锻件超声波检测报告

锻件报告检测方法引言锻件是制造业中常见的一种零部件，其制造过程涉及到锻造、加工等多个环节，因此对于锻件的质量检测至关重要。

本文将介绍锻件报告的检测方法，以确保锻件的质量符合要求。

检测项目锻件报告的检测项目通常包括以下几个方面：1.尺寸检测：包括锻件的长度、宽度、高度、直径等尺寸的检测，可以通过量具、三坐标测量仪等工具进行测量。

尺寸检测可以确保锻件的几何形状符合图纸要求。

2.物理性能检测：包括硬度、拉伸强度、冲击韧性等物理性能的检测。

硬度可以用硬度计进行测量，拉伸强度和冲击韧性可以用万能试验机进行测量。

物理性能检测可以评估锻件在使用过程中的强度和韧性。

3.组织检测：包括金相显微镜观察、显微硬度测量等对锻件的组织结构进行检测。

金相显微镜可以观察锻件中的晶粒形状和分布情况，显微硬度测量可以评估锻件不同部位的硬度差异。

4.表面质量检测：包括表面粗糙度、表面裂纹等表面质量的检测。

表面粗糙度可以用表面粗糙度测量仪进行测量，表面裂纹可以用探伤方法进行检测。

常用检测方法下面将介绍锻件报告中常用的检测方法。

1. 尺寸检测方法尺寸检测可以通过使用量具进行直接测量，也可以使用三坐标测量仪进行非接触式测量。

对于复杂形状的锻件，三坐标测量仪通常更为准确。

2. 物理性能检测方法硬度检测可以使用硬度计进行测量，常用的硬度计有洛氏硬度计、布氏硬度计和维氏硬度计等。

拉伸强度和冲击韧性检测需要使用万能试验机进行测量，测试时需要按照相关标准进行试样制备和测试。

3. 组织检测方法金相显微镜是观察锻件组织结构的常用工具，它可以对锻件的晶粒形状、分布情况进行观察和分析。

显微硬度测量需要使用显微硬度计进行测量，可以对锻件不同部位的硬度进行评估。

4. 表面质量检测方法表面粗糙度检测可以使用表面粗糙度测量仪进行测量，该仪器可以直接测量锻件表面的粗糙度。

表面裂纹检测可以使用探伤方法进行检测，常用的探伤方法有荧光探伤和超声波探伤。

结论锻件报告的检测方法对于保证锻件质量至关重要。

关于锻件超声波探伤的标准及规程1.1.1筒形锻件----轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1(a)所示.t为公称厚度.环形锻件----轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1(a)所示.t为公称厚度.饼形锻件----轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1(b)所示.t为公称厚度.碗形锻件----用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1(c)所示.t为公称厚度.方形锻件----相交面互相垂直的六面体锻件如图1(d)所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.底波降低量GB/BF(dB)无缺陷区的第一次底波高度(GB)和有缺陷区的第一次底波高度(BF)之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.缺陷当量直径用AVG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.AVG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG曲线,亦称为DGS曲线.２探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任.３探伤器材探伤仪应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz～5Mhz内. 仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示(误差在5%以内),垂直线性误差应不大于5%.仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.探头探头的公称频率主要为,频率误差为±10%.主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.探头主声束应无双峰,无偏斜.耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.４探伤时机及准备工作探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.准备工作探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.５探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.纵波探伤扫查方法锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.扫查复盖应为探头直径的15%以上.当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.探伤灵敏度的校验原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法(见附录A).用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近倍)的参考试块(见附录A);或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.缺陷当量的确定采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量.计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度(B1)与第二次底波高度(B2)之比的dB差值.b. 衰减系数a(dB/m)的计算为式中 T----声程,m.AVG曲线图见附录C.灵敏度的重新校验除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行重新评定.６记录记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.应按表2要求记底波降低量衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.７等级分类单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤Φ4 ＞Φ4+(＞5～8dB) Φ4+(＞8～12dB) Φ4+(＞12～16dB) ＞Φ4+16dB)底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF ≤8 ＞8～14 ＞14～20 ＞20～26 ＞26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占探伤总面积百分比H 0 ＞0～5% ＞5～10% ＞10～20% ＞20%注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理. 按、、节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.８探伤报告探伤报告不应少于以下内容.工件情况工件名称、材料牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸(k值)、探测方向、探伤灵敏度、参考反射体、耦合剂等.探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.缺陷等级及其他.探伤人员的资格证号、等级、姓名、报告签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求(补充件)远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤(补充件)横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.探头探头公称频率主要为,也可用2MHz.探头晶片面积为140-400mm2.原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.参考反射体为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体(如边角反射等).探伤方法扫查方法扫查方向见图B1.探头移动速度不应超过150mm/s.扫查复盖应为探头宽度的15%以上.灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离---振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.记录记录超---振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CAVG 曲线图(参考件)AVG曲线参考图例如下:AVG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.。

