扫描电子显微镜场发射扫描电子显微镜 样品登记及实验须知

扫描电子显微镜使用流程及注意事项英文回答：Scanning Electron Microscopy Workflow and Considerations.Workflow.1. Sample preparation: Samples should be prepared to maximize surface detail and prevent charging. Methods may include fixation, dehydration, coating, and cutting.2. Mounting: Samples are mounted on a specimen stub or grid using adhesives or conductive tape.3. Coating: A thin layer of conductive material (usually gold or carbon) is applied to reduce sample charging and improve image quality.4. Vacuum: The sample chamber is evacuated to create avacuum environment necessary for electron beam operation.5. Imaging: A high-energy electron beam is focused onto the sample surface and scanned in a raster pattern. Scattered electrons are detected to create images.6. Analysis: Images can be analyzed to provide information about surface morphology, composition, and topography.Considerations.Sample preparation: Proper sample preparation is crucial for obtaining clear and accurate images.Coating: The thickness and type of coating can affect image quality and resolution.Vacuum: The vacuum level must be sufficient to prevent electron beam scattering and sample damage.Accelerating voltage: Higher accelerating voltagesprovide deeper penetration and less surface detail, while lower voltages provide higher surface resolution.Detector selection: Different detectors (e.g., secondary electron, backscattered electron) emphasize different surface properties.Image resolution: Image resolution is determined by factors such as electron beam energy, sample preparation, and the detector used.Artifact detection: It is important to identify and minimize image artifacts (e.g., charging, sample distortion) that can affect image interpretation.中文回答：扫描电子显微镜使用流程与注意事项。

扫描电子显微镜对样品的要求及样品的制备扫描电子显微镜是一种大型的分析仪器,主要功能是用于固态物质的形貌显微分析和对常规成分的微区分析,广泛应用于化工、材料、医药、生物、矿产、司法等领域.由于其价格昂贵及特殊的工作原理,它对样品制备有着较高的要求,样品的制备好坏,直接影响着样品分析是否成功,为此,本文着重介绍一下扫描电子显微镜应用中有关样品制备的相关知识和技术.1 扫描电子显微镜对样品的要求(1)样品必须是无毒、无放射性的物质,以保证工作人员的人身安全.(2)样品可以是块状、片状、纤维状;也可以是颗粒或粉末状,无论是什么样的样品都不能是有机挥发物和含有水分.如果将含有水分的样品放在镜筒内能产生三种严重不良后果:一是当真空达不到要求强行通高压时,其产生的水蒸汽遭遇高能电子流产生电离而放电引起束流大幅度波动,使所成的像模糊,或根本不能成像;二是造成镜筒污染;三是损坏灯丝,当高能电压通过灯丝时,温度高达2000Ο,碰到水蒸汽而氧化变质或熔断,因此,应先烘干样品中的水分.(3)无论是块状样品,还是粉末颗粒状样品,其化学、物理性质要稳定,在高真空中的电子束照射下,都要能保持成分稳定和形态不变.(4)表面受到污染的样品,要在不破坏样品表面结构的前提下,进行适当清洗、烘干.(5)无论是样品的表面,还是样品新断开的断口或断面,一般不需要进行处理,以保持其原始的结构状态.(6)对磁性样品要预先去磁,以免观察时电子束受到磁场的影响.(7)粉末样品要适量,不易过多;块状样品大小要适合仪器专用样品底座的尺寸,不能过大.一般小的样品座Φ3～5mm,大的样品座为Φ30～50mm,以分别用来放置不同大小的样品,样品的高度一般限制在5～10mm左右.2 样品的制备技术2.1 块状样品的制备对于块状导电样品,基本上不需要进行什么制备,只要其大小适合电镜样品底座尺寸大小,即可直接用导电胶带把样品黏结在样品底座上,放到扫描电镜中观察,为防止假象的存在,在放试样前应先将试样用丙酮或酒精等进行清洗,必要时用超声波清洗器进行清洗.对于块状的非导电样品或导电性较差的样品,要先进行镀膜处理,否则,样品的表面会在高强度电子束作用下产生电荷堆积,影响入射电子束斑和样品发射的二次电子运动轨迹,使图像质量下降,因此这类样品要在观察前进行喷镀导电层的处理,在材料表面形成一层导电膜,避免样品表面的电荷积累,提高图象质量,并可防止样品的热损伤。

