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5头影测量分析

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X线头影测量分析报告

X线头影测量分析报告

－测量平面
下颌平面（MP）
1:通过颏下点于下颌角下缘相切的线
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－测量平面
下颌平面（MP）
2:下颌下缘最低点的切线
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－测量平面
下颌平面（MP）
3:下颌角点与下颌颏顶点间连线
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下颌平面（MP）：
1、颏下点与下颌 角下缘的切线
2、通过下颌骨下 缘最低点的切线
下齿槽座角（SNB）：前颅底平面与鼻根点和下齿槽 座点连线所形成的后下交角
上下齿槽座角（ANB）：SNA与SNB之差
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下颌平面角（MP-FH）:下颌平面与FH平面的交角 Y轴角：蝶鞍中心点与颏顶点连线与眶耳平面之前
下交角
面角（NPog-FH）：面平面与眶耳平面相交的后下 交角
简言之：通过对X片进行分析、测量，从而了解 牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相互关系 。
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一、主要应用
研究颅面生长发育 牙颌、颅面畸形的诊断分析 确定错牙合畸形的矫治计划 研究矫治中，矫治后的变化 外科正畸的诊断和矫治设计 下颌功能分析
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上齿槽缘点（Spr）：上牙槽突的最前下点
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上齿槽座点(A)：前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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注意：
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
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3.下颌标志点(10个）
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上中切牙－前颅底平面角（U1-SN）：上中切牙长 轴与前颅底平面的前下交角

儿童的头影测量标准值

儿童的头影测量标准值

儿童的头影测量标准值
头影测量的标准值是根据年龄和性别来确定的，因为儿童的颅颌面结构在生长过程中会随着年龄的增长和性别的不同而发生变化。

以下是一些一般性的头影测量标准值，但请注意，这些值可能因个体差异和种族差异而有所不同：
1. 下颌位置：
- 女孩：出生后第一年会逐渐下降，然后在2-5岁时上升，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年会下降，然后在2-8岁时上升，然后在9-15岁时保持相对稳定。

2. 下颌长度：
- 女孩：出生后第一年增加最快，然后在2-5岁时逐渐减慢，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年增加最快，然后在2-8岁时逐渐减慢，然后在9-15岁时保持相对稳定。

3. 颌部生长角度：
- 女孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-5岁时逐渐减少，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-8岁时逐渐减少，然后在9-15岁时保持相对稳定。

以上只是一般性的参考值，具体的测量结果应该由专业的口腔科医生或颌面科医生进行解释。

X线头影测量分析方法解析

X线头影测量分析方法解析

Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Steiner分析法
1)SNA角：前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部 2)SNB角：前颅底平面-下齿槽 座点角。代表下颌基骨对颅部
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面，而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面，再从颏前点作切 线垂直下颌平面，测量
(6)全面高(N-Me)：鼻 根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS)： 鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me)： 前鼻棘至颏下点的距离。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线， 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基 准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。

头影测量分析方法 PPT课件

头影测量分析方法 PPT课件

Downs分析法
是以眼耳平面作为基准平面，具体包括以下的测量内容。
(1)骨骼间关系的测量： 1)面角(facial angle)：面平面 与眼耳平面相交之下后角。此角代 表了下颌的凸缩程度。此角越大则 表示下颌越前突，反之则表示下颌 后缩。 2)颌凸角(angle of convexity)： NA与PA延长线之交角。此角代表面 部的上颌部对整个面部侧面的关系。 当PA延长线在NA前方时，此角为正 值，反之若PA延长线在NA之后方时， 则此角为负值。此角越大表示上颌 相对凸度越大，反之表示上颌相对
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面，而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面，再从颏前点作切 线垂直下颌平面，测量
(6)全面高(N-Me)：鼻 根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS)： 鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me)： 前鼻棘至颏下点的距离。
头影测量分析方法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法
主要测量由眼耳平面、下 颌平面、下中切牙长轴所组 成的代表面部形态结构的颌 面三角形的三角。
8)L1〖TX-〗-NB角：下中 切牙切缘与NB连线的交角。 代表下中切牙的倾斜度和突 度。
4)下中切牙-合平面角(1〖TX-〗to occlusal plane)：下中切牙长轴与合 平面相交之下前角。此角表示下中切
5)上中切牙凸距(1〖TX-〗-AP)：上 中切牙切缘至AP连线的垂直距离(mm)。 此距代表上中切牙的突度，当上中切 牙切缘在AP连线前方时为正值，反之 为负值。