锻件超声波探伤记录和报告（南通友联专用）大平底准考号: 评分: 试件编号 X 试件名称 锻件 试件材质 45# 试件规格 φ70×225 探头规格 2.5P φ14 探头型式 单晶直探头 仪器型号 PXUT-350C 型扫查比例深度1:1 扫查方式全面扫查探测灵敏度φ2灵敏度 执行标准NB/T47013.3-2015探 伤 结 果一.检测内容：对锻件T=225mm 进行超声检测,如何利用150mm 大平底调节工件φ2当量灵敏度. 二.检测步骤：(1) 扫描比例调节; 将纵波直探头放置150mm 大平底上,找出一次(B1)和二次(B2)底面反射波，分别将两波对准水平刻度150和300处, 此时, 深度1:1比例调好. (2).计算步骤方法A. ①计算150大平底与工件同声程处（150/φ2）回波分贝差;dB X B Bf 35215036.22lg 202lg2022=⨯⨯⨯=Φ=∆ππλ②计算150/φ2与工件225/φ2回波分贝差dB X X 715022252lg 40lg401221=⨯⨯=ΦΦ=∆先增益35dB 调节好150/φ2当量灵敏度，再增益7dB 工件225/φ2灵敏度调节完毕方法B. 计算150大平底与工件225/φ2回波分贝差; 已知Xf =225 XB =150db X D X B f42)150214.322536.22lg(202lg 202222=⨯⨯⨯⨯==∆πλ(3)灵敏度调节;探头放在150大平底试块上,使平底回波达到最高,调至基准高度(80%),然后增益42dB,此时工件225/φ2灵敏度调好.(4).锻件检测;将探头放置225mm 锻件上进行全面扫查,距锻件表面200mm 发现一缺陷波,波高比225/φ2灵敏度基准波高高9dB.求缺陷当量.已知X1=200 φ2=2 X2=225 △=9 求; φX)5625.0lg(402002225lg 40lg409122X X X X X Φ=⨯⨯Φ=ΦΦ==∆X Φ=5625.0lg 225.0 mm X 3=Φ三.结论; 对该锻件垂直方向进行超声全面扫查,发现距锻件表面200mm 处有一缺陷,缺陷当量为3mm. 根据NB/T47013-2015标准,该钢板评为Ⅰ级,合格报告日期 年 月 日。

