X线头影测量

X线头影测量Cephalometrics口腔正畸教研室胡遒生病例一病例二病例一病例二病例一病例二病例一病例二头帽颏兜牵引下颌向后面具牵引上颌向前病例一治疗前治疗后病例二治疗前治疗后一、概述X线头影测量主要是在头颅X线片上对牙颌、颅面各标志点进行一定的角度、线距或比例的测量分析，从而了解软硬组织的结构自从1931年首次应用于口腔正畸学领域以来，X线头影测量已经成为口腔正畸及口腔颌面外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段主要应用牙颌面畸形的诊断分析错合畸形的矫治设计颅面生长发育的研究正颌外科的诊断和矫治设计X线头影测量主要包括头颅正位片和头颅侧位片的测量，测量项目既有硬组织又有软组织。

其中，头颅侧位片的硬组织测量最为常用。

二、X线头影测量的步骤1、摄片2、描图3、定点4、测量三、X线头影测量常用的标志点及测量项目1、颅部标志点鼻根点（N ）蝶鞍点（S ）耳点（P ）颅底点（Ba ）Bolton 点（Bo ）鼻根点（N. N. nasion nasion 鼻额缝的最前点蝶鞍点（S. S. sella sella ）蝶鞍影像的中心耳 点P. P. porion porion ）外耳道的最上点颅底点（Ba Ba. . . basion basion ）枕骨大孔前缘之中点Bolton 点（Bo.）枕骨髁突后切迹的最凹点2、上颌标志点眶点(O)翼上颌裂点(Ptm)前鼻棘点(ANS)后鼻棘点(PNS)上齿槽座点(A)上中切牙点(UI)眶 点（O. O. orbitale orbitale ）眶下缘之最低点翼上颌裂点（Ptm Ptm. . Pterygomaxillary fissure ）翼上颌裂轮廓之最下点前鼻棘点ANS. Anterior nasal spine ）前鼻棘之尖后鼻棘点（PNS. posterior 硬腭后部骨棘之尖上齿槽座点（A. A. subspinale subspinale ）前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点上中切牙点（UI. Upper incisor ）上中切牙切缘之最前点3、下颌标志点下中切牙点(LI)下齿槽座点(B)颏前点(Po)颏下点(Me)下颌角点(Go)下中切牙点（Li. Lower incisor ）下中切牙切缘之最前点下齿槽座点（B. B. supramental supramental ）下齿槽突缘点与颏前点间之骨部最凹点颏前点颏部之最突点颏下点（Me. Me. menton menton ）颏部之最下点下颌角点（Po. Po. pogonion pogonion ）下颌角的后下点4、常用测量项目S N A SNA 角反映上颌相对于颅部的前后位置关系S N BSNB 角反映下颌相对于颅部的前后位置关系N BANB 角反映上下颌骨对颅部的相互位置关系A病例一病例二头帽颏兜牵引下颌向后面具牵引上颌向前思考题病例一和病例二错合形成的机理有何不同？其SNA、SNB、ANB可能会出现哪些变化？谢谢。

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年，美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。

该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片，然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓，并测量线距与角度进行测量分析。

这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里，让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代，使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。

如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。

1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出，该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。

具体为：FMA角：眼耳平面与下颌平面围成；FMIA角：下中切牙长轴与眼耳平面围成；IMPA角：下中切牙长轴与下颌平面围成。

临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。

Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要，是维持牙合关系稳定的关键因素。

所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定，他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。

所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。

但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度，如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合，下切牙内收畸形会加重，下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者，直立下切牙则会加重已存在的深覆盖，上切牙后收又会造成凹面型。

Tweed分析法测量值来自白种人群，不一定适合中国人群；对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。

临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。

吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念：即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。

通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系，为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据，同时也丰富了Tweed三角分析法，有一定临床指导价值。

目录•1拼音•2 X线头影测量的主要应用•3头颅定位X线照像和头影图的描绘o 3.1头颅定位X线照像o 3.2头影图的描绘•4常用X线头影测量的标志点及平面o 4.1头影测量标志点o 4.2头影测量平面•5常用硬组织测量项目o 5.1上下颌骨的常用测量项目。

o 5.2上下前牙的常用测量项目o 5.3面部高度的常用测量项目•6电子计算机化的X线头影测量o 6.1电子计算机化的X线头影测量特点o 6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程o 6.3数学模型的建立[返回]1拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xīX线头影测量（Cephalometrics），主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。

几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。

在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。

70年代末，电子计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。

[返回]2 X线头影测量的主要应用1研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。

由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。

Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。

Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。

林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。

X线头影测量分析方法
一、原理和方法
X线头影测量是基于X线透射成像的原理进行的。

将头部放置在X线
透射成像设备中，通过发射X射线，X射线会被不同组织结构吸收和散射，形成X线头颅影像。

利用该影像，可以通过测量头颅中的各种参数来评估
头颅的生理和形态情况。

在X线头影测量中，常用的测量参数包括颅骨间距、颅骨厚度、颅骨
角度等。

颅骨间距是指头颅内部各个关键结构之间的距离，如颅骨板间距、颅底间距等。

颅骨厚度是指头颅骨的厚度，可以用来评估颅骨质量和颅骨
疾病的程度。

颅骨角度是指头颅内部关键结构之间形成的角度，如脑颅角、额颅角等。

这些参数可以通过计算机软件自动测量，也可以通过手工测量
来获取。

二、应用领域和意义
其次，X线头影测量在中枢神经系统疾病的诊断和治疗中也起到了重
要的作用。

通过测量头颅内的结构和参数变化，可以帮助医生评估脑部异
常的程度和性质，并且更好地指导手术操作。

此外，X线头影测量还可以应用于人类进化学研究、骨科手术规划、
颅颌面外科的评估和治疗等领域。

通过测量头颅参数的变化，可以更好地
了解人类进化的过程，也可以为骨科手术和颅颌面外科手术提供指导。

总的来说，X线头影测量是一种非常重要的医学影像分析方法，它可
以通过测量头颅中的各种参数来评估头颅的生理和形态情况。

在临床医学中，它可以帮助医生判断儿童头骨发育情况、评估中枢神经系统疾病的程
度和性质，为手术治疗提供指导，并且在人类进化学研究等领域也具有重要的应用价值。