头影测量

头影测量

下颌角点
软组织侧貌标志点
• 额点（G. Glabella）:额部最突点 • 鼻顶点（Prn. Pronasale）:鼻部软组织最突点 • 上唇突点（UL. Upper Labrale）:上唇最突点 • 下唇突点（LL. Lower Labrale）:下唇最突点 • 软组织颏前点（Pos. Pogonion of Soft Tissue）:
下颌标志点
髁顶点（Co. Condylion）:髁突最上点 关节点（Ar. Articulare）:颅底下缘与下颌髁突颈后缘交点， 在颏顶点不清晰时用，为升支平面标志点之一 下颌角点（Go. Gonion）:下颌角的后下点，即下颌平面和下 颌升支后缘切线交角的角平分线与下颌角的交点（通过下颌平 面与升支后缘切线的交点GO'来确定）
• 下切牙点（Li. Lower Incisor）:最前的下中切牙切缘点 • 下齿槽座点（B. Supramental）:
下齿槽缘点与颏前点间之骨部最凹点
下颌标志点
• 颏前点（Po. Pogonion）:颏部最前点 • 颏顶点（Gn. Gnathion）:颏前点与颏下点骨连线中点 • 颏下点（Me. Menton）：颏部最下点
颅部标志点
• Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点
上颌标志点
• 眶点（Or. Orbitale）:眶下缘最低点
上颌标志点
• 前鼻棘点（ANS. Anterior Nasal Spine）:前鼻 棘之尖
• 后鼻棘点（PNS. Posterior Nasal Spinale）： 硬腭后部骨棘之尖
上颌标志点
• 常用的点不用背，只需理解
• 冒着眼瞎的风险定出来的点，具体临床作 用
拍摄时射线主轴沿外耳道上缘穿过， Frankfort水平面需平行于地面

头影测量分析方法

头影测量分析方法

头04影测量分析方法的优缺点与 局限性
头影测量分析方法的优点
• 头影测量分析方法的优点 • 客观性强，减少了人为误差 • 可以准确反映颅颌骨的结构特点，为诊断和治疗提供依据 • 可以重复测量，便于长期观察和对比分析
头影测量分析方法的缺点
• 头影测量分析方法的缺点 • 操作复杂，需要专业的知识和技能 • 依赖影像手段，可能受到影像质量的影响 • 难以全面反映患者的生理和心理状况
头03影测量分析的主要指标与意 义
头影测量分析的主要指标
头影测量分析的主要指标
• 角度指标：如SNA、SNB、ANB等 • 线距指标：如ANS-Me、UI-SN等 • 面积和体积指标：如全面积、下颏体积等
头影测量分析的辅助指标
• 牙齿指标：如牙槽骨高度、牙齿倾斜角度等 • 软组织指标：如鼻唇角、颏颈角等
头影测量分析结果的评估与诊断
头影测量分析结果的评估
• 根据正常值范围和统计学方法，评估测量结果的正常与否 • 分析测量结果之间的关联性，了解各种指标的变化趋势 • 结合患者的临床表现和其他检查结果，进行综合分析
头影测量分析的诊断
• 根据测量结果，诊断患者的颅颌骨生长发育状况和疾病程度 • 指导正畸治疗和颌面外科手术方案的设计 • 预测治疗效果和评估治疗进展
头影测量分析方法的发展趋势与前景
头影测量分析方法的发展趋势
• 个性化治疗和精准医疗的需求，推动头影测量分析方法的改进和发展 • 口腔医学与其他学科的交叉融合，拓展头影测量分析的应用领域 • 计算机辅助设计和人工智能技术的应用，提高头影测量分析的效率和准确性
头影测量分析方法的前景
• 在口腔医学领域发挥重要作用，为诊断和治疗提供科学依据 • 随着技术的进步，头影测量分析方法将不断完善和发展，为患者提供更优质的医疗 服务

