电镜照片处理

小知识如何看电镜照片及其它电镜照片具有直观、通俗的特点，一般大家都能看明白。

但从电镜专业的角度来说，多了解一些电镜成像的基础知识，对于更好地从电镜照片中得到更多的信息是非常有好处的。

图1是一张电镜照片，在图中标出了亮、暗、黑不同的部位，并对形成亮、暗、黑的原因进行了解释。

上面电镜照片是由亮(白)、暗(灰)、黑几种不同色素集合而成，对于正常的二次电子图象来说：（1）亮是代表样品高凸部位、面向检侧器的部位、具有高原子序数元素的部位，导电性能好的部位。

（2）暗则反之。

（3）不同程度的亮暗，即为不同的差异，那些孔洞、缝隙、底下部位呈现黑色。

由于样品的电磁性能、荧光性能，边缘和尖端效应造成的亮度差异，了解、综合这些样品信息，然后才能获得有关该样品形貌的正确断论，从中得到更多的信息。

在区分图象上，还应该注意，对于样品有透明膜的表面或透光外壳等情况，在光学显微镜下可以无妨碍地看清下面或内部的细节形态，虽然有时常常难以分清该细节是在外表还是在内部。

但在扫描电镜中情况就不一样，由于电子显微镜只能“看到”5-10nm厚的深度，所以它只反映外表的形态，外表既使覆有很薄的透光层，电镜也是看不到下面细节的。

附：扫描电镜的优点及与光学和透射电镜的比较扫描电镜的优点很多，其中最重要的一点是景深特别大。

同样的放大倍数，扫描电镜的景深一般是光学显微镜的100倍，是透射电镜的1000倍左右。

景深大，拍摄出来的照片立体感强，具有更多细节。

表1列出了扫描电镜、光学显微镜和透射电镜的主要不同点。

表1 扫描电子显微镜与光学和透射电镜比较表项目光学显微镜(OM) 扫描电镜(SEM) 透射电镜(TEM) 1、分辨本领：最高熟练操作容易达到0.1um（紫外光显微镜）0.2 um5 um0.5nm10nm100nm0.1～0.2nm0.5~0.7nm5~7nm2、放大倍数1~2 000倍10~150 000倍100~800 000倍3、景深短：0.1mm（约10倍时）1um （约100倍时）长：10mm （约10倍时）1mm （约100倍时）10um （约1000倍时）1um （约10000倍时）短：接近扫描电镜，但实际上为样品厚度所限制，一般小于100nm4、视场100mm（1倍时）10mm （10倍时）1mm （100倍时）0.1mm （1000倍时）10mm （10倍时）1mm （100倍时）0.1mm （1 000倍时）10um （1 0 000倍时）1um （1 000 000倍时）2mm （100倍时）其它同扫描电镜说明：现在某些光学显微镜，经过光学系统特别是数字化处理后，据报到，其景深可以到达SEM的效果，但实际是否完全一样，尚待验证。

不同变质程度煤的高分辨率透射电镜分析李霞;曾凡桂;司加康;王威;董夔;程丽媛【摘要】利用高分辨率透射电子显微镜（ HRTEM）分析了三种不同变质程度煤样的结构特征。