astm锻件超声波验收标准-概述说明以及解释1.引言1.1 概述在现代制造业中，质量控制是至关重要的一环。

而超声波验收技朮是一种非破坏性检测技朮，被广泛应用于工业生产中。

ASTM锻件超声波验收标准作为一项重要的标准，规范了在锻件制造过程中进行超声波验收的操作步骤和要求。

本文将重点介绍ASTM锻件超声波验收标准的相关内容，探讨超声波验收在工业生产中的重要性以及应用范围。

通过深入分析和探讨，旨在为读者提供对ASTM锻件超声波验收标准的全面了解，进一步推动该技朮的应用与发展。

1.2 文章结构本文主要分为三个部分，分别为引言、正文和结论。

在引言部分，我们将简要介绍ASTM锻件超声波验收标准的背景和意义，概述本文的结构，并阐明本文的研究目的。

正文部分将重点介绍ASTM锻件超声波验收标准的内容和要求，探讨超声波验收在锻件制造领域的重要性和应用范围，并分析其在提高锻件质量和工艺控制方面的作用。

结论部分将对本文的主要观点进行总结，展望ASTM锻件超声波验收标准在未来的发展前景，以及对读者提出对超声波验收技术的进一步思考和探讨。

通过以上分析，本文将全面探讨ASTM锻件超声波验收标准的相关内容，为读者提供深入了解和应用该标准的指导和参考。

1.3 目的:本文旨在介绍ASTM锻件超声波验收标准的相关知识，探讨超声波验收在锻件行业中的重要性以及应用范围。

通过对ASTM锻件超声波验收标准的介绍和分析，希望读者能够更深入地了解超声波验收技术在锻件生产过程中的作用，从而提高产品质量，确保生产安全，促进行业发展。

同时，也为未来锻件超声波验收技术的研究和应用提供一定参考和借鉴。

2.正文2.1 ASTM锻件超声波验收标准介绍在工业制造领域，ASTM（美国材料与试验协会）锻件超声波验收标准是一项重要的质量控制方法。

这项标准旨在通过使用超声波技术来检查锻件的内部缺陷，以确保其质量符合规定的标准。

ASTM锻件超声波验收标准主要包括两个方面：一是规定超声波检测设备的性能要求和使用方法，二是明确了不同类型的锻件应采取何种超声波检测方法来进行验收。

锻件超声波探伤标准锻件超声波探伤标准1.1.1筒形锻件－－－－轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1（a）所示.t 为公称厚度.1.1.2 环形锻件－－－－轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1（a）所示.t 为公称厚度.1.1.3 饼形锻件－－－－轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1（b）所示.t 为公称厚度.1.1.4 碗形锻件－－－－用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1（c）所示.t为公称厚度.1.1.5 方形锻件－－－－相交面互相垂直的六面体锻件如图1（d）所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.1.2 底波降低量GB/BF（dB）无缺陷区的第一次底波高度（GB）和有缺陷区的第一次底波高度（BF）之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.1.3 密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.1.4 缺陷当量直径用A VG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.1.5 A VG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG曲线,亦称为DGS曲线.２探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任. ３探伤器材3.1 探伤仪3.1.1 应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz～5Mhz内.3.1.2 仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示（误差在5%以内）,垂直线性误差应不大于5%.3.1.3 仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.3.1.4 衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.3.2 探头3.2.1 探头的公称频率主要为2.5Mhz,频率误差为±10%.3.2.2 主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.3.2.3 必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.3.2.4 探头主声束应无双峰,无偏斜.3.3 耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.４探伤时机及准备工作4.1 探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.4.2 准备工作4.2.1 探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.4.2.2 探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.4.2.3 锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.4.3 重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.５探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.5.1 横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.5.2 纵波探伤5.2.1 扫查方法5.2.1.1 锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.5.2.1.2 扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.5.2.1.3 扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.5.2.1.4 扫查复盖应为探头直径的15%以上.5.2.1.5 当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.5.2.2 探伤灵敏度的校验5.2.2.1 原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法（见附录A）.5.2.2.2 用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.5.2.2.3 曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近（0.7-1.1倍）的参考试块（见附录A）;或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.5.2.2.4 探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.5.2.3 缺陷当量的确定5.2.3.1 采用A VG曲线及计算法确定缺陷当量.5.2.3.2 计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.5.2.3.3 材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度（B1）与第二次底波高度（B2）之比的dB差值.b. 衰减系数a（dB/m）的计算为式中T－－－－声程,m.5.2.3.4 A VG曲线图见附录C.5.3 灵敏度的重新校验5.3.1 除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.5.3.2 当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行重新评定.６记录6.1 记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.6.2 密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.6.2.1 饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.6.2.2 其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.6.2.3 缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.6.3 应按表2要求记底波降低量6.4 衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.７等级分类7.1 单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤Φ4 ＞Φ4+（＞5～8dB）Φ4+（＞8～12dB）Φ4+（＞12～16dB）＞Φ4+16dB）7.2 底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF ≤8 ＞8～14 ＞14～20 ＞20～26 ＞26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.7.3 密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占探伤总面积百分比H 0 ＞0～5% ＞5～10% ＞10～20% ＞20%注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.7.4 如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理.7.5 按7.1、7.2、7.3节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.８探伤报告探伤报告不应少于以下内容.8.1 工件情况工件名称、材料牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.8.2 探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸（k值）、探测方向、探伤灵敏度、参考反射体、耦合剂等.8.3 探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.8.3.2 缺陷等级及其他.8.4 探伤人员的资格证号、等级、姓名、报告签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求（补充件）A.1 远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.A.2 近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.A.3 探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤（补充件）B.1 横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.B.2 探头B.2.1 探头公称频率主要为2.5MHz,也可用2MHz.B.2.2 探头晶片面积为140-400mm2.B.2.3 原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.B.3 参考反射体B.3.1为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体（如边角反射等）.B.4 探伤方法B.4.1 扫查方法B.4.1.1 扫查方向见图B1.B.4.1.2 探头移动速度不应超过150mm/s.B.4.1.3 扫查复盖应为探头宽度的15%以上.B.4.2 灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离－－-振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.B.5 记录记录超－－-振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CA VG 曲线图（参考件）C.1 A VG曲线参考图例如下:C.2 A VG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.文章链接：中国化工仪器网/Tech_news/Detail/110051.html。

