[精选PPT]直读光谱仪培训教程

ARL直读光谱仪培训资料狭缝校正（描迹、定位）由于环境参数的变化，入射狭缝与出射狭缝的相对位置发生变化，可以通过转动扫描刻度盘进行校正。

仪器的狭缝漂移很小，但新机器建议用户每周检查一次，旧机器可以更长时间，一个月或更长。

当数据不稳定时,尤其是在刚做完飘移校正几个小时之内很快又飘移的情况下,我们强烈建议您做飘移校正前先做狭缝校正。

通常我们推荐用户使用integrated profile。

操作过程：从主菜单中Initialisation 中选择Integrated Profile。

出现下列界面。

从Analytical condition中选择一个分析条件（例如：FEGEN）。

从Available channel中选择通道，1至10个，最少1个最多10个通道。

选择时注意两条原则：1）所选通道尽量覆盖光谱仪所用波长范围。

2）所选元素在样品中的含量尽量高。

Selected Channel为选中的通道。

Start Dial Position(0-100): 90 ，设定描迹盘的起始描迹位置，以仪器的正确描迹位置为中心设置，例如如果中心位置在100，可以从90开始。

Step Dial Division: 2 ，描迹时刻度盘每次转动的距离。

设定为1，每次转动1格。

设定为2，每次转动2格。

设定为3，每次转动3格。

Maximum Number of Step[5-50]: 15 ，软件可以自动执行该步骤的最大次数。

可以在5-50之间选择。

设定好以上参数后，可以执行Start Profile。

根据提示设定好描迹盘的位置，摆放好样品，执行Start Next Step。

等相应元素的描迹位置在Profile Positions中出来后，点击Average Now。

记下Average Profile Position，将描迹盘位置设定在相应位置。

点击Exit退出。

软件将提示是否需要保存，根据具体情况确定是否保存。

在下列情况下需要进行狭缝校正（描迹、定位）：1）仪器运输、搬动后。

ARL直读光谱仪培训资料狭缝校正（描迹、定位）由于环境参数的变化，入射狭缝与出射狭缝的相对位置发生变化，可以通过转动扫描刻度盘进行校正。

仪器的狭缝漂移很小，但新机器建议用户每周检查一次，旧机器可以更长时间，一个月或更长。

当数据不稳定时,尤其是在刚做完飘移校正几个小时之内很快又飘移的情况下,我们强烈建议您做飘移校正前先做狭缝校正。

通常我们推荐用户使用integrated profile。

操作过程：从主菜单中Initialisation 中选择Integrated Profile。

出现下列界面。

从Analytical condition中选择一个分析条件（例如：FEGEN）。

从Available channel中选择通道，1至10个，最少1个最多10个通道。

选择时注意两条原则：1）所选通道尽量覆盖光谱仪所用波长范围。

2）所选元素在样品中的含量尽量高。

Selected Channel为选中的通道。

Start Dial Position(0-100): 90 ，设定描迹盘的起始描迹位置，以仪器的正确描迹位置为中心设置，例如如果中心位置在100，可以从90开始。

Step Dial Division: 2 ，描迹时刻度盘每次转动的距离。

设定为1，每次转动1格。

设定为2，每次转动2格。

设定为3，每次转动3格。

Maximum Number of Step[5-50]: 15 ，软件可以自动执行该步骤的最大次数。

可以在5-50之间选择。

设定好以上参数后，可以执行Start Profile。

根据提示设定好描迹盘的位置，摆放好样品，执行Start Next Step。

等相应元素的描迹位置在Profile Positions中出来后，点击Average Now。

记下Average Profile Position，将描迹盘位置设定在相应位置。

点击Exit退出。

软件将提示是否需要保存，根据具体情况确定是否保存。

在下列情况下需要进行狭缝校正（描迹、定位）：1）仪器运输、搬动后。

直读光谱仪培训教材一直读光谱仪的工作原理仪器的工作原理是基于原子发射光谱分析的基本原理:组成物质的各种元素被光源激发，会发射出各自的特征光谱，光谱线的强度与所属元素的含量有一定的函数关系，如果测量出各元素谱线的强度值，即可计算出该元素在物质中的含量。

