场发射透射电镜操作规程
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JEM-2200FS透射电镜操作规程全程视频监控,不明白处请多问,坚决禁止盲目操作。
1.换样品:插入和取出样品杆示意图,插入和取出样品杆的过程,一定不要蛮力拧样品杆,防止样品杆损坏。
放入样品杆方法:插入样品杆(注意:插入样品杆时严禁旋转样品杆),打开真空开关(提拔式开关,switch to pump),对样品预抽室抽真空(手先轻抵样品杆底部,等抽真空开始后即可松手,等待),直至高真空指示灯亮(绿灯),再等待5分钟,切记。
将样品杆顺时针分两次共计90度旋入侧角台。
旋进时,需加水平方向力拉住样品杆以防样品杆快速吸入测角台,引起测角台损坏。
取出样品杆方法:往外轻拉样品杆,拉不动时逆时针旋转较大角度(约85度左右)至转不动;转不动时再轻拉样品杆一小段距离,逆时针旋转小角度(约5度左右)到转不动,再缓缓轻拉样品杆到绿灯亮(切记不要用力过猛全部拔出,会导致真空度下降主机保护);打开放气开关(提拔开关,switch to air),等待,样品杆会自动松动(有氮气轻推样品杆,不要用力拽样品杆),取出样品杆。
可更换需要观察的样品,一定要轻拧螺丝,不要过力,因为压舌有一定的弧度,轻拧即可达到固定载网的目的。
但也不要松垮,防止载网滑落。
观察:(check真空,方法:1.软件界面montor value status 观察specimen/PIG电流:33-34微安2..到隔间看真空度,拧4档后,真空度<1.5即可)打开BeamValve,插入1#聚光镜光阑和2#物镜光阑(操纵板上的按钮CLA-1#-OLA-2#),利用BRIGHT NESS、SHIFT X、SHIFT Y、IMAGE X、IMAGE Y、放大倍数、焦距等旋钮调整TEM的图象,直至满意。
(Brightness 需不断调节,逆方向欠焦,欠焦为亮边,顺方向过焦,过焦为黑边,调Z可达到高分辨,3D重构,不宜调Z)2.采集图像:启动Gatan Digital Micrograph软件,(按TV键进行切换,按start view 采集图像——不是照相,是转换CCD)须注意,在Gatan CCD (右侧电脑)上观察的图像大约为Hamamazu CCD(左侧电脑)中观察图像的9倍。
JEM-100CXⅡ透射电镜操作说明一、开机程序1、首先打开房间空调,冷却循环水房温度21度,操作室25度2、开启冷却水循环装置,一个独立的小的控制器,先将开关打至ON,再将按下POWER键3、启动稳压电源,稳定于220V;查看电源箱供电指示灯亮4、用钥匙启动主机,从OFF档位旋到START位,松开后钥匙自动回到ON位置。
仪器自动抽真空,等待约40分钟。
5、直至DP绿灯亮,HIGH绿灯亮,READY绿灯亮(若不亮的话,将LENS LIGHT打至ON档位)。
二、电子枪合轴(1-3合轴)1、确认READY绿灯亮2、把样品拨出,物镜光栏拨出至0档位3、加高压:按下HT键后,依次按下40-60-80-100KV键,并注意观察束流表是否正常,每次都要等电流表显示稳定之后再进行下一步,一般调到80KV就行了。
4、加灯丝:将FILAMENT EMIISSION旋钮缓慢旋至锁定位置5、一般在SCAN(5300倍)条件下调节,调节CONDENSER钮,得到光斑。
6、SPOT SIZE调到3档,调节CONDENSER钮聚光,得到最小最亮光斑,然后用左右ALIGNMENT:TRANS(小的)将光斑拉至最中心位置(中心位置有一黑点)。
7、SPOT SIZE调到1档,调节CONDENSER钮聚光,得到最小最亮光斑,然后用GUNALIGNMENT:TRANS(X、Y)将光斑拉至中心位置。
8、再重复6、7步骤,使束流不偏离中心。
三、调灯丝相(每次开机都需要检查)1、在SCAN模式下,SPOT SIZE调到1档2、将FILAMENT EMIISSION旋钮稍稍往回调,到看到灯丝欠饱和像,即车轮像(鱼眼像),若车轮像不对称,则进行下面调节。
3、缓慢旋转GUN ALIGNMENT:TILT(X、Y),使灯丝像对称。
4、然后调节FILAMENT EMIISSION旋钮至灯丝饱和(即刚好全亮,没有阴影),并锁定该位置。
四、粗对焦(该步很重要)1、关灯丝(FILAMENT EMIISSION旋钮至OFF)后,插入样品,插入物镜光栏(2档)2、开灯丝(FILAMENT EMIISSION旋钮至ON)后,放大光斑至满屏(以免烧坏铜网)3、找到样品,并选中一目标为参照4、将IMAGE WOBBLER打至ON,此时看到样品会有一定的晃动,调节FOCUS旋钮(有大中小三个,一般只用到中和小)至图像清晰没有重影。