012扫描电子显微镜操作规程一、引言扫描电子显微镜（SEM）是一种使用电子束来观察样品表面形貌和微观结构的仪器。

它能够提供高分辨率、高放大倍数和高对比度的图像，被广泛应用于材料科学、生命科学、地质学等领域。

为了保证SEM的正常运行并获得高质量的图像，有必要制定相应的操作规程。

二、SEM操作流程1.准备工作(1)打开SEM主机电源，并按照指示启动冷阱泵、离子泵和电子枪的加热系统。

(2)打开控制器电源，同时启动计算机。

(3)打开主机保护罩，确认操作环境无尘、无水汽等污染物，确保主机表面无异物。

2.样品制备(1)样品选择：根据实验需要选择合适的样品，并确认样品表面无水分、灰尘和油脂等污染物。

(2)样品固定：将样品固定在适当的样品台上，可以使用导电胶、碳带或金属夹等方式。

(3)极性标记：如果样品具有极性，可以使用导电涂层或金属导线对样品进行极性标记。

3.SEM参数设置(1)加速电压：根据样品类型和需要观察的细节选择合适的加速电压，一般为10-30kV。

(2)操作模式：根据需要选择高真空模式或低真空模式，低真空模式适用于非导电样品的观察。

(3)滤波器：根据样品的特点和需要选择合适的信号滤波器。

(4)检测器：根据需要选择透射电子检测器或反射电子检测器。

4.校准与对焦(1)样品台校准：使用样品台移动功能进行校准，确保样品位置精确。

(2)对焦：调节显微镜目镜和物镜，通过观察图像清晰度和对比度来进行对焦。

5.SEM图像获取(1)样品扫描：选择合适的扫描模式，如线扫描或逐点扫描，设置扫描速度和扫描范围。

(2)图像增强：根据需要进行亮度、对比度、伽马校正等图像增强操作。

(3)图像保存：选择合适的文件格式和保存路径，保存图像以备进一步分析和处理。

6.SEM维护(1)常规清洁：每次使用后，使用纯净的乙醇或丙酮擦拭样品台和样品表面，去除样品表面的残留物。

(2)泄漏检测：定期检查真空系统是否存在泄漏，如有泄漏及时修复。

(3)硅片测试：定期使用标准硅片对SEM系统进行性能测试，以确保SEM的准确性和稳定性。

扫描电子显微镜的操作步骤和注意事项心得扫描电子显微镜的操作步骤与注意事项一、样品制备将分散好的样品滴于铜片上，干燥后将载有样品的铜片粘在样品座上的导电胶带上(对于大颗粒样品可直接将样品粘在导电胶带上)。

对于导电性不好的样品必须蒸镀导电层，通常为蒸金:将样品座置于蒸金室中，合上盖子，打开通气阀门，对蒸金室进行抽真空。

选择好适当的蒸金时间，达到真空度定好时间后加电压并开始计时，保持电流值，时间到后关闭电压，关闭仪器。

取出样品。

(注意:打开蒸金室前必须先关闭通气阀门，以防液体倒流。

)二、扫描电镜的操作1.安装样品“Vent”直至灯闪，对样品交换室放氮气，直至灯亮; 1) 按2) 松开样品交换室锁扣，打开样品交换室，取下原有的样品台，将已固定好样品的样品台，放到送样杆末端的卡抓内(注意:样品高度不能超过样品台高度，并且样品台下面的螺丝不能超过样品台下部凹槽的平面);3) 关闭样品交换室门，扣好锁扣;4) 按“EVAC”按钮，开始抽真空，“EVAC”闪烁，待真空达到一定程度，“EVAC”点亮;5) 将送样杆放下至水平，向前轻推至送样杆完全进入样品室，无法再推动为止，确认“Hold”灯点亮，将送样杆向后轻轻拉回直至末端台阶露出导板外将送样杆竖起卡好。

(注意:推拉送样杆时用力必须沿送样杆轴线方向，以防损坏送样杆)2.试样的观察(注意:软件控制面板上的背散射按钮千万不能点，以防损坏仪器)-51) 观察样品室的真空“PVG”值，当真空达到9.0×10Pa时，打开“Maintenance”，加高压5kv，软件上扫描的发射电流为10μA，工作距离“WD”为8mm，扫描模式为“Lei”(注意:为减少干扰，有磁性样品时，工作距离一般为15mm左右);2) 操作键盘上按“Low Mag”、“Quick View”，将放大倍率调至最低，点击“Stage Map”，对样品进行标记，按顺序对样品进行观察;3) 取消“Low Mag”，看图像是否清楚，不清楚则调节聚焦旋钮，直至图像清楚，再旋转放大倍率旋钮，聚焦图像，直至图像清楚，再放大……，直到放大到所需要的图;4) 聚焦到图像的边界一致，如果边界清晰，说明图像已选好，如果边界模糊，调节操作键盘上的“X、Y”两个消像散旋钮，直至图像边界清晰，如果图像太亮或太暗，可以调节对比度和亮度，旋钮分别为“Contrast”和“Brightness”，也可以按“ACB”按钮，自动调整图像的亮度和对比度;5) 按“Fine View”键，进行慢扫描，同时按“Freeze”键，锁定扫描图像;6) 扫描完图像后，打开软件上的“Save”窗口，按“Save”键，填好图像名称，选择图像保存格式，然后确定，保存图像;7) 按“Freeze”解除锁定后，继续进行样品下一个部位或者下一个样品的观察。

场发射扫描电子显微镜（S-4800）操作规程开机1. 检查真空、循环水状态。

2. 开启“Display”电源。

3. 根据提示输入用户名和密码，启动电镜程序。

样品放置、撤出、交换1. 严格按照高度规定高样品台，制样，固定。

2. 按交换舱上“Air”键放气，蜂鸣器响后将样品台放入，旋转样品杆至“Lock”位，合上交换舱，按“Evac”键抽气，蜂鸣器响后按“Open”键打开样品舱门，推入样品台，旋转样品杆至“Unlock”位后抽出，按“Close”键。

