衍射强度
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超晶格衍射强度
超晶格衍射强度是指在使用X射线衍射(XRD)技术对超晶格结构进行衍射实验时,测量得到的衍射峰强度。
超晶格结构是由两个或多个不同材料组成的周期性结构,在其界面处会发生晶格常数的改变。
通过分析超晶格衍射强度,可以了解超晶格结构中不同材料的晶格常数、取向关系以及应力分布等信息。
在X射线衍射实验中,超晶格衍射强度受到以下因素的影响:
1. 入射X射线束的强度和方向:入射X射线束的强度影响到衍射信号的强度,而入射方向则决定了衍射峰的位置。
2. 超晶格结构中不同材料的晶格常数和取向:超晶格结构中不同材料的晶格常数和取向关系会影响到衍射峰的形状和强度。
3. 应力作用:当超晶格结构受到应力作用时,其晶格将发生畸变,晶格常数也会发生变化,进而影响到衍射强度。
4. 测量设备和数据分析方法:测量设备的分辨率和灵敏度以及数据分析方法(如最小二乘法)会影响到衍射强度的测量精度。
通过测量超晶格衍射强度,可以对超晶格结构进行详细分析,了解不同材料之间的晶格匹配关系、应力分布以及微观结构等信息。
这对于优化超晶格设计、提高材料性能以及开发新型材料具有重要意义。
晶体衍射强度公式晶体衍射强度公式,这可是个在物理学中相当重要的知识点!咱先来说说啥是晶体衍射。
想象一下,你有一块亮晶晶的晶体,就像一块神秘的魔法宝石。
当一束光线或者 X 射线照到它上面的时候,这些光线就会发生散射,形成一些有规律的图案,这就是晶体衍射。
而晶体衍射强度公式呢,就是用来描述这些散射光线的强度到底有多大的一个数学表达式。
咱先来看这个公式:I = I₀ |F|²。
这里的 I 就是衍射的强度啦,I₀是入射光的强度,|F|²则是结构因子的模的平方。
这就好比你去参加一场拔河比赛,I₀就像是一开始双方的力量总和,而 |F|²则决定了最终哪一方能更占上风,也就是决定了衍射强度的大小。
我记得有一次给学生们讲这个知识点的时候,有个小家伙瞪着大眼睛问我:“老师,这跟我们生活有啥关系呀?”我笑着告诉他:“你想想看呀,我们去医院拍 X 光片,医生就是靠这个原理来看我们身体里骨头的情况呢。
要是没有晶体衍射强度公式,医生可就没法清楚地知道你的骨头是不是健康啦。
”那结构因子F 又是啥呢?它跟晶体里面原子的种类、位置都有关系。
比如说,如果晶体里面的原子排列得整整齐齐,就像咱们操场上做广播体操的同学们一样,那这个结构因子就会比较大,衍射强度也就会比较强。
再说说实际应用中,晶体衍射强度公式在材料科学里那可是大有用处。
比如说,科学家们想要研究一种新的合金材料,就得靠这个公式来分析它的晶体结构,看看是不是够稳定、够结实。
而且呀,在化学领域,研究晶体的分子结构也离不开它。
就好像侦探通过线索来破解案件一样,科学家们通过晶体衍射强度公式来揭开晶体结构的神秘面纱。
总之,晶体衍射强度公式虽然看起来有点复杂,但是它就像一把神奇的钥匙,能帮我们打开晶体世界的大门,探索其中的奥秘。
希望大家以后在学习这个知识点的时候,能多想想生活中的例子,这样就能更好地理解和掌握啦!。
第7章:衍射强度
授课内容
粉末衍射的强度
旋转单晶衍射强度
影响衍射强度的因素
粉末衍射
样品为一系列取向无规的微小完美单晶(粉末)组成;(没有织构,没有应力,没有缺陷:粉末衍射可以测量这些量) 入射X光为单色光;
测量的强度为积累相对强度。
需要注意的是:每一个粉末(单晶)内的散射是完全相干的,就是一个单晶的衍射,所以必须用振幅相加;而不同粉末颗粒之间的衍射确实不相干的,必须用强度相加。
积累强度的定义
实验中测量的是一种相对强度:即衍射的强度和入射强度的相对值,绝对强度是难于测量,也是没有很多实用意义的。
