pn结
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pn结的通俗理解
PN结是半导体器件中最常见的一种,它由P型半导体和N型半导体组成。
这两种半导体材料的电子、空穴浓度和载流子迁移率在化学成分和制备过程中的控制有所不同。
P型半导体中空穴浓度较高,而N 型半导体中电子浓度较高。
PN结的结构使得P区中的空穴通过结往N区扩散,N区中的电子同样也会朝着P区扩散,这样就产生了电子和空穴的重新组合,形成少数载流子。
这种少量的再结合将会引起两种不同载流子荷电状态的空间电荷区的形成——空间电荷区的电荷密度与电子密度、空穴浓度相关,使PN结中形成了正负两极,形成了电场,形成了"势垒"。
这个"势垒"将阻碍载流子在PN结中的流动,直到足够的外加电压克服"势垒"的高度为止,载流子才能在PN结中流动。
因此,PN结具有单向导电性,一端的电压为正,另一端为负,而与此同时,常常会在PN结正向的一端形成高于其他部位的电压阈值,就像一道大门,只有打开了大门,电流才能流过。
从这个角度上说,PN结就像是一种电子集散地,只有消耗能量,才能释放出能量,产生效益。
PN结在半导体器件中起着重要的作用,比如说LED(发光二极管)、太阳能电池等等都采用了PN结的原理。
PN结也是各种半导体器件如二极管、三极管等的基础。
PN 结PN结的形成在一块N型(或P型)半导体上,掺入三价(或五价)的杂质元素,使其产生一个P型(或N型)半导体区间。
这时,在N区和P区之间的交界面附近将形成一个极其薄的空间电荷层,称为PN结。
PN结形成原理示意图交界面两侧产生多子浓度的极大差异,此差异会引起交界面两侧多子相互扩散到达对方,并与对方的多子复合。
经多子扩散后所形成的图片如下:P区靠近交界面会形成一个负离子薄层,N区靠近交界面处会形成一个正离子薄层。
交界面两侧这些薄层称为空间电荷区。
由于多子扩散,这一区域缺少载流子,故也称耗尽层。
但并不是没有载流子,只不过是它相对于中性区而言,载流子浓度很小,小的可以忽略。
在两种半导体之间存在电位壁垒,对多子向另一侧扩散起阻碍作用,称为势垒或位垒。
扩散电流和漂移电流的形成接近PN结的少子受内电场的作用而被加速,向另一侧漂移,形成漂移电流漂移电流和扩散电流大小相等,方向相反,达到动态平衡少数能量大的多子克服内电场产生的电场力扩散到另一侧,形成扩散电流不对称的PN结当N区和P区的掺杂浓度相等时,两侧空间电荷区的宽度相等。
当P区和N 区的掺杂浓度不相等时,掺杂浓度高的一侧离子电荷密度大,空间电荷区的宽度较窄;掺杂浓度高的一侧,离子电荷密度低,空间电荷区的宽度较宽。
PN结的正偏和反偏P型半导体接负极,N型半导体接正极,PN结反偏。
反偏时,外电场和内电场方向相同,外电场加强了内电场的势垒作用,势垒增加,有利于少子漂移,不利于多子扩散。
所以PN结反偏时,PN结变宽,呈现为高电阻,处于反向截止状态。
P型接正极,N型接负极时,PN结正偏。
此时,外电场和内电场的方向相反,外电场削弱了内电场,势垒下降,势垒下降有利于多子扩散,使大量多子扩散通过PN结,形成大的正向电流,PN结呈现为低电阻,处于导通状态。
一部分多子在扩散过程中,与空间电荷区的离子中和,使PN结变窄。
NPN晶体管中应用到的PN结原理在发射区内,掺杂浓度较高,含有更多的多子。
PN 结
1.2.1 异形半导体接触现象
在形成的PN 结中,由于两侧的电子和空穴的浓度相差很大,因此它们会产生扩散运动:电子从N 区向P 区扩散;空穴从P 去向N 区扩散。
因为它们
都是带电粒子,它们向另一侧扩散的同时在N 区留下了带正电的空穴,在P 区留下了带负电的杂质离子,这样就形成了空间电荷区,也就是形成了电场(自建场).