基于傅里叶-反傅里叶变换方法，并结合Matlab、Arcgis和AutoCAD软件，通过图像分析技术，获得了HRTEM照片的晶格条纹参数。

结果表明，三种煤样的晶格条纹呈现不同特征，按条纹长度分别归属于1×1－8×8共计八个类型。

以3×3为临界点，在1×1和2×2中，ML-8中芳香层片的比例高于DP-4和XM-3；在3×3－8×8中，ML-8中芳香层片的比例低于DP-4和XM-3。

对比HRTEM和XRD参数d002发现，随着镜质组反射率的增加d002都呈现递减趋势。

%The stur ctural characteristics of 3 coals with different metamorphic degrees were analyzed using ih gh-resolution transmission electron microscpo y ( HRTEM ) . Applying FFT-IF T method, in association with M atlab, Arcgis and AutoCAD softwares, the lattice fringe parametre s obtained from HRTEM imga e were determined using image analysis.The results indicate that the lattice fringes of all the test coal samples exhibit d ifferen t characteristics.These lattice fringes can be divided into 8 types (1×1-8×8 aromatic frineg s) according to the frni ge length distribution.Taking the 3 ×3 aromatic fringe as critical point, the sampel ML-8 abundant in 1 ×1 and2 ×2 aromatic fringes while short of 3 ×3-8 ×8 aromatic fringes whe n com paring with sampleD P-4 na d sample XM-3.The values of d002 obtained from both HRTEM and XRD show a decreasni g trend wiht increasing vitrinite refel ctance.【期刊名称】《燃料化学学报》【年(卷),期】2016(044)003【总页数】8页(P279-286)【关键词】不同变质程度煤;高分辨率透射电子显微镜;图像分析【作者】李霞;曾凡桂;司加康;王威;董夔;程丽媛【作者单位】太原理工大学煤科学与技术教育部及山西省重点实验室地球科学与工程系，山西太原 030024;太原理工大学煤科学与技术教育部及山西省重点实验室地球科学与工程系，山西太原 030024;太原理工大学煤科学与技术教育部及山西省重点实验室地球科学与工程系，山西太原 030024;太原理工大学煤科学与技术教育部及山西省重点实验室地球科学与工程系，山西太原 030024;太原理工大学煤科学与技术教育部及山西省重点实验室地球科学与工程系，山西太原030024;太原理工大学煤科学与技术教育部及山西省重点实验室地球科学与工程系，山西太原 030024【正文语种】中文【中图分类】TQ533煤是非均一的复杂组成物质，其芳香层片呈有序或无序排列，随着煤级的增加，芳香层片的尺寸和堆垛层数逐渐增加。

扫描电镜基本操作 1、进样后，等待电镜抽真空，当真空读数小于5E-04，开启电子枪，打开观察Observation （点击按钮ON 变绿色），点击操作台上ACB （自动白平衡），WD 调到10.0mm （CL 要调到14.1mm ），移动操作球（X,Y ， 或使用鼠标右键选取点击位置到屏幕中心），找到观察样品表面，将放大倍数调大，旋转操作球的旋钮调整Z 轴到合适的观察距离使得画面清楚（注意Z 轴动态，不要超过2mm ，操作球旋钮调整Z 轴的速率跟放大倍数成反比）。

2放大倍率旋钮顺时针可将样品放大至需要的倍数，反复调整焦距，使样品表面尽量清楚（可找到样品表面的裂缝或突起作为参照物）。

若画面还不清楚，可先放大到较高倍率（1万倍以上）反复调整像散x 、y 及焦距至影像清楚，直至影像清晰后再切回所需倍率。

3、进行上述操作后，若图像仍不清楚，可点击操作面板上的WORB 模式进行对中操作，此时面板上的WORB 和ALIGN 灯会持续闪烁，此时画面应像心脏一样跳动，若左右或上下晃动需调整像散的X ，Y ，调好后点STIG 会取消对中模式，反复切换对中模式和像散模式，结合焦距进行图像调整。

4、扫描模式：快速扫描模式QUICK VIEW （QUICK 1移动快, 再点一下显示屏上可看到变成QUICK 2），在LED （二次电子图像）模式下，移动或者调焦距需在QUICK 1模式下。

慢速扫描模式FINE VIEW （FINE 1移动慢但成像较好，FINE 2照相的速度），在BED-C （背散射模式）或CL(阴极发光模式)下可切换到FINE 1模式下观察或移动。

5、LED （二次电子图像）模式是观察样品的表面形貌；BED-C （背散射）模式代表了样品的成分，颜色不同成分不同。

鼠标左键点LED 可在下拉列表中切换。

切换前，需在右下角SRBE 前点对号把背散射探头送进去。

在BED-C （背散射模式）下可慢慢旋转BRIGHTNESS 和CONTRAST 来调节亮度和对比度，若图像模糊可把对比度和亮度调大，若图像中亮的太亮看不清内部结构可把对比度和亮度同时稍调低。

TEM,SEM,冷冻，金相四大电镜制样方法有哪些？利用电子显微镜的高分辨本领、高放大倍率等特点来分析研究物体的组织形貌、结构特征的一种近代材料物理试验方法。

但是样品制作的好坏直接关系到结果的准确，因而制作出符合要求的样品成为整个实验的关键。

TEM,SEM,冷冻，金相四大电镜制样方法有哪些？接下来，就带你了解一下吧！透射电镜（TEM）TEM放大倍数可达近百万，可以看到在光学显微镜下无法看清的0.1～0.2nm的细微结构。

