头影测量

儿童的头影测量标准值
头影测量的标准值是根据年龄和性别来确定的，因为儿童的颅颌面结构在生长过程中会随着年龄的增长和性别的不同而发生变化。

以下是一些一般性的头影测量标准值，但请注意，这些值可能因个体差异和种族差异而有所不同：
1. 下颌位置：
- 女孩：出生后第一年会逐渐下降，然后在2-5岁时上升，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年会下降，然后在2-8岁时上升，然后在9-15岁时保持相对稳定。

2. 下颌长度：
- 女孩：出生后第一年增加最快，然后在2-5岁时逐渐减慢，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年增加最快，然后在2-8岁时逐渐减慢，然后在9-15岁时保持相对稳定。

3. 颌部生长角度：
- 女孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-5岁时逐渐减少，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-8岁时逐渐减少，然后在9-15岁时保持相对稳定。

以上只是一般性的参考值，具体的测量结果应该由专业的口腔科医生或颌面科医生进行解释。

对于需要手术治疗的颅面畸形，X线头影测 量可以评估手术前后颅面形态的变化，指 导手术方案的制定和调整。
比较治疗效果
科学研究
通过比较治疗前后的X线头影测量结果，可 以评估治疗效果，为进一步治疗提供依据 。
X线头影测量在颅面外科研究中也有广泛应 用，如颅面生长的规律、手术效果的评价 等。
其他医学领域应用
头影测量的目的是为了了解颌面部软硬组织的生长发育状态、分析颌面部畸形 的病因、制定正畸治疗方案、评估治疗效果和预测未来生长趋势等。
头影测量学发展历程
早期头影测量学
早期的头影测量学主要依靠手工测量和目测，精度和可靠性较低。
数字化头影测量
随着计算机技术的发展，数字化头影测量逐渐取代手工测量，实现 了快速、准确、可重复的测量和分析。
04 X线头影测量学实 验操作
实验设备介绍
01
02
03
实验设备
X线机、头影测量分析软 件、测量工具等。
设备功能
X线机用于拍摄头颅X线片 ，头影测量分析软件用于 测量和分析X线片，测量 工具用于辅助测量。
设备要求
确保设备性能稳定、精度 高，以保证实验结果的准 确性和可靠性。
实验操作流程
实验准备
选择合适的实验对象，准备实验材料和设 备。
1 2 3
颞下颌关节紊乱病
X线头影测量可以用于颞下颌关节紊乱病的诊断 和治疗，帮助医生了解关节位置和形态，评估治 疗效果。
正颌外科
在正颌外科手术中，X线头影测量可以帮助医生 了解颌骨形态和位置，为手术设计提供依据，并 评估手术效果。
口腔颌面部肿瘤
对于口腔颌面部肿瘤患者，X线头影测量可以用 于肿瘤的诊断、手术前后评估以及放疗定位。
06 总结与展望

应用
华 西口腔
• 5. 下颌功能分析
X 线头影测量学在正畸学中的作 用
1. 研究颅面的生长发育及生长预测 2. 牙颌颅面畸形的诊断分析及治疗设计 3. 研究矫治前后牙颌颅面形态结构的矫治
变 化和生长 改变 以及判断各种矫 治器的 作用机理 4. 外科正畸的术前诊断设计和术后疗效的 评价 5. 下颌功能分析
• 软组织颏下点 ( Me’ menton of soft tissue ): 软组织颏 之最下点 .
华 西口腔
华 西口腔
备注
• 正中矢状平面上 • 较难定位的点：
的参考点较 矢状 平面两侧 的参考 点准确； • 两侧的点取其中
眶点， A 点， 前鼻棘点，后鼻 棘点。
点。
华 西口腔
• 在颅面生长过程中，参考点的 稳 定性是有变 化的，所谓 “固定 的标 志点”是不存在的，但是靠 近颅 底的一些点（如蝶鞍点，鼻 根点，颅 底点）在出生后随生长 变 化很小
华 西口腔
测 量平面 腭平面 ANS-PNS /PP.(palatal plane)
有称上颌 平面， 由前鼻嵴 点和后 鼻嵴 点的连 线 构 成。常用于评 价 上颌 的位置和生 长 方向
华 西口腔
测 量平面 下颌平面 MP MP.(mandibular plane)
1. 通过颏下点与 下颌 角下缘 的 切线 ；
板，圆规，量角器、 3H 铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记, 可用强光局部观察 .
华 西ห้องสมุดไป่ตู้腔
华 西口腔
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
华 西口腔

