下载文档原格式
粗糙度测量培训教案第一章：粗糙度测量概述1.1 粗糙度的定义和重要性1.2 粗糙度对产品性能的影响1.3 粗糙度的测量方法1.4 粗糙度测量的发展趋势第二章：粗糙度测量原理2.1 触针式粗糙度测量原理2.2 光束扫描式粗糙度测量原理2.3 激光散射式粗糙度测量原理2.4 超声波式粗糙度测量原理第三章：粗糙度测量仪器及操作3.1 粗糙度测量仪器概述3.2 粗糙度测量仪器的选择3.3 粗糙度测量仪器的操作步骤3.4 粗糙度测量仪器的维护与保养第四章：粗糙度测量参数及其选择4.1 粗糙度测量参数概述4.2 主要粗糙度测量参数4.3 粗糙度测量参数的选择与设定4.4 粗糙度测量参数的调整与优化第五章：粗糙度测量数据的处理与分析5.1 粗糙度测量数据的收集与记录5.2 粗糙度测量数据的处理方法5.3 粗糙度测量数据的分析与评价第六章：粗糙度测量实操训练6.1 实操训练目的与意义6.2 实操训练设备与工具6.3 实操训练步骤与要求6.4 实操训练注意事项第七章：不同材料粗糙度测量7.1 金属材料粗糙度测量7.2 非金属材料粗糙度测量7.3 复合材料粗糙度测量7.4 特殊材料粗糙度测量第八章：粗糙度测量在工业应用中的案例分析8.1 机械制造行业中的应用8.2 汽车制造行业中的应用8.3 电子制造行业中的应用8.4 其他行业中的应用第九章：粗糙度测量技术的创新与发展9.1 新型粗糙度测量技术介绍9.2 粗糙度测量技术的发展趋势9.3 粗糙度测量技术在未来的应用前景9.4 我国粗糙度测量技术的发展现状与展望第十章：粗糙度测量培训总结与考核10.1 培训课程总结10.2 粗糙度测量技能考核10.3 粗糙度测量知识问答10.4 优秀学员表彰与奖励重点和难点解析一、粗糙度测量概述难点解析：粗糙度的微观结构及其对产品性能的具体影响机制二、粗糙度测量原理难点解析：各种测量原理的物理基础和数学模型三、粗糙度测量仪器及操作难点解析：不同仪器的特点和适用范围，以及操作中的细节问题四、粗糙度测量参数及其选择难点解析：如何根据不同材料和表面特性选择合适的测量参数五、粗糙度测量数据的处理与分析难点解析：数据处理中的统计学和信号处理方法，以及分析评价的标准和技巧六、粗糙度测量实操训练难点解析：实操中可能遇到的问题及解决方案七、不同材料粗糙度测量难点解析：不同材料表面特性的差异及其对粗糙度测量的影响八、粗糙度测量在工业应用中的案例分析难点解析：如何根据粗糙度测量结果进行工艺优化和质量控制九、粗糙度测量技术的创新与发展难点解析：新技术的原理和应用前景，以及如何适应和应用这些新技术十、粗糙度测量培训总结与考核难点解析：如何评价和提高粗糙度测量技能及知识水平全文总结和概括：本教案全面覆盖了粗糙度测量的基本概念、原理、仪器操作、参数选择、数据处理、实操训练、应用案例、技术发展以及培训总结与考核等内容。
粗糙度培训：粗糙度参数：未滤波参数滤波的粗糙度参数滤波的波纹度参数Pa（轮廓偏离平均线的算术平均）Ra（取样内轮廓偏离平均线的算术平均）Wa（取样内轮廓偏离平均线的算术平均）Pt（轮廓评价内最大峰-谷高度）Rt（粗糙度的最大高度）Wt（波纹度的最大高度）Pz（轮廓评价内最大峰-谷高度）Rz（取样内轮廓最高峰和最深谷间距离）Wz（取样内最高峰和最深谷之和）Pv（未滤波轮廓最大深度）Rv（粗糙度的最大轮廓深度）Wv（波纹度的最大轮廓深度）Pmr（未滤波轮材料比曲线）Rmr（粗糙度材料比曲线）Wmr（波纹度的材料比曲线）Ra：轮廓偏离平均线的算术平均1、在取样长度内，并且在平均线之下的轮廓部分随后被翻转而放在平均线之上。
2、在原始平均线以上的平均高度。
Ra的局限性：不同特性的表面可能产生相同的Ra值。
使用粗糙度仪测量时取样长度选择:Ra小于等于0.02um时,取样长度(CUT OFF)为0.08mmRa大于0.02um,小于0.1um时,取样长度为0.25mmRa大于0.1um,小于2um时,取样长度为0.8mmRa大于2um,小于10um时,取样长度为2.5mmRa大于10um时,取样长度为8mmRmr：Rmr（TPI）：材料支撑率，指在取样长度内，一条平行于中线的直线与轮廓相截，所得个截线长度之和称为轮廓支撑长度，轮廓支撑长度与取样长度之比为材料支撑率。
•材料支撑率与平行于中线且从峰顶线向下所取的水平截距有关。
指承受表面（表示为评价长度地百分比）长度的测量，轮廓峰被一条平行于轮廓平均线的直接所切割。
定义承受表面的直线可以被设置在最高峰以下的深度或在轮廓平均线之上或之下的距离。
当这条直线设置在轮廓最深谷时，则Rmr是100%。
通过绘出材料比值（mr）相对在0%和100%之间限制的最高轮廓峰（或丛平均线的距离）以下深度的图形，然后就可得到材料比曲线。
1、料比是在任意指定轮廓深度时，承受表面的长度与评价长度的比率，它被表示为百分比%。
