超声波检测实际操作考试有关说明(锻件)(0809)
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锻件超声波检测作业指导书7.1适用范围:本条适用于碳素钢和低合金钢锻件的超声波检测和缺陷等级评定,不适用于奥氏体粗晶材料的超声检测,也不适用于内外径之比小于80%的环形和筒形锻件的周向横波检测。
7.2检测工艺卡7.2.1检测工艺卡由具有II级UT资质人员编制,工艺卡的编制应与所执行的技术规范及本检测作业指导书相符。
7.2.2检测工艺卡由具有UTIII资质人员或UT检测责任师审核批准。
7.3检测器材:7.3.1仪器选用数字式超声波检测仪或A型脉冲反射式超声波检测仪,其工作频率范围为0.5-10MHz,水平线性误差不大于1%,垂直线性误差不大于5%。
7.3.2探头选用双晶直探头频率为 5 MHz,晶片面积不小于150mm2;单晶直探头,频率为2-5 MHz,圆晶片直径为14-25mm。
7.3.3试块采用纵波单晶直探头时采用JB/T4730-2005规定的CSI 试块;采用纵波双晶探头时采用JB/T4730-2005图8-5规定的CSII标准试块;检测面是曲面时采用CSIII试块。
7.3.4耦合剂:化合浆糊或机油。
7.4检测时机:原则上安排热处理后,槽、孔、台阶加工前进行。
若热处理后锻件形状不适合超声波检测时,也可在热处理前进行,但在热处理后仍应对锻件进行尽可能完全的检测。
7.5检测方法7.5.1执行检测工艺卡的规定7.5.2锻件一般应进行纵波检测,对筒形锻件还应进行横波检测,但扫查部位和验收标准应根据JB/T4730-2005.3附录C的规定。
7.5.3在纵波检测时,原则上应从两面相互垂直的方向进行检测,尽可能的检测带锻件的全体积,但锻件厚度超过400mm 时,应从两端面进行100%的扫查。
7.6检测灵敏度确定7.6.1纵波直探头检测灵敏度的确定当被检部位的厚度大于或等于3倍进场区时,原则上选用底波计算方法确定基准灵敏度,也可以采用试块法确定基准灵敏度。
7.6.2纵波双晶直探头灵敏度确定根据需要选择不同直径的平底孔试块,并依次测试一组不同检测深度的平底孔(至少三个),调节衰减器,使其中最高回波达到满刻度的80%。
平板对接焊缝超声波检测实际操作考试有关说明1 执行标准JB/T4730.3-2005。
2 实际操作的具体内容和要求2.1 入射点测定,测三次并求平均值;2.2 折射角(K值测定,测三次并求平均值;2.3 时基线调整,可按深度、水平距离或声程调整,并根据所探板厚,确定调整比例;2.4 用CSK-ⅠA、CSK-ⅢA试块测绘距离—波幅曲线:使用模拟仪器时可以采用分贝—距离曲线或分贝-面板曲线;使用数字仪器时采用波幅-面板曲线;2.5 调整仪器灵敏度,应符合JB/T4730.3-2005的规定;2.6 检测平板对接焊缝试件时,用草稿纸适时作好记录;注:检测平板对接焊缝试件时,应按探伤工作程序进行粗探、细探、双侧探测及斜平行扫查。
2.7 根据检测记录,填写报告。
3 考试时间3.1与锻件检测共90分钟(不包括写报告时间,每超时1分钟扣2分,不得超时5分钟;3.2写报告时间与锻件检测共20分钟。
4 有关报告填写的说明4.1 “学号”及“姓名”应如实填写。
4.2 “试件编号”填写试件上的钢印号;“试件厚度”据实填写。
4.3 “焊接方法”填写手工电弧焊或自动焊;“坡口型式”一律填写X型。
4.4 “仪器型号”和“探头规格”按所用的仪器和探头的规格填写。
4.5 “入射点测定”和“折射角(K值的测定”分别填写三次测量值及平均值。
4.6 “时基线调整”根据采用的深度、水平或声程,在其前的□中打√,模拟仪填上比例,数字仪填上探测范围。
4.7 “距离—波幅曲线”的填写4.7.1“声能损失补偿”规定为4dB;4.7.2根据所采用的分贝—距离曲线法、分贝-面板曲线法或波幅-面板曲线法,填写内容有所不同。