5头影测量分析

的牙颌、颅面形态结构变化的比较 研究
（5）外科正畸的诊断和矫治设计
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
放大和变形
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
头 颅 定 位 线 片
X
3、头影图的描绘
• 上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
眶点(O.orbitale:)：眶下 缘之最低点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.)：翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点
tissue)：软组织颏之最前点软组织 • 颏下点 （Mes.menton of soft
tissue)：软组织颏之最下点 • 咽点(K )软组织颈部与咽部之连接点
额点(G.glbella)：额部之最 前点
软组织鼻根点(NS nasion of soft tissue)：软组织侧面上鼻与
前额间最凹点
（FH）的交角 8）Y轴角：Y轴与眼耳平面相交的下前角
（1）上下颌骨常用测量项目
1）SNA角：蝶鞍点 -鼻根点-上齿槽 座点
• 此角反应上颌相 对于颅部的前后 位置关系。
• 过大：上颌前突 • 过小：上颌后缩
SNA角：蝶鞍点-鼻根点-上齿 槽座点
（1）上下颌骨常用测量项目
2）SNB角：蝶鞍 点-鼻根点-下 齿槽座点
• 反映上颌相对 于整个侧面的 关系
• PA在NA前+ • PA在NA后• 上颌的相对凸

头影测量分析法 (韩睿 整理)

Downs分析法(10项）：1.面角：面平面与眼耳平面相交之后下角2.颌凸角：NA与PA延长之交角3.A-B平面角：AB或其延长线与面平面的交角4.下颌平面角：下颌平面与眼耳平面的交角5.Y轴角：Y轴与眼耳平面相交之下前角6.牙合平面角：牙合平面与眼耳平面之交角7.上下中切牙角：上下中切牙长轴的交角8.下中切牙—下颌平面角：下中切牙长轴与下颌平面之交角9.下中切牙—牙合平面角：下中切牙长轴与牙合平面相交之下前角10.上中切牙凸距：上中切牙切缘至APo连线的垂直距离（mm），当上中切牙切缘在APo连线前方时为正值，反之为负值Steiner分析法（14项）：1.SNA角2.SNB角3.ANB角4.SND角（D点为下颌骨性联合中心）5.U1—NA角：上中切牙长轴与NA连线之交角6.U1—NA距：上中切牙切缘至NA连线的垂直距离7.L1—NB角：下中切牙长轴与NB连线之交角8.L1—NB距：下中切牙长轴至NB连线的垂直距离9.Po—NB：颏前点至NB连线的垂直距离10.U1—L1角：上下中切牙长轴之后交角11.OP—SN角：牙合平面与前颅底平面之交角12.GoGn—SN角13.SL：从颏前点向前颅底平面作垂线，其垂足至蝶鞍点的距离14.SE：从髁突最后点向前颅底平面作垂线，垂足至蝶鞍点的距离注：SL与SE两项测量相结合，可了解下颌位置的变化及下颌生长发育情况Wylie分析法（10项）：以下前四项以眼耳平面为基准平面1.Co—S：髁突后切线垂线至蝶鞍中心店垂线间之距离2.S—Ptm：蝶鞍中心垂线至翼上颌裂垂线的距离3.ANS—Ptm：翼上颌裂垂线至前鼻棘垂线的距离4.Ptm—6：翼上颌裂垂线至上颌第一恒磨牙颊沟垂线距离5.下颌长度：以下颌平面为基准平面，髁突后缘作切线垂直下颌平面，再从颏前点作切线垂直下颌平面，测量垂线间的距离以下五项从鼻根点、前鼻棘点及颏下点作线与眼耳平面平行，而测量各平行线间的垂直距离6.全面高：N—Me：鼻根点与颏下点的垂直距离7.面上部高：N—ANS：8.面下部高：ANS—Me：9.N—ANS/N—Me×100％：10.ANS—Me/N—Me×100％：。