其样品制备工作量很大，占整个测试工作的一半以上，甚至超过90％，十分关键。

图透射电镜样品台常用样品台分为两种：顶入式样品台和侧插式样品台顶入式样品台要求样品室空间大，一次可放入多个（常见为6个）样品网，样品网盛载杯呈环状排列，使用时可以依靠机械手装置进行依次交换。

优点：每观察完多个样品后，才在更换样品时破坏一次样品室的真空，比较方便、省时间。

缺点：但所需空间太大，致使样品距下面物镜的距离较远，不适于缩短物镜焦距，会影响电镜分辨力的提高。

侧插式样品台样品台制成杆状，样品网载放在前端，只能盛放1～2个铜网。

优点：样品台的体积小，所占空间也小，可以设置在物镜内部的上半端，有利于电镜分辨率的提高。

缺点：不能同时放入多个样品网，每次更换样品必须破坏一次样品室的真空，略嫌不便。

支撑网的选择：支撑网有多种材质如Cu、Ni、Be、尼龙等，选择时要与待分析样品的成分分开。

制备过程：制备支持膜：在铜网上覆盖一层有机膜后喷碳选择分散剂：根据样品性质选择，常用无水乙醇分散：使用超声波或搅拌将粉末分散成悬浮液液滴上支持膜（两种方法）：（a）滴样：用镊子夹持覆有支持膜的铜网，用滴管滴几滴悬浮液在支持膜上，保持夹持状态至干燥（推荐）（b）捞取：用镊子夹持载网浸入溶液捞取液滴（缺点：双面挂样制备关键和注意事项：样品粉末能否在支持膜上均匀分布确保实验过程中未带入污染物2.复型法基本原理：用对电子束透明的薄膜（碳、塑料、氧化物薄膜）把材料表面或断口的形貌复制下来的一种间接样品制备方法。

SEM操作手册一、开机在电镜基座的前面板上有绿（ON）、黄（STANDBY）、红（OFF）三个按钮，见图一图一a 接通电源后，按红色按钮，电镜通电。

b 按黄钮，真空系统开始工作，整机处于待机状态。

c 约1分钟后按绿钮，所有系统开始工作，同时电脑自动启动(或人工手动启动)，进入系统。

d 双击SmartSEM并登陆。

二、放置样品（1）从样品室放入样品a 键盘点击Ctrl+G，打开扫描电镜控制窗口（SEM Control）。

该窗口包括六个控制版面（如图二）：电子枪（Gun）、探测器（Detector）、光阑（Aperture）、真空（Vacuum）、样品台（Stage）。

b选中Vacuum版面，点击Vent对样品室通入氮气（Vent前确保EHT已经关掉）。

图二c等待几分钟后，样品室可以打开，放入样品（如图三），样品台卡在燕尾槽中，确认样品台卡紧了即可。

图三（2）用Airlock放置样品图四a 确认Stage已经处于Exchange位置：在Smart SEM的菜单栏依次选择Stage→Store/Recal →$exchange。

b 点击Airlock面板上的Vent按钮，卸掉交换室中的真空，将样品台卡在交换室的燕尾槽中，用样品传输杆拧紧样品台。

c 点击Transfer按钮（抽真空时手推紧一下舱门），抽真空后隔离舱门打开，样品传输杆伸入样品仓内，将样品台卡在样品基座上的燕尾槽中，旋松螺丝后将样品传输杆拉出来。

d 点击Airlock面板上的Store按钮，关闭舱门。

（注意：舱门关闭后Store灯才停止跳动，这段时间内舱门在向内平移，仍处于未闭合状态，不能泄真空）三、观察样品（1）移动样品台，调节样品和物镜之间的工作距离a如果已经勾选了Joystick disable，在stage中取消Joystick disable选项。

