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文件制修订记录1.0目的:为正确操作EDX系列能量色散光谱仪，ROHS检测与镀层测试，以达到精确测量之目的。
2.0范围:为EDX系列能量色散光谱仪操作使用。
3.0权责:品管部4.0操作步骤:4.1开机步骤：开稳压源→测试仪器→电脑→测试程序4.2 ROHS测试步骤：4.2.1双击桌面摄像头（如果摄像头无十字光标操作如下：双击桌面我的电脑→F盘→仪器软件数据→Cross Bar→批处理文件即可）。
4.2.2双击ROHS图标进入测试程序，预热30分钟后方可进行测试。
4.2.3打开仪器测试上盖，将Ag校正片放入仪器薄膜中心，关闭上盖，点选参数设置菜单下的初始化，对仪器进行初始化测试，初始化完成后计数率为1300∽8000，峰通道为1105。
4.2.4将样品入仪器薄膜中心，根据样品的材质，选择相应的测试条件及工作曲线，点击“开始”后输入测试样品的名称，点击OK，仪器自动开始测试。
4.2.5测试结束后，自动弹出报告，选择“关闭”，选择“全分析报告”→“全分析打印”即可。
4.3镀层测试：4.3.1双击桌面摄像头（如果摄像头无十字光标操作如下：双击桌面我的电脑→F盘→仪器软件数据→Cross Bar→批处理文件即可）。
4.3.2双击桌面“电机调度”图标，设定准值器为6＃，泸光片为1＃。
4.3.3双击桌面“镀层测试“图标，预热30分钟后方可进行测试。
4.3.4打开仪器测试上盖，将Ag校正片放入仪器薄膜中心，关闭上盖，点初始化，对仪器进行初始化测试，初始化完成后计数率为1300∽8000，峰通道为1105。
4.3.5将样品入仪器薄膜中心，点击“开始”后输入测试样品的名称，点击OK，仪器开始自动测试。
4.3.6测试完成后，点击左下角元素下面的空格，弹出设置镀层元素的对话框，选择你所测试的项目（如测Au、Ni,将Au、Ni拖入空格中后点确定，则自动出现测试数据）。
4.4关机顺序：关闭测试程序→电脑→测试仪器→稳压源5.0注意事项：5.1不得用任何物品接触测试窗口，测试窗口为裸露状態时，须保证无异物进入测试窗口内。
光谱仪操作规程光谱仪是一种测量物质光谱的仪器，广泛应用于化学、物理、生物等领域。
正确的光谱仪操作规程对于确保测量数据准确性和仪器使用寿命至关重要。
本文将介绍光谱仪的操作规程，以帮助用户正确使用光谱仪。
1.检查仪器在使用光谱仪前，应仔细检查仪器的状态。
首先应检查仪器的电源，保证电源正常。
然后检查光源和检测器，确保它们和周围环境隔离，避免外界光线的影响。
另外，应检查样品室和通道是否干净整洁。
如果发现仪器有损坏或故障，应及时联系维修人员。
2.准备样品在进行光谱分析前，需要准备样品。
样品的制备应遵循相应的分析方法，并应选择适当的处理方法。
另外，应将样品清洗干净，并使用高质量的溶剂和试剂。
3.打开光谱仪打开光谱仪前，应按照说明书上的方法进行操作。
首先应检查所有采样器槽中是否均保持空置状态。
然后打开仪器电源。
如果需要进行准备工作，请按照特定的说明进行操作。
4.调节仪器在进行样品分析前，需要对光谱仪进行适当的调整。
首先，应选择适当的模式设置，包括样品类型、光源、检波器和探测器。
如果需要，还可以进行其他设置，如波长范围和积分时间。
调整完成后，应进行标定，确保仪器精度和可靠性。
5.测量样品当光谱仪准备好后，可以进行样品测量。
首先应将样品放入装有适当几何体样品架的采样器槽中。
然后根据所需的测量模式，选择相应的检测器、光源和波长范围。
看到光谱显示后，可以进行数据的记录和分析。
6.清理仪器使用完光谱仪后，应及时清洁和维护仪器。
首先应将采样器槽中的样品清洗干净。
然后关闭光谱仪电源，将所有设备关掉。
最后，应按照说明书上的方法对仪器进行适当的维护保养。