构变化 5、外科正畸的诊断和矫治设计 6、下颌功能分析
记存模型
• 矫正前、矫正过程中、矫正完成后对牙合状况的 记录。
• 作用： • 1.对照观察 • 2.疗效评估 • 3.病例展示 • 4.司法鉴定
X线头影测量
一、定义
主要是测量x线头颅定位照相所得的影 像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的 线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查 诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去。
X线头影测量
二、组成 1、头颅定位仪
应通过左右耳塞和眶点指针，使 三者构成一与地面平行的恒定平 面。 2、X线照相 投照距离 不小于150cm. 3、描绘投影图 硫酸纸
• 软组织测量标志点
额点（G） 鼻小柱点（Cm） 鼻下点（Sn） 上唇缘点（UL） 下唇缘点（LL） 软组织颏前点 (Pgs) 软组织颏下点 (Mes) 颈点（C）
• 常用平面
眶耳平面（FH） 前颅底平面（SN） 审美平面（EP） 牙合平面 Leabharlann 颌平面（MP）• 常用角度
颅底-上齿槽座角（SNA）： 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
上下齿槽座角（ANB）：
上下颌位置关系
3° ±1
• 常用线距
全 面 高 （ N － Me ） 上面高（N－A） 下 面 高 （ A － Me ） 上面高/全面高 下面高/全面高
X线头影测量
三、主要的应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错颌畸形的矫治设计 4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态 、结
X线头影测量分析
Cephalometric analysis

前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖
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A (Subspinale上齿槽座点)
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－定点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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3.下颌标志点
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－定点
髁顶点(Co):髁突最上点
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－定点
作为诊断分析 的基础
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3.确定错牙合畸形的矫治计划
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正常牙颌 பைடு நூலகம்面关系
对比
个体牙颌 颅面结构
分析出错牙合畸形的机制 确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案
4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化
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治疗前
对比
治疗中,矫治后
正畸治疗
❖ 头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点 指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。
定位
2.头影图的描绘
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❖ X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结 构不完全对称而出现的左右影像不完全重合
按其平均中点来作描绘
传统X线片
数字化X线片
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传统手描图
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简介
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❖ 1934年Hofrath and Broadbent 提出 ❖ 我国于20世纪60年代初运用于临床
X线头影测量分析
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通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅 面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙 颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由 表面形态深入到内部的骨骼结构中去,它是正畸临床诊断 及治疗设计的一种重要手段.

X 线头影测量 , 主要是测量 X 线头颅定位照像 所得的影像 , 对牙颌, 颅面各标志点描绘出一 定的线角进行测量分析 , 从而了解牙颌、 颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 , 由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！

慧心学牙笔记--第四节头影测量第四节头影测量学头影测量最重要的一件事是——知道要把点定在哪儿。

头影测量是制定矫治计划的重要参考因素，但不是决定因素。

决定因素还是医生。

矫治计划中能考虑更多的因素则是更完美的，但也要讲究工作效率。

定点是一切头影测量的基础。

常用23个点，必须记住的点有十几个。

（红字标注的点为重要的点，必须记住的）头影测量常用分析方法:*Down analysis*Tweed analysis*Steiner analysis*Wylie analysis*Rickettes analysisNJMU analysis（南医大分析法）国内牙医常用：南大派，北医派，四医大派，华西派，大同小异。