第5章X线头影测量诊断学

每次投照均严格按以上原则，方能保证不同 时间、不同个体影片测量结果的可靠性和可比性
X线头影测量片的传统 描图方法
• 在X线观片灯或专用描图桌上进行 • 工具：透明硫酸纸，刻度尺，三角
板，圆规，量角器、3H铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记,可用强光局部观察.
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
首次使用头颅定位器及摄片技术
X线头影测量学在 正畸学中的作用
应用 • １.研究颅面生长发育及生长预测
应用
• ２.牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
应用
• ３.研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面 形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的 作用机理
应用 • 4.外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评
• 按拍摄时不同头位分为 –侧位片 –正位片 –颏顶位片
X线头颅侧位片的获得
• 仪器：X线头颅定位仪 • 定位原理：
– 左右耳塞与眶针三者构成 一与地平面平行的恒定平 面；
– X线的中心点通过外耳道； – X线球管至头部矢状面的
距离不小于150cm； – 尽量减少头至胶片的距离
（10cm）。
➢ X线球管至患者正中 矢状面应不小于150cm
下颌骨的标志点
• 关节点(Ar. articulare ):颅 底下缘与下颌 髁突颈后缘之 交点 .(引伸标 志点)在Co不 易确定时代替 Co点.
下颌骨的标志点
• 下颌角点(Go. gonion ): 下颌角 的后下点.
下颌骨的标志点
• 髁突后缘点 （Pcd)。
• 颏联合中心点 (D):目测估计.
颅部的标志点