以上就是光谱仪操作规程的相关内容，正确的操作规程可以确保光谱仪测量数据的准确性和仪器使用寿命。
在实际应用中，应根据具体情况进行操作，确保光谱仪的精度和可靠性。
用户手册A-1 / 简介工作原理测试流程工作原理测试流程B-1/ 配件清单B-2 电源接口和USB端口B-3 打开仪器打开计算机B-4 / 软件操作系统电脑硬件软件安装软件简介a) 界面b) 功能B-5/测试B-6/保养基本维护备注配件清单电源接口和USB端口电源线: 电源线连接到仪器。
USB接口：在将USB数据线连接到电脑前, 需要先在电脑上安装相关的驱动, 具体安装请联系相关工作人员, 配件中的CD光盘内装有相关的软件和驱动程序。
（建议具体安装操作询问工程师）打开仪器按下POWER键打开仪器打开计算机软件EXF6.0是一款专业从事贵金属测试的软件。
操作系统操作系统: WIN 7（推荐）/ XP中。
PC硬件建议配置:CPU: 1.87GHz以上内存: 4GB硬盘: 150 GB以上系统类型: 32位操作系统其他: 可以连接到网络软件安装1.按照安装说明或者由工程师远程指导安装（推荐）。
2.我们备份了相关软件与数据包在附带的CD光盘中。
软件简介软件界面软件的操作界面, 涉及如下模块:图1 操作界面运用系统自带的软键盘, 我们可以轻松实现打字、切换等所有的键盘功能。
➢在界面上有六个部分:➢ 1.菜单栏 2.状态栏 3.影像区4.谱形区域5.键盘工具6.测试模式及测试按钮软件功能➢菜单栏1.曲线设立（如图2）图2曲线选择加载曲线Gold 或Pt 退出注: 访问“编辑”或“删除”之前, 请联系我们, 避免曲线设立发生错误2.系统控制（如图3）图3控制系统参数图3-1 环境温度图3-2系统设立图3-3开盖测试图3-4 摄像头设立图3-5●系统参数: 查看电压、电流、计数率等参数, 不可更改。
●环境温度: 实时反映光管、系统、探测器温度参数, 不可更改。
●系统设立: 不要更改默认的数字。
●开盖测试：若样品很大, 导致盖子无法关闭, 可切换至“允许”开盖模式进行测试, 仅限特殊情况使用。
●摄像头设立：若开机没有正常打开摄像头, 可先“关闭视频”, 然后切换“打开视频”即可激活摄像头。
型号EDX-1800B 版本号：A/1 共 4 页第1 页日期2014/05/09一、操作步骤：1.开机之前检查电源和数据连线是否连接正常，依次开启电源及稳压器→X射线荧光光谱仪→打印机→电脑主机及显示器2.仪器在每天开机之后都要进行预热准备工作，预热时间30分钟为佳；3.初始化（每天测试第一份样品之前）：放上纯银，打开高压电源紧急锁，点击“初始化”，初始化成功之后显示“初始化成功”提示框即OK，同时将初始化结果以及设备预热完毕的设备参数填入，并判定设备OK后方可继续后继作业；4.设定测量时间：主要是根据不同材质的样品设定不同的测量时间。
金属类样品测量时间：200～300秒、塑料类样品测量时间：100～200秒、焊锡类样品测量时间：150～300秒、镁铝类样品测量时间：200～300秒（无特殊要求不许执行此项）5.放入EC681K标样选择测试曲线测塑料中CrCl与测塑胶及其它，测试完毕后将检测数据填入《标样自主点检表》中，各数据符合在允差范围内方能继续样品检测操作6.放入测试样品，根据样品种类选择正确的测试曲线，打开高压电源紧急锁，点击开始，输入合法的样品名称，供应商和批号。
7.点击确定开始测试，测试期间不允许打开仪器盖把手或断开电源8.测试完成之后可以点击“分析报告打印”或者“分析报告保存”，还可以在历史记录里面点击“导入Excel”或者直接点击“打印”9.每天测试任务完成之后可以将历史记录里面的结果“导入Excel”按照日期保存下来，然后点击“清空”，以防历史记录太多不好管理。
