X线头影测量分析

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年，美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。

该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片，然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓，并测量线距与角度进行测量分析。

这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里，让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代，使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。

如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。

1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出，该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。

具体为：FMA角：眼耳平面与下颌平面围成；FMIA角：下中切牙长轴与眼耳平面围成；IMPA角：下中切牙长轴与下颌平面围成。

临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。

Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要，是维持牙合关系稳定的关键因素。

所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定，他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。

所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。

但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度，如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合，下切牙内收畸形会加重，下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者，直立下切牙则会加重已存在的深覆盖，上切牙后收又会造成凹面型。

Tweed分析法测量值来自白种人群，不一定适合中国人群；对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。

临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。

吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念：即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。

通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系，为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据，同时也丰富了Tweed三角分析法，有一定临床指导价值。

目录∙1拼音∙2X线头影测量的主要应用∙3头颅定位X线照像和头影图的描绘o 3.1头颅定位Xo 3.2头影图的描绘∙4常用X线头影测量的标志点及平面o 4.1头影测量标志点o 4.2∙5常用硬组织测量项目o 5.1上下颌骨的常用测量项目。

o 5.2上下前牙的常用测量项目o 5.3面部高度的常用测量项目∙6电子计算机化的X线头影测量o 6.1电子计算机化的Xo 6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程o 6.3数学模型的建立[返回]1拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xī1生长发育通过对各年龄阶段个体作对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。

由于定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。

Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。

Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。

林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。

林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。

通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生2畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。

而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。

3错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想4X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。

X线头影测量分析方法
一、原理和方法
X线头影测量是基于X线透射成像的原理进行的。

将头部放置在X线
透射成像设备中，通过发射X射线，X射线会被不同组织结构吸收和散射，形成X线头颅影像。

利用该影像，可以通过测量头颅中的各种参数来评估
头颅的生理和形态情况。

在X线头影测量中，常用的测量参数包括颅骨间距、颅骨厚度、颅骨
角度等。

颅骨间距是指头颅内部各个关键结构之间的距离，如颅骨板间距、颅底间距等。

颅骨厚度是指头颅骨的厚度，可以用来评估颅骨质量和颅骨
疾病的程度。

颅骨角度是指头颅内部关键结构之间形成的角度，如脑颅角、额颅角等。

这些参数可以通过计算机软件自动测量，也可以通过手工测量
来获取。

二、应用领域和意义
其次，X线头影测量在中枢神经系统疾病的诊断和治疗中也起到了重
要的作用。

通过测量头颅内的结构和参数变化，可以帮助医生评估脑部异
常的程度和性质，并且更好地指导手术操作。

此外，X线头影测量还可以应用于人类进化学研究、骨科手术规划、
颅颌面外科的评估和治疗等领域。

通过测量头颅参数的变化，可以更好地
了解人类进化的过程，也可以为骨科手术和颅颌面外科手术提供指导。

总的来说，X线头影测量是一种非常重要的医学影像分析方法，它可
以通过测量头颅中的各种参数来评估头颅的生理和形态情况。

在临床医学中，它可以帮助医生判断儿童头骨发育情况、评估中枢神经系统疾病的程
度和性质，为手术治疗提供指导，并且在人类进化学研究等领域也具有重要的应用价值。

X线头影测量X线头影测量头影测量标志点是一些用来构成某些平面及测量内容的点理想的标志点应是易于定位的解剖标点在生长发育过程中相对稳定标志点的可靠性还取决于头颅X 线片的影像质量及描图者的经验颅部标志点蝶鞍点S蝶鞍影像的中心在头颅侧位片上容易确定鼻根点N鼻额缝的最前点有时此点显示不太清楚是因为鼻骨和∕或额骨形态变异骨缝形成角度所至耳点P外耳道之最上点实际工作中通常以定位仪耳塞影像之最上点代表称为机械耳点如果以外耳道影像之最上点代表则为解剖耳点上颌标志点眶点O眶下缘之最低点理想状态下左右眶点重合为一点但在实际工作中X线片上均显示为左右两个眶点影像故常选用两点之间的中点作为眶点以减小误差上齿槽座点A前鼻棘与上齿槽缘点间骨轮廓之最凹点前鼻棘前鼻棘之尖上齿槽缘点上颌牙槽突之最前下点此点清晰与否最大程度依赖于投照条件的选择因此准确选定该点在诸标志点确定中难度相对最大曾有学者认为上齿槽座点位于过上中切牙根尖点的水平线上下颌标志点下齿槽座点B下齿槽缘点与颏前点间骨轮廓之最凹点下齿槽缘点下颌牙槽突之最前上点颏前点Po颏部之最突点颏下点Me颏部之最下点该点与确定下颌平面有关头影测量平面基准平面前颅底平面SN由蝶鞍点和鼻根点之连线组成在头颅矢状面上代表前颅底的前后范围因为这一平面在生长发育过程中具有相对稳定性所以常作为面部结构相对颅底关系的定位平面眼耳平面FH由耳点与眶点连线组成测量平面下颌平面MP通过颏下点与下颌角下缘相切的线面平面N-Po由鼻根点与颏前点之连线组成头影测量分析法SNA角蝶鞍点-鼻根点-上齿槽座点角代表上颌基骨对颅部的前后向位置关系SNB角蝶鞍点-鼻根点-下齿槽座点角代表下颌基骨对颅部的前后向位置关系ANB角上齿槽座点-鼻根点-下齿槽座点角代表上下颌基骨间以鼻根点为参照的前后向位置关系面角面平面N-Po与眼耳平面FH相交之后下角代表下颌的凸缩程度增大下颌前凸缩小下颌后缩颌凸角NA与PoA延长线之交角代表上颌部相对整个面部侧面的关系增大上颌相对凸度大减小下颌后缩Po-NBPo点颏前点至NB的距离代表颏部的凸度增大颏部前突减小颏部后缩1-NA角上中切牙长轴与NA连线的交角代表上中切牙的倾斜度增大唇倾减小舌倾1-NA㎜上中切牙切缘至NA连线的距离代表上中切牙的凸度增大前凸减小后缩ㄒ-NB角下中切牙长轴与NB连线的交角代表下中切牙的倾斜度ㄒ-NB㎜下中切牙切缘至NB连线的距离代表下中切牙的凸度1-ㄒ角上下中切牙长轴之后交角1-SN上中切牙长轴与前颅底平面SN的交角代表上中切牙相对于前颅底平面的倾斜度ㄒ-MP下中切牙长轴与下颌平面MP的交角代表下中切牙相对于下颌平面的倾斜度此角亦即Tweed法中的IMPAMP-SN下颌平面与前颅底平面的交角代表下颌平面的倾斜度并反映出面部的高度下颌平面角下颌平面MP与眼耳平面FH的交角代表下颌平面的陡度及面部的高度此角亦即Tweed法中的FMA 头影测量分析举例结果1上颌基骨后缩2下颌骨前凸颏部后缩31前凸、唇倾谢谢。