第一章 电子光学基础
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第二篇金属电子显微分析Electron Microanalysis for Metals第一章电子光学基础The Electron Optics引言1.显微分析的任务:了解材料的化学成分、形貌和晶体结构The microanalysis: Composition, topography, and crystals construction.2.电子光学仪器:透射电子显微镜(TEM),扫描电子显微镜(SEM)The instrument of electron optics:Transmission Electron Microscope (TEM), Scanning Electron Microscope (SEM)3.以电子光学方法将具有一定能量的电子(或离子)会聚成细小的入射束,通过与样品物质的相互作用激发表征材料微观组织结构特征的各种信息,检测并处理这些信息从而给出形貌、成分和结构的丰富资料,是所有电子光学仪器的共同特点。
3.The incident beam of electrons (or ions) condensed with electronic optics technique interact with the materials of samples to exact and product the information of materials’ topography, crystals construction, and also, to detect and to treat these information about the composition, topography, and crystals construction.4.微区分析新技术4.Micro-analysis technique.1.1.几何光学: 折射定律,Geometric Optics :Refractive law光的折射是其成像基础。