10.每天测试样品结束，退出ROHS软件，关机，关机顺序：打印机→电脑→X射线荧光光谱仪二、注意事项：1.切勿尝试拆卸或改装本机，非专业人员对仪器的处理会损坏仪器。
2.不要溅入液体或让任何异物掉入仪器内。
如果异物与仪器内的电气部件接触，可能会引起短路并且导致火灾或触电事故。
3.如果本机冒烟或发出异常噪音，应立即关闭主电源开关，从电源插座拔出电源线，然后与工程人员联系。
一 机器启动光谱仪启动时注意事项：（1）光谱仪两次开机之间至少应相隔20min ，以防频繁启动烧毁内部元器件 （2）光谱仪背面有5个开关，开机时按照编号1~5依次按下，两开关按下之间应相隔20s 左右。
关机时，按照编号5~1依次按下。
图 光谱仪开关（3）打开氩气阀，使气压保持在0.2~0.4MPa 之间（4）维持瓶内气压在2~3MPa 以上，若气压低于该值，则应更换新的氩气二 登陆1、开机开机用户名：arlservice 密码：3698521472、进入OXSAS 系统账号：（1）!SERVICE! 密码：ENGINEER（2）！MANAGER ！ 密码：无 （3）！USER ！ 密码：无通常使用“MANAGER ”权限即可3、检查仪器状态快捷键F7进入仪器状态检查界面：Electronic HUPSMains V acuumWater权限：由高到低VACUUM：真空度SPTEMP：真空室温度MAINS：电源电压NEG-LKV：-1000V电源POS.5V：+5V电源POS.12V：+12V电源NEG.12V：-12V电源POS.24V：+24V电源NEG.100V：-100V电压三数据备份及数据恢复数据备份及恢复分为软件内部操作、软件外部操作。
1、数据备份（1）软件内部备份：操作页面中选择“脱机模式”，待页面变灰后点击“备份数据”按钮，输入相应的文件名（例如：20101019OXSAS_DB.BAK）以防止将先前数据覆盖，然后点击备份即可。
（2）软件外部备份：退出OXSAS操作系统，进入其相应的数据备份及恢复程序“OXSAS Full Backup Restore”，然后选择“备份数据库”按钮下的“备份”选项即可（系统自动选择路径并生成相应文件名）。
2、数据恢复（1）软件内部恢复：操作页面中选择“脱机模式”，待页面变灰后点击“恢复数据库”按钮，选择之前备份的数据库，恢复即可。
（2）软件外部恢复：退出OXSAS操作系统，进入其相应的数据备份及恢复程序“OXSAS Full Backup Restore”，然后点击“恢复数据库”按钮，选择相应数据库，点击“RESTORE”即可。
光谱仪操作规程有哪些光谱仪是一种用来分析物质的光的频谱成分的仪器，能够精确地测量出样品中的不同波长的光的强度，并根据这些光的强度的变化来分析样品中的物质成分和性质。
光谱仪的操作规程对于正确、安全、准确地操作光谱仪至关重要，下面是一份大约1200字的光谱仪操作规程。
一、操作前的准备：1. 确保光谱仪及其附件处于正常工作状态，检查仪器是否完好无损、仪器上的控制开关是否正常。
2. 清洁需要使用的样品池、棱镜等配件，并确保其表面无脏污和划痕。
3. 检查仪器内部的灯泡、滤光片等光源和检测元件是否正常，并校准仪器。
4. 接通光谱仪的电源，并保持仪器处于稳定的工作电压条件下。
5. 准备好需要分析的样品，并根据实验需要合理调整样品的浓度和稀释倍数。
二、开机与调节：1. 打开光谱仪的电源开关，并注意仪器的指示灯是否亮起，待仪器达到正常工作温度后继续操作。
2. 打开仪器上的控制显示面板，根据实验需要选择适当的分析模式和参数。
3. 调整光源的强度，一般情况下，应使得光源强度适中，既能够提供足够的光强，又能避免过高的光强带来的测量误差。
4. 根据实验需要选择合适的检测元件，如选择UV-Vis 检测元件或荧光检测元件，并进行相关的设置与调节。
