半导体器件原理-第二章1
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国科⼤-半导体器件物理第⼀章半导体物理基础1.主要半导体材料的晶体结构。
简单⽴⽅(P/Mn)、体⼼⽴⽅(Na/W)、⾯⼼⽴⽅(Al/Au)⾦刚⽯结构:属⽴⽅晶系,由两个⾯⼼⽴⽅⼦晶格相互嵌套⽽成。
Si Ge闪锌矿结构(⽴⽅密堆积),两种元素,GaAs, GaP等主要是共价键纤锌矿结构(六⽅密堆积),CdS, ZnS闪锌矿和纤锌矿结构的异同点共同点:每个原⼦均处于另⼀种原⼦构成的四⾯体中⼼,配种原⼦构成的四⾯体中⼼,配位数4不同点:闪锌矿的次近邻,上下彼此错开60,⽽纤锌矿上下相对2.⾦属、半导体和绝缘体能带特点。
1)绝缘体价电⼦与近邻原⼦形成强键,很难打破,没有电⼦参与导电。
能带图上表现为⼤的禁带宽度,价带内能级被填满,导带空着,热能或外场不能把价带顶电⼦激发到导带。
2)半导体近邻原⼦形成的键结合强度适中,热振动使⼀些键破裂,产⽣电⼦和空⽳。
能带图上表现为禁带宽度较⼩,价带内的能级被填满,⼀部分电⼦能够从价带跃迁到导带,在价带留下空⽳。
外加电场,导带电⼦和价带空⽳都将获得动能,参与导电。
3)导体导带或者被部分填充,或者与价带重叠。
很容易产⽣电流3.Ge, Si,GaAs能带结构⽰意图及主要特点。
1)直接、间接禁带半导体,导带底,价带顶所对应的k是否在⼀条竖直线上2)导带底电⼦有效质量为正,带顶有效质量为负3)有效质量与能带的曲率成反⽐,导带的曲率⼤于价带,因此电⼦的有效质量⼤;轻空⽳带的曲率⼤,对应的有效质量⼩4.本征半导体的载流⼦浓度,本征费⽶能级。
5.⾮本征半导体载流⼦浓度和费⽶能级。
<100K 载流⼦主要由杂质电离提供杂质部分电离区(凝固区) 。
100~500K,杂质渐渐全部电离,在很⼤温度范围内本征激发的载流⼦数⽬⼩于杂质浓度,载流⼦主要由掺杂浓度决定。
饱和电离区。
>500K,本征激发的载流⼦浓度⼤于掺杂浓度,载流⼦主要由本征激发决定。
本征区。
6.Hall效应,Hall迁移率。