PS: 在SmartSEM 5.06中，增加了Stage Disabe选项，此选项也需要取消勾选。

SEM标准操作流程包括样品准备、对SEM设备的操作以及照片获取和分析等步骤。

首先，对于样品的准备，主要包括样品切割定形、镶嵌、磨抛等步骤。

一般情况下会使用低速锯手动切割样品，当样品数量较大、切割精度要求高时，则会使用线切割。

在拿到SEM设备室之前，需要对样品表面进行喷金处理，喷金的离子会让其附着在样品表面，增加导电性，从而在用SEM电子束观察的时候能够更清晰。

然后是对SEM设备的操作。

操作者需要熟悉设备的主要结构，包括电子枪，电子束聚焦系统，真空系统，样品室等。

同时，要能熟练地调节对焦和消像散以获得清晰的电镜照片。

在操作过程中，需要戴上手套以免污染样品。

最后是获取照片并进行相应的分析。

通过调整设备参数以及对拍摄的照片进行分析，可以得到关于样品的表面形态和结构的信息。

需要注意的是，SEM操作涉及高度专业化的设备和技术，因此应由经过专业培训的人员进行。

扫描电镜照片参数解读及主要参数选择1、扫描电镜照片参数解读图1 扫描电镜图片展示，EHT=20.00kV即加速电压20kV；WD=8.2mm，即工作距离8.2mm；Mag=7.94KX即放大倍数7940倍；Signal A=SE2即用SE2探测器。

扫描电镜参数众多，皆可显示在图片下方工具栏中，但决定图像质量最直接、最关键因素是加速电压（EHT）、工作距离（WD）、放大倍数（Mag）和检测器种类，因此本台扫描电镜检测结果只选择显示这几个重要指标。

2、电镜参数解读2.1 加速电压一般，加速电压越高，图像分辨率越高，当样品导电性好且不易受电子束损伤时可选用高加速电压，这时电子束能量大，对样品穿透深，材料衬度减小，图像分辨率提高。

但加速电压过高，电子束对样品的穿透能力过大，样品表面信息缺失，样品看起来像玉一样，如图2D。

低加速电压时，入射电子能量较低，其与样品的作用深度较浅，更能反映样品最表层的信息，有利于样品表层形貌的观察（图2A，C）；此外，低加速电压可以有效地减少荷电现象，更易观察不导电样品。

如图2B，样品在10kV加速电压下边缘过亮，说明此处电荷大量积累，而图2A用1kV加速电压拍摄的同一部位就没有明显的荷电现象。

因此，根据自己的要求灵活地选择加速电压，才能得到理想的电镜图像。

当需要观测样品的表面信息、样品的导电性较差、样品的热稳定性较差时，需要选择较低的，甚至是超低的加速电压。

当需要得到分辨率高的图像、样品表面存在有机污染或是样品内部的相组成信息时，需要选择较高的加速电压。

图2 不同加速电压条件下的二次电子像。

A，C为1KV加速电压条件下图像，图像表面细节清晰。

B为10KV加速电压条件下图像，图像边缘效应较强。

D为15KV加速电压条件下的图像，图像表面细节看不出。

2.2 工作距离工作距离（WD）是物镜下极靴到样品表面的距离。

工作距离增大时，样品上的束斑变大，分辨率下降，但孔径角减小，景深增加。

电镜照片的裁剪和拼接对于拍摄效果理想的电镜照片，只需要通过简单的裁剪和拼接，就可以完成。

但是在实际操作过程中，往往存在这样的问题，电镜照片下方有一个标注栏，在标注栏中可以记录标尺、工作距离、加速电压等电镜拍摄条件，在制作插图过程中，往往需要将电镜图片缩小，将几张具有对比效果的图片拼接在一张插图中，此时数据栏中的字体会变得很小，标尺也会看不清楚。

因此，在制作用于发表的插图过程中往往需要将电镜照片下方的数据栏剪切掉，再重新制作一条标尺，并进行标记。

对于单张照片的裁剪、修改电镜图片的大小及重新调整照片明暗对比度的工作需要用Photoshop软件（简称PS）来完成，而将图片拼接在一起，重新画标尺和标注文字的工作需要Illustrator软件（简称AI）来完成。

一、收集合格整理素材将一张插图中计划用到的所有电镜照片全部复制下来，建立一个新的文件夹，最好给每一张照片一个文件名，以后文件名最好不要更改，因为AI软件和PS软件中的图片是链接关系，防止在拼接图片过程中出现的链接图片无法识别。