4.7.2.1采用分贝—距离曲线法时,将实测的Φ3×40横孔的dB值及考虑了声能损失补偿推算的ARL线、DRL线和MRL线的dB值,填入相应的表格中;四条线均应画在相应的坐标格线图中;“探伤灵敏度”应写入你应该采用的dB数。
考试程序步骤一、锻件(直探头2.5Pφ14K2)步骤:1、开机——按两次确定键——按功能键——按零(初始化)——按1(当前通道)——长按通道/设置键——改探头参数等—调校。
2、直探头纵波入射点调校:由上一步进入零点/调校键——选择1(入射点调校)(显示调节为,波速5920M/S;一次回波声程100mm;二次回波声程0mm.)——放在CSK-ⅠA试块上,对准中间完好位置找到底面回波,待波稳定后,按确定键,完成入射点调校。
3、调整灵敏度:将直探头放在150/φ3(根据现场情况)试块上,找到其反射波,并用“波门”键调整“+”或“—”使其波门对准150/φ3处的反射波,找到最高波,调节到80%。
记下此时增益Δ1dB,然后计算出150/φ3与225/φ2的回波分贝差Δ2dB,在Δ1dB基础上,调节增益旋钮增至(Δ1+Δ2)dB。
4、锻件检测:将直探头放在225mm,锻件上,全面扫查,找到200mm处缺陷波,用“波门”键调整“+”或“—”使其波门对准200mm处的反射波,使其最高波达到80%,记下此时Δ3dB.5、计算当量:则200mm处缺陷波比225/φ2波高高Δ=(Δ1+Δ2-Δ3)dB。
由公式计算出缺陷当量。
6、根据标准进行评级,整理报告。
最简单做法:锻件:步骤:1、开机——按两次确定键——按功能键——按零(初始化)——按1(当前通道)——长按通道/设置键——改探头参数等—调校。
2、直探头纵波入射点调校:由上一步进入零点/调校键——选择1(入射点调校)(显示调节为,波速5920M/S;一次回波声程100mm;二次回波声程0mm.)——放在CSK-ⅠA试块上,对准中间完好位置找到底面回波,待波稳定后,按确定键,完成入射点调校。
3、调整灵敏度:将直探头放在150/φ3(根据现场情况)试块上,找到其反射波,并用“波门”键调整“+”或“—”使其波门对准150/φ3处的反射波,找到最高波,调节到80%。
记下此时面板的读数Δ1dB。
超声波实际操作考试一次性规定一、考试内容1、Ⅰ级:对接焊缝试板1件。
2、Ⅱ级:对接焊缝试板1件,锻件或钢板试件1件。
二、考试时间1、操作时间:Ⅰ级60分钟,Ⅱ级90分钟(含操作前的准备时间);2、编写报告时间:30分钟;3、不允许超时,到点清场子。
三、仪器和探头:1、仪器:数字仪或模拟仪。
(允许自备,自带数字仪使用前应消除相关记忆数据和曲线。
)2、探头:自备。
Ⅰ级:横波斜探头(K2、2.5MHz);Ⅱ级:横波斜探头(K2、2.5MHz);纵波直探头(2.5MHzφ14—20mm)四、操作前准备:1、抽操作台号,领取报告;2、核对试板编号、测量试板尺寸并做好记录3、准备好标准试块和对比试块;4、仪器通电,并向监考人报告考核开始。
五、操作1、仪器调节;2、测定入射点、K值,(焊缝探伤)。
3、调整仪器时基扫描线;4、调节探伤灵敏度。
5、焊缝探伤绘制距离—波幅曲线,距离—波幅实测值不少于5点。
距离—波幅曲线可以做在面板上,但必须提供书面距离—波幅曲线图,耦合补偿4dB,必须计入曲线。
根据板厚正确选择检测灵敏度。
6、试板扫查:各种试件均须100%扫查。
焊接试板应在单面双侧进行锯齿形扫查和斜平行扫查。
六、缺陷记录1、缺陷记录均以试板编号置于左上方为基准。
2、焊接试板焊缝两端20mm内缺陷不记。
3、需记录的参数见超声探伤报告填写示例。
七、整理:考核结束后清理桌面,将试板和试块摆放整齐。
八、报告:填写完整,缺陷参量的位置和尺寸标注明确。