头影测量评分标准表

8分
其他特殊因素（如咬合功能、骨骼发育情况）
根据具体情况评估对脸型的影响程度并酌情加分/扣分
注：该评分标准仅供参考，实际评估时还需结合医生的专业意见。不同医院和医生的评估标准和侧重点可能略有差异。
头影测量评分标准表
项目
描述
分值
颅骨位置
头部轮廓是否对称，额结节、颞凸起等部位的位置和角度
10分
下颌角与下颌前突度
下颌角的角度和前突程度，以及是否存在后缩或前伸下颌
5分
鼻唇部位置
上唇高度、鼻基底宽度及鼻孔大小来自鼻唇部特征的形态和角度7分
面部整体比例协调性
面部的长宽比、上下高度比及各部分之间的相对关系是否协调
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（二）X线头影测量分析 cephalometrics
重点、难点
X线头影测量分析
X-线头影测量是在30年代由美国的 Broadbent和德国的Hofrath为研究颅 面生长发育和错合的骨性失调而提出的 研究手段。现代的生长发育理论大多数 都由x-线头影测量的研究而来。
X线头影测量分析
X线头影测量分析
（二）X线头影测量分析
• X线头影测量（cephalometrics） 主要是对X线头颅定位照相的影像进行
测量分析，从而了解牙、颌、颅面软硬组 织的结构及其相互关系。
• X线头影测量成为了口腔科各专业特别是口 腔正畸、口腔颌面外科等学科的临床诊断、 治疗设计和研究工作的重要手段
（二）X线头影测量分析
1、X线头影测量的主要作用 2、头颅定位X线片的拍摄原理和方法 3、头影图的描绘 4、常用X线头影测量的标志点及平面 5、常用硬组织测量项目 6、常用X线头影测量分析法 7、常用软组织测量内容
8、电子计算机化的X线头影测量
1、X线头影测量的主要作用
（1）研究颅面生长发育 （2）牙、颌、颅面畸形的诊断分析 （3）确定错合畸形的矫治设计 （4）错合畸形矫治过程中及矫治后
• 上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
眶点(O.orbitale:)：眶下 缘之最低点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.)：翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点
下颌角点(Go.gonion)：下颌角的 后下点：可通过下颌支平面和下 颌平面交角之分角线与下颌角之
相交点来确定
下齿槽座点(B.supramental)： 下齿槽突缘点与颏前点间之骨 部最凹点
下齿槽缘点(Id.infradentale)： 下齿槽突之最前上点
下切牙点(Li.lower incisor)： 下中切牙切缘之最前点
• 下切牙点(Li.lower incisor)：下中切牙 切缘之最前点
• 颏前点(P.pogonion)：颏部之最突点 • 颏下点(Me.menton)：颏部之最下点 • 颏顶点(Gn.gnathion)：颏前点与颏下点
之中点
髁顶点(Co.condylion)：髁 突的最上点
关节点(Ar.articulare)：颅底 下缘与下颌髁突颈后缘之交点
的牙颌、颅面形态结构变化的比较 研究
（5）外科正畸的诊断和矫治设计
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
放大和变形
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
头 颅 定 位 线 片
X
3、头影图的描绘
• 后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖
• 翼上颌裂点(Ptm.pterygomaxillary fissure)：翼上颌裂轮廓之 最下点
2）上颌标志点
• 上齿槽座点(A.subspinale)：前 鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹 点
• 上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前下 点
• 眼点(E.eye)：睑裂之眦点 • 鼻尖点（Ns）：鼻软组织最前点 • 鼻下点(Sn.subnasale)：鼻小柱与上唇
之连接点
唇缘点(vermilion borders)： 上唇缘点(UL′)：上唇粘膜与皮肤之连接点 下唇缘点(LL′)：下唇粘膜与皮肤之连接点
4）常用软组织侧面标志点
• 上唇突点(UL)：上唇之最突点 • 下唇突点(LL)：下唇之最突点 • 软组织之颏前点(Pos.pogonion of soft
精确地转移到
• X线头影像
描图纸
• 描图所需： X线头影片、硫酸描 图纸、毫米尺、半圆仪、细尖钢 笔、硬质尖锐铅笔、观片灯或描 图桌
• 描绘图的点线必须细小精确
3、头影图的描绘
4、常用X线头影测量的 标志点及平面
（1）头影测量标志点 1）颅部标志点 2）上颌标志点 3）下颌标志点 4）常用软组织侧面标志点
蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影 像的中心
耳点(P.porion)：外耳道之最 上点机械耳点，解剖耳点
颅底点(Ba.basion)：枕骨 大孔前缘中点
Bolton点：枕骨髁突后切 迹的最凹点
2）上颌标志点
• 眶点(O.orbitale:)：眶下缘之最低 点
• 前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖
颏前点(P.pogonion)：颏部 之最突点
颏下点(Me.menton)：颏 部之最下点
颏顶点(Gn.gnathion)：颏 前点与颏下点之中点
4）常用软组织侧面标志点
• 额点(G.glbella)：额部之最前点 • 软组织鼻根点(NS nasion of soft
tissue)：软组织侧面上鼻与前额间最凹 点
下颌髁突颈后缘之交点
• 下颌角点(Go.gonion)：下颌角的后下 点：可通过下颌支平面和下颌平面交 角之分角线与下颌角之相交点来确定
• 下齿槽座点(B.supramental)：下齿槽 突缘点与颏前点间之骨部最凹点
3）下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id.infradentale)：下齿槽 突之最前上点
上齿槽座点(A.subspinale)： 前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部 最凹点
上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前
下点
上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
UI
3）下颌标志点
• 髁顶点(Co.condylion)：髁突的最上点 • 关节点(Ar.articulare)：颅底下缘与
（2）头影测量平面
1）颅部标志点
• 鼻根点(N.nasion)：鼻额缝的最前 点
• 蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影像的中心
• 耳点(P.por剖耳点
• 颅底点(Ba.basion)：枕骨大孔前缘 中点
•
Bolton点：枕骨髁突后切迹
•
的最凹点
鼻根点(N.nasion)：鼻额缝 的最前点