样品经激发产生的谱线，经出射狭缝照在其对应光电倍增管电阴极上，在高压电源作用下，将光信号转换成电信号——光电流，光电流强度和光谱强度成正比，积分电压与光电流的大小成正比，因此检测出积分电压的大小，就可表达出光谱强度的大小，并由工作曲线换算出元素的含量。

当某一能量施加到一个原子上时,一些电子就改变其轨道。

当这些电子返回到原来的轨道时,以某一一定波长的光形式恢复到精确的能量。

这是一种原子现象,因此它实际上不受原子化学或者结晶形式的影响。

举个例子, 这表示用仪器可以测定钢中的含硅量；但是在发现粗略表示出这种激发。

硅时不能得到硅形态的任何信息。

图2.1波长为λ的光子发射:供给能量+AEE2-E1 =h·v=h·c/ λ初始能量 E1 能量E2返回到能量E1图２.１ 激发原理图于是,一个含有几种不同元素的试样将产生由每种元素的特定波长所组成的光。

通过用一个色散系统将这些波长分开,我们可以测定存在哪一种元素和这些波长中每一种波长的强度,这些强度与这些元素的浓度成函数关系。

（用光电倍增管）测量这种发光强度，再用计算机处理这种信息 .我们就能决定有关元素的浓度。

二直读光谱仪的结构1）激发光源，给试样提供能量2）色-散装置，分离开不同的波长3） 电子装置，测量每一波长的发光强度4）计算机，处理测量值和控制仪器1 激发有2部份组成，光源和激发台光源是用于通过在样品表面和电极之间产生一个低压电弧进行分析时提供能量的。