观察与拍照1. 根据样品特性与观察要求，在操作面板上选择合适的加速电压与束流，按“On”键加高压。

2. 用滚轮将样品台定位至观察点，拧Z轴旋钮（3轴马达台）。

3. 选择合适的放大倍数，点击“Align”键，调节旋钮盘，逐步调整电子束位置、物镜光阑对中、消像散基准。

4. 在“TV”或“Fast”扫描模式下定位观察区域，在“Red”扫描模式下聚焦、消像散，在“Slow”或“Cssc”扫描模式下拍照。

5. 选择合适的图像大小与拍摄方法，按“Capture”拍照。

6. 根据要求选择照片注释内容，保存照片。

关机1. 将样品台高度调回80mm。

2. 按“Home”键使样品台回到初始状态。

3. “Home”指示灯停止闪烁后，撤出样品台，合上样品舱。

4. 退出程序，关闭“Display”电源。

注意1. 每天第一次加高压后，进行灯丝Flashing去除污染。

2. 冷场发射电镜一般不断电，如遇特殊情况需要大关机时，依次关闭主机正面的“Stage”电源、“Evac”电源，半小时后关闭离子泵开关和显示单元背面的三个空气开关，关闭循环水。

开机时顺序相反。

3. 每半个月旋开空压机底阀放水一次。

4. 待测样品需烘干处理，不能带有强磁性，不能采用铁磁性材料做衬底制样。

5．实验室温度限定在25±5℃，相对湿度小于70% 。

仪器维护1. 每月进行电镜离子泵及灯丝镜筒烘烤。

2. 每半年进行一次机械泵油维护或更新。

扫描电子显微镜对样品的要求及样品的制备扫描电子显微镜是一种大型的分析仪器,主要功能是用于固态物质的形貌显微分析和对常规成分的微区分析,广泛应用于化工、材料、医药、生物、矿产、司法等领域.由于其价格昂贵及特殊的工作原理,它对样品制备有着较高的要求,样品的制备好坏,直接影响着样品分析是否成功,为此,本文着重介绍一下扫描电子显微镜应用中有关样品制备的相关知识和技术.1 扫描电子显微镜对样品的要求(1)样品必须是无毒、无放射性的物质,以保证工作人员的人身安全.(2)样品可以是块状、片状、纤维状;也可以是颗粒或粉末状,无论是什么样的样品都不能是有机挥发物和含有水分.如果将含有水分的样品放在镜筒内能产生三种严重不良后果:一是当真空达不到要求强行通高压时,其产生的水蒸汽遭遇高能电子流产生电离而放电引起束流大幅度波动,使所成的像模糊,或根本不能成像;二是造成镜筒污染;三是损坏灯丝,当高能电压通过灯丝时,温度高达2000Ο,碰到水蒸汽而氧化变质或熔断,因此,应先烘干样品中的水分.(3)无论是块状样品,还是粉末颗粒状样品,其化学、物理性质要稳定,在高真空中的电子束照射下,都要能保持成分稳定和形态不变.(4)表面受到污染的样品,要在不破坏样品表面结构的前提下,进行适当清洗、烘干.(5)无论是样品的表面,还是样品新断开的断口或断面,一般不需要进行处理,以保持其原始的结构状态.(6)对磁性样品要预先去磁,以免观察时电子束受到磁场的影响.(7)粉末样品要适量,不易过多;块状样品大小要适合仪器专用样品底座的尺寸,不能过大.一般小的样品座Φ3～5mm,大的样品座为Φ30～50mm,以分别用来放置不同大小的样品,样品的高度一般限制在5～10mm左右.2 样品的制备技术2.1 块状样品的制备对于块状导电样品,基本上不需要进行什么制备,只要其大小适合电镜样品底座尺寸大小,即可直接用导电胶带把样品黏结在样品底座上,放到扫描电镜中观察,为防止假象的存在,在放试样前应先将试样用丙酮或酒精等进行清洗,必要时用超声波清洗器进行清洗.对于块状的非导电样品或导电性较差的样品,要先进行镀膜处理,否则,样品的表面会在高强度电子束作用下产生电荷堆积,影响入射电子束斑和样品发射的二次电子运动轨迹,使图像质量下降,因此这类样品要在观察前进行喷镀导电层的处理,在材料表面形成一层导电膜,避免样品表面的电荷积累,提高图象质量,并可防止样品的热损伤。

扫描电子显微镜操作流程扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种常用的显微镜，用于观察微观尺度下的表面形貌和组织结构。