附件1 锻件超声波探伤报告填写实例:陕西省锅炉压力容器UT-II实际操作考核锻件超声波探伤报告试件材质16Mn 厚度(mm)75 试件编号××仪器型号CTS22 探头型号2.5Pφ20 参考试块φ4/50 耦合剂机油表面补偿---- 灵敏度φ2平底孔探伤标准JB4730-94 验收级别---缺陷序号XmmYmmHmmLmmBmmSF/S(%)BG/BF(dB)#Amaxφ4 dB评定级别备注1 35 35 50 -- -- -- +6 错误!未找到引用源。
锻件超声波检测实践操作试卷一、实验目的掌握锻件超声波检测的操作流程和方法,加深对锻件超声波检测的理解。
二、实验器材和材料2.1 实验器材•超声波检测仪•计算机•超声波检测软件2.2 实验材料•锻件样品三、实验步骤1.将锻件样品放置在超声波检测仪上,并用夹具固定好。
2.打开计算机和超声波检测软件。
3.在超声波检测软件中选择合适的检测模式和参数设置。
4.在软件界面上点击开始检测按钮,开始进行超声波检测。
5.观察超声波检测结果,并记录下关键的检测数据。
6.根据超声波检测结果分析锻件的质量情况。
7.如果有问题或异常,可以调整检测参数,重新进行超声波检测。
如果问题无法解决,应及时请教实验指导人员。
8.完成超声波检测后,关闭计算机和超声波检测软件,并将锻件样品取下。
四、实验注意事项1.实验过程中要注意安全,避免发生意外伤害。
2.操作仪器和设备时要轻拿轻放,防止损坏设备。
3.实验前要查看仪器是否正常工作,如发现异常应及时报修。
4.实验过程中要认真记录数据和观察结果,确保数据的准确性。
5.如有问题和困惑,可随时向实验指导人员请教。
五、实验结果分析根据超声波检测结果,可以判断锻件内部是否存在缺陷、裂纹、杂质等问题。
通过分析这些结果,可以评估锻件的质量情况,并采取相应的措施进行调整和改善。
六、实验总结通过本次锻件超声波检测实践操作,我掌握了超声波检测的基本步骤和操作方法。
通过观察和分析检测结果,我对锻件的质量控制有了更深入的理解。
同时,我也学会了如何正确使用超声波检测仪器和软件,并注意了实验过程中的安全事项。
总体而言,本次实验对我提高实验操作能力和理论知识有很好的帮助。
七、参考文献无。
锻件超声波探伤1」」筒形抿件•…轴向长度L大干其外径尺寸n的轴对称空I凛件如圉1⑴所示・t为公称厚度.1.1.2环形舉件一轴向长度L小干寻于其外径尺寸n的轴对称空心件如图1⑸所示上为公称厚度.1.1.3饼形抿件…-轴向长度L小干竽干其外径n的轴对称形粮件如图1(b)所示北为公称厚度.1.1.4琬形粮件…•用作容器封头冲心部份凹进去的轴对称形抿件如图1(c)所示.t为公称厚度.1.1.5方形锻件…•相交面互相塑宜的六面体僭件如图1(d)所示.三维尺寸触b、c中最上称厚度.1.2底波降低重GB/BF(dB)无欣陷区的第一次底波高度(GB)和有缺陷区的第一次底波高度(BF)之比.由碱陷引起的底面反射的降低重用dB 道耒示.1・3密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范医内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm X50mm 的探测面上发现同一深度范闫内有5个或5个以上的缺陷反射信号.1・4缺陷当重宜径用AVG冇法求出的假定与超声波衷相霑宜的平底孔的宜径,称为缺陷当重宜径成简称为当重宜径.1.5 AVG曲线以纵座标轴衣示相对的反射回波高度,以横座标轴走示声桎,对不同直径且假定与超声波衷相塑宜的圜平面缺陷所U出的曲线图叫AVG曲线亦称为DGS曲线.2探伤人员抿件探伤应由具有一定基础知识和锲件探伤经验,并经亏枝取得国家认可的资格证书者担任.3探伤器材3.1探伤仪5.1.1应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在lMH=^5Mh=内.3.1.2仪器应至少在满刻度的75%范闫内呈线性显示(误差在5%以內垂亘线性误差应不大干5%.3.1.3仪器和探头的组台灵叢度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵软度余重至少为10dB.3.1.4衰诚器的精度和范囤仪器的水平线性、功态范围等均应队伍ZBY230-84 «A型脉冲反射式超声波採伤仪通用披术条件》中的有关规定.3・2探头3.2.1探头的公称频率主要为2.5Mh=^率误舍为± 10%.3.2.2主要釆用晶片尺寸为O20mm的硬保护膜宜探头.3.2.3必要时也可采用2MHzs或25MH=,以及晶片尺寸不大于628mm探头.3.2.4探头主声柬应无双峰,无偏斜.3・3耦台剂可釆用机油.甘油竽透声性能好,且不损害工件的液体.4探伤时机及准爸工作4.1探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台茨等加工前,比较简車的几何形状下进行•热处理后抿件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行•但在热处浬后,仍应对抿件尽可能完全进行探伤.4.2准旨工作4.2.1探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平苓,圆住形抿件其端面应与轴线相霑直,以便于轴向探伤•方形耙件的面应加工平整,相邻的端面应塑宜.4.2.2 W伤表面应无划伤以及袖垢和油港心物锌附着物.4.2.3锲件的几何形状及表面检查均台格后,方可进行探伤.4.3重要区抿件的重要区应在设计图样中或按JB755-85《压力容器抿件技术条件》予以注明.5探伤方法锲件一般应进行纵波探伤,对简形抿件还应进行横波探伤,但拒查部位和验收栋灌应由供需欢方裔定.5.1横波探伤横浚探伤应按附录B的要求迸行.5.2纵波探伤5.2.1扫查方法5.2.1.1棍件原则上应从两柜旦雪宜的方向进行探伤,尽可能地探測到擀件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的抿件也可参照执行.5.2.1.2拒査范闫:应对擀件整个表面进行连续全面扫査.521.3拒查速度:探头移功速度不超过精un150mm/s.521.4扫查复盖应为探头宜径的15%以上521.5当锲件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.522探伤灵敏度的校脸5.2.2.1原则上利用大平底釆用计算法确定探伤灵敬段对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可釆用试块法(见附录A).5.22.2用底波法校正灵驗度,校正点的位置应选以工件上无欣陷的気好区域.522.3曲面补偿:对于探測面是曲直而又无法采用底波法的工件,应釆用曲率与工件相同或相近(0.7-1.1倍)的参电试块〔见附录A);或者釆用小宜径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.5.22.4探伤灵数度不得低于O2mm当重宜径.523缺陷当量的确定5.2.3.1采用AVG曲线及计算法确定缺陷当重.5.23.2计算欣陷当重时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.5.23.3材质衰减系敎的测定a. 应在被測工件无欣陷区域,选取三处有代表性的闯求B1/B2的道、即第一次底波高度(B1)与第二次底波高度(E2) 之比的dE差直b. 衰减系数a(dB/m)的计算为a = ------- -----------2T式中T・•一声程523.4 AVG曲线图见附录C.5.3灵皺度的重新校脸5.3.1除每次探伤前应校准灵敌度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.