (3)1.3 法定计量单位的名称、符号 (3)第二章工作原理和仪器参数 (3)2.1 X荧光分析仪基本理论及工作原理 (3)2.2 能量色散X荧光分析仪技术参数 (4)第三章设备安装 (5)3.1 仪器结构图 (5)3.2 装机操作流程图： (9)3.3 安装流程说明 (9)3.4 注意事项 (10)第四章通讯连接 (10)第五章软件安装和参数设置 (11)5.1 软件安装 (11)5.2 设置MCA主板参数 (11)5.3 设置控制板参数 (12)5.4 设置口令 (13)5.5 设置分析测量窗口 (13)5.6 设置本底测量窗口 (14)5.7 设置能量刻度峰 (15)5.8 设置寻峰刻度峰 (15)5.9 设置标定公式 (15)5.10 设置测量公式 (15)5.11 设置分析参数 (16)第六章数据库的建立及维护 (17)6.1 标准样品的测量及建立数据库 (18)6.2 标准数据库的的维护 (19)第七章测试样品操作流程 (20)7.1 样品制备 (20)7.2 校准测量 (21)7.3 分析样品 (21)7.4 已保存谱数据的重新计算 (22)7.5 标准方法分析 (22)7.6 查看测量结果 (22)7.7 数据结果打印 (23)7.8 准直器切换 (23)第八章常见故障及排除方法 (24)地 址：成都市成华区龙潭寺隆锦广场4楼Page 1仪器开机必读未经我公司培训或培训后未取得我公司颁发的合格上岗证书的人员禁止对我公司仪器进行任何测试，不合格操作人员使用仪器导致仪器任何部件的损坏不属我公司质保范围之内，务必安排有合格上岗证书的人员操作仪器，并且严格按照我公司提供的仪器使用说明书及操作规范流程正确使用仪器。

x射线荧光光谱仪测试步骤
以下是x射线荧光光谱仪的基本测试步骤：
1. 准备样品：选择要测试的样品，并确保它具有均匀且平整的表面。

如有需要，可以将样品切割或研磨成适当的尺寸和形状。

2. 设置仪器和参数：打开x射线荧光光谱仪，并根据样品的特性和测试要求进行仪器的设置和参数调整。

包括选择适当的激发能量、滤波器和检测模式。

3. 放置样品：将样品放置在仪器的样品台上，确保它与激发x
射线的闪烁体或焦斑区域对齐。

4. 启动测试：启动仪器进行测试。

光谱仪将通过激发样品表面产生的x射线，并测量样品发射的荧光信号的能谱。

通常会在一定范围内扫描x射线能量，以获取更详细的荧光能谱信息。

5. 分析数据：仪器会生成一个荧光能谱图，显示样品发射的荧光信号强度与能量的关系。

根据这个能谱图，可以确定样品中存在的元素种类和相对丰度。

6. 数据处理：根据测试数据，可以进行进一步的数据处理和分析。

这可能包括使用专业软件进行数据拟合、比对和定量分析。

7. 结果解读：根据分析结果，解读样品中存在的元素和其相对含量。

根据需求，还可以进一步分析样品性质、成分变化等。

需要注意的是，在进行x射线荧光光谱仪测试时，要遵守相关的安全操作规定，以保护仪器和操作者的安全。

标准操作程序：应用NITON XLt194/797/797Y/797Z X射线荧光分析仪，在操作屏上快速显示铅（Pb），以及其他RoHS指令要求元素的含量。

5.2或更高版本目的下列文章中介绍了Thermo Electron公司NITON分析仪测试电子元件中符合RoHS指令限制的元素含量的使用方法。

RoHS指令规定：铅（Pb）, 汞（Hg）, 铬（Cr）,聚溴联苯（PPB）和聚溴联苯醚（PBDE）混合物的最高允许含量为0.1% (1000ppm)。

由于溴化阻燃剂至少含有50%的Br，被检测的Br元素的含量必须低于1000ppm（通常我们定义为300ppm）。

元素Cd的最高允许含量为0.01% (100ppm)。

准备工作1. 在初始化系统进行检测工作前，请仔细阅读NITON XLt194/797/797Y/797Z产品的用户指南（版本5.2，包括发布的注解部份。

）2. 给XLt分析仪装上电量充足的电池。

3. 启动分析仪，按照屏幕提示以操作员（operator）身份登陆。

4. 使用分析仪之前，热机5分钟以使仪器的电子系统稳定。

5. 确认日期设置正确，以便日后的数据追踪。

5.1 从主菜单，选择“工具”（Utilities）→ “仪器参数”（Instrument Specs）。

日期会显示在第二排。

（退回主菜单，请按On/Off/Escape键）5.1.1 如果日期设置不正确，应当先对时间进行调整。

详细步骤参见XLt 700的用户指南。

5.1.2 如果时间设置正确，继续步骤6。

6. 把XLt分析仪安置在测试台（下列两种测试台都能为分析仪恰当定位样品，同时还能避免操作者被主X射线以及被样品散射出的X射线照射）6.1 环保用检测台（零件号600-704）安装好之后分析仪的检测窗口朝下。

6.2 金属检测台（零件号600-705），安装好之后分析仪的检测窗口朝上。

7.（可选步骤）通过配备的数据线或者可用的蓝牙（Bluetooth）无线组件将XLt分析仪连接到电脑。

该如何使用X射线荧光光谱仪看看本篇吧X射线荧光光谱仪是一种广泛应用于材料分析和检测的仪器。

它利用物质受到X射线激发后产生的特征荧光辐射，来确定物质的成分和含量。

下面将介绍X射线荧光光谱仪的基本使用方法。

一、准备步骤：a.将样品准备成适当的形式，例如粉末、液体或固体。

b.确保仪器的各部件处于正常状态，如电源、冷却系统和检测器等。

c.根据需要选择合适的荧光分析模式和参数设定。

二、样品装载：a.将样品放置在荧光分析室内或者样品台上。

b.确保样品与检测器之间的距离和角度调整正确，以获得准确的数据。

三、数据采集：a.打开仪器，启动激发源和检测系统。

b.选择相应的元素或化合物，并设置相应的分析条件。

c.点击开始按钮，仪器将开始进行数据采集。

d.当数据采集完成后，保存数据并进行后续的数据处理和分析。

四、数据处理和分析：a.将采集到的荧光光谱数据导入相应的数据处理软件。

b.根据需要进行背景减法和峰位校正等预处理工作。

c.通过比对样品的光谱峰位和强度与标准样品或者数据库中的数据，来确定样品中元素的成分和含量。

d.根据实际需要，可对已得到的结果进行进一步的统计分析和图表展示。

五、仪器维护和保养：a.定期进行仪器的校准和保养，以确保仪器的正常工作和准确性。

b.清洁仪器表面和光路系统，防止污染和影响仪器性能。

c.及时更换或修理故障或老化的零部件，以提高仪器的寿命和性能。

总结起来，X射线荧光光谱仪的使用方法主要包括准备样品、装载样品、数据采集、数据处理和分析，以及仪器的维护和保养。

正确使用和维护仪器，将能够获得准确的分析结果，并确保仪器的正常工作和寿命。