三、样品处理与操作：1. 将样品放置在样品池中，并注意避光保护措施，确保光谱仪能够准确读取样品中的光信号。
2. 对样品进行预处理，如稀释、过滤等，以确保测量结果的准确性。
3. 定量加入样品到样品池中，并保证样品池的清洁，并快速进行测量。
4. 在测量过程中，避免光谱仪仪器的震动、振动，以保证测量结果的稳定性和准确性。
四、数据获取和处理：1. 在测量过程中，注意观察光谱仪的输出曲线，确保其稳定，并记录测量过程中的各项参数。
2. 获取稳定的测量结果后，及时保存数据，并及时分析处理数据。
3. 对于一些特殊的样品或实验需求，根据需要进行重复测量和平均处理。
4. 在操作结束后，对仪器进行清洁和维护工作，确保仪器的正常使用和延长使用寿命。
設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析文件編號設備型號EDX-720 廠商島津版本A0一﹑功能鍵說明主機﹕用于放置待測物計算機﹕用于控制周邊設備。
打印機﹕用于列印相關數據二﹑操作說明1.機器連接﹕將主機電源線插入穩壓器110V輸出端﹔將穩壓器輸出線插入UPS輸入端充電﹔將計算機電源線插入UPS輸出端﹔將打印機電源線插入主機輸出110V端﹔列印機﹑主機﹑鍵盤﹑鼠標與主機相連既可。
UPS﹕斷電后提供穩定的電源給計算機﹐避免計算機資料丟失。
穩壓器﹕用于提供110V電源給主機并提供給UPS充電。
核准審核製作日期設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析文件編號設備型號EDX-720 廠商島津版本A02.開機﹕2.1確認連線無誤后﹐將穩壓器電源開關撥向“ON”狀況﹐且穩壓器指針指在110V時﹐既可按下圖步驟開啟設備。
2.3.按下計算機桌面上的“EDX Sofrware”圖標﹐計算機即出現下圖對話框。
2.4.按下上圖中的“維護”圖標﹐計算機彈出如下畫面。
點擊下圖“儀器初始化”圖標﹐可以聽到快門和瀘光片動作聲音。
校正正常“儀器狀態欄”均顯示OK﹐表示校正成功。
核准審核製作日期設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析文件編號設備型號EDX-720 廠商島津版本A02.5.按下上圖中的“儀器設置”圖標﹐計算機顯示儀器設置對話框如下畫面﹕按下下圖儀器設置對話框中的“執行啟動”圖標。
即對X光管進行預熱﹐此時需等待30分鐘。
以確保儀器工作于穩定狀態﹐否則測量值誤差大。
2.6.X光管預熱30分鐘后將樣品“A750”放入主機X光管窗口處﹐如下圖﹕2.7.點擊下圖“儀器校正”圖標﹐計算機顯示“儀器校正”對話框。
按下儀器校正對話框的“開始”圖標﹐儀器進行能量校正并顯示校正中﹐請稍等……核准審核製作日期設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析文件編號設備型號EDX-720 廠商島津版本A02.8. 校正完成后﹐在“分析組別”內選擇定性/定量easy組別測試A750﹐以判定校正是否成功。
基础操作
1 启动和关闭仪器
3.1.1 启动仪器
1)打开仪器的主电源开关(仪器背面红色开关);
2)启动仪器(仪器前面按钮);
3)双击桌面软件图标，启动EDXRF软件;
4)进行预热、初始化过程。
3.1.2 关闭仪器
1)分析测试结束之后，取出被测物料。
点击软件右上角关闭按钮，软件关闭;
2)关闭计算机;
3)关闭仪器的主电源开关(仪器背面红色开关);
3.1.3 启动程序
1)双击桌面图标开启RoHS检测程序；
2 开机预热
1)主机在关闭电源4小时以上再重新开启时要进行预热。
注意事项：
软件将按设定程序运行，预热5分钟完成升到指定的管压管流。
3 能量校准
1)将能量校准片放入样品室，关闭样品盖，点击软件图标工具栏中的“能量校准”按钮。