本文将介绍扫描电子显微镜的操作流程，帮助您更好地使用该仪器。

一、准备工作在进行扫描电子显微镜操作之前，需要做一些准备工作：1. 查看设备状态：确保扫描电子显微镜处于正常工作状态。

2. 清洁样品：将待观察的样品进行适当的清洁处理，以去除表面的杂质和污染物。

3. 固定样品：将样品放置在适当的样品架上，并使用夹具或者导电胶带等方式固定好。

二、样品装载1. 打开样品室：打开扫描电子显微镜的样品室门，确保样品室内的环境与外界隔离。

2. 放置样品：将准备好的样品小心地放置在样品架上，并确保样品与检测器件之间的距离适当。

3. 关闭样品室：关闭样品室门，并确保密封良好，避免样品室内空气进入。

三、真空抽气由于扫描电子显微镜需要在真空环境下运行，因此需要进行真空抽气：1. 打开真空阀门：打开真空阀门，开始抽气。

2. 监测真空度：通过监测仪器，观察真空度的变化，待真空度达到设定要求后进行下一步操作。

3. 关闭真空阀门：当真空度稳定后，关闭真空阀门，保持真空状态。

四、电子束调节1. 打开激光：打开光源或电子束发射器。

2. 对焦：通过调节电子束的对焦控制，使得电子束聚焦在样品表面上。

3. 调节亮度和对比度：根据实际需求，调节电子束的亮度和对比度，以获得清晰的显微镜图像。

五、影像获取1. 扫描区域选择：根据需要选择要扫描的区域，调整样品台的位置。

2. 开始扫描：按下扫描按钮，开始扫描电子显微镜。

3. 图像观察：通过显微镜的显示屏或者计算机上的图像软件，观察并记录扫描获得的图像。

4. 图像保存：根据需要，将扫描得到的图像保存到计算机或其他存储设备中。

六、仪器关闭1. 关闭激光：关闭光源或电子束发射器。

2. 关闭扫描电子显微镜：按下关闭按钮，将扫描电子显微镜关闭。

3. 停止真空抽气：打开真空阀门，停止真空抽气。

場發射穿透式電子顯微鏡(TEM)注意事項
一、注意事項：
1.試片不得為揮發性物質、粉末、磁性材料；若刻意隱瞞或違反此規定者，一
律取消委託服務及自行操作資格。

2.委託操作使用者請先盡量說明樣品材料、化學成分、晶體結構、製程、樣品
製備方法、希望得到的結果。

3.若樣品有需要進行試片製備時，請務必填寫試片製備申請表。

二、自行操作使用辦法：
1.欲自行操作穿透式電子顯微鏡之博士班學生，由設備工程師或B-3(B)級使用
者訓練操作10小時以上，經過操作資格鑑定合格者列為B-3(A)級使用者，才可預約時段，與自行操作機台。

2.B-3(A)級使用者操作時需有設備工程師或B-3(B)級使用者在旁協助。

3.B-3(A)級使用者具有80小時正常操作經驗(三個月內無失誤者)，才可升級成
為B-3(B)級使用者。

4.B-3(B)級使用者可預約上班時段及夜間時段自行操作。

B-3(B)級使用者必須
現場協助B-3(A)級使用者。

5.自行操作者六個月不使用儀器設備，取消自行操作資格。

如需要再使用者，
需重新考核。

6.請詳細填寫設備使用紀錄表各欄位，如有異常狀況需詳細加以說明。

7.合格使用者有義務培訓欲考核之新使用者兩人。

三、考核辦法：
1.資格考核每人限考兩次，考試時間為60分鐘。

2.考試時間：接受10小時訓練後，由受考者通知檢定者預約考試，檢定者再
安排時間會考。

3.考試內容：配分如考核表，合格為85分；必須清楚得到x800K影像。

4.初次考試未通過，請於兩週後再預約複試。

场发射新扫描电镜基本操作规程1检查仪器状态,放入样品,必须戴手套操作,将制备好的样品放入样品座中。

调节样品高度，样品不得高于样品座上边沿。

2 预抽室放气，按下“Vent”键，打开预抽室仓门，将样品座平边推入样品座卡槽，关上仓门并扣紧，按下“EVAC”键，抽真空。

3观察样品，待真空抽至“4.4×10-4”后，点加电压“ON”，待电流上升至10uA的发射电流后，按下“GUN”。

4 加速电压逐步从低到高升到5kv，工作距离一般选用10mm。

5 控制图像移动可用鼠标右键单击实现，可将点击目标移至屏幕中央。

6 Low Mag（快速移动到要观察的样品上），ACB（自动黑白对比）--调焦—改变放大倍数--配合Alignment，和像散调节—得到一幅满意的图像；7 图像存储，在保存一幅图像之前，直接在Quick View时按Photo键，在操作下一步之前点Freeze解除。

8 取出样品，先关闭“Gun”灯亮，关闭高压，按下“Exchange P osition”键。

确认“EXCH POSN”灯亮；9 将样品杆放下置水平位置，向前轻推样品杆至无法再推动为止。

10 按下“Vent”键，待Vent指示灯停止闪烁，松开预抽室锁扣，打开预抽室，取出样品，将预抽室抽好真空（按“EVAC”键）。

场发射新扫描电镜注意事项（1）在接触到样品座的所有操作，必须戴手套；（2）在拧样品座上的螺丝时，要轻拧，不得使大力，防止固定螺丝损坏；（3）换样品时样品杆只能在水平方向上平行滑动，不得随意倾斜、旋转等，样品杆操作要在水平方向上轻推轻拉；（4）样品预抽室放大气前必须关闭高压系统；（5）关闭高压系统前必须先关闭“Gun”--灯亮。

操作顺序不得反转；（6）在打开“Gun”--灯灭时，样品室真空度必须达到4.4×10-4Pa；（7）严禁测试磁性材料样品；（8）样品测试前必须确定其粘结的牢固程度，防止悬浮颗粒进入电镜；（9）禁止操作样品杆、样品升降台、轨迹球外旋钮、背散射按钮（否则出现问题，后果自负，仪器损坏，负责赔偿）.预约扫描电镜须知1.样品必须清洗干净，特别是腐蚀样品，需用乙醇彻底清洗，之后在测试之前烘箱烘干2-5小时；2.禁止送磁性材料样品测试，请提前确认样品有无磁性；3.禁止使用U盘或外带光盘拷贝数据，以免电脑软件中毒；4.块体样品大小8mm*8mm*8mm以内，超出的请提前切割处理；5.测试时禁止在实验室打闹，禁止学生触摸实验设备，设备有高压电，以免发生危险；6.预约请提前1天以上，周末和晚上请勿打扰；7.未经培训的人员，禁止操作仪器设备；8.仪器设备贵重，请来测试人员注意，如有损坏照价赔偿；9.测试完请填写实验记录，打扫实验室。

