STM-N 光接口参数

SDH光传输设备验收细则SDH设备单机检测供电条件电源保护转换应符合设备技术规定。

光接口检查及测试光接口检查的项目消光比发送信号眼图激光器工作波长最大均方根谱宽最小－20dB谱宽最小边模抑制比光接口回波损耗检查设备出厂记录或厂验记录，光接口检查项目应达到设计要求。

光接口测试项目有：平均发送功率测试平均发送功率测试应满足设计要求。

接收机灵敏度接收机灵敏度测试应满足设计要求。

再生器的平均发送功率再生器的平均发送功率应满足设计要求。

再生器的接收机灵敏度再生器的接收机灵敏度测试应满足设计要求。

电接口的检查及测试电接口检查项目(1)输入口允许衰减(2)输出口信号比特率(3)PDH接口输出信号波形和参数(4)STM-1眼图(5)接口回波损耗检查设备出厂记录或厂验记录，电接口检查项目应达到设计要求。

输入口允许比特容差测试利用SDH分析仪测试输入口收到规定频偏信号时应能正常工作，设备不出现误码。

表1.1 比特率、容差及测试用PRBSSDH设备抖动性能测试SDH网路接口（本机）和数字段输出口的抖动性能（测试时间60s）SDH网路输出口的最大允许输出抖动B1、B2应符合规定。

表1.2 SDH网路接口最大允许输出抖动数字段输出口的最大允许输出抖动符合表1.2。

SDH设备的网路STM-N输入口的抖动容限应符合表1.3规定。

表1.3 SDH设备的网路STM-N输入抖动和漂移门限SDH设备在PDH接口的结合抖动指标应符合表2.4的要求，③表1.4 结合抖动规范注：①0．4UI限值对应于图4.4.3-1中（a）,(b),(c)所示的指针测试序列；0．075 UI限值对应于（a）,(b),(c)，（d）所示的指针测试序列。

T2>0.75s,T3=2ms。

②0．4UI限值对应于图4.4.3-1中（a）,(b),(c)所示的指针测试序列；0．75 UI限值对应于（d）所示的指针测试序列；0．075 UI限值对应于（a）,(b),(c)，（d）所示的指针测试序列；T2、 T3数值待定（目前暂用T2=34 ms，T3=0.5 ms）,假设相反极性的指针调整在时间上很好地扩散，即调整周期大于解同步器的时间常数。

第四部分光接口参数测试4、1 平均发送光功率A、指标要求：发送机的发送功率定义为发送参考点（S参考点）所测得的发送机发送伪随机序列（PRBS）信号时的平均光功率。

其指标要求见表1：B、基本测试框图：图1：平均发送光功率测试配置C、测试步骤：1、按照图1进行配置连接；2、SDH测试设备发送规定传输比特率、码型和长度的伪随机信号；3、用标准测试光纤软线将待测光端机的发送端输出活动连接器与光功率计输入活动连接器相连，在光功率计上读得的光功率数值就是要测的平均发送光功率。

注：该项指标的测试尽管简单，但测量准确度却往往并不太理想，常可能超过0.5dB，因此，必须对光源、检测器（光功率计）、校准程序及环境条件按规定进行严格的要求，以控制测试偏差。

此外，采用标准测试光纤软线进行测试也是减小测试误差的重要手段。

4、2 眼图模板A、指标要求：在高比特率光通信系统中，发送光脉冲的形状不易控制，常常可能有上升沿、下降沿过冲、下冲和振铃现象。

这些都可能导致接收机灵敏度的劣化，需要严加限制。

为此，ITU-T G.957规定了一个发送眼图的模板，如图2，模板参数列于表2中。

采用眼图模板法比较简便，而且可能捕捉到一些观察单个孤立脉冲所不易发现的现象。

但测试结果与所选择的测试参考接收机（光示波器）密切相关，因此其低通滤波器必须标准化。

逻辑1平均电平 幅度0.50逻辑0平均电平 -y1UI 时间图2：光发送信号的眼图模板B 、 基本测试框图：使用专用的光示波器进行发送机眼图模板的测试，使测试变得相当简 单。

测试配置如下图：图3：光发送机眼图模板测试配置C、测试步骤：1、按图3所示进行配置连接；2、用测试光纤将光发射机的输出端接至光示波器的输入端；3、在光示波器内内置有各级STM-N信号眼图模板，将眼图信号套入模板后进行观察及分析，看眼图波形是否完全落入模板的规定范围内。