二、用Photoshop裁剪出大小完全一致的图片1、按照图片标尺长度绘制一个矩形框当扫描电镜图片被缩小后，标尺经常会看不清楚。

因此可以先根据标尺长度绘制一个等长的矩形框，以便图像拼接后根据该矩形框重新画一条标尺。

具体操作步骤如下：①用Photoshop CS5软件打开需要操作的图片。

②将索引格式的电镜图片转变成RGB颜色格式的文件（执行“图像——模式——RGB颜色”命令）。

③按照原标尺大小画一个相同长度的矩形框，并填色。

具体方法如下，新建一个图层，用缩放工具拖拽图片，将标尺区域放大，在新建图层中用矩形选择工具按照标尺长度画一个等长的矩形框，用吸管工具在色板上任意吸取一个颜色，按下Alt+Delelte键，将矩形框填充上颜色。

按下Ctrl+D键取消选框。

将矩形框移动到图片中任意区域，裁剪时不会受到影响即可。

双击抓手工具，将图片放到合适屏幕大小。

小知识如何看电镜照片及其它电镜照片具有直观、通俗的特点，一般大家都能看明白。

但从电镜专业的角度来说，多了解一些电镜成像的基础知识，对于更好地从电镜照片中得到更多的信息是非常有好处的。

图1是一张电镜照片，在图中标出了亮、暗、黑不同的部位，并对形成亮、暗、黑的原因进行了解释。

上面电镜照片是由亮(白)、暗(灰)、黑几种不同色素集合而成，对于正常的二次电子图象来说：（1）亮是代表样品高凸部位、面向检侧器的部位、具有高原子序数元素的部位，导电性能好的部位。

（2）暗则反之。

（3）不同程度的亮暗，即为不同的差异，那些孔洞、缝隙、底下部位呈现黑色。

由于样品的电磁性能、荧光性能，边缘和尖端效应造成的亮度差异，了解、综合这些样品信息，然后才能获得有关该样品形貌的正确断论，从中得到更多的信息。

在区分图象上，还应该注意，对于样品有透明膜的表面或透光外壳等情况，在光学显微镜下可以无妨碍地看清下面或内部的细节形态，虽然有时常常难以分清该细节是在外表还是在内部。

但在扫描电镜中情况就不一样，由于电子显微镜只能“看到”5-10nm厚的深度，所以它只反映外表的形态，外表既使覆有很薄的透光层，电镜也是看不到下面细节的。

附：扫描电镜的优点及与光学和透射电镜的比较扫描电镜的优点很多，其中最重要的一点是景深特别大。

同样的放大倍数，扫描电镜的景深一般是光学显微镜的100倍，是透射电镜的1000倍左右。

景深大，拍摄出来的照片立体感强，具有更多细节。

表1列出了扫描电镜、光学显微镜和透射电镜的主要不同点。

表1 扫描电子显微镜与光学和透射电镜比较表项目光学显微镜(OM) 扫描电镜(SEM) 透射电镜(TEM) 1、分辨本领：最高熟练操作容易达到0.1um（紫外光显微镜）0.2 um5 um0.5nm10nm100nm0.1～0.2nm0.5~0.7nm5~7nm2、放大倍数1~2 000倍10~150 000倍100~800 000倍3、景深短：0.1mm（约10倍时）1um （约100倍时）长：10mm （约10倍时）1mm （约100倍时）10um （约1000倍时）1um （约10000倍时）短：接近扫描电镜，但实际上为样品厚度所限制，一般小于100nm4、视场100mm（1倍时）10mm （10倍时）1mm （100倍时）0.1mm （1000倍时）10mm （10倍时）1mm （100倍时）0.1mm （1 000倍时）10um （1 0 000倍时）1um （1 000 000倍时）2mm （100倍时）其它同扫描电镜说明：现在某些光学显微镜，经过光学系统特别是数字化处理后，据报到，其景深可以到达SEM的效果，但实际是否完全一样，尚待验证。

透射电镜组织处理
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）是一种强大的显微镜技术，可以对材料的内部结构和组织进行高分辨率的观察。

为了进行透射电镜观察，材料通常需要经过一系列处理步骤以准备样品。

下面是一般的透射电镜组织处理步骤：
1.采样和切片：从原始材料中采集要观察的样品，并使用显
微切割机或离心切片机将样品切片成适当的厚度（通常是
几十到几百纳米）。