SEM扫描电子显微镜操作规范说明文SEM（扫描电子显微镜）是一种常见的高分辨率显微镜，广泛应用于材料科学、生物学、地质学等领域。

本文将为您介绍SEM的操作规范，帮助您正确使用SEM，获得高质量的样品图像。

一、安全操作1.佩戴个人防护装备：在操作SEM之前，应佩戴实验室规定的个人防护装备，例如实验服、手套、护目镜等，以确保安全。

2.保持干燥环境：SEM是高真空设备，使用时需要保持室内环境干燥，避免水分对设备产生不良影响。

3.勿使用金属工具：在样品处理和放置过程中，勿使用金属工具接触样品或设备内部，以避免对设备或样品造成损坏。

4.定期检查连接线缆：定期检查SEM的连接线缆，确保连接牢固，避免因松动或接触不良导致设备故障。

二、SEM操作流程1.准备样品a) 样品准备：选择合适的样品，并将其切割成适当大小，确保样品表面光洁、无杂质。

b) 抗静电处理：对于易产生静电的样品，应进行抗静电处理，例如使用离子风枪等设备进行处理。

2.样品安装a) 选择合适的支持物：选择适当的样品支持物，例如SEM样品台、电子传导胶带等，确保样品牢固固定在支持物上。

b) 样品安装：将样品小心地放置在样品台上，确保样品与支持物之间无间隙，避免样品在观察过程中的移动。

3.真空系统a) 真空抽取：打开真空阀门及抽气泵，将SEM内部建立所需真空度，一般情况下需抽取至10^-5 Pa 左右。

b) 真空监测：SEM操作过程中，要定期监测真空度，确保操作条件符合要求，并及时进行调整。

4.操作参数设置a) 电子束参数：根据样品类型和所需观察效果，设置适当的电子束电流、加速电压等参数，以获得清晰的样品表面图像。

b) 工作距离：根据样品类型和所需观察效果，调整电子枪的工作距离，以获得所需的焦距和深度。

5.观察与图像获取a) 标定：在开始观察前，进行系统标定，以保证SEM的精确度和准确度。

b) 焦点调整：调整样品的焦点位置，确保所观察到的图像清晰、细节丰富。

场发射扫描电子显微镜使用方法说明书一、引言场发射扫描电子显微镜（以下简称场发显微镜）是一种高分辨率的显微镜，利用电子束与样品相互作用产生的信号来获取样品表面的形貌和结构信息。

