正畸中不可忽视的前额位置----头影测量

儿童的头影测量标准值
头影测量的标准值是根据年龄和性别来确定的，因为儿童的颅颌面结构在生长过程中会随着年龄的增长和性别的不同而发生变化。

以下是一些一般性的头影测量标准值，但请注意，这些值可能因个体差异和种族差异而有所不同：
1. 下颌位置：
- 女孩：出生后第一年会逐渐下降，然后在2-5岁时上升，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年会下降，然后在2-8岁时上升，然后在9-15岁时保持相对稳定。

2. 下颌长度：
- 女孩：出生后第一年增加最快，然后在2-5岁时逐渐减慢，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年增加最快，然后在2-8岁时逐渐减慢，然后在9-15岁时保持相对稳定。

3. 颌部生长角度：
- 女孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-5岁时逐渐减少，然后在6-12岁时保持相对稳定。

- 男孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-8岁时逐渐减少，然后在9-15岁时保持相对稳定。

以上只是一般性的参考值，具体的测量结果应该由专业的口腔科医生或颌面科医生进行解释。

头影测量的标志点、平面、角度、线距标志点：1、颅部标志点：鼻根点（N）、蝶鞍点（S）、耳点（P）、Bolton点；2、上颌标志点：眶点（Or）、前鼻棘点（ANS）、后鼻棘点（PNS）、上切牙点（UI）、上齿槽点（A）；3、下颌标志点：下切牙点（LI）、下齿槽点（B）、颏前点（Po，）、颏顶点（Gn）、颏下点（Me）、下颌角点（Go）；4、软组织点：鼻顶点（Prm）、软组织颏前点（Pos）、软组织颏顶点（Gs）、软组织颏下点（Me）、上唇度突点（UL）、下唇度突点（LL）。

头影测量平面：（1）基准平面：前颅底平面—SN、眼耳平面—FH、Boltond平面。

（2）测量平面：腭平面（ANS-PNS，PP，MxP）、颅底平面（Ba-N）、合平面（OP）、下颌平面（MP，MnP）、下颌升支平面（RP）、面平面（NPo）、NA平面、AB平面、APo平面、审美平面（Prm-Pos，E-line）展开剩余78%角度和线距：01、颅底角（NSBa）：该角反映的是关节凹与颞下颌关节的位置。

该角小时下颌趋向前，反之下颌后缩。

02、SNA角：表明上颌相对于前颅底的前后位置。

该角大时上颌相对鼻根点前突，反之，后缩。

03、SNB角：该角表示下颌相对于前颅底的前后位置。

该角大时下颌前突，反之下颌后缩。

04、ANB角：表示上颌骨和下颌骨的相对前后位置。

该角越大时表示上颌前突或者下颌后缩，反之，上颌后退或者下颌前突。

05、面角（FH-NPo）：表示颏相对于面部其他部份的位置。

面角增大表示颏部前突，反之后退。

06、A-B水平距（Wits）：由A和B点向功能合平面作垂线，其两交点之间的距离。

表示A点和B点之间的前后不调，显示上颌基骨和下颌基骨之间的不调程度，修正ANB角的固有问题。

BO在AO前负值，2mm以上，表示安氏III类错合，AO在BO前正值，表示安氏II类颌关系。

07、A-B平面角：A-B平面与面平面之间的上交角，表示上颌基骨和下颌基骨相对于面平面的前后关系。

目录•••oo•oo•ooo•ooo[]1拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xīX线头影（Cephalometrics），主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量，从而了解牙颌、颅面软硬的，使对牙颌、颅面的、诊断由表面深入到内部的结构中去。