久校正后的探头、耦台剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波勒或操作者怀疑灵叢度有变勒时;c. 连续工作4以上;&工作结柬时.5.3.2当喈益电平降低2dB以上时,应对上一次校繼以来所有检萱抿件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号迸行重新评定.6记录6.1记录当重宜径超过64en的单个缺陷的波堰BOP置.6.2密集性缺陷:记录密集性缺陷中星大当重缺陷的住置和分布.621饼形锲件应记录大于等于^4mm当楚宜径的錶陷密集区.6.2.2其他锻件应记录大于等于G3en当密集区.623缺陷密集区面积以5fhnmX 50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.6.3应按表2要求记底波降低重6.4衰诚系数,若供需衣方有规定时,应记录衰减系散.7等级分类7」单个缺陷反射的夺饭见表I.7.2 2.注:①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m 的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.7・3密集区缺陷等饭见表3・注:表1至表3的竽级应作为独立的等汲分别使用.7.4如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,虫重新进行热处理.7.5按7.1、7.2、7.3节认定饭别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制. S 探伤报告探伤很吿不应少于以下内容.8.1工件情况工件W 称.材料牌号.淘号、材质衰减、主要部位尺寸草图.探伤面的光沽度.8.2探伤条件探伤仪型号、探头频率・晶片尺寸仕道)、探测方向・探伤灵软度・参琴反射体、耦台剂等.8.3探伤结果8・3」缺陷住置、缺陷当壁宜径、底波降低区及嵌陷分布示意国.8.3.2缺陷等级及其他.8.4探伤人员的资格证号.等込 姓& 很告签发人的资恰证号.夺無 姓各 日期.附录A试块要求(补充用A.I 远场区使用,探測表面为平面时,应釆用CS2型栋准试块.A. 2近场区使用,探測表面为平面时,应釆用CS1型栋准试块.・入・3探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1. 附录E 横波探伤(补充件)B. 1横波探伤仅适用干内外径之比大于苓于75%的环形和筒形擀件.E.2探头B.2.1探头公称频率主要为2・5MH G 也可用2MFE.E22探头晶片面积为140-400mm2.E23原则上应釆用K1探头,但根涓工件几何形伏的不同,也可采用其他的K值探头.B3参琴反射体B.3.1为了调整探伤灵叢度,利用被探工件罢厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在抿件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟橹.V形槽长度为25mm,深度为棍件罢厚的1%,角度为60•.