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１．导通抵抗值测定印刷电路板的导通抵抗R ，是通过测定 在DUT （D evice U nder T est 检查对象物，此时为印刷电路板）的net 上输入试验电流I 所引起的下降电流V ，除以电流值来计算（R=V/I 、根据欧姆法则）。
导通抵抗测定的种类有4线2端子测定法和4线4端子测定法两种，EMMA 测试机可对应此两种方法。
１－１ 4线2端子测定4线2端子测定法，进行抵抗测定不会受导线或探针的导通抵抗的影响。
上图用电气图表示，请参照下图。
由于电压计V 的输入抵抗大，从定电流源输出的电流I 基本上不通过电压计，而是全部流入被测线路板。
因此，电压计定電流源電圧計 DUTVI電圧降下Vリードの導通抵抗DUT４線２端子測定法電圧計 定電流源测出来的下降电压V 变成如虚线箭头所示位置值，由于不受定电流源和探针之间导通抵抗的影响，因此可以相对高精度地测定抵抗值。
但是，由于探针和DUT 之间存在接触抵抗，抵抗值变小时，忽略接触抵抗部分需要做一些补正。
１－２ ４線４端子測定4线2端子测定法测试抵抗值相对较大的DUT 时精确度较高，但是DUT 抵抗值相对较小时，则无法忽略探针和DUT 之间的接触抵抗，无法充分补正，精确度则会下降（如下图）。
针对这一点，可以使用4线4端子测定法。
4线4端子测定法，正如下图所示，接触抵抗的影响消失，可进行误差极小的抵抗测定。
4线4端子测定法是把一根探针头部进行超细微加工，通过分割定电流源的输入输出端子（Source or Force ）和电压计的输入端子（Sense ），使用ケルビン探针来实现。
Vプローブの接触抵抗リードの導通抵抗Vプローブの接触抵抗リードの導通抵抗電圧計 定電流源I電圧計 定電流源I電圧降下V電圧降下V２．絶縁抵抗測定在导通抵抗测定中，被测定抵抗值很小时，可高精度测定。
但是抵抗值大（接近或超过电压计的入力抵抗）时，使用此方法，则无法忽略电压计里的流入电流，无法准确测定。
1引言数字万用表测量电阻是通过测量恒流源电流I流过被测电阻RX所产生的电压Vx 实现的。
通过对Vx数字化及小数点移位便可得到Rx的数字化值。
原理框图如图1：测试时，恒流源电流I通过Hi－Lo端和测量线馈送至被测电阻Rx，电压测量端S1、S2通过短路线接至Hi－Lo端。
数字万用表实际测量到的电阻值包括被测电阻Rx及馈线电阻RL1和RL2。
当测量的电阻阻值较小时，馈线电阻产生的误差就不容忽视。
如何用现有的数字万用表精确测量阻值很小的电阻是工程技术人员经常遇到的问题。
2四线测量四线测量是将恒流源电流流入被测电阻R的两根电流线和数字万用表电压测量端的两根电压线分离开，使得数字万用表测量端的电压不再是恒流源两端的直接电压，如图2所示。
从图中可以看出，四线测量法比通常的测量法多了两根馈线，断开了电压测量端与恒流源两端连线。
由于电压测量端与恒流源端断开，恒流源与被测电阻Rx、馈线RL1、RL2构成一个回路。
送至电压测量端的电压只有Rx两端的电压，馈线RL1、RL2电压没有送至电压测量端。
因此，馈线电阻RL1和RL2对测量结果没有影响。
馈线电阻RL3和RL4对测量有影响，但影响很小，由于数字万用表的输入阻抗（MΩ级）远大于馈线电阻（Ω级），所以，四线测量法测量小电阻的准确度很高。
不过，四线测量中的恒流源电流的精确度非常关键。
建议采用外加的更稳定的恒流源电流；应注意的是，外加的恒流源电流的大小要与数字万用表恒流源电流的大小相等。
我们采用的外加的恒流源电流由高精密基准电压源MAX6250、运放及扩流复合管组成，如图3所示。
电压源MAX6250的温漂≤2ppm/℃，时漂ΔVout/t＝20ppm/1000h。
I取800μA～1mA，R是极低温漂线绕电阻（若取I＝1mA，R＝5kΩ），这时I 的温漂和时漂相当于MAX6250的水平。
3馈线电阻补偿馈线电阻补偿法通常采用三线制接法，被测电阻与接地的线相接。
原理如图4所示。
开尔文四线检测Kelvin Four-terminal sensing开尔文四线检测（Kelvin Four-terminal sensing）也被称之为四端子检测（4T检测，4T sensing）、四线检测或4点探针法，它是一种电阻抗测量技术，使用单独的对载电流和电压检测电极，相比传统的两个终端（2T）传感能够进行更精确的测量。