它们的形成过程如图(1),(2)所示
在电场的作用下,载流子将作漂移运动,它的运动方向与扩散运动的方向相反,阻止扩散运动。
电场的强弱与扩散的程度有关,扩散的越多,电场越强,同时对扩散运动的阻力也越大,当扩散运动与漂移运动相等时,通过界面的载流子为0。
此时,PN 结的交界区就形成一个缺少载流子的高阻区,我们又把它称为阻挡层或耗尽层。
PN结介绍一.什么是PN结采用不同的掺杂工艺,通过扩散作用,将P型半导体与N型半导体制作在同一块半导体(通常是硅或锗)基片上,在它们的交界面就形成空间电荷区称PN结。
PN结具有单向导电性。
一块单晶半导体中,一部分掺有受主杂质是P型半导体,另一部分掺有施主杂质是N型半导体时,P 型半导体和N型半导体的交界面附近的过渡区称为PN结。
PN结有同质结和异质结两种。
用同一种半导体材料制成的PN 结叫同质结,由禁带宽度不同的两种半导体材料制成的PN结叫异质结。
制造PN结的方法有合金法、扩散法、离子注入法和外延生长法等。
制造异质结通常采用外延生长法。
P型半导体(P指positive,带正电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的三价元素组成,会在半导体内部形成带正电的空穴;N型半导体(N指negative,带负电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的五价元素组成,会在半导体内部形成带负电的自由电子。
二、PN结的单向导电性PN结具有单向导电性,若外加电压使电流从P区流到N区,PN结呈低阻性,所以电流大;反之是高阻性,电流小。
如果外加电压使:PN结P区的电位高于N区的电位称为加正向电压,简称正偏;PN结P区的电位低于N区的电位称为加反向电压,简称反偏。
符号:电路中的画法:三、PN结的击穿特性当反向电压增大到一定值时,PN结的反向电流将随反向电压的增加而急剧增加,这种现象称为PN结的击穿,反向电流急剧增加时所对应的电压称为反向击穿电压,如上图所示,PN结的反向击穿有雪崩击穿和齐纳击穿两种。
1、雪崩击穿阻挡层中的载流子漂移速度随内部电场的增强而相应加快到一定程度时,其动能足以把束缚在共价键中的价电子碰撞出来,产生自由电子—空穴对新产生的载流子在强电场作用下,再去碰撞其它中性原子,又产生新的自由电子—空穴对,如此连锁反应,使阻挡层中的载流子数量急剧增加,象雪崩一样。
雪崩击穿发生在掺杂浓度较低的PN结中,阻挡层宽,碰撞电离的机会较多,雪崩击穿的击穿电压高。
PN结PN结(PN junction)。
采用不同的掺杂工艺,通过扩散作用,将P型半导体与N型半导体制作在同一块半导体(通常是硅或锗)基片上,在它们的交界面就形成空间电荷区称PN结。
PN结具有单向导电性。
P是positive的缩写,N是negative 的缩写,表明正荷子与负荷子起作用的特点。
一块单晶半导体中,一部分掺有受主杂质是P型半导体,另一部分掺有施主杂质是N型半导体时,P 型半导体和N型半导体的交界面附近的过渡区称为PN结。
PN结有同质结和异质结两种。
用同一种半导体材料制成的 PN 结叫同质结,由禁带宽度不同的两种半导体材料制成的PN结叫异质结。
PN结(PN junction)制造PN结的方法有合金法、扩散法、离子注入法和外延生长法等。
制造异质结通常采用外延生长法。
P型半导体(P指positive,带正电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的三价元素组成,会在半导体内部形成带正电的空穴;N型半导体(N指negative,带负电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的五价元素组成,会在半导体内部形成带负电的自由电子。
在P型半导体中有许多带正电荷的空穴和带负电荷的电离杂质。
在电场的作用下,空穴是可以移动的,而电离杂质(离子)是固定不动的。
N 型半导体中有许多可动的负电子和固定的正离子。
当P型和N型半导体接触时,在界面附近空穴从P型半导体向N型半导体扩散,电子从N型半导体向P型半导体扩散。
空穴和电子相遇而复合,载流子消失。
因此在界面附近的结区中有一段距离缺少载流子,却有分布在空间的带电的固定离子,称为空间电荷区。
P 型半导体一边的空间电荷是负离子,N 型半导体一边的空间电荷是正离子。
正负离子在界面附近产生电场,这电场阻止载流子进一步扩散,达到平衡。
在PN结上外加一电压,如果P型一边接正极,N型一边接负极,电流便从P型一边流向N型一边,空穴和电子都向界面运动,使空间电荷区变窄,电流可以顺利通过。
如果N型一边接外加电压的正极,P型一边接负极,则空穴和电子都向远离界面的方向运动,使空间电荷区变宽,电流不能流过。