也可用其他轸效的反射休(如边角反射等).B4探伤方法B41扫亘冇法B.4.1.1扫査方向见国B1.B. 4.1.2探头移功速度不应超过150mm/s.B4.1.3扫查复盖宜为探头宽度的15%以上B 4.2灵皺度检验从桓件外圆面将探头对准内圆面的栋准沟槽,调整塔益,使最大反射高度为满诵的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵皺度;再移功探头探外圆面的标准沟槽,并将星大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点冃直线连接并延长,使之包括全部探伤范毎绘出距玩…探幅曲线•内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内區面曲率一致.B5记录记录超…掠堰曲线一半的缺陷反射和缺陷检出住置.附录CAVG曲线图(参考件)C. 1 AVG曲线参琴图例如下:C2 AVG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.如有侵权请联系告知删除,感谢你们的配合!。
超声检测实际操作考试操作程序超声检测是一种常用的无损检测方法,广泛应用于工业领域。
为了确保超声检测的准确性和可靠性,需要进行实际操作考试,以评估操作人员的技能水平。
本文将详细介绍超声检测实际操作考试的操作程序。
1. 考试前准备在进行超声检测实际操作考试之前,需要进行一系列准备工作,以确保考试的顺利进行。
首先,确定考试地点,并确保设备和仪器的正常运行。
检查超声探头和耦合剂的状态,确保其无损坏或者污染。
同时,检查超声仪表的校准情况,确保其准确度和可靠性。
最后,准备好考试所需的标准样品和工件,以供考生进行检测。
2. 考试流程超声检测实际操作考试普通分为以下几个步骤:2.1. 任务介绍在开始考试之前,考官会向考生介绍考试任务的要求和目标。
包括要检测的材料、缺陷类型和位置等信息。
考生需要子细听取并理解考试任务的描述,确保对任务要求有清晰的认识。
2.2. 检测准备在进行实际操作之前,考生需要进行检测准备工作。
这包括选择合适的超声探头和耦合剂,并根据任务要求设置超声仪表的参数。
考生还需要对工件进行清洁和表面处理,以确保检测的准确性和可靠性。
2.3. 实际操作在开始实际操作之前,考生需要根据任务要求选择合适的检测方法和技术。
这包括选择适当的超声探头和检测模式,以及确定适当的检测角度和扫查路径。
考生需要按照任务要求进行超声探头的放置和挪移,确保对工件进行全面和有效的检测。
2.4. 缺陷评估在完成实际操作后,考生需要对检测结果进行评估和分析。
根据任务要求,考生需要判断工件中是否存在缺陷,并对其进行定位和分类。
考生还需要评估缺陷的大小、形状和严重程度,并确定是否符合标准要求。
2.5. 报告编写最后,考生需要根据检测结果编写检测报告。
报告应包括检测任务的描述、操作过程的记录、检测结果的分析和评估,以及任何苦要的建议和改进措施。
报告应清晰、准确地反映实际操作的情况,并符合标准要求。
3. 考试评估超声检测实际操作考试的评估主要基于考生在实际操作中的表现和检测结果的准确性。
锻件超声波检测标准1. 检测设备与材料1.1. 超声波探伤仪:应采用数字式超声波探伤仪,其性能应符合国家相关标准规定。
1.2. 探头:应选用频率为2.0MHz至5.0MHz的探头,其性能应符合国家相关标准规定。
1.3. 耦合剂:应采用甘油或硅油等声耦合剂。
1.4. 标准试块:应采用与被检锻件材料、规格相近的标准试块进行校准。
2. 锻件种类与规格2.1. 锻件种类:本标准适用于各种金属材料的自由锻件和模锻件的超声波检测。
2.2. 锻件规格:本标准适用于直径小于或等于1.0m的锻件。
3. 检测方法与步骤3.1. 检测面清理:清除锻件表面的氧化皮、锈蚀等杂质,确保探头与锻件表面良好接触。
3.2. 仪器校准:使用标准试块进行探伤仪校准,调整仪器灵敏度和扫描速度等参数。
3.3. 检测区域确定:根据锻件种类和规格,确定超声波检测的区域。
3.4. 探头布置:在确定的检测区域内,合理布置探头,确保检测无漏检。
3.5. 检测操作:将探头放置在锻件上,通过仪器控制使探头发射超声波并接收回波信号。