关于锻件超声波探伤的标准及规程1.1.1筒形锻件----轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1(a)所示.t为公称厚度.环形锻件----轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1(a)所示.t为公称厚度.饼形锻件----轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1(b)所示.t为公称厚度.碗形锻件----用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1(c)所示.t为公称厚度.方形锻件----相交面互相垂直的六面体锻件如图1(d)所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.底波降低量GB/BF(dB)无缺陷区的第一次底波高度(GB)和有缺陷区的第一次底波高度(BF)之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.缺陷当量直径用AVG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.AVG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG曲线,亦称为DGS曲线.２探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任.３探伤器材探伤仪应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz～5Mhz内.仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示(误差在5%以内),垂直线性误差应不大于5%.仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.探头探头的公称频率主要为,频率误差为±10%.主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.探头主声束应无双峰,无偏斜.耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.４探伤时机及准备工作探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.准备工作探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.５探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.纵波探伤扫查方法锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.扫查复盖应为探头直径的15%以上.当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.探伤灵敏度的校验原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法(见附录A).用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近倍)的参考试块(见附录A);或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.缺陷当量的确定采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量.计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度(B1)与第二次底波高度(B2)之比的dB差值.b. 衰减系数a(dB/m)的计算为?式中 T----声程,m.AVG曲线图见附录C.灵敏度的重新校验除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行重新评定.６记录记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.应按表2要求记底波降低量衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.７等级分类单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级 ?Ⅰ ?Ⅱ ?Ⅲ ?Ⅳ ?Ⅴ缺陷当量直径?≤Φ4?＞Φ4+(＞5～8dB)?Φ4+(＞8～12dB)?Φ4+(＞12～16dB)?＞Φ4+16dB)底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级 ? ?Ⅰ ?Ⅱ ?Ⅲ ?Ⅳ ?Ⅴ底波降低量?BG/BF?≤8?＞8～14?＞14～20?＞20～26?＞26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级 ?Ⅰ ?Ⅱ ?Ⅲ ?Ⅳ ?Ⅴ密集区缺陷占探伤总面积百分比H?0?＞0～5%?＞5～10%?＞10～20%?＞20% 注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理.按、、节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.８探伤报告探伤报告不应少于以下内容.工件情况工件名称、材料牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸(k值)、探测方向、探伤灵敏度、参考反射体、耦合剂等.探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.缺陷等级及其他.探伤人员的资格证号、等级、姓名、报告签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求(补充件)远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤(补充件)横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.探头探头公称频率主要为,也可用2MHz.探头晶片面积为140-400mm2.原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.参考反射体为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体(如边角反射等).探伤方法扫查方法扫查方向见图B1.探头移动速度不应超过150mm/s.扫查复盖应为探头宽度的15%以上.灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离---振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.记录记录超---振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CAVG 曲线图(参考件)AVG曲线参考图例如下:AVG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.。

EN 12680-2-2003(E)-CN铸件---超声检测---第二部分：受高压铸钢件前言:本欧洲标准由德国工业标准秘书处的CEN/TC 190“铸件”技术委员会制定,本欧洲标准可以作为国家标准，最迟于2003年6月以等效版本或签署文件发行，与之冲突的相关国家标准最迟在2003年6月作废。

根据工作程序，CEN/TC 190技术委员会组织CEN/TC 190/WG4.10“内部缺陷”具体编制了如下标准：EN 12680-2铸件---超声检测---第二部分：受高压铸钢件本标准为欧洲铸件检测标准之一，其余见下：EN 12680-1铸件---超声检测---第一部分：通用铸钢件EN 12680-1铸件---超声检测---第三部分：球墨铸铁件附件A和B根据CEN/CENELEC内部规定如下国家的国家标准组织应采用此欧洲标准：澳大利亚，比利时，捷克共和国，丹麦，芬兰，法国，德国，希腊，冰岛，爱尔兰，意大利，卢森堡，新西兰，挪威，葡萄牙，西班牙，瑞典，瑞士和英国。

