PN结
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PN 结PN结的形成在一块N型(或P型)半导体上,掺入三价(或五价)的杂质元素,使其产生一个P型(或N型)半导体区间。
这时,在N区和P区之间的交界面附近将形成一个极其薄的空间电荷层,称为PN结。
PN结形成原理示意图交界面两侧产生多子浓度的极大差异,此差异会引起交界面两侧多子相互扩散到达对方,并与对方的多子复合。
经多子扩散后所形成的图片如下:P区靠近交界面会形成一个负离子薄层,N区靠近交界面处会形成一个正离子薄层。
交界面两侧这些薄层称为空间电荷区。
由于多子扩散,这一区域缺少载流子,故也称耗尽层。
但并不是没有载流子,只不过是它相对于中性区而言,载流子浓度很小,小的可以忽略。
在两种半导体之间存在电位壁垒,对多子向另一侧扩散起阻碍作用,称为势垒或位垒。
扩散电流和漂移电流的形成接近PN结的少子受内电场的作用而被加速,向另一侧漂移,形成漂移电流漂移电流和扩散电流大小相等,方向相反,达到动态平衡少数能量大的多子克服内电场产生的电场力扩散到另一侧,形成扩散电流不对称的PN结当N区和P区的掺杂浓度相等时,两侧空间电荷区的宽度相等。
当P区和N 区的掺杂浓度不相等时,掺杂浓度高的一侧离子电荷密度大,空间电荷区的宽度较窄;掺杂浓度高的一侧,离子电荷密度低,空间电荷区的宽度较宽。
PN结的正偏和反偏P型半导体接负极,N型半导体接正极,PN结反偏。
反偏时,外电场和内电场方向相同,外电场加强了内电场的势垒作用,势垒增加,有利于少子漂移,不利于多子扩散。
所以PN结反偏时,PN结变宽,呈现为高电阻,处于反向截止状态。
P型接正极,N型接负极时,PN结正偏。
此时,外电场和内电场的方向相反,外电场削弱了内电场,势垒下降,势垒下降有利于多子扩散,使大量多子扩散通过PN结,形成大的正向电流,PN结呈现为低电阻,处于导通状态。
一部分多子在扩散过程中,与空间电荷区的离子中和,使PN结变窄。
NPN晶体管中应用到的PN结原理在发射区内,掺杂浓度较高,含有更多的多子。
PN 结
1.2.1 异形半导体接触现象
在形成的PN 结中,由于两侧的电子和空穴的浓度相差很大,因此它们会产生扩散运动:电子从N 区向P 区扩散;空穴从P 去向N 区扩散。
因为它们
都是带电粒子,它们向另一侧扩散的同时在N 区留下了带正电的空穴,在P 区留下了带负电的杂质离子,这样就形成了空间电荷区,也就是形成了电场(自建场).
它们的形成过程如图(1),(2)所示
在电场的作用下,载流子将作漂移运动,它的运动方向与扩散运动的方向相反,阻止扩散运动。
电场的强弱与扩散的程度有关,扩散的越多,电场越强,同时对扩散运动的阻力也越大,当扩散运动与漂移运动相等时,通过界面的载流子为0。
此时,PN 结的交界区就形成一个缺少载流子的高阻区,我们又把它称为阻挡层或耗尽层。
PN结介绍一.什么是PN结采用不同的掺杂工艺,通过扩散作用,将P型半导体与N型半导体制作在同一块半导体(通常是硅或锗)基片上,在它们的交界面就形成空间电荷区称PN结。
PN结具有单向导电性。
一块单晶半导体中,一部分掺有受主杂质是P型半导体,另一部分掺有施主杂质是N型半导体时,P 型半导体和N型半导体的交界面附近的过渡区称为PN结。
PN结有同质结和异质结两种。
用同一种半导体材料制成的PN 结叫同质结,由禁带宽度不同的两种半导体材料制成的PN结叫异质结。
制造PN结的方法有合金法、扩散法、离子注入法和外延生长法等。
制造异质结通常采用外延生长法。
P型半导体(P指positive,带正电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的三价元素组成,会在半导体内部形成带正电的空穴;N型半导体(N指negative,带负电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的五价元素组成,会在半导体内部形成带负电的自由电子。
二、PN结的单向导电性PN结具有单向导电性,若外加电压使电流从P区流到N区,PN结呈低阻性,所以电流大;反之是高阻性,电流小。
如果外加电压使:PN结P区的电位高于N区的电位称为加正向电压,简称正偏;PN结P区的电位低于N区的电位称为加反向电压,简称反偏。
符号:电路中的画法:三、PN结的击穿特性当反向电压增大到一定值时,PN结的反向电流将随反向电压的增加而急剧增加,这种现象称为PN结的击穿,反向电流急剧增加时所对应的电压称为反向击穿电压,如上图所示,PN结的反向击穿有雪崩击穿和齐纳击穿两种。