本说明书将详细介绍场发显微镜的使用方法，帮助用户正确操作和利用该仪器。

二、仪器准备在使用场发显微镜之前，需进行以下准备工作：1. 保证实验室环境在恒定的温度和湿度下，避免影响仪器性能。

2. 检查仪器电源和相关线缆的连接是否牢固，并确保电源供应稳定。

3. 准备待观察的样品，并确保样品表面干净、光滑。

三、开机及基本操作1. 打开仪器电源，待仪器完成自检后，进入操作界面。

2. 鼠标操作：使用鼠标控制光标移动至所需功能区域，并点击打开相应功能菜单。

3. 设置扫描参数：选择扫描模式、像素大小等参数，以适应不同样品的观察需求。

4. 样品安装：将待观察的样品安装到样品台上，并使用调节螺丝微调样品的位置，保证与电子束的最佳对准。

5. 自动对焦：使用自动对焦功能，校准焦距，确保样品图像清晰可见。

四、图像观察与分析1. 扫描图像获取：点击“扫描”按钮，开始获取样品表面的扫描图像。

图像会逐行扫描，根据设定参数生成图片。

2. 放大与缩小：使用鼠标左键点击图像区域，可进行图像的放大和缩小操作。

右键点击可还原图像原始大小。

3. 焦点平移：使用光标控制器或滚轮移动焦点位置，观察样品各个区域的细节。

4. 图像调节：根据需要调整图像的亮度、对比度等参数，以获得更清晰的图像。

5. 图像保存：观测到满意的图像后，点击“保存”按钮，将图像保存到指定路径，便于后续分析与报告撰写。

五、仪器维护与操作注意事项1. 仪器维护：固定时间段内对仪器进行清洁和维护，清除积尘，以保证仪器正常运行。

2. 样品处理：在安装样品之前，确保样品表面干净，避免影响观察效果。

避免使用尖锐物体接触样品，防止刮伤样品表面。

3. 仪器操作：在操作中避免突然断电，以免损坏仪器设备。

操作完毕后，及时关闭仪器电源。

扫描电镜测试方法以及注意事项一、扫描电镜测试方法。

扫描电镜呢，就像是给微观世界拍照的超级相机。

咱们先来说样品准备。

这就像给要拍照的小物件梳妆打扮一样。

如果是固体样品，得保证它表面比较平整，可不能坑坑洼洼的，不然拍出来的照片就模糊不清啦。

而且要把样品固定在样品台上，就像把小模特放在舞台上一样，要稳稳当当的。

然后就是放到扫描电镜里面啦。

电镜会发射电子束，这个电子束就像小探针一样，在样品表面一点点扫描。

当电子束打到样品上的时候，就会产生各种信号，像二次电子啦，背散射电子啥的。

这些信号就被探测器收集起来，然后转化成图像。

这就好像电子束在样品上摸了一遍，然后告诉探测器哪里高哪里低，探测器就把这个信息变成我们能看到的图像啦。

二、注意事项。

样品这一块可一定要小心哦。

如果样品有磁性，那可就麻烦大了，就像小磁铁在电镜里捣乱一样，会让图像变形，还可能损坏电镜呢。

所以有磁性的样品得先去磁，这就像是给调皮的小磁铁讲道理，让它乖乖听话。

在操作电镜的时候，电压的选择也很重要。

电压选得不合适，就像拍照的时候光线没调好。

如果电压太高，可能会把样品打得太厉害，产生一些不必要的信号；电压太低呢，又可能图像不够清晰。

要根据样品的情况，像样品的导电性、成分这些，来选择合适的电压。

还有哦，电镜是个很精密的仪器，就像一个娇弱的小宝贝。

在测试的时候，周围环境要保持干净整洁，不能有太多灰尘或者震动。

灰尘就像小沙子掉进眼睛里一样，会影响电镜的正常工作。

震动的话，就像有人在拍照的时候一直晃相机，那照片肯定拍不好啦。

另外，操作人员也得经过专门的培训才行。

这可不是随随便便就能上手的，就像开飞机得先学开飞机的本事一样。

只有熟悉了电镜的操作流程，才能拍出漂亮的微观世界照片，也能避免因为操作不当损坏电镜这个大宝贝哦。

扫描透射电子显微镜设备安全操作规定前言扫描透射电子显微镜是一种高端的电子显微镜设备，因其能够观察微观结构，被广泛应用于生物学、物理学、材料科学等领域。

为了更好地保护使用者和设备的安全，建立一套高效且规范的安全操作流程是必不可少的。

本文将介绍扫描透射电子显微镜设备的安全操作规定。

操作前的准备•身体状况检查：身体状况不佳者禁止操纵设备；•着装要求：操作者需要穿戴实验室工作服、实验室鞋，并系好安全带；•清洁要求：保持操纵台面洁净，放置操作需要的工具和样品，并保证实验室内干燥。

着手准备操作前，还要将转台和上下方向的移动平台进行全面检查，确保设备的稳定性。

设备开启与校准•倒数设备和系统运行：请先将电子显微镜系统处于暂停状态，确保安装完整并打开设备的电源；•低压扫描模式：在开启高压之前，要确保设备处于低压扫描模式。

开启模式后，请调整电子能量，直至达到最佳工作状态；•校准：校准前，请先打开设备内置的校准程序。

在进行显微镜操作之前，请进行清洁和校准。

操作过程•样品标记：在进行扫描透射电子显微镜的操作前，请先将样品置于标记位置，进行标识并记录；•样品环境：在观测和拍摄过程中，请务必采取相应的样品环境控制措施，例如利用微焊接和除尘器，确保在操作显微镜时，样品周围发生的其他反应不会影响到观察和拍摄的效果；•观测和拍摄：操作者应该严格遵守相关的安全操作规程，看到目标物体之前，请设置好所需的扫描模式，然后进行观测和拍摄。

为了避免辐射和EMI干扰，请使用好防护器，并考虑使用避免辐射的样品支架。

操作完成后的处理•数据保存：在进行完扫描透射电子显微镜操作之后，一定要以标准的格式保存数据。

保存好后，请彻底关掉设备并清理操纵区；•节能环保：请将实验室清洗干净，并做好节能措施；•设备保养：在操作完成后，还需要对设备进行保养和维护，以保证下一次操作的顺利进行。

注意事项扫描透射电子显微镜是一种非常高端的电子显微镜设备，通过本文的介绍，我们可以知道在使用扫描透射电子显微镜时，我们需要做好以下几方面：•在进行操作前，需要做好身体状况检查，并进行清理和校准；•在操作过程中，请遵守相应的安全操作规程等保证对身体以及设备的安全；•在操作结束后，请做好数据保存、节能环保以及设备保养工作等等。

扫描电子显微镜使用流程及注意事项英文回答：Scanning Electron Microscopy (SEM)。

Process Workflow.1. Sample Preparation: Prepare the sample by fixing, dehydrating, and coating it with a thin layer ofelectrically conductive material.2. Mounting: Mount the sample on a specimen stub using conductive adhesive or carbon tape.3. Vacuum Chamber: Place the sample in the vacuum chamber of the SEM.4. Electron Beam Formation: Generate a focused electron beam using an electron gun.5. Electron Beam-Sample Interaction: Focus the electron beam on the sample surface, resulting in the emission of secondary electrons, backscattered electrons, and X-rays.6. Signal Detection: Collect the emitted signals using detectors such as secondary electron detectors, backscattered electron detectors, and X-ray detectors.7. Image Formation: Process the collected signals to create images that reveal the sample's surface topography and composition.Precautions.Sample Stability: Ensure the sample is stable and can withstand the vacuum and electron beam.Vacuum Level: Maintain a high vacuum level within the chamber to prevent air scattering and contamination.Beam Damage: Use appropriate beam conditions (e.g., voltage, current, spot size) to minimize sample damage.Electrical Hazards: Ground the SEM and wear appropriate safety gear.Imaging Optimization: Adjust imaging parameters (e.g., magnification, working distance, brightness, contrast) for optimal image quality.中文回答：扫描电子显微镜 (SEM)。