1.总则本欧洲标准规定了受高压的（铁素体）铸钢件超声检测的目的和要求以及用脉冲回波技术测定内部不连续的方法。

其适用于晶粒细化后的壁厚小于等于600ｍｍ的铸钢件超声检测，当壁厚超过此时，对于检测工艺和记录级别应特殊协商。

本欧洲标准不适用奥氏体刚和焊接件。

2 参考文件本部分在其中适当的位置引用了下列的有发布日期和无发布日期的标准，对于无发布日期的标准采用的为最新版本，对于有发布日期的标准根据随后对标准的修订和更新来相应修改本标准。

EN 583—１超声检测—第一部分：通用原理EN 583—２超声检测－第二部分：灵敏度和范围调整EN 583—５超声检测—第五部分：不连续的测长和特征EN 12223 超声检测—１号校准试块规范EN 12668-1 无损检测—超声设备的特征和验证—第一部分：仪器EN 12668-2 无损检测—超声设备的特征和验证—第二部分：探头EN 12668-3 无损检测—超声设备的特征和验证—第三部分组合设备EN 27963 钢焊缝—焊缝超声检测用２号校准试块３．术语和定义本欧洲标准规定如下术语和定义注：本标准中的其它术语和定义见EN 583—１，EN 583—２，EN 583—５和EN1330—43.1参考不连续回波尺寸在超声检测评价时期需要记录的最小显示,通常用平底孔当量直径来表示3.2点状不连续尺寸小于或等于声束宽度的不连续3.3复杂不连续尺寸大于声束宽度的不连续注: 本标准中的尺寸指长度,宽度和沿壁厚方向的尺寸3.4 平面不连续在两个方向可以测量的不连续3.5体积不连续有三个方向可以测量的不连续3.6特殊边缘区域有特殊要求的外部边缘区域(如:机加工面,高应力区,和密封面)3.7工艺焊接在最终供货前加工时期的焊接3.7.1焊接用于将部件装配为一个整体的工艺焊接3.7.2焊接加工为保证铸件的质量等级而实施的工艺焊接4.要求4.1订货信息在订货和询价时应包括如下的信息－超声检测的铸件的区域和百分比（检测体积和范围）－铸件不同区域或面积处采用的严重等级（验收标准）－书面检查工艺的要求－是否需要对检测工艺增加要求，同样见5.5.14.2检测范围应采用最合适的检测技术对铸件协商的所有区域进行检测（从铸件的形状考虑尽量满足），对于壁厚超过600mm的铸件，应对检测工艺和记录和验收级别协商一致。