2.修剪和固定：根据需要，选择感兴趣的样品区域，修剪并
将其固定在载玻片或网状膜上，以便在电镜中进行观察。

3.固定剂处理：为了保持样品的原始结构和形态，通常使用
特定的固定剂处理样品。

例如，常用的固定剂有冷冻醇、
蛋白质交联剂（如缩醛或戊二醛）等。

4.重金属染色：为增加样品的对比度，某些样品可能需要进
行染色处理。

重金属染色剂（如铀酸或铋酸）通常用于染
色，以增强电子束与样品的相互作用。

5.脱水和浸透：为了进一步固化样品并保持其结构，通常使
用乙醇或丙酮等有机溶剂进行脱水处理，并使用一些合适
的浸透剂（如酮树脂或环氧树脂）浸透样品。

6.切片和显影：将浸透好的样品切成适当的薄片（通常是50
至100纳米），并使用硝酸铋等显影剂处理样品，以增强
对比度。

7.观察：将处理好的样品放入透射电镜中，利用电子束穿过
样品观察样品的内部结构和组织。

需要注意的是，透射电镜组织处理的具体步骤和条件可能会根据不同的样品类型和目的而有所不同。

浅谈高质量扫描电子显微镜照片的拍摄作者：陈琼张静来源：《青年时代》2017年第26期摘要：扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）由于其具有较高的放大倍数、很大的景深和试样制备简单等优点，在实验教学和科学研究各个领域应用广泛。

扫描电子显微镜结合X射线能谱分析，在观察物质形貌的同时，可以对物质微区的成分进行分析。

观察扫描电子显微镜的最终目的是得到清晰的照片，而样品自身的情况和测样前的准备情况是关键。

本文以VEGA3 SBH型钨灯丝扫描电子显微镜为例，从样品自身的要求和样品测试前的准备方法等几个方面入手，为扫描电子显微镜相关工作人员提供一些技术参考。

关键词：钨灯丝扫描电子显微镜；样品要求；样品准备一、引言扫描电子显微镜，简称为扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM），是以固体物质的微观形貌为主要的研究对象，介于透射电镜和光学显微镜之间的一种电子光学仪器。

它具有许多优点如较高的放大倍数，很大的景深，观测视野大，成像富有立体感等，并且可以直接观察样品表面，研究样品表面细微形貌情况，另一方面一些对形貌有要求的材料，可通过SEM对样品形貌进行分析，探究样品的制备条件和方法，优化制备过程，已在一些领域取得了一定的成果。

并且目前的扫描电镜都装配有X射线能谱仪装置，因此SEM可以在观察样品形貌的同时，还可以分析样品的微区成分。

现今已成为各科技领域十分有用的科学研究工具，它广泛应用于材料科学、地球科学、医学和生命科学等领域。

观察扫描电镜的最终目的是拍摄出清晰的照片。

为获得高质量的扫描电子显微图像，样品自身的条件和测样前样品的准备情况起着至关重要的作用，因此对于扫描电镜样品的要求和测样前样品的准备情况要予以充分的重视，认真做好样品的选择和样品准备的每一个步骤。

本文以VEGA3 SBH型钨灯丝扫描电子显微镜为例，介绍样品的要求、样品测试前的准备方法，为拍摄高质量的SEM照片提供一些经验。

透射电镜相机及单颗粒冷冻电镜数据预处理流程综述
汪进鸿;陈朕欣;邓竞;欧嘉城;曾安;金亮
【期刊名称】《电子显微学报》
【年(卷),期】2022(41)6
【摘要】透射电子显微镜成像技术广泛应用于结构生物学研究、生物制药、医学病理、纳米材料等领域。

近些年,透射电镜中的冷冻电镜技术有了迅速发展,并在2017年获得诺贝尔化学奖。

冷冻电镜的快速发展离不开新型探测相机以及低剂量显微照片处理算法的发展。

本文回顾了透射电镜相机系统近些年的发展历史,并针对单颗粒冷冻电镜的数据预处理流程做了详细分解。

【总页数】10页(P654-663)
【作者】汪进鸿;陈朕欣;邓竞;欧嘉城;曾安;金亮
【作者单位】生物岛实验室(广州再生医学与健康广东省实验室);广东工业大学计算机学院
【正文语种】中文
【中图分类】TN16;TP391.41
【相关文献】
1.冷冻电镜单颗粒技术解析生物大分子结构综述
2.基于小波包变换的冷冻电镜单颗粒重构局域滤波算法
3.基于双边滤波与受限玻尔兹曼机的冷冻电镜单颗粒图像识别
4.透射电镜在气溶胶单颗粒分析中的应用研究
5.透射电镜在气溶胶单颗粒分析中的应用
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