开尔文四线检测被用于一些欧姆表和阻抗分析仪，并在精密应变计和电阻温度计的接线配置。
也可用于测量薄膜的薄层电阻。
四线检测的关键优点是分离的电流和电压的电极，消除了布线和接触电阻的阻抗。
四线检测感应也被称为开尔文（Kelvin）检测，威廉·汤姆森·开尔文勋爵（William Thomson, Lord Kelvin）在1861年发明的开尔文电桥测量低电阻。
每两线连接，可以称得上是Kelvin连接。
原理假设我们希望一些组件位于一个显着的距离从我们的欧姆表测量电阻。
这种情况下会产生问题，）连接的欧姆表被测量组件因为欧姆表测量所有的电路回路中的电阻，它包括导线的电阻（Rwire）：（Rsubject通常情况下，导线的电阻是非常小的（仅几欧姆的导线上的压力表（大小），主要取决于每数百英尺），但如果连接线很长，和/或待测组分有一个非常反正低电阻，引入线电阻测量误差将是巨大的。
在这样的情况下的电阻测量主体的一个巧妙的方法，涉及的电流表和电压表的使用。
我们知道，从欧姆定律，电阻等于电压除以电流（R = E / I）。
因此，我们应该能够确定电阻的主体成分，如果我们测量的电流通过，并且两端的电压下降电流在电路中的所有点相同，因为它是一个串联回路。
因为我们只测量电压下降的整个主体电阻（而不是导线的电阻）。
不过，我们的目标，是从远处来衡量这个主题性，所以我们必须位于电压某处附近电流表，由另一对含有电阻的导线跨接受阻力：起初，我们似乎已经失去了任何电阻测量这种方式的优点，因为现在电压表测量电压通过长着一双引入杂散电阻（电阻）线，再次进入测量电路。
四线测试原理四线测试原理是指利用四条线（A、B、C、D）进行测试的一种原理。
通过对被测物体的四条边进行测试，可以得出被测物体的一些特性和参数，从而对其进行分析和评估。
四线测试原理在工程领域有着广泛的应用，下面将详细介绍四线测试原理的相关内容。
首先，四线测试原理的基本概念是指利用四条线对被测物体进行测试。
这四条线可以是任意的直线，通常选取的是物体的四条边。
通过对这四条线进行测试，可以得到物体的一些特性，比如长度、角度、形状等。
这些特性对于工程设计和质量控制都有着重要的意义。
其次，四线测试原理的实施需要一定的测试设备和方法。
通常情况下，可以利用激光测距仪、角度测量仪等设备对被测物体的四条边进行测试。
在测试过程中，需要保证测试设备的精度和稳定性，以确保测试结果的准确性。
同时，还需要制定合理的测试方案和方法，以便能够全面而有效地对被测物体进行测试。
另外，四线测试原理的应用范围非常广泛。
在工程设计中，可以利用四线测试原理对零部件的尺寸和形状进行测试，以确保其符合设计要求。
在质量控制中，也可以利用四线测试原理对成品进行检测，以保证产品质量。
此外，在科研领域和实验室中，四线测试原理也被广泛应用于各种实验和研究中。
最后，四线测试原理在实际应用中需要注意一些问题。
首先，需要选择合适的测试设备和方法，以确保测试的准确性和可靠性。
其次，需要严格控制测试过程中的误差和干扰因素，以确保测试结果的真实性。
同时，还需要对测试数据进行合理的处理和分析，以得出准确的结论和评估。
总之，四线测试原理是一种重要的测试原理，其在工程领域有着广泛的应用。
通过对被测物体的四条线进行测试，可以得到物体的一些特性和参数，从而对其进行分析和评估。
在实际应用中，需要注意选择合适的测试设备和方法，严格控制误差和干扰因素，以确保测试结果的准确性和可靠性。
四线测试原理的应用将为工程设计和质量控制提供重要的技术支持。
iv测试原理
IV测试是一种用于测量电路元件参数的方法，其中IV代表了
电流（I）与电压（V）。
该测试基于欧姆定律，根据元件的
电压和电流之间的线性关系，通过测量元件的电压和电流值来推断其电阻、电导和电流特性。
IV测试通常通过将待测元件连接到电源和电流测量仪上来实施。
首先，在为电压源提供适当的设置和电流量程的情况下，将电源连接到电路的输入端。
然后，通过测量仪测量电路的电压和电流。
在测试过程中，通过改变电源的电压来获得多个点上的电流和电压值。
通过绘制电流和电压的图表，我们可以获得元件的
IV曲线。
从IV曲线上，我们可以观察到电流与电压之间的关系，例如，是否存在线性关系或是否存在非线性特性（例如二极管或晶体管）。
通过分析IV曲线，我们可以获得元件的一些重要参数。