锻件超声波检测标准1. 检测设备与材料1.1. 超声波探伤仪：应采用数字式超声波探伤仪，其性能应符合国家相关标准规定。

1.2. 探头：应选用频率为2.0MHz至5.0MHz的探头，其性能应符合国家相关标准规定。

1.3. 耦合剂：应采用甘油或硅油等声耦合剂。

1.4. 标准试块：应采用与被检锻件材料、规格相近的标准试块进行校准。

2. 锻件种类与规格2.1. 锻件种类：本标准适用于各种金属材料的自由锻件和模锻件的超声波检测。

2.2. 锻件规格：本标准适用于直径小于或等于1.0m的锻件。

3. 检测方法与步骤3.1. 检测面清理：清除锻件表面的氧化皮、锈蚀等杂质，确保探头与锻件表面良好接触。

3.2. 仪器校准：使用标准试块进行探伤仪校准，调整仪器灵敏度和扫描速度等参数。

3.3. 检测区域确定：根据锻件种类和规格，确定超声波检测的区域。

3.4. 探头布置：在确定的检测区域内，合理布置探头，确保检测无漏检。

3.5. 检测操作：将探头放置在锻件上，通过仪器控制使探头发射超声波并接收回波信号。

3.6. 数据记录：记录超声波检测过程中得到的所有数据，包括回波信号的时间、幅度、位置等信息。

4. 检测数据分析4.1. 数据处理：对采集到的超声波检测数据进行数字信号处理，提取出与缺陷相关的特征信号。

4.2. 缺陷判断：根据提取的特征信号，结合国家相关标准，对锻件内部是否存在缺陷进行判断。

4.3. 缺陷定位：根据检测数据，确定缺陷在锻件内部的相对位置。

4.4. 缺陷定量：根据检测数据，对缺陷的大小和形状进行定量分析。

5. 缺陷判断与分级5.1. 缺陷判断：根据国家相关标准规定的判断准则进行缺陷判断。

5.2. 缺陷分级：根据缺陷的大小、形状、位置等因素，结合锻件的使用要求，对缺陷进行分级。

6. 检测报告编制6.1. 检测报告内容：检测报告应包括以下内容：检测设备与材料、锻件种类与规格、检测方法与步骤、检测数据分析、缺陷判断与分级、结论等。

浅谈小规格锻棒的超声波检测1 总则适用范围：本方法是主要用于直径在15～35mm之间的小规格棒材的手动脉冲反射式超声波检测。

2 检测时机棒材的此项检测应在性能热处理和精加工后进行。

3 表面状态探伤表面不应有划伤及影响探头移动的外来物质，如松散的氧化皮、油漆或附着物。

被检锻件表面粗糙度一般应满足Ra≤6.3 m。

4 检测难度分析对于轴类锻件的锻造工艺是以把长为主，因而大部分缺陷的取向与轴线平行，此类缺陷的探测以直探头径向探测效果最佳。

实际生产过程中，对直径在15～35mm之间的小规格锻棒进行超声波检测会有一些难度，主要体现在：(1)周向检测时，因为探头与圆柱面接触面积过小，使得耦合效果不佳，波束严重扩散；(2)轴向检测时，对锻棒长度较大的工件，存在有波形转换，对检测信号的判定产生干扰。

为了使探头与被检工件之间有最大的接触面积，获得良好的耦合效果，很多标准规范（比如ASME，RCC-M等）都会要求使用带楔块的探头，实际操作中发现，要使反射回波明显，楔块必须磨制的很薄，这就导致一个楔块在检测了几件或十几件后就报废了，消耗量很大，并且检测的灵敏度也不高，由此可见，这种方式的操作性不佳，特别在实际的加工生产过程中，会对生产进度带来影响。

对于普遍认同的水浸法检测，由于探头不直接与被检测面接触，要获得缺陷在工件上的平面位置有一定难度，特别是水槽或工件较大时，操作者无法在工件表面上作出标记。

因此，常常需要在水浸检测发现缺陷后，用接触法进行定位。

虽然该方法灵敏度高、可靠性好，但不适于原位探伤，且检测速度慢、设备昂贵，在实际生产中，对不是经常使用到此类检测方法的厂家来说成本较高，效率较低。

5 检测方法在分析了进行超声波检测的难度后，同时结合接触法和水浸法的优点，本文在基本的手动接触式超声波检测方法上做了一些细节上的变化。

（1）解决接触面积大小的问题，要进行超声波检测必须先保证工件中有足够有效的用来检测缺陷的波束。

按照标准中规定的使用带楔块的探头，不过这个楔块只是一个保证探头与被检工件最大耦合的装置，也就是说探头上的楔块在外形与被检工件曲率相匹配，但是与探头晶片接触的部位是空心的，见图1。