1、雪崩击穿阻挡层中的载流子漂移速度随内部电场的增强而相应加快到一定程度时,其动能足以把束缚在共价键中的价电子碰撞出来,产生自由电子—空穴对新产生的载流子在强电场作用下,再去碰撞其它中性原子,又产生新的自由电子—空穴对,如此连锁反应,使阻挡层中的载流子数量急剧增加,象雪崩一样。
雪崩击穿发生在掺杂浓度较低的PN结中,阻挡层宽,碰撞电离的机会较多,雪崩击穿的击穿电压高。
PN结PN结(PN junction)。
采用不同的掺杂工艺,通过扩散作用,将P型半导体与N型半导体制作在同一块半导体(通常是硅或锗)基片上,在它们的交界面就形成空间电荷区称PN结。
PN结具有单向导电性。
P是positive的缩写,N是negative 的缩写,表明正荷子与负荷子起作用的特点。
一块单晶半导体中,一部分掺有受主杂质是P型半导体,另一部分掺有施主杂质是N型半导体时,P 型半导体和N型半导体的交界面附近的过渡区称为PN结。
PN结有同质结和异质结两种。
用同一种半导体材料制成的 PN 结叫同质结,由禁带宽度不同的两种半导体材料制成的PN结叫异质结。
PN结(PN junction)制造PN结的方法有合金法、扩散法、离子注入法和外延生长法等。
制造异质结通常采用外延生长法。
P型半导体(P指positive,带正电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的三价元素组成,会在半导体内部形成带正电的空穴;N型半导体(N指negative,带负电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的五价元素组成,会在半导体内部形成带负电的自由电子。
在P型半导体中有许多带正电荷的空穴和带负电荷的电离杂质。
在电场的作用下,空穴是可以移动的,而电离杂质(离子)是固定不动的。
N 型半导体中有许多可动的负电子和固定的正离子。
当P型和N型半导体接触时,在界面附近空穴从P型半导体向N型半导体扩散,电子从N型半导体向P型半导体扩散。
空穴和电子相遇而复合,载流子消失。
因此在界面附近的结区中有一段距离缺少载流子,却有分布在空间的带电的固定离子,称为空间电荷区。
P 型半导体一边的空间电荷是负离子,N 型半导体一边的空间电荷是正离子。
正负离子在界面附近产生电场,这电场阻止载流子进一步扩散,达到平衡。
在PN结上外加一电压,如果P型一边接正极,N型一边接负极,电流便从P型一边流向N型一边,空穴和电子都向界面运动,使空间电荷区变窄,电流可以顺利通过。
如果N型一边接外加电压的正极,P型一边接负极,则空穴和电子都向远离界面的方向运动,使空间电荷区变宽,电流不能流过。
PN结PN结(PN junction)采用不同的掺杂工艺,通过扩散作用,将P型半导体与N型半导体制作在同一块半导体(通常是硅或锗)基片上,在它们的交界面就形成空间电荷区称PN结。
PN结具有单向导电性。
P是positive的缩写,N是negative禁带宽度(Band gap)是指一个能带宽度(单位是电子伏特(ev)).固体中电子的能量是不可以连续取值的,而是一些不连续的能带。
要导电就要有自由电子存在。
自由电子存在的能带称为导带(能导电)。
被束缚的电子要成为自由电子,就必须获得足够能量从而跃迁到导带,这个能量的最小值就是禁带宽度。
锗的禁带宽度为0.66ev;硅的禁带宽度为1.12ev;砷化镓的禁带宽度为1.46ev。
禁带非常窄就成为金属了,反之则成为绝缘体。
半导体的反向耐压,正向压降都和禁带宽度有关。
的缩写,表明正荷子与负荷子起作用的特点。
一块单晶半导体中,一部分掺有受主杂质是P型半导体,另一部分掺有施主杂质是N型半导体时,P 型半导体和N型半导体的交界面附近的过渡区称为PN结。
PN结有同质结和异质结两种。
用同一种半导体材料制成的PN 结叫同质结,由禁带宽度不同的两种半导体材料制成的PN结叫异质结。
制造PN结的方法有合金法、扩散法、离子注入法和外延生长法等。
制造异质结通常采用外延生长法。
P型半导体(P指positive,带正电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的三价元素组成,会在半导体内部形成带正电的空穴;N型半导体(N指negative,带负电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的五价元素组成,会在半导体内部形成带负电的自由电子。
在 P 型半导体中有许多带正电荷的空穴和带负电荷的电离杂质。
在电场的作用下,空穴是可以移动的,而电离杂质(离子)是固定不动的。
N 型半导体中有许多可动的负电子和固定的正离子。