场发射透射电镜(TEM)测试制样说明测试样品范围:各种材料内部微结构进行观察;粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察选区电子衍射和晶体结构分析;金属、陶瓷、半导体、塑料、农作物、细胞等显微结构;配合EDS能谱仪可以对各种元素进行定性和半定量微区分析,元素检测范围:B~U元素。
透射电镜(TEM)测试制样要求:1. 透射电镜能够观察200nm以下的样品;2. 对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥;3. 块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;高分辨样品要求厚度在10nm以下;4. 含磁样品需要在委托测试单中重点标识,需要特殊处理,否则不予测试;5. 需要离子减薄的金属、陶瓷样品,需要已预减到150微米以下,否则不予制样和测试。
透射电镜生物样品制备步骤:1.取材:组织块小于1立方毫米2.固定:2.5%戊二醛,磷酸缓冲液配制固定2小时或更长时间。
用0.1M磷酸漂洗液漂洗15分三次1%锇酸固定液固定2-3小时用0.1M磷酸漂洗液漂洗15分三次3.脱水:50%乙醇15-20分70%乙醇15-20分90%乙醇15-20分90%乙醇90%丙酮(1:1)15-20分90%丙酮15-20分以上在4度冰箱内进行100%丙酮室温15-20分三次4.包埋:纯丙酮+包埋液(2:1)室温3-4小时纯丙酮+包埋液(1:2)室温过夜纯包埋液37度2-3小时5.固化:37度烘箱内过夜45度烘箱内12小时60度烘箱内24小时6.超薄切片机切片70 nm7.醋酸铀-柠檬酸铅双染色负染色的操作方法用一根细滴吸管吸一滴样品悬液滴在有膜的铜网上,滴样时要防止铜网被液体吸到管上来或翻转而被污染。
如果用Formvar膜时,在制好膜后,可以直接在粘于滤纸上的铜网进行负染色操作。
如果用碳膜时,要用镊子夹着铜网,滴液后静置数分钟,然后用滤纸从铜网边缘吸去多余的液体,滴上负染色液,染色1~2分钟用滤纸吸去负染色液,再用蒸馏水滴在铜网上洗1~2次,用滤纸吸去水,待干后可用于电镜观察。
FEI Quanta 250FEG 场发射扫描电镜的原理及操作发射扫描电镜的原理及操作目录场发描电镜的原理一、射扫二、Quanta 250 FEG的基本操作二一、场发射扫描电镜的原理111.1场发射扫描电镜的原理一、场发射扫描电镜的原理电子枪的种类一、场发射扫描电镜的原理热场场发射扫描电镜束流大较为稳定,亮度高,其常用工作电压5-10kV,一般适合于导电导热性能好的样品般适合于导电导热性能好的样品另配有BSE探头冷场场发射扫描电镜束流小,其常用工作电压(4-15kV),分辨率高,适合导电性较弱,颗粒较小的样品高适合导电性较弱颗粒较小的样品一、场发射扫描电镜的原理电子激发样品可获得多种物理信号一、场发射扫描电镜的原理二次电子SE二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。
携带有样品的表面形貌信息,通常来自样品表面5-50 nm的区域,能量为0-50 eV。
由于它发自试样表面层,入射电子还没有较多次散射,因此产生二次电子的面积与入射电子的照射面积没多大区别。
所以二次电子的分辨率较高,一般可达到50-100 Å。
扫描电子显微镜的分辨率通常就是二次电子分辨率。
二次电子产额随原于序数的变化不明要取决于表面形貌额随原于序数的变化不明显,它主要取决于表面形貌。
一、场发射扫描电镜的原理背散射电子BSE背散射电子是指入射电子与试样相互作用经过多次散射后,重新逸出试样表面的高能电子。
背散射电子的产生范围在1000 Å到1 m深,由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加,所以,利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征也可用来显示原子序数衬度成像信号不仅能分析形貌特征,也可用来显示原子序数衬度,定性地进行成分分析。
MgO MgO SrTiO 3SrTiO 3(a)image of SE (b)image of BSE一、场发射扫描电镜的原理X-特征射线特征X射线:原子内壳层电子被电离后,由较外层电子向内壳层跃迁产生的具有特征能量的电磁辐射光子。
Tecnai F30 场发射透射电镜操作规程一、操作前准备◼刷卡打开电镜主机显示器,检查Tecnai User Interface控制软件是否正常运行;◼检查电镜状态:Vacuum, High Tension (HT)--on, FEG --operate;◼检查Column Valve是关闭状态(黄色表示关闭);◼检查测角台X, Y, Z, α, β 的值在“0”附近;◼填满液氮杜瓦瓶(确认投影室观察窗是用黑色挡盖挡住)。