头影测量那么多数据，非常有用的是有限的。

对临床指导意义最大的，有用的数据掌握就够了。

先要记熟两件事儿:1.头影测量中的各种定点都定在什么位置，代表什么意思。

2.各种角都代表什么意思，正常范围是多少。

1.鼻根点（N）:位于沿额骨骨皮质影迹表面往下一小“缺口”。

此即为鼻额缝阴影的最前端。

这是前颅底部的标识点，是一条形态不规则的骨缝，在头影像上从后下往前上呈一条锯齿状的阴影，显示并不十分清楚。

（N点比软组织鼻根点要高一些）2.蝶鞍点（S）:位于垂体窝，即蝶鞍影像的中心点。

这是常用的一个颅部标识点，在生长发育过程中位置较为稳定，因此是构成基准平面和很多测量项目的基准点，也常作为颅底重叠的原点。

3.耳点（P）:外耳道阴影的最上点。

这是构成框耳平面（FH平面）的标志点之一，在侧位头影像上常呈双重圆形后椭圆形阴影，定点时应该注意取双重影像上耳点的平均中点。

注意区分外耳道影像，机械耳塞影像，内耳道影像。

确定耳点也可依据耳点，眶点与髁顶部三者的解剖关系来帮助定点。

眶耳平面（FH平面）高于髁顶部约1mm，其误差率仅1‰。

（机械耳点）定点：先找到Or点，与髁突最上点高1mm的位置连线，P点就在此条线上。

4.眶点（Or）:眶下缘的最低点。

下颌角点
软组织侧貌标志点
• 额点（G. Glabella）:额部最突点 • 鼻顶点（Prn. Pronasale）:鼻部软组织最突点 • 上唇突点（UL. Upper Labrale）:上唇最突点 • 下唇突点（LL. Lower Labrale）:下唇最突点 • 软组织颏前点（Pos. Pogonion of Soft Tissue）:
下颌标志点
髁顶点（Co. Condylion）:髁突最上点 关节点（Ar. Articulare）:颅底下缘与下颌髁突颈后缘交点， 在颏顶点不清晰时用，为升支平面标志点之一 下颌角点（Go. Gonion）:下颌角的后下点，即下颌平面和下 颌升支后缘切线交角的角平分线与下颌角的交点（通过下颌平 面与升支后缘切线的交点GO'来确定）
• 下切牙点（Li. Lower Incisor）:最前的下中切牙切缘点 • 下齿槽座点（B. Supramental）:
下齿槽缘点与颏前点间之骨部最凹点
下颌标志点
• 颏前点（Po. Pogonion）:颏部最前点 • 颏顶点（Gn. Gnathion）:颏前点与颏下点骨连线中点 • 颏下点（Me. Menton）：颏部最下点
颅部标志点
• Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点
上颌标志点
• 眶点（Or. Orbitale）:眶下缘最低点
上颌标志点
• 前鼻棘点（ANS. Anterior Nasal Spine）:前鼻 棘之尖
• 后鼻棘点（PNS. Posterior Nasal Spinale）： 硬腭后部骨棘之尖
上颌标志点
• 常用的点不用背，只需理解
• 冒着眼瞎的风险定出来的点，具体临床作 用
拍摄时射线主轴沿外耳道上缘穿过， Frankfort水平面需平行于地面

头04影测量分析方法的优缺点与 局限性
头影测量分析方法的优点
• 头影测量分析方法的优点 • 客观性强，减少了人为误差 • 可以准确反映颅颌骨的结构特点，为诊断和治疗提供依据 • 可以重复测量，便于长期观察和对比分析
头影测量分析方法的缺点
• 头影测量分析方法的缺点 • 操作复杂，需要专业的知识和技能 • 依赖影像手段，可能受到影像质量的影响 • 难以全面反映患者的生理和心理状况
头03影测量分析的主要指标与意 义
头影测量分析的主要指标
头影测量分析的主要指标
• 角度指标：如SNA、SNB、ANB等 • 线距指标：如ANS-Me、UI-SN等 • 面积和体积指标：如全面积、下颏体积等
头影测量分析的辅助指标
• 牙齿指标：如牙槽骨高度、牙齿倾斜角度等 • 软组织指标：如鼻唇角、颏颈角等
头影测量分析结果的评估与诊断
头影测量分析结果的评估
• 根据正常值范围和统计学方法，评估测量结果的正常与否 • 分析测量结果之间的关联性，了解各种指标的变化趋势 • 结合患者的临床表现和其他检查结果，进行综合分析
头影测量分析的诊断
• 根据测量结果，诊断患者的颅颌骨生长发育状况和疾病程度 • 指导正畸治疗和颌面外科手术方案的设计 • 预测治疗效果和评估治疗进展
头影测量分析方法的发展趋势与前景
头影测量分析方法的发展趋势
• 个性化治疗和精准医疗的需求，推动头影测量分析方法的改进和发展 • 口腔医学与其他学科的交叉融合，拓展头影测量分析的应用领域 • 计算机辅助设计和人工智能技术的应用，提高头影测量分析的效率和准确性
头影测量分析方法的前景
• 在口腔医学领域发挥重要作用，为诊断和治疗提供科学依据 • 随着技术的进步，头影测量分析方法将不断完善和发展，为患者提供更优质的医疗 服务

Mean 82.8 91.0 17.1 45.0
SD 4.1 7.5 2.3 2.1
⑤
⑥
CASSOS REPORT
Shanghai Analysis
Unit
Maxilla to Cranium 1. SNA 2. NA-FH 3. Ptm-S (//HP) 4. Ptm-A (//HP) deg deg mm mm deg deg deg mm deg deg mm mm %
deg mm mm deg deg deg mm deg deg mm c mm % deg deg % % %
88.0 15.6 46.1 83.2 93.2 -10.9 14.2 35.6 45.8 65.0 69.1 105.2
d
91.0 17.1 45.0 80.1 85.4 6.0 a 17.4 27.3 30.4 71.0 x 56.0 100.0
耳点（Po）： 机械耳点 --- 定位仪耳 塞影像的最上点 解剖耳点 --- 骨性外耳 道影像的最上点
颅底点（Ba）：枕骨 大孔前缘中点
二.上颌标志点
眶点（Or）： 眶下缘最下点 翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的最下 点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
后鼻棘点（PNS）： 硬腭后部骨棘之尖
① ③ ④
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
②
CASSOS REPORT
Shanghai Analysis
上颌骨相对于颅底
Maxilla to Cranium 1. SNA 2. NA-FH 3. Ptm-S (//HP) 4. Ptm-A (//HP) Mandible to Cranium
Unit
deg deg mm mm