场发射扫描电子显微镜实验操作扫描电子显微镜（SEM）是一种能够获得高分辨率表面形貌信息的重要工具。

在实验室中，我们经常会使用场发射扫描电子显微镜来观察样品的微观结构和形貌。

本文将介绍场发射扫描电子显微镜的实验操作步骤。

实验准备在进行场发射扫描电子显微镜实验之前，我们需要进行一些准备工作。

首先，确保实验室环境干净整洁，以避免样品受到污染。

其次，检查扫描电子显微镜设备，确保设备正常工作。

最后，准备好待观察的样品，并确保样品表面平整干净。

样品处理与加载处理样品是进行场发射扫描电子显微镜实验的关键步骤。

首先，将待观察的样品切割成适当大小，并利用相关方法处理表面以去除可能的杂质。

然后，将样品加载到扫描电子显微镜样品台上，并使用夹具固定样品。

参数设置在进行扫描电子显微镜实验前，需要设置合适的参数以获得清晰的显微结构图像。

首先，调整加速电压和工作距离，以适应待观察样品的性质和尺寸。

其次，设置扫描速度和倍率，以获得所需的图像分辨率。

最后，根据需要选择不同的检测模式和滤波器。

图像获取与分析当参数设置完成后，可以开始进行样品的图像获取。

通过扫描电子束对样品进行成像，获得样品表面的细微结构信息。

在获取图像后，可以利用相应软件对图像进行分析，包括测量尺寸、分析形貌等。

同时，可以记录图像和相应数据以备后续分析。

结束实验与维护实验结束后，及时关闭扫描电子显微镜设备，并对设备进行清洁和维护。

将样品从样品台取下，妥善保存或处理。

同时，整理实验记录和数据，保留有关信息以备后续参考。

通过以上步骤，我们可以完成一次成功的场发射扫描电子显微镜实验操作。

这不仅可以帮助我们深入了解材料的微观结构和形貌，还可以为科学研究和工程应用提供重要参考。

希望本文对您进行场发射扫描电子显微镜实验操作有所帮助。

材料实验技术扫描电子显微镜使用方法详述材料实验技术-扫描电子显微镜使用方法详述引言：材料实验技术的不断发展与进步，为实验研究工作提供了广阔的空间和更为精细的方法。