当P型和N型半导体接触时,在界面附近空穴从P型半导体向N型半导体扩散,电子从N型半导体向P型半导体扩散。
pn结的名词解释
PN结是指由P型半导体和N型半导体连接而成的结构。
P型半导体具有多个空穴,N型半导体具有多个自由电子。
当P型半导体和N 型半导体相接触时,由于两者之间的浓度差异,会形成空穴和自由电子的扩散运动,从而在接触区域形成一个电势垒。
这个电势垒会阻碍电子和空穴的进一步扩散,形成一个不导电的区域,称为PN结。
PN结具有多种特性和应用。
其中最重要的特性是整流作用,即在外加电压的作用下,PN结会表现出只允许电流在一个方向通过的特性。
这使得PN结可以用于制作二极管,用来将交流电转换为直流电。
此外,PN结还具有发光、光敏和放大等特性,因此在电子器件和光电器件中被广泛应用。
PN 结
PN 结的重要参数:耗尽区宽度、耗尽区电容、击穿电压。
耗尽区宽度
VD 为正偏电压
P 型半导体:多子为空穴,少子为电子;掺杂浓度为NA 。
N 型半导体:多子为电子,少子为空穴;掺杂浓度为ND 。
耗尽区形成:载流子的扩散(多子扩散 --> 留下的固定电荷形成电场 --> 载流子
的反向运动(少子漂移) --> 漂移与扩散平衡,形成耗尽区。
内建电势(势垒):)(2i D
A 0n N N ln q kT =φ q
kT 为Vt 室温下为25.9mV
耗尽区深入P 型半导体中的宽度:2
/1D A A D
D 0Si p N N qN N V -2-x ⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣⎡+=)()(φε 其中Si
ε为硅的
介电常数(1.38 X 23
10
- J/K ),q 为电子电荷量(1.60 X 19
10-C )
耗尽区深入N 型半导体中的宽度:2
/1D A D A
D 0Si n N N qN N V -2-x ⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣⎡+=)()(φε 耗尽区主要向轻
掺杂半导体一侧扩展,即NA (ND )越大,Xp (Xn )越小。
耗尽区宽度:2/102
/1)()(2D D A D A Si d V N qN N N x -⎥⎥⎦
⎤⎢⎢⎣⎡+=φε 耗尽区宽度与势垒和外加电压
之差的平方根呈正比;且掺杂浓度越小,耗尽区宽度越大。
耗尽区中带电电荷(其中P 型半导体中耗尽区带负电,N 型半导体中耗尽区带正电):
||p
A
j
x AqN Q = 其中A 为pn 结横截面积。
耗尽区电容
Pn 结耗尽区形成的电容称作耗尽区电容:()(
)
2
/102
/11
2D
D A D
A Si
j V N N N
qN A C -⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡+=φε
根据上式,当VD 趋近于0
φ时,j
C 将趋近于无穷大,但是此时流过二极管的电流
已经比较大,因此上式不再成立,实际趋势如下图所示。
Φ0/2
Φ0
VD
C j
实际的情况
上图所示为j
C 与外加偏置电压V
D 的关系,其中实线为理想情况,虚线为实际情
况。
随着VD 增大(VD<0
φ),耗尽区宽度减小,这样可以解释电容增大。
击穿电压
Pn 结的电场强度:2/102
/10)()(2D D A
Si D
A V N N N qN E -⎥⎥⎦⎤
⎢⎢⎣⎡+=φε
Pn 结的击穿电压是由耗尽区所能承受的最大电场Emax 决定,根据上式可得
2
max
2)
(E N qN N N BV D
A D A Si +≅
ε 。
对硅来说最大电场近似为3X 510 V/cm ,也就是说一般pn 结的击穿电压取决于其掺杂浓度,掺杂浓度越高,击穿电压越小。
雪崩击穿:任何反偏pn 结由于耗尽区附近存在着少数载流子,在电场的作用下他
们穿越耗尽区,形成结的漏电流。
如果增大结的反偏电压,场强增大,则载流子在电场中移动所获得的能量增大。
当电场增大到Emax 时,载流子将获得足够的能量,得以在与硅原子的碰撞中产生新的空穴-电子对。
这就是雪崩过程。
由于新产生的载流子又会引起雪崩,所以雪崩过程将导致反偏漏电流突然增大。
齐纳击穿:在重掺杂时,即使很小的反偏电压也可在耗尽区形成很强的电场,从而
可以直接从价键中夺走电子,这个过程称为隧道效应。
只有在重掺杂的结中才会出现齐纳击穿。
Pn 结实际反向电流:R n R
R RA i BV v Mi i
))
/(11
(-== 其中R v 是pn 结上的反偏电压;M 是雪崩倍增因子;n 是一个指数,典型值在3~6之间;R
i 为pn 结反向电流。