4)SND角：前颅底平面-骨性下 颌联合中点构成的角。代表下 颌整体对颅部的位置关系。
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法

头影测量分析值
ANB＞4°骨性前突
ANB＞6°须手术解除前突
ANB＞-4°骨性反颌
ANB＞-6°须手术解除反颌
ANB-2°以内，可以考虑矫形
U1/NA同时↑上颌唇倾
U1/SN同时↓上颌舌倾
L1/NB同时↑下颌唇倾
L1/MP同时↓下颌舌倾
MP/SN同时↑高角病人
MP/FH同时↓低角病人
骨性判测值：ANB,SNA,SNB
骨性Ⅰ类：0°＜ANB＜4°
骨性Ⅱ类：ANB＞4°
骨性Ⅱ类：ANB＞4°
总结：高角病人磨牙区托槽不能粘太低，应粘颌向，防止磨牙伸长.
高角病人:拔牙容易丢失支抗，骨质疏松多，磨牙容易伸长，所以拔牙尽量靠后拔。

低角病人:骨质致密，关闭间隙不容易，慎重拔牙。

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2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角 (2)L1-MP角 (3)U1-NA角 (4)U1-NA距 (5)L1-NB角 (6)L1-NB距 (7)U1-L1角
3.面部高度的常用测量项目
全面高:N’-Me’ 上面高:N’-ANS’ 下面高:ANS’-Me’
P
为各点在FH平面垂线 上投影之距离（与教 材不同）
X线头影测量分析
Cephalometrics
四川大学华西口腔医学院 正畸学系 李宇
Beauty is only skin deep ?
X线头影测量分析
1 概念、应用、拍摄及描图 2 常用头影测量标志点及平面 3 常用硬组织、软组织测量项目 4 常用X线头影测量分析法
临床实例
什么是X线头影测量？
Y轴(Y axis):S与Gn的 连线，代表面部生长发 育方向
S
N
Po Gn
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
SNA 角：反映上颌相对
N
于颅部的前后位置关系
S
SNB 角：反映下颌相对
于颅部的前后位置关系
A
ANB 角=SNA-SNB，反映
上下颌骨对颅部的相互
B
位置关系
面角（NP-FH）：面平
不同人群的FMIA目标有差异
Tweed 三角
下中切牙－FH平面（FMIA）
正常值 白人 北京 成都 65° 56° 54°
FH平面－MP平面角（FMA） 25° 31° 28°
下中切牙－MP平面（IMPA） 90° 94° 98°
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角 测量FMIA=55 ° 标准值(65°)-测量值

8分
其他特殊因素（如咬合功能、骨骼发育情况）
根据具体情况评估对脸型的影响程度并酌情加分/扣分
注：该评分标准仅供参考，实际评估时还需结合医生的专业意见。不同医院和医生的评估标准和侧重点可能略有差异。
头影测量评分标准表
项目
描述
分值
颅骨位置
头部轮廓是否对称，额结节、颞凸起等部位的位置和角度
10分
下颌角与下颌前突度
下颌角的角度和前突程度，以及是否存在后缩或前伸下颌
5分
鼻唇部位置
上唇高度、鼻基底宽度及鼻孔大小来自鼻唇部特征的形态和角度7分
面部整体比例协调性
面部的长宽比、上下高度比及各部分之间的相对关系是否协调

