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儿童的头影测量标准值
头影测量的标准值是根据年龄和性别来确定的，因为儿童的颅颌面结构在生长过程中会随着年龄的增长和性别的不同而发生变化。
以下是一些一般性的头影测量标准值，但请注意，这些值可能因个体差异和种族差异而有所不同：
1. 下颌位置：
- 女孩：出生后第一年会逐渐下降，然后在2-5岁时上升，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年会下降，然后在2-8岁时上升，然后在9-15岁时保持相对稳定。
2. 下颌长度：
- 女孩：出生后第一年增加最快，然后在2-5岁时逐渐减慢，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年增加最快，然后在2-8岁时逐渐减慢，然后在9-15岁时保持相对稳定。
3. 颌部生长角度：
- 女孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-5岁时逐渐减少，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-8岁时逐渐减少，然后在9-15岁时保持相对稳定。
以上只是一般性的参考值，具体的测量结果应该由专业的口腔科医生或颌面科医生进行解释。
Downs分析法(10项）：1.面角：面平面与眼耳平面相交之后下角2.颌凸角：NA与PA延长之交角3.A-B平面角：AB或其延长线与面平面的交角4.下颌平面角：下颌平面与眼耳平面的交角5.Y轴角：Y轴与眼耳平面相交之下前角6.牙合平面角：牙合平面与眼耳平面之交角7.上下中切牙角：上下中切牙长轴的交角8.下中切牙—下颌平面角：下中切牙长轴与下颌平面之交角9.下中切牙—牙合平面角：下中切牙长轴与牙合平面相交之下前角10.上中切牙凸距：上中切牙切缘至APo连线的垂直距离（mm），当上中切牙切缘在APo连线前方时为正值，反之为负值Steiner分析法（14项）：1.SNA角2.SNB角3.ANB角4.SND角（D点为下颌骨性联合中心）5.U1—NA角：上中切牙长轴与NA连线之交角6.U1—NA距：上中切牙切缘至NA连线的垂直距离7.L1—NB角：下中切牙长轴与NB连线之交角8.L1—NB距：下中切牙长轴至NB连线的垂直距离9.Po—NB：颏前点至NB连线的垂直距离10.U1—L1角：上下中切牙长轴之后交角11.OP—SN角：牙合平面与前颅底平面之交角12.GoGn—SN角13.SL：从颏前点向前颅底平面作垂线，其垂足至蝶鞍点的距离14.SE：从髁突最后点向前颅底平面作垂线，垂足至蝶鞍点的距离注：SL与SE两项测量相结合，可了解下颌位置的变化及下颌生长发育情况Wylie分析法（10项）：以下前四项以眼耳平面为基准平面1.Co—S：髁突后切线垂线至蝶鞍中心店垂线间之距离2.S—Ptm：蝶鞍中心垂线至翼上颌裂垂线的距离3.ANS—Ptm：翼上颌裂垂线至前鼻棘垂线的距离4.Ptm—6：翼上颌裂垂线至上颌第一恒磨牙颊沟垂线距离5.下颌长度：以下颌平面为基准平面，髁突后缘作切线垂直下颌平面，再从颏前点作切线垂直下颌平面，测量垂线间的距离以下五项从鼻根点、前鼻棘点及颏下点作线与眼耳平面平行，而测量各平行线间的垂直距离6.全面高：N—Me：鼻根点与颏下点的垂直距离7.面上部高：N—ANS：8.面下部高：ANS—Me：9.N—ANS/N—Me×100％：10.ANS—Me/N—Me×100％：。
目录•1拼音•2 X线头影测量的主要应用•3头颅定位X线照像和头影图的描绘o 3.1头颅定位X线照像o 3.2头影图的描绘•4常用X线头影测量的标志点及平面o 4.1头影测量标志点o 4.2头影测量平面•5常用硬组织测量项目o 5.1上下颌骨的常用测量项目。
o 5.2上下前牙的常用测量项目o 5.3面部高度的常用测量项目•6电子计算机化的X线头影测量o 6.1电子计算机化的X线头影测量特点o 6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程o 6.3数学模型的建立[返回]1拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xīX线头影测量（Cephalometrics），主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。
在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。
70年代末，电子计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。
[返回]2 X线头影测量的主要应用1研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。
Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。
Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。
林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。
6～12岁孪生女童头影测量中颅面深度环境作用的纵向分析吕靖;刘克礼;彭静【摘要】目的探讨环境因素和遗传因素在混合牙列期对颅面深度和面下1/3软组织覆盖厚度的影响,为确立错颌的正确矫治计划提供理论依据.方法测量6 ～12岁183对孪生女童的头颅侧位片,运用孪生子研究法分析对颅面深度、面下1/3软组织覆盖厚度、面型角度指标的环境和遗传作用纵向统计分析.结果水平向测量结果(L1、L2和L3)和软组织厚度结果(D1、D2和D3)均有显著的环境作用(P＜0.05),角度测量项目(G-Sn-Pos和Ns-Sn-Pos)可见到遗传和环境的双重作用(P＜0.05).结论孪生女童头影测量中下颌骨颅面深度受较强的环境因素影响,颅面形态受到遗传和环境的双重作用.【期刊名称】《武警医学》【年(卷),期】2018(029)004【总页数】5页(P332-335,340)【关键词】双生子研究;X线头影测量;颅面深度【作者】吕靖;刘克礼;彭静【作者单位】100069,北京市丰台区右安门社区卫生服务中心口腔科;100039北京,武警总医院口腔科;100039北京,武警总医院口腔科【正文语种】中文【中图分类】R783.4混合牙列期是女童面部软组织形态发育成熟时期，错颌畸形多发生于混合牙列期，牙颌畸形发生会影响颅面正常的生长发育。
目前孪生子面部软组织研究还不多，增加针对面部软组织的研究，可以丰富临床对颅面异常病因学的认知，指导正畸及正颌外科医师临床诊断和治疗设计，如对受环境因素影响较大的部位进行早期干预治疗可能更加有效[1-3]。
本研究应用6～12岁孪生女童的混合纵向研究可观察颅面部软硬组织受环境和遗传因素作用大小，可以更好地解释颅面深度和形态的相关问题。
已有的相关研究存在样本数量不足、样本配对设计不合理以及统计方法缺陷等问题。
1 对象与方法1.1 对象本研究收集了1995-1999年北京地区孪生女童89对，通过DNA卵型鉴定为同卵孪生(monozygotic twin，MZ)58对，异卵孪生(dizygotic twin，DZ)25对，三胞胎完全同卵和完全异卵各1对，配成异卵和同卵各3对。