超声波检测报告
超声波检测是一种非破坏性检测方法，通过超声波在材料内部传播的特性来检
测材料的缺陷和性能。

本报告将对超声波检测的原理、方法和应用进行介绍，并结合实际案例进行分析。

首先，超声波检测的原理是利用超声波在材料中传播的速度和衰减特性来检测
材料的内部缺陷。

超声波在材料中传播时，会受到材料的密度、弹性模量、声波速度等因素的影响，从而产生反射、折射和透射等现象。

通过对超声波的接收和分析，可以确定材料内部的缺陷类型、位置和大小。

其次，超声波检测的方法包括脉冲超声波检测、相控阵超声波检测、多普勒超
声波检测等。

脉冲超声波检测是最常用的方法，通过发送短脉冲超声波并记录其回波信号来检测材料的缺陷。

相控阵超声波检测利用多个传感器阵列来实现对材料内部的全方位检测，适用于复杂形状和结构的材料。

多普勒超声波检测则是利用多普勒效应来检测材料内部的运动状态和速度。

最后，超声波检测在工业领域有着广泛的应用。

它可以用于检测焊接缺陷、材
料疲劳裂纹、混凝土内部空洞和裂缝等缺陷，也可以用于医学领域的超声波成像和诊断。

通过超声波检测，可以及时发现材料的缺陷和问题，保障产品质量和安全性。

综上所述，超声波检测是一种重要的非破坏性检测方法，具有广泛的应用前景。

通过对超声波检测原理和方法的深入了解，可以更好地应用于实际工程和科研中，为材料检测和质量控制提供可靠的技术支持。

关于锻件超声波探伤的标准及规程锻件探伤都有什么标准关于锻件超声波探伤的标准及规程1.1.1筒形锻件----轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1(a)所示.t为公称厚度.1.1.2 环形锻件----轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1(a)所示.t为公称厚度.1.1.3 饼形锻件----轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1(b)所示.t为公称厚度.1.1.4 碗形锻件----用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1(c)所示.t为公称厚度.1.1.5 方形锻件----相交面互相垂直的六面体锻件如图1(d)所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.1.2 底波降低量GB/BF(dB)无缺陷区的第一次底波高度(GB)和有缺陷区的第一次底波高度(BF)之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.1.3 密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.1.4 缺陷当量直径用AVG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.1.5 AVG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG 曲线,亦称为DGS曲线. ２探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任.３探伤器材3.1 探伤仪3.1.1 应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz～5Mhz内.3.1.2 仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示(误差在5%以内),垂直线性误差应不大于5%.3.1.3 仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.3.1.4 衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.3.2 探头3.2.1 探头的公称频率主要为2.5Mhz,频率误差为±10%.3.2.2 主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.3.2.3 必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.3.2.4 探头主声束应无双峰,无偏斜.3.3 耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.４探伤时机及准备工作4.1 探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.4.2 准备工作4.2.1 探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.4.2.2 探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.4.2.3 锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.4.3 重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.５探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.5.1 横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.5.2 纵波探伤5.2.1 扫查方法5.2.1.1 锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.5.2.1.2 扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.5.2.1.3 扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.5.2.1.4 扫查复盖应为探头直径的15%以上.5.2.1.5 当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.5.2.2 探伤灵敏度的校验5.2.2.1 原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法(见附录A).5.2.2.2 用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.5.2.2.3 曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近(0.7-1.1倍)的参块(见附录A);或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.5.2.2.4 探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.5.2.3 缺陷当量的确定5.2.3.1 采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量.5.2.3.2 计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.5.2.3.3 材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度(B1)与第二次底波高度(B2)之比的dB差值.b. 衰减系数a(dB/m)的计算为式中 T----声程,m.5.2.3.4 AVG曲线图见附录C.5.3 灵敏度的重新校验5.3.1 除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.5.3.2 当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行 __.６记录6.1 记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.6.2 密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.6.2.1 饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.6.2.2 其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.6.2.3 缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度,其边界可由半波高并法决定.6.3 应按表2要求记底波降低量6.4 衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.７等级分类7.1 单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤Φ4 ＞Φ4+(＞5～8dB) Φ4+(＞8～12dB) Φ4+(＞12～16dB) ＞Φ4+16dB)7.2 底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量 BG/BF ≤8 ＞8～14 ＞14～20 ＞20～26 ＞26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减. ②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.7.3 密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占探伤总面积百分比H 0 ＞0～5% ＞5～10% ＞10～20% ＞20%注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.7.4 如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理.7.5 按7.1、7.2、7.3节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.８探伤报告探伤报告不应少于以下内容.8.1 工件情况工件名称、牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.8.2 探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸(k值)、探测方向、探伤灵敏度、反射体、耦合剂等.8.3 探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.8.3.2 缺陷等级及其他.8.4 探伤人员的资格证号、等级、姓名、签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求(补充件)A.1 远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.A.2 近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.A.3 探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤(补充件)B.1 横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.B.2 探头B.2.1 探头公称频率主要为2.5MHz,也可用2MHz.B.2.2 探头晶片面积为140-400mm2.B.2.3 原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.B.3 参考反射体B.3.1为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V 形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体(如边角反射等).B.4 探伤B.4.1 扫查方法B.4.1.1 扫查方向见图B1.B.4.1.2 探头移动速度不应超过150mm/s.B.4.1.3 扫查复盖应为探头宽度的15%以上.B.4.2 灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离---振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.B.5 记录记录超---振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CAVG 曲线图(参考件)C.1 AVG曲线参考图例如下:C.2 AVG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.内容仅供参考。