X线头影测量分析方法
一、原理和方法
X线头影测量是基于X线透射成像的原理进行的。

将头部放置在X线
透射成像设备中，通过发射X射线，X射线会被不同组织结构吸收和散射，形成X线头颅影像。

利用该影像，可以通过测量头颅中的各种参数来评估
头颅的生理和形态情况。

在X线头影测量中，常用的测量参数包括颅骨间距、颅骨厚度、颅骨
角度等。

颅骨间距是指头颅内部各个关键结构之间的距离，如颅骨板间距、颅底间距等。

颅骨厚度是指头颅骨的厚度，可以用来评估颅骨质量和颅骨
疾病的程度。

颅骨角度是指头颅内部关键结构之间形成的角度，如脑颅角、额颅角等。

这些参数可以通过计算机软件自动测量，也可以通过手工测量
来获取。

二、应用领域和意义
其次，X线头影测量在中枢神经系统疾病的诊断和治疗中也起到了重
要的作用。

通过测量头颅内的结构和参数变化，可以帮助医生评估脑部异
常的程度和性质，并且更好地指导手术操作。

此外，X线头影测量还可以应用于人类进化学研究、骨科手术规划、
颅颌面外科的评估和治疗等领域。

通过测量头颅参数的变化，可以更好地
了解人类进化的过程，也可以为骨科手术和颅颌面外科手术提供指导。

总的来说，X线头影测量是一种非常重要的医学影像分析方法，它可
以通过测量头颅中的各种参数来评估头颅的生理和形态情况。

在临床医学中，它可以帮助医生判断儿童头骨发育情况、评估中枢神经系统疾病的程
度和性质，为手术治疗提供指导，并且在人类进化学研究等领域也具有重要的应用价值。

x线头影测量名词解释
嘿，你知道啥是 x 线头影测量不？这可真是个超有意思的东西呢！
就好像我们拍照留下自己的瞬间一样，x 线头影测量就是给我们的头颅拍个特别的“照片”。

比如说吧，你看那些模特走秀，他们的身材比例都被完美呈现出来，这就有点像 x 线头影测量对头颅的呈现呀！它能把头颅的各种细节，
像什么骨骼结构啦、牙齿位置啦，都清清楚楚地展示出来。

医生们为啥要用它呢？哎呀呀，这可太重要啦！就好像你要去了解
一个神秘的城堡，得有张详细的地图一样，x 线头影测量就是医生了解我们头颅内部情况的“地图”呀！通过它，医生能发现好多问题呢。

想象一下，要是没有 x 线头影测量，医生就像在黑暗中摸索，怎么
能准确地诊断和治疗呢？比如牙齿矫正，要是不知道头颅的具体情况，怎么能制定出最合适的矫正方案呢？这可不是随便乱来的呀！
而且哦，它可不是随随便便就能做的，得有专业的设备和技术才行呢。

这就好比你要做出一道超级美味的菜肴，没有好的食材和厨艺怎
么行呢？
我觉得呀，x 线头影测量真的是医学领域里超级厉害的一个工具呢！它就像一个神奇的钥匙，能打开了解头颅秘密的大门，帮助医生更好
地为我们的健康保驾护航。

你说是不是呢？反正我是这么认为的啦！。

二.X线头影测量的由来
三. X线头影测量的主要应用
1.研究颅面生长发育； 2.牙颌颅面畸形的诊断分析； 3.确定错合畸形的矫治设计； 4.研究矫治过程中.矫治后的牙颌颅面形 态结够的变化； 5.外科正畸的诊断和矫治设计； 6.下颌功能分析；

四.头颅定位X线照像与头影图的描绘
Tweed分析方法:
在下列情况下,不适于进行Tweed三角中下切牙唇舌 向倾斜度的校正: 1. 如果患者由于下頜后缩而表现的安氏２类１分类 错合,这时直立下切牙将会加重已存在的深复盖. 2. 某些頦唇沟较深的安氏２类２分类错合,使下切 牙内收则会加重畸形,且效果也不会稳定. 3. 对于正处在生长发育阶段的患者,要确定上下 切牙的最后位置.

S P N
Or
Y轴角（NSGn）
蝶鞍点至頦顶点 连线与前颅底平 面（S-N）所构成。
Gn
常用头影测量项目
7. 下颌平面角（FMA）：下颌 平面与眼耳平面的交角。
根据下颌平面角将垂直骨面形 分为3种 （1）正常型：均值27.2° 、 标准差4.7 ° （2）高角型：垂直向发育过 度大于32 ° ( 3) 低角型：垂直向发育 不足小于22 °
常 用 头 影 测 量 项 目
眼耳平面
16. /1-眼耳平面 角：下中切牙长轴与 眼耳平面之交角。 （FMIA）
常 用 头 影 测 量 项 目
S
N
17.前、后面高比 （S-Go/N-Me）。
Go
Me
常用头影测量项目
17.前、后面高比（S-Go/N-Me） 根据X线头影前-后面高的比例，面部的生长 型可分为三种类型： （1）正常生长型；面部生长均衡，后面高与前 面高的比值在65%左右。 （2）水平生长型；面部生长方向较为水平，后 面高与前面的比值一般大于68%。 （3）垂直生长型；面部生长方向较垂直，后面 高与前面高的比值一般小于62%。