每3-4小时需要填充一次,否则真空会变差污染样品。
建议午饭和晚饭前各填充一次。
◼注意事项:在填充液氮或者有事临时离开电镜时,务必把Column Valve关上。
二、插入样品杆◼将样品装入样品杆(仔细检查样品是否固定牢靠);1)上下旋转样品杆确保没有样品等掉下来;如果你的样品由分散的碎片组成如粉末样品,务必把铜网的样品面朝下(面向样品杆);2)禁止用手去接触到样品杆前端部分(手上的油会污染样品杆)。
◼检查样品杆和样品杆上的O-ring橡胶圈;1)用镊子或者洗耳球除掉橡胶圈上的粉尘、丝状物等;2)若发现O-ring橡胶圈受损,请立刻告知电镜管理员。
◼检查光阑(Obj/SA)处于retract状态;对准样品杆,确保样品杆上的顶针和测角台的槽是对应上的(5点钟方向);◼插入样品杆,同时托住样品杆避免往逆时针方向旋转;测角台上的红灯会亮起;◼在软件上选择“proper holder type”,点击Enter。
如果是双倾杆,需要先连接线缆,再点击Enter;◼等预抽真空大概4min(软件上会有3min倒计时)。
当测角台上的红灯灭掉,顺时针旋转样品杆(约120°)然后托住样品杆缓缓插入(整个过程一定要保持顺畅,绝对不能用蛮力)。
三、观察拍照◼当Column/IGP1 Vacuum低于15log(低于12log更佳),打开Column Valve;◼降低放大倍数找到样品感兴趣的区域;◼按压操作面板上的“Eucentric Height”,使用“Z” height 来聚焦样品;◼使用Digital Micrograph软件进行拍照。
简述透射电镜的基本结构、操作步骤及注意事项。
透射电镜的基本结构由三个部分组成:产生电子束的电子枪、可依调节焦距的电子对象镜和收集并处理电子束的电子探测器。
操作步骤:
1. 控制加速偏压:用电子台和电磁阀控制加速偏压,使电子枪发出一定电压的电子束。
2. 调节聚焦:使用电子对象镜调节聚焦,使光轴与电子对象镜准确对准,以获得最佳电子束聚焦。
3. 校正电磁阀:检查并调节电磁阀的控制参数,以确保控制电压的准确度。
4. 电流测量:测量每一个参数,以便更准确地调节电磁阀,确保准确的加速偏压,以达到良好的空间分辨率和对比度。
5. 材料检测:使用电子透射仪进行检测,以确定材料结构和性质。
注意事项:
1. 使用透射电镜时,加速偏压和电子对象镜必须保持稳定,确保电子束聚焦准确。
2. 为了保护用户,在使用透射电镜时,妥善使用保护眼睛,不要对直接看光束。
3. 为了获得良好的透射电镜图象,操作人员应了解电子束和光束的特性,以及电子检测器的性能要求,以实现最佳图象质量。
Tecnai G² 20 S-TWIN透射电子显微镜简易操作指南说明:●本文件的目的在于帮助用户记忆培训的内容,不能代替培训。
有意自己操作透射电镜的用户请到现场参加培训。
●为了把此文件的篇幅限制在一个合理程度,文件内容难于面面俱到。
●欢迎各位对本文件的内容提出宝贵意见!简介:一.Tecnai G² 20 ST透射电镜二.Tecnai G² 20 ST透射电镜操作注意事项三.检查实验室安全及仪器运行状况四.Tecnai G² 20 ST透射电镜基本操作步骤1.登陆计算机2.打开操作软件3.检查电镜状态4.装液氮5.装载样品6.插入样品杆7.加灯丝电流8.开始操作9.结束操作10.取出样品杆11.卸载样品12.真空低温(Cryo Cycle)13.数据刻录、转化和输出14.关闭操作软件15.退出计算机16.实验记录(注意:其中4,5,6,10,11等操作是必须由TEM室的高老师进行操作。
遇到任何异常的情况都应停止操作,并询问高老师。
)一.Tecnai G² 20 ST透射电镜●生产厂家:美国FEI公司●主要附件:美国Gatan公司1k×1k CCD相机美国EDAX公司X射线能谱仪最高加速电压200KV或W灯丝电子枪LaB6点分辨率0.24nm晶格分辨率0.14nm最小束斑尺寸 1.5nm放大倍数25×-1030K×样品台最大倾转角A:±40°,B:±40°X射线能谱分辨率136ev分析范围Be-U主要功能及应用范围观察各种材料的微观结构并对样品进行纳米尺度的微区分析,如:形貌观察;高分辨电子显微像;电子衍射;会聚束电子衍射;衍射衬度成像;X射线能谱分析等仪器工作条件工作温度:15℃~25℃工作湿度: <80%电力供应:220v(±10%), 50Hz主要测试项目:明场像(BF)、暗场像(DF)高分辨像(HRTEM)能谱分析(EDX)选区电子衍射(SAED)二.Tecnai G² 20 ST透射电镜操作注意事项1.透射电镜及其附属设备中有高压电、低温、高压气流、电离辐射等危险因素,因此不正确的使用有可能造成仪器损坏,甚至人身伤亡。