激发台的用途是相对光谱仪中的光学设备可以重现的方式（同样的位置）来放置样品。

氩气激发台：为了避免空气与试样表面发生各种反应，因此在氩气气氛保护下在火花室内进行放电。

光谱仪培训课件图片光谱仪培训课件图片光谱仪是一种用于分析物质的仪器，通过测量物质在不同波长的光下的吸收、发射或散射来获取物质的光谱信息。

在科学研究、工业生产和环境监测等领域中，光谱仪起着至关重要的作用。

为了更好地理解和掌握光谱仪的原理和应用，培训课件中的图片是一种非常有效的教学工具。

首先，光谱仪培训课件中的图片可以用于介绍光谱仪的基本原理。

光谱仪的工作原理是将光分散成不同波长的光谱，然后通过检测器来测量不同波长的光强度。

培训课件中的图片可以展示光谱仪的光学系统，如光栅、棱镜或干涉仪等，以及光谱仪的光电检测器，如光电二极管或光电倍增管等。

通过这些图片，学员可以直观地了解光谱仪的工作原理和关键部件。

其次，光谱仪培训课件中的图片可以用于说明光谱仪的不同类型和应用领域。

光谱仪可以分为可见光谱仪、紫外光谱仪、红外光谱仪等不同类型，每种类型的光谱仪都有其特定的应用领域。

培训课件中的图片可以展示不同类型的光谱仪的外观和特点，并介绍它们在化学分析、生物医学、材料科学等领域中的应用。

这些图片可以帮助学员更好地理解光谱仪的分类和应用范围，从而在实际应用中选择适合的光谱仪。

此外，光谱仪培训课件中的图片还可以用于示范光谱仪的操作步骤和数据分析方法。

光谱仪的操作步骤包括样品的准备、仪器的校准和测量参数的设置等。

培训课件中的图片可以展示每个步骤的具体操作和注意事项，帮助学员正确地操作光谱仪。

同时，课件中的图片还可以演示如何分析光谱数据，如如何绘制吸收光谱曲线、计算光谱峰值等。

通过这些图片的示范，学员可以更好地掌握光谱仪的操作技巧和数据处理方法。

最后，光谱仪培训课件中的图片还可以用于展示光谱仪的最新技术和发展趋势。

随着科技的进步，光谱仪的性能和功能不断提高。

培训课件中的图片可以展示一些最新型号的光谱仪，介绍其创新的技术和应用。

同时，课件中的图片还可以展示光谱仪在新兴领域中的应用，如光谱成像、光谱显微镜等。

这些图片可以激发学员对光谱仪技术的兴趣，并了解光谱仪的未来发展方向。

ARL直读光谱仪培训资料狭缝校正（描迹、定位）由于环境参数的变化，入射狭缝与出射狭缝的相对位置发生变化，可以通过转动扫描刻度盘进行校正。

仪器的狭缝漂移很小，但新机器建议用户每周检查一次，旧机器可以更长时间，一个月或更长。

当数据不稳定时,尤其是在刚做完飘移校正几个小时之内很快又飘移的情况下,我们强烈建议您做飘移校正前先做狭缝校正。

通常我们推荐用户使用integrated profile。

操作过程：从主菜单中Initialisation 中选择Integrated Profile。

出现下列界面。

从Analytical condition中选择一个分析条件（例如：FEGEN）。

从Available channel中选择通道，1至10个，最少1个最多10个通道。

选择时注意两条原则：1）所选通道尽量覆盖光谱仪所用波长范围。

2）所选元素在样品中的含量尽量高。

Selected Channel为选中的通道。

Start Dial Position(0-100): 90 ，设定描迹盘的起始描迹位置，以仪器的正确描迹位置为中心设置，例如如果中心位置在100，可以从90开始。

Step Dial Division: 2 ，描迹时刻度盘每次转动的距离。

设定为1，每次转动1格。

设定为2，每次转动2格。

设定为3，每次转动3格。

Maximum Number of Step[5-50]: 15 ，软件可以自动执行该步骤的最大次数。

可以在5-50之间选择。

设定好以上参数后，可以执行Start Profile。

根据提示设定好描迹盘的位置，摆放好样品，执行Start Next Step。

等相应元素的描迹位置在Profile Positions中出来后，点击Average Now。

记下Average Profile Position，将描迹盘位置设定在相应位置。

点击Exit退出。

软件将提示是否需要保存，根据具体情况确定是否保存。

在下列情况下需要进行狭缝校正（描迹、定位）：1）仪器运输、搬动后。

第一章直读光谱仪的概况国内外光电直读光谱仪的发展光谱起源于17世纪，1666年物理学家牛顿第一次进行了光的色散实验。

他在暗室中引入一束太阳光，让它通过棱镜，在棱镜后面的自屏上，看到了红、橙、黄、绿、兰、靛、紫七种颜色的光分散在不同位置上——即形成一道彩虹。

这种现象叫作光谱．这个实验就是光谱的起源，自牛顿以后，一直没有引起人们的注意。

到1802年英国化学家沃拉斯顿发现太阳光谱不是一道完美无缺的彩虹，而是被一些黑线所割裂。

1814年德国光学仪器专家夫琅和费研究太阳光谱中的黑斑的相对位置时．把那些主要黑线绘出光谱图。

1826年泰尔博特研究钠盐、钾盐在酒精灯上光谱时指出，发射光谱是化学分析的基础、钾盐的红色光谱和钠盐的黄色光谱都是这个元素的特性。

到1859年克希霍夫和本生为了研究金属的光谱自己设计和制造了一种完善的分光装置，这个装置就是世界上第一台实用的光谱仪器，研究火焰、电火花中各种金属的谱线，从而建立了光谱分析的初步基础。

从1860年到1907年之间、用火焰和电火花放电发现碱金属元素铯Cs、1861年又发现铷Rb和铊Tl，1868年又发现铟In和氦He。

1869年又发现氮N。

1875~1907年又相继发现镓Ga，钾K，铥Tm，镨Pr，钋Pe，钐Sm，钇y，镥Lu等。

1882年，罗兰发明了凹面光栅，即是把划痕直接刻在凹球面上。

凹面光栅实际上是光学仪器成象系统元件的合为一体的高效元件，它解决了当时棱镜光谱仪所遇到的不可克服的困难。

凹面光栅的问世不仅简化了光谱仪器的结构，而且还提高了它的性能。

波耳的理论在光谱分析中起了作用，其对光谱的激发过程、光谱线强度等提出比较满意的解释。

从测定光谱线的绝对强度转到测量谱线的相对强度的应用，使光谱分析方法从定性分析发展到定量分析创造基础。

从而使光谱分析方法逐渐走出实验室，在工业部门中应用了。

1928年以后，由于光谱分析成了工业的分析方法，光谱仪器得到迅速的发展，一方面改善激发光源的稳定性，另一方面提高光谱仪器本身性能。