注意：将能量校准片金属面朝下平贴放置，并请勿随意碰触裸露处。
注意：“能量校准”每间隔四小时必须进行一次。
4 样品测试
1、样品处理
根据欧盟的指导，应该制备的样品是“均质材料”。
注：欧盟的技术顾问委员会（TAC）给出的关于均质材料的指导如下：“不能被机械分离成不同材料的材料。
”后来有定义为：术语“均质”是指“统一的整体组成”。
单独型式的“均质材料”的例子是：塑料，陶瓷，玻璃，金属，合金，纸，板，树脂，涂层。
术语“机械分离”是指原则上用机械手段如拧、割、压、磨等能将样品分离。
执行者也可以决定样品是元件，这种样品的获得比较适合于电子装置。
注：元件可以认为是电子电气产品中能被普通工具无损分离的最小部分，它包括电子部分如未组装的印刷电路板、电阻、电容、二极管、整流器，电机械部分如连接器、电缆绝缘，或机械部分如螺丝、骨架或壳体（表面经电镀、涂漆或涂料处理）、按键、装饰玻璃、玻璃陶瓷元件等。
待测样放在仪器内部的样品室内的分析位置，就可以进行相应的测试了。
如果待测样不适于放入样品室内，它必须被切成合适的尺寸以便测量。
为了使测试结果有效，必须满足仪器关于样品厚度与质量的最低要求，因为非常小或薄的样品可能不满足这个条件。
在该种情况下：需将这类小样品（例如螺丝钉）放在一个样品杯里，然后进行分析。
类似的薄样品应该堆在一起以便能够达到最小样品厚度限值从而可以进行有效分析。
一个通用的原则是所有样品必须完全覆盖光谱仪的测量窗口，对于聚合物和轻合金例如Al, Mg 和Ti，至少应该5mm厚，对于液体最小厚度是15mm，而对于其它合金厚度大约为1mm。
简易样品拆分分析实例
实装电路板、部件、树脂
标签
电线包覆层
塑料材质金属材质
测试事项
①对于聚合物和轻合金例如Al、Mg ，至少应该5mm厚;
例：泡沫由于缝隙多,无法得到较强的荧光信息,测量时尽量重迭增加厚度,加强压力尽量使缝隙靠紧。
5mm 以上
5mm以上
②小物料需采集多一些，重迭排列进行分析;
NG OK
③测定圆柱形的物料时，请平面部分放置在分析位置;
④ 测定部位与分析位置之间无间隙;
⑤ 塑料与金属为一体的样品，请先拆分再分析
+
2、放入测试样品
将样品置于分析平台中心，并使待测试样品（覆盖红色光斑）位置处于射线照射范围内(黄色圆圈内)，关闭样品盖。
将固体样品竖放到测试平台上且样品的分析面朝下就可分析。
测试平台
分析位置
图3.2.1 分析台
电线
线材+芯材
+
粉末样(装2/3满，用手堆一下，使底部平整)
由于粉末样品不能直接放置在测试平台上，所以要使用样品杯分析，如下图。
2）在样品杯放置被测物料
图3.2.2 样品杯装置和样品放置方式
液体样（装2/3满）
由于液体样品不能直接放置在测试平台上，所以要使用样品杯分析，请参考粉末样品的样品杯方式图。
需防止洒落在铍窗探头上，这属于人为损坏，不在保修范围内。
注意：带腐蚀、挥发性、磁性物料不能检测分析。
样品分类与拆分详见附A
3、选择工作区
在测试样品选定信息栏中工作区项的下拉菜单中选择相应的工作曲线。
4、输入样品信息
在测试样品选定信息栏中输入待测样品信息，包括供应商、样品名称、测量次数等；
5、测量
点击“测量”，软件会自动进行测试。
查看结果
1) 测试结束后，在分析测试界面的右下侧结果栏中可查看当前被测物料的定量分析结果。
2) 在数据查询界面，可通过筛选条件查看到定量分析结果。
数据可进行Excel总体汇总、单页报告形式打印与存储。
样品分类与拆分详见附A
在我们软件中将样品分成以下几类，具体情况如下：
1)测试条件“塑料基体”
此条曲线主要用来测试非金属，主要包括：
①各类塑料材质物料
②油墨、油漆、阻燃济，PCB板基材等
③陶瓷、玻璃
④包装材料、木材、纸张等
2）测试“铝金属材料”