积累强度不仅考虑到时间上的积累效应,更重要的是考虑到各个粉末衍射的强度的叠加。
粉末衍射的得到的是一个以4θB为顶角,并且有一定厚度的衍射圆锥体面。
用平板的探测器记录衍射强度时,得到的是一个环状的衍射线。
积累强度就是整个衍射环上所有衍射强度的总和。
各个参数的含义(一)
I:衍射的强度;I0:入射X射线的强度;R0:样品到衍射环的距离;
r e=e2/4πε0mc2,电子的经典半径;
N0:单位体积样品中晶胞的数目;
λ:X射线的波长;
Vcr:样品被X射线照射到的面积;
VN0:样品被X射线照射到的晶胞数目;
各个参数的含义(二)
F:结构因子,与hkl有关;
M f:多重性因子,也与hkl有关;
(1+cos22θB)/sin2θB cosθB:角因子,也称为洛仑兹-偏振因子或洛仑兹-极化因子。
cosθB为洛仑兹因子;
其中1/ sin2θ
B
½(1+cos22θB)为极化(偏振)因子(这是无偏振的情况)。
最重要的一点结论:I正比于结构因子振幅的平方。
这是粉末衍射能够测定结构的基础。
I和N0的平方成正比,意味着同样体积的样品,晶胞体积小的话,晶胞个数多,所以衍射强度会加强:这就是为什么结构越复杂的晶体(晶胞体积大)衍射实验越难。
多重性因子M f意味着粉末衍射会导致不同的衍射线重叠,这是粉末衍射的缺点之一。
I和λ的立方成正比,意味着用长波长的X射线能够得到高的衍射。
但是实际情况是长波X射线容易被空气和样品吸收,所以波长还是要短一些。
洛仑兹-偏振因子
洛仑兹因子无论对于何种性质的入射X射线都是一样的;
偏振因子和入射X射线的偏振性质有关:水平偏振:1
垂直偏振:cos22θB
没有偏振:1/2(1+ cos22θB)(水平偏振和垂直偏振各占一半)
多重性因子
由于对称性质一样的晶面具有同样的面间距,因此其衍射环叠加在一起,无法分开(这是粉末衍射的主要缺点)。
这些晶面的个数就是多重性因子。
多重性因子和hkl以及晶体的对称性有关。
在某些晶体中,具有此指数的两族衍射面,其面间距相同,但是结构因子不同。
这样的两族晶面积累强度要分别计算,然后相加。
还要注意不同晶系的轴比关系。
例如在立方晶系,a=b=c,所以(H00),(0K0)和(00L)等效,P=6。
而在四方晶系中,(H00)和(0K0)等效,而和(00L)不等效,故前两个P=4,后面的P=2。
选择衍射面类型时也要注意轴比关系。
如
四方晶系中(111)不属于(HHH)类型,而是(HHL)类型,P=8。
同样正交晶系中(110)不属于(HH0)类型,而是(HK0)类型,P=4。
另外,晶体中还存在衍射面不同,但是面
间距相同的例子,如立方中的(511)和(333)。
这时候应该分别计算,最后相加。
吸收因子
以上的讨论没有考虑到X射线被样品吸收的情况。
样品本身会吸收一部分X射线,导致衍射强度的降低。
吸收系数以A来表示。
一般来讲,理论上计算A是很复杂的,也难于得到准确的结果。
以下就平板和圆柱两种情况来讨论。
平板样品
平板样品最为简单。
(这就是为什么Bragg-Brentano方式成为最常用的粉末衍射配置的原因。
)
A=1/2μ,μ为样品的吸收系数。
吸收系数与衍射角度无关。
设入射X光长为L,宽为y(即L×y的线光源)。
在y的宽度中取dy一个小单元。
样品中dx的一层,在厚度为x的样品下面。
被L×dy照射并参加衍射的样品体积为:V=Ldxdy/cosθ。
入射X射线被长度为t=x/cosθ的样品吸收,出射的衍射也被长度为t的样品吸收。
Ly是与入射X光有关的参数,记入常数k中,所以吸收系数取A=1/2μ。
圆柱样品
圆柱样品的吸收系数比较复杂,没有解析式可以表达,但是仍然可以用数值计算的方法求出。