几十年来X线头影测量一直成为及等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。

在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。

70年代末，计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。

[]2 X线头影测量的主要应用1研究颅面：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。

由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的。

Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。

Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。

林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。

、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。

通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。

2牙颌、颅面的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。

而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的，并应用到对畸形的诊断分析中去。

Downs分析法(10项）：1.面角：面平面与眼耳平面相交之后下角2.颌凸角：NA与PA延长之交角3.A-B平面角：AB或其延长线与面平面的交角4.下颌平面角：下颌平面与眼耳平面的交角5.Y轴角：Y轴与眼耳平面相交之下前角6.牙合平面角：牙合平面与眼耳平面之交角7.上下中切牙角：上下中切牙长轴的交角8.下中切牙—下颌平面角：下中切牙长轴与下颌平面之交角9.下中切牙—牙合平面角：下中切牙长轴与牙合平面相交之下前角10.上中切牙凸距：上中切牙切缘至APo连线的垂直距离（mm），当上中切牙切缘在APo连线前方时为正值，反之为负值Steiner分析法（14项）：1.SNA角2.SNB角3.ANB角4.SND角（D点为下颌骨性联合中心）5.U1—NA角：上中切牙长轴与NA连线之交角6.U1—NA距：上中切牙切缘至NA连线的垂直距离7.L1—NB角：下中切牙长轴与NB连线之交角8.L1—NB距：下中切牙长轴至NB连线的垂直距离9.Po—NB：颏前点至NB连线的垂直距离10.U1—L1角：上下中切牙长轴之后交角11.OP—SN角：牙合平面与前颅底平面之交角12.GoGn—SN角13.SL：从颏前点向前颅底平面作垂线，其垂足至蝶鞍点的距离14.SE：从髁突最后点向前颅底平面作垂线，垂足至蝶鞍点的距离注：SL与SE两项测量相结合，可了解下颌位置的变化及下颌生长发育情况Wylie分析法（10项）：以下前四项以眼耳平面为基准平面1.Co—S：髁突后切线垂线至蝶鞍中心店垂线间之距离2.S—Ptm：蝶鞍中心垂线至翼上颌裂垂线的距离3.ANS—Ptm：翼上颌裂垂线至前鼻棘垂线的距离4.Ptm—6：翼上颌裂垂线至上颌第一恒磨牙颊沟垂线距离5.下颌长度：以下颌平面为基准平面，髁突后缘作切线垂直下颌平面，再从颏前点作切线垂直下颌平面，测量垂线间的距离以下五项从鼻根点、前鼻棘点及颏下点作线与眼耳平面平行，而测量各平行线间的垂直距离6.全面高：N—Me：鼻根点与颏下点的垂直距离7.面上部高：N—ANS：8.面下部高：ANS—Me：9.N—ANS/N—Me×100％：10.ANS—Me/N—Me×100％：。

正畸头影侧位定位X片骨性测量标准值案例简述我整理了一些正畸头颅侧位定位片测量标准值，将它们列表，希望可以给大家提供方便。

这些标准值基本都是正常合中国人的，有些标准值因为有性别和年龄的显著性差异，故而在不同年龄或/和不同性别有不同的标准值。

有些值也会因为测量的点或平面的不同和异常而有改变，这在以后我会逐步添加上去。

上面的内容比较多，大家可以根据自己的需要选择平时使用的测量项目，下载以后可以在word里修改。

如果这里面有错误的地方和需要补充的地方，希望大家都指出来，好让我改正！：）下载地址:UploadFiles/2007-5/515711907.doc下面我把一些项目在测量中所需要注意的问题说一下：上面的标准值都是出自各个头影测量分析法，测量的方法也是要根据每个分析法的要求来测量，这样才可以用相应的标准值。

（1）颌凸角（NA--PgA）：是NA与PgA延长线的交角，PgA 延长线在NA前面的时候为正值，正值越大表示II类骨性错合越明显。

反之为负值，越负表示III类骨性错合越明显。

（2）AB平面角（AB--NPg）：AB连线或其延长线与面平面的交角，此角在面平面之前时为负值，反之为正值。

（3）下颌平面角（MP--FH）：下颌平面的确定方法有四种，在这里的标准值是Downs分析法里的，所以这里的下颌平面的确定方法是：通过颏下点与下颌角下缘相切的线。

（4）合平面角（OP--FH），这里的合平面是解剖合平面，：上下颌第一恒磨牙覆合中点与上下颌中切牙覆合中点（或开合的中点）的连线。

合平面前低后高的时候为正角，前高后低的时候为负角。

（5）在测量Wits值的时候，使用的是功能性合平面：由均分后牙合接触点而形成，常将第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一前磨牙的合接触点的连线作为功能性合平面。

（6）ODI值=AB平面与下颌平面的角度±腭平面与FH平面所构成的角度当腭平面向前下方倾斜时角度为正值，当腭平面向前上方倾斜时角度为负值。