其中，扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种重要的观测仪器，被广泛应用于材料科学领域。

本文将详述扫描电子显微镜的使用方法，从样品准备到操作过程的若干关键步骤，以期帮助读者更好地掌握这一实验工具。

一、样品准备：在使用扫描电子显微镜之前，首先需要进行样品准备。

通常，样品应具备以下条件：1. 平整表面：样品表面应尽量光滑、平整，以便在显微镜中获得更清晰的图像。

2. 干燥：样品应完全干燥，以防在观测过程中产生电磁干扰或损坏显微镜零部件。

3. 导电：样品应具备一定的导电性，以便在显微镜中形成导电层。

对于非导电性材料，可以通过涂覆一层金属或碳薄膜来增加导电性。

4. 适当尺寸：样品的尺寸应适合显微镜的观测区域，以确保获得全面和清晰的图像。

二、显微镜操作：1. 打开显微镜：首先，将显微镜电源连接到稳定的电源插座，并打开主电源开关。

稍等片刻，直到仪器完全启动并进入工作状态。

2. 设置加速电压：根据实际需要，选择合适的加速电压。

较低的电压适用于低分辨率的观测，而较高的电压则适用于高分辨率的观测。

注意，在改变加速电压时，需要进行较长时间的倍频和/mag对齐过程。

3. 调整亮度和对比度：通过调节亮度和对比度控制旋钮，使图像明亮且清晰可见。

此时，可以通过目镜观察到显微镜中样品的粗略外观。

4. 焦距调整：使用焦距调节旋钮，使样品的某个特定区域清晰可见。

这一步骤需要耐心和细致的操作，以确保图像的高清晰度。

5. 选择观察模式：根据需要，选择不同的观察模式。

扫描电子显微镜常见的模式有二次电子（SE）和反射电子（BSE）。

二次电子模式适用于表面形貌的观察，而反射电子模式适用于化学成分的分析。

6. 开始观察：将样品插入显微镜，并对样品进行定位和调节。

012扫描电子显微镜操作规程扫描电子显微镜（SEM）是一种非常强大的显微镜，可以提供高分辨率的表面图像。

为了确保SEM的正确操作和保持仪器的性能，以下是SEM 的操作规程：1.准备工作-首先，检查SEM仪器，确保所有部件都正常工作，并且真空系统正常工作。

-打开SEM软件，并设置所需的参数，例如加速电压、工作距离、探测器类型等。

-准备样品，确保样品是干燥的，卫星，引线等应该被裁剪掉，以免影响SEM的像质。

2.开始操作-打开真空系统，等待真空度达到所需的数值。

-将样品安装在样品台上，并用导电胶或导电碳粉将样品固定在样品台上。

-将样品台放入SEM仪器，然后封闭仪器的门，开始真空抽气。

-在真空达到所需数值后，调整加速电压和工作距离，直到获得清晰的图像。

-调整探测器和信号放大器以获得最佳的信号对噪声比。

-通过移动样品台或调整光斑位置来选择不同的观察区域。

3.结束操作-在使用完SEM后，关闭真空系统，并将所有参数恢复到默认设置。

-将样品台从SEM仪器中取出，并将样品从样品台上取下。

-清洁样品台和SEM仪器，确保仪器干净并存放在适当的位置上。

-记录SEM操作的所有参数和图像，以备后续分析和比较。

4.安全注意事项-在使用SEM时，应穿戴适当的个人防护装备，如实验服、手套和护目镜。

-不要在不了解SEM仪器操作规程的情况下使用SEM，以免造成设备损坏或人身伤害。

-在使用SEM时，不要将手指或其他物体放入SEM仪器中，以免危及人身安全。

总之，正确操作SEM仪器是非常重要的，不仅可以确保SEM仪器的正常运行，还可以获得高质量的表面图像。

遵循以上SEM操作规程并注意安全事项，可以提高SEM操作的效率和安全性。

（一）场发射扫描电子显微镜（SＥＭ）送样须知应用范围:固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、热能、地球科学、环境、光电子等领域。

☆粉末、微粒样品形态的测定；☆金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析;☆界面特性的研究；☆材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析;☆材料及电子器件失效分析。

来样须知:☆样品中不得含有铁(Fｅ）、钴（Ｃｏ)、镍（Ni）;☆样品不得具有磁性，并且不易被磁化；☆样品中不得含有水分;☆样品粉末状为宜,形状不规则样品需加工表面整洁，厚度小于0。

5ｃm；☆多孔类或易潮解的样品,请提前真空干燥处理；☆样品应具有导电性，若样品不导电，需要进行镀金导电膜的处理.检测项目：☆表面形貌观察；☆微区元素分析;可以检测的元素范围B5~Ｕ9２。

可以检测微区元素的线分布、面分布.提供ＥDS数据分析处理。

（二)激光粒度分析仪（ＰＣＳ）送样须知应用范围:☆测量纳米颗粒的粒径，同时给出粒径的分布；☆应用于纳米材料、生物分子（如蛋白质、脂质体)、化工产品、食品、农业化学品、日用化学品、制药等领域.来样须知:☆样品应该为澄清溶液，溶液中无肉眼可见的絮状物或漂浮物;☆样品浓度不低于0.1ｍg/ml,不高于4０%固含量;☆样品量大于5ｍＬ；☆被测颗粒形状应尽可能接近球形，且尽可能是单分散样品(即样品中的颗粒尺寸单一）。

☆请提供被测颗粒的折射率，分散介质的折射率和粘度数据。

检测项目：☆纳米颗粒粒径。

（三)X射线荧光光谱仪(XＲF）送样须知应用范围：☆样品可以是固体、粉末、熔融片，液体;☆适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。

来样须知:☆样品有足够的代表性;☆试样在X射线照射及真空条件下应该稳定、不变形、不引起化学变化;☆固体:试样均匀,表面平整、光洁、无裂纹,无污染；尺寸要求（mm）大小：１０×10～45×4５；厚度：金属陶瓷1～2０、塑料等有机质基体 5～2０.☆粉末:ａ）压片法:样品均匀、粒度＞2０0 目,样品量＞5g，样品需干燥处理，压片成形性较好；ｂ）熔片法：样品均匀、粒度＞2０0 目，样品量＞2g,硫化物、金属单质样品需特殊注明.☆定量分析须用户自备标样。

电子显微镜操作注意事项电子显微镜（Electron Microscope，简称EM）是一种基于电子束的显微镜，通过使用电子束替代光束，可以获得更高的分辨率，使我们能够看到更微小的细节。

然而，由于EM的高科技性和特殊性，操作EM需要严格的注意事项。

本文将从样品准备、操作技巧和安全性方面进行论述。

一、样品准备在进行EM操作之前，样品的准备是非常重要的一步。

首先，样品应当是干燥的，因为水分会干扰电子束的传导。

同时，样品表面应当光滑均匀，避免出现凸起或凹陷，这样可以获得更清晰的图像。

此外，样品的尺寸也需要控制在合适的范围内，过大或过小的样品都会影响观察的效果。

为了保证样品的可靠性和稳定性，样品应当在真空环境下进行操作。

务必注意在样品制备过程中避免任何可能导致样品污染的因素，如灰尘、油脂等。

同时，样品的保存也是至关重要的，应当妥善封存以避免外部环境的影响。

二、操作技巧1. 加载样品在将样品加载到电子显微镜中之前，务必确认样品已经完全干燥，并且表面没有残留物。

使用显微镊子或镊子将样品小心地放置在样品臂上，避免触碰到其他地方。

2. 电子束对焦电子束的对焦是获得清晰图像的关键步骤。

通常，电子显微镜上有一个专门的对焦按钮，可用于调节焦距。

根据样品的细节和需要，逐渐调整对焦直到获得最佳图像。

3. 放大和缩小电子显微镜可以进行放大和缩小操作，以便更好地观察样品的细节。

放大时，要适当增加电子束的强度，以获得更清晰的图像。

缩小时，则应相应减小强度，以避免过曝和伤害样品。

4. 扫描模式选择电子显微镜通常有两种扫描模式：扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）和透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）。

选择合适的扫描模式可以更好地满足观察的需求。

三、安全性在操作EM时，安全性是非常重要的。

由于EM常常使用高压电和高功率电子束，不当操作可能会对人体和设备造成伤害。