此条曲线主要用来测试铝镁材质，主要包括：
①各种铝、铝合金，铝镁合金制品等
3）测试条件“五金金属”
此条曲线主要用来测试金属材质，主要包括：
①各类金属材质，螺丝、铜材、铁材、不锈钢制品等
4）测试“焊锡材料”
此条曲线主要用来测试焊锡材质，主要包括：
①各类焊锡制品，如焊锡，锡线、锡膏、锡渣等
第二章RoHS相关介绍
讲解这节内容分为以下几部分：
①2006年7月1日执行RoHS指令，RoHS指令是限制所有电子电器设备中有害元素的指令。
有害元素包括Pb、Cd、Hg、(总铬Cr)Cr6+ 、（总溴Br）PBB、PBDE(注：讲解各元素的中文读法，并不是每家客户的操作人员都识得这几个元素)。
②各元素的限制标准：Cd--100ppm、Pb、Hg、Cr6+ 、PBB、PBDE--1000ppm
ppm为浓度单位、百万分之一、ppm=mg/kg
③XRF测试的是元素，无法测试化合物。
所以有害元素中的Cr6+ 、PBB、PBDE测试的是总Cr、总Br。
④总Br包括PBB、PBDE、1.2.3.4…10溴联苯、1.2.3.4…10溴联苯醚、及其它溴化合物，
总Cr包括Cr6+、Cr3+、Cr0+。
当一个样品XRF测出总Br>1000ppm时，分为二种情况：1）PBB、PBDE合格、1.2.3.4…10溴联苯、1.2.3.4…10溴联苯醚、及其它溴化合物不合格。
这种物料是符合环保要求。
2）1）PBB、PBDE不合格、
1.2.3.4…10溴联苯、1.2.3.4…10溴联苯醚、及其它溴化合物合格。
这种物料是不符合环保要求。
⑤建议客户此类物料送检，借助第三方检测机构(SGS、CTI、天祥等)化学方法测试。
⑥同理Cr元素。
⑦顺带在讲解豁免条款。
第三章谱图识别、元素干扰
谱图识别一
E ka=E L-E K
E kb=E M-E K
E La=E M-E L
E Lb=E N-E L
Cr、Cl、Cd和Br等元素的测试谱先以特征谱线Ka和Kb为主Hg和Pb等元素的测试谱线以特征谱先La和Lb为主
L
N E(能量
元素干扰
由于XRF 的工作原理，样品测试时存在元素相互干扰，避免XRF 的误判现象，使确认测定的结果更接近于真实。
3.1、逃逸峰
逃逸峰的产生机理：进入硅检测器的X 荧光如果其能量比硅的吸收限（1.74KeV ）高，那么该入射X 荧光会激发出新的硅X 荧光，当部分硅的X 荧光逃逸出监测器时，探测器只能探测到原入射X 荧光损失了1.74KeV 之后的能量，从而形成逃逸峰。
如：①Ti 对Cl 的影响：当样品中含有大量的Ti 或其化合物，其Ka 能量为4.512KeV 。
Ti 元素的逃逸峰能量为2.772KeV 与Cl 元素ClKa 能量2.620KeV 接近，存在互相干扰。
②Sn 的逃逸峰对Cd 的影响。
3.2、重叠峰
重叠峰产生的机理：在对RoHS 禁用物质的检测中，物料中元素线系有重叠。
如：AsKa 与PbLa 的重叠，所以测试物料中的Pb 元素，采用PbLb 。
3.3、倍峰
谱图识别二
Cu
Zn
Hg
Pb
Ka 8.04 8.63 Kb 8.90 9.57 La 9.99 10.53 Lb
11.82
12.70
cps/uA
KeV
8.04
8.90
C u K a
Z n K a
Z n K b
C u K b
8.63 9.57
产生的机理：在对RoHS禁用物质的检测中，元素能量双倍的位置。
如：Fe的倍峰对Pb
3.4、Zn、Ge对Hg的影响
产生的机理：由于Zn的能谱峰与Hg的能谱峰在位置上很接近，当样品中含有大量Zn的时候，会影响Hg含量的测定结果（Hg含量的测定结果会比实际的高）。
3.5、高Br对Pb的影响
产生的机理：当样品中含有大量Br的时候，会把相邻的PbLb峰盖住或抬高,则影响到元素Pb的测定结果（元素Pb的测定结果会比实际的高）。