3.6. 数据记录:记录超声波检测过程中得到的所有数据,包括回波信号的时间、幅度、位置等信息。
4. 检测数据分析4.1. 数据处理:对采集到的超声波检测数据进行数字信号处理,提取出与缺陷相关的特征信号。
4.2. 缺陷判断:根据提取的特征信号,结合国家相关标准,对锻件内部是否存在缺陷进行判断。
4.3. 缺陷定位:根据检测数据,确定缺陷在锻件内部的相对位置。
4.4. 缺陷定量:根据检测数据,对缺陷的大小和形状进行定量分析。
5. 缺陷判断与分级5.1. 缺陷判断:根据国家相关标准规定的判断准则进行缺陷判断。
5.2. 缺陷分级:根据缺陷的大小、形状、位置等因素,结合锻件的使用要求,对缺陷进行分级。
6. 检测报告编制6.1. 检测报告内容:检测报告应包括以下内容:检测设备与材料、锻件种类与规格、检测方法与步骤、检测数据分析、缺陷判断与分级、结论等。
锻件超声波检测实际操作考试有关说明
1 应填写的非检测内容
1.1“试件编号”按抽签所抽到的试件编号填写。
1.2“试件规格”按实测值填写。
1.3“仪器型号”和“探头规格”据实填写。
2 实际检测及应填写的内容
2.1 “扫描线调整”声程比例据实填写。
2.2 “参考试块”有平底孔和大平底两种。
采用平底孔试块时,填写“孔径/声程”,例如
“φ2/200”;采用大平底试块时,填写“大平底/声程”,例如“大平底/150”。
2.3 执行标准:JB/T4730.3-2005。
2.4 检测灵敏度规定为“φ2mm平底孔当量”,“检测灵敏度”据实填写。
2.5 “耦合剂”据实填写;“声能损失补偿”填写0dB。
2.6 检测时,用草稿纸适时作好记录。
2.7 根据检测记录,填写报告。
3 考试时间
3.1 与焊缝检测共90分钟(不包括写报告时间),每超1分钟扣2分,不得超时5分钟。
3.2 写报告时间与焊缝检测共20分钟。
4 灵敏度调整
4.1 根据规定的检测灵敏度、所用参考试块及被检试件的最大声程(试件厚度),通过计算确定
所需增益的ΔdB sj或ΔdB bj数。
4.2 按正确的方法调整灵敏度,并在报告中叙述。
5 检测结果的记录
5.1 在考试试件上应检测出所有超过φ2mm平底孔当量的缺陷。
5.2 检测出的分散缺陷按如下要求作好记录
5.2.1 要确定最大波幅缺陷的当量值,记录的参数为缺陷深度、缺陷波幅与基准检测灵敏度φ
2mm平底孔波幅的差值ΔdB fj。
5.2.2 根据检测出的缺陷数据计算最大波幅缺陷的平底孔当量值。
5.2.3 有关符号定义如下:
S B——考试试件的底波声程(即试件厚度);
S f——缺陷的声程;
φj——基准灵敏度要求的平底孔当量;
φf——缺陷的平底孔当量;
B G——无缺陷处的底波波幅;
B F——有缺陷处的底波波幅。
5.3 底波降低的缺陷要记录底波降低量B G/B F(以dB为单位)。
5.4 缺陷位置的填写见“缺陷位置示意图的绘制”中有关要求。
6 缺陷位置示意图的绘制
6.1 以考试试件侧面的“0”标记为准,确定垂直和水平轴线。
6.2 分散缺陷,标出最大当量缺陷距轴线的距离Y和X,其余分散缺陷只在图中标出大致的
位置(见图1)。
X在垂直轴线右侧记为“+”,左侧记为“-”,Y在水平轴线上方记为“+”,下方记为“-”。
如最大当量缺陷在试件正中间可不标出X和Y。
注:考Ⅰ级者在图中可不标出最大当量缺陷距轴线的距离X和Y。
6.3 底波降低的缺陷,标出缺陷中心距轴线的距离Y和X(见图2)。
“+”、“-”同6.2条的
要求。
7 结论
按标准JB/T4730.3-2005-1999评级:
7.1 分散缺陷以其中的最大当量缺陷按单个缺陷评级。
7.2 底波降低的缺陷按底波降低量B G/B F评级。
7.3密集缺陷按50×50面积的个数评级。
7.4同时有两种缺陷时,结论中只填写最严重的级别。
注:考Ⅰ级者不要求评级,结论项不填。