温度系数
前面的考虑还漏了一个因素:样品中的原子是运动的,就是在平衡位置附近来回振动,振动的幅度和温度有关。
由于这种热振动,使得原子平面(即晶面或者衍射面)不能看作一个理想的平面,而是一个界限不清的厚板区域。
这个区域里原子密度是高斯分布的。
(最简单而且合理的近似)
其中u2为原子振动引起的位移的均方值。
热振动引起的位移本质上是各向异性的,在衍射分辨率很高(好于1A)的条件下能
够体现出来。
而在分辨率较低的情况下,各向异性的影响并不重要。
单晶
单晶的衍射实验采用旋转晶体法,即单晶样品以角速度ω绕一个轴转动。
由于每个完整的小晶体体积很小,相互之间不会产生二次衍射(即某个晶体的衍射再次被另一个晶体所衍射);
吸收很小,衍射所占的比例也很小,照射到每个小晶体的X射线强度相等。
讨论
首先,I和结构因子振幅的平方成正比,这对于结构测定而言是最重要的。
同样I和λ的立方成正比。
一样和洛仑兹-偏振因子有关。
一样和晶胞的个数(1/V2)成正比。
由于单晶衍射实验是透射式的,所以Tr=1-A,A为X射线被吸收的份额。
考虑到热振动的影响,也和粉末衍射一样,体现在结构因子上,用exp(-2M)来表示。
对于生物大分子晶体,还有一个因素需要考虑,就是辐射损伤。
辐射损伤会造成衍射的强度逐渐减弱,甚至没有衍射。
总比例因子
总比例因子包括晶胞的体积(或者晶胞个数),样品体积,入射X射线波长,入射X 射线强度,电子经典半径等,对于每一个衍射点(线)而言,都是一样的。
在实际的数据处理中,就用一个可以拟合的参数来代替,对最后结果不会产生任何影响。
洛仑兹-偏振因子
洛仑兹-偏振因子来源于X射线被电子衍射的物理过程,对于单晶和粉末都是一样的。
当然对于不同的衍射点(线),即不同的hkl会有不同,也和入射X射线的偏振性质有关。
常规X光源是无偏振的,而同步辐射大部分是水平偏振的。
吸收因子
吸收因子总体来讲是一个不好处理的因素。
粉末衍射的Bragg-Brentano几何可以使得吸收因子最为简单(一个常数)。
如果样品形状能够精确得知,可以通过数值计算的方法得知。
否则就要想办法减少这个因素的影响了(比如选取波长很短,吸收很小的X射线进行实验)。
温度因子
温度因子体现在对结构因子的改变上。
用指数形式表示:exp(-2M)。
无论是粉末还是单晶,热振动都是一样的,所以这个因子对于何种实验方法都是一样的。
在衍射分辨率高的时候,温度因子的各向异性能够体现出来。
辐射衰减因子
到目前为在,还没有办法来计算辐射衰减因子。
因此只能在实验中避免这个因子的影响。
一般无机物或者小分子受到辐射衰减的可能性很小,只有生物大分子才会有辐射衰减。
用冷冻样品的方法能够减缓X射线引起的辐射衰减。
结构因子
结构因子是进行衍射实验需要得知的量,特别是进行结构测定的时候。
粉末衍射的数据处理
现代的粉末衍射数据处理基本上是基于全谱拟合来进行的。
因为技术的发展(实验手段,计算机软件/硬件),使得开展全谱拟合成为可能。
仅仅通过读衍射峰位置来进行数据解析的手段毕竟太简单了。
全谱拟合
顾名思义,就是将样品的衍射谱通过一个模型和里面各种参量(如相成分、结构、缺陷等)联系起来,通过拟合得到一个与实际测量谱最吻合的计算谱,确定以上的各种参量。
整个衍射谱提供的信息量远比单个衍射峰的多,所以分析得到的结构可靠。
现代高分辨粉末衍射分析方法的基础。
基本原理
计算衍射谱中每点的强度,与实验测得的强度进行拟合,调节计算模型中各个参数的值,直到计算和实测强度差别最小。
最常用的拟合方法为最小二乘法。
非线性、多参量的最小二乘法拟合。
可以把能够考虑到的因素都加入到模型中。
需要衍射谱质量越高越好(分辨率,计数率)。