4、3 接收灵敏度A、指标要求：接收机的灵敏度定义为接收参考点（R参考点）处为达到1⨯10-10（长途为1⨯10-11）的BER值所需要的平均接收功率的最差可接受值。

附录B 以太网光接口参数规范表B.1 1000Base-EX光接口参数规范注：最大平均发送光功率应取最大接收功率与IEEE 803.2规定的1类安全限中的小值。

表B.2 1000Base-LX光接口参数规范表B.3 10GBase-SW/SR光接口参数规范表B.5 10GBase-EW/ER光接口参数规范表B.6 40GE（10km）光接口参数规范表B.8 40GE（80km）光接口参数规范表B.12 100GBASE-ZR4光接口要求附录C 测试记录样表设备型号：制造厂商：测试仪表：测试人员：随工（监理）：测试时间：C.2 以太网接口传输性能测试记录接口速率：□□100BASE光、□1000BASE光、注：在相应接口速率前方框内打“√”。

设备型号：制造厂商：测试仪表：测试人员：随工（监理）：测试时间：C.3 PDH接口性能测试记录设备型号：制造厂商：测试仪表：测试人员：随工（监理）：测试时间：C.4 STM-N光接口性能测试记录接口速率：□STM-1、□STM-4注：在相应接口速率前方框内打“√”。

设备型号：制造厂商：测试仪表：测试人员：随工（监理）：测试时间：C.5 STM-N接口传输性能测试记录接口速率：□STM-1电、□STM-1光、□STM-4光注：在相应接口速率前方框内打“√”。

设备型号：制造厂商：测试仪表：测试人员：随工（监理）：测试时间：设备型号：制造厂商：测试仪表：测试人员：随工（监理）：测试时间：设备型号：制造厂商：测试仪表：测试人员：随工（监理）：测试时间：54C.8 系统性能测试记录注：输出抖动B2指标要求值，2048kbit/s接口为0.2；155Mbit/s电接口为0.075；155Mbit/s光和622Mbit/s光接口为0.10。

测试仪表：测试人员：随工（监理）：测试时间：C.9 网络保护性能测试记录注：1 按设计保护倒换准则测试，保护倒换时间记入上表中；2 网管功能按设计要求清单验收。

答：光纤色散是由光纤中传输的光信号的不同成分光的传播时间不同而产生的。

光纤色散对光纤传输系统的危害有：假设信号是模拟调制的，色散将限制带宽；假设信号是数字脉冲，色散将使脉冲展宽，限制系统传输速率〔容量〕。

2-7 光纤损耗产生的原因及其危害是什么？答：光纤损耗包括吸收损耗和散射损耗。

吸收损耗是由SiO2材料引起的固有吸收和由杂质引起的吸收产生的。

散射损耗主要由材料微观密度不均匀引起的瑞利散射和光纤结构缺陷〔如气泡〕引起的散射产生的。

光纤损耗使系统的传输距离受到限制，大损耗不利于长距离光纤通信。

μμm 两个波段上。

求该光纤为单模光纤时的最大纤芯直径。

解：由截止波长c λ=得λ≥c λ时单模传输，由条件得c λ≤μm ，那么2a≤×μmμm 。

3-3 半导体激光器(LD)有哪些特性?答：LD 的主要特性有：〔1〕发射波长和光谱特性λ=1.24Eg；激光振荡可能存在多种模式〔多纵模〕，即在多个波长上满足激光振荡的相位条件，表现为光谱包含多条谱线。

而且随着调制电流的增大，光谱变宽，谱特性变坏。

〔2〕激光束空间分布特性：远场光束横截面成椭圆形。

〔3〕转换效率和输出功率特性：d η=P I ∆∆·e hf ， P=th P +d hf eη(I-th I ) 〔4〕频率特性：在接近弛张频率r f 处，数字调制要产生驰张振荡，模拟调制要产生非线性失真。

〔5〕温度特性：th I =0I ·exp 〔0T T 〕 3-5计算一个波长λ=1μm 的光子的能量等于多少？同时计算频率f=1MHz 和f=1000MHz 无线电波的能量。

解：光子的能量为E p =hf=hc λ=3486 6.62810J s 310/110m s --⨯⨯⨯⨯（）=191.988410-⨯J 对于1MHz 无线电波0E ×3410-〔J ·s 〕×1×610-×2810-J 对于1000MHz 无线电波0E ×3410-〔J ·s 〕×1000×610-×2510-J3-7 试说明APD 和PIN 在性能上的主要区别。