例如，我们可以通过IV曲线得出导通电阻、截止电压、饱和电流等
信息。
这些参数对于电路设计和分析非常重要，因为它们可以帮助我们了解元件的特性、响应和适用范围。
总之，IV测试利用了电压和电流之间的线性关系，通过测量
电路的电压和电流值来推断电阻、电导和电流特性。
这种测试方法在电子工程中被广泛应用，对于元件的评估、设计和性能分析至关重要。
iv曲线测试原理IV曲线测试原理。
IV曲线测试是一种常用的电子元器件测试方法，通过对电子元器件的电压-电流特性进行测试，可以有效地评估元器件的性能和稳定性。
IV曲线测试原理是基于欧姆定律和基尔霍夫定律，通过在不同电压下测量元器件的电流，绘制出电压-电流特性曲线，从而分析元器件的工作状态和特性参数。
本文将介绍IV曲线测试的原理及其在电子元器件测试中的应用。
IV曲线测试原理。
IV曲线测试是通过在不同电压下对电子元器件进行电流测量，从而得到元器件的电压-电流特性曲线。
在测试过程中，通常会采用恒压或恒流源，通过改变电压或电流的大小，测量元器件的电流或电压响应，从而得到IV曲线。
在测试中，需要注意选择合适的测试仪器和测量方法，以保证测试结果的准确性和可靠性。
IV曲线测试的原理基于欧姆定律和基尔霍夫定律。
欧姆定律指出，电流与电压成正比，而基尔霍夫定律则描述了电路中电流和电压的分布规律。
通过这两条定律，可以推导出电子元器件的电压-电流特性曲线，从而分析元器件的工作状态和特性参数。
IV曲线测试在电子元器件测试中的应用。
IV曲线测试是评估电子元器件性能和稳定性的重要手段。
通过对元器件的电压-电流特性进行测试，可以得到元器件的工作状态、响应速度、稳定性等重要参数。
IV曲线测试广泛应用于半导体器件、光电器件、电池、电源等领域。
在半导体器件测试中，IV曲线测试可以评估器件的导通特性、截止特性、饱和特性等重要参数，为器件的选型和应用提供参考。
在光电器件测试中，IV曲线测试可以评估器件的光电转换效率、响应速度等性能指标。
在电池和电源测试中，IV曲线测试可以评估电池的放电特性、充电特性，电源的稳定性和效率等参数。
总结。
IV曲线测试是一种常用的电子元器件测试方法，通过对元器件的电压-电流特性进行测试，可以得到元器件的工作状态和特性参数。
IV曲线测试的原理基于欧姆定律和基尔霍夫定律，通过测量元器件在不同电压下的电流响应，绘制出电压-电流特性曲线。
iv测试原理IV测试原理。
IV测试是一种常用的电子元件测试方法，主要用于评估电子元件的电流-电压特性。
在进行IV测试时，我们通常会使用IV测试仪器，如示波器、数字万用表等设备，以获取元件在不同电压和电流下的特性曲线。
IV测试原理主要涉及到电流、电压、电阻和功率等基本电学概念，下面我们将详细介绍IV测试的原理及相关知识。
首先，我们来了解一下IV测试的基本原理。
IV测试是基于欧姆定律和基尔霍夫定律的基础上进行的。
欧姆定律指出，电流与电压成正比，而基尔霍夫定律则规定了电路中电流和电压的分布关系。
通过这两个基本定律，我们可以建立起电子元件在不同电压下的电流响应关系，从而得到IV测试曲线。
在进行IV测试时，我们需要将被测试的电子元件接入电路中，然后通过改变电压源的输出电压，测量相应的电流值。
通过一系列的电压-电流数据点，我们可以绘制出该元件的IV特性曲线。
这条曲线通常可以反映出元件的导通特性、截止特性以及工作区域等重要信息。
除了基本的IV测试原理外，我们还需要了解一些影响IV测试准确性的因素。
例如，温度、湿度、电路布局等因素都可能对IV测试结果产生影响。
因此，在进行IV测试时，我们需要注意环境条件的控制，以确保测试结果的准确性和可靠性。
另外，IV测试还可以用于评估元件的性能参数，比如电阻、导通电压、截止电压等。
通过对IV曲线的分析，我们可以获取这些重要参数，从而为电子元件的应用提供参考依据。
总的来说，IV测试原理涉及到电子元件的电流-电压特性分析，通过基本的电学定律和测试方法，我们可以获取元件在不同工作状态下的特性曲线，进而评估其性能和可靠性。
在实际工程中，IV测试是非常重要的一项测试方法，能够为电子元件的设计、制造和应用提供必要的数据支持。
通过以上对IV测试原理的介绍，相信大家对IV测试有了更清晰的认识。
在实际工作中，我们需要充分理解IV测试的原理和方法，以确保测试结果的准确性和可靠性，为电子元件的研发和生产提供有力支持。
