数字电子技术实验讲义(电13)
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实验一示波器与数字电路实验箱的使用及门电路逻辑功能测试、变换(验证)一、实验目的:1、熟悉示波器及数字电路实验箱的使用2、验证门电路的逻辑功能3、掌握门电路的逻辑变换二、实验仪器及器材1、Vp—5225A—12、数字电路实验箱3、器件:74LS00(二输入与非门)、74LS02(或非门)、74LS86(异或门)说明:1)以上三个门电路中的V CC接电源电压,GND接地。
2)A、B为输入端,Y为输出端,指示灯亮为高电平,灯灭为低电平。
3)实验时,检查导线是否折断,方法:一端接电源,一端接指示灯。
三、实验内容:1、熟悉示波器各旋钮的功能作用并学会正确使用。
2、熟悉数字电路实验箱并正确使用。
3、时钟波形参数的测量1)测量脉冲波形的低电平和高电平。
(取f=1KHZ)2)测量脉冲的幅度(V OM),脉宽(T P),周期(T)。
(取f=1KHZ)3)用示波器调出频率f=2KHZ的波形图,并画出波形图。
4、门电路逻辑功能测试74LS00(二输入与非门)、74LS02(或非门)、74LS86(异或门)5、用与非门(74LS00)实现其它门电路的逻辑功能1)实现或门逻辑功能:写出转换表达式,画出电路图并验证功能。
2)实现异或门逻辑功能:写出转换表达式,画出电路图并验证功能四、数据记录及处理:1、脉冲波形参数的测量1)V H=?V L=?2)V OM=?T P=?T=?3)画出频率f=2KHZ的波形图2、门电路逻辑功能测试74LS00 与非门74LS02 或非门74LS86 异或门1)写出逻辑表达式的变换A+B=2)画出电路图3)功能测试4、用与非门74LS00实现异或门的逻辑功能1)写出逻辑表达式的变换A B=2)画出电路图3)功能测试五、注意事项:1、示波器的辉度不要太亮。
2、V/DIN衰减开关档应打得合适。
3、插入芯片时,应注意缺口相对,否则就错了。
4、接线时,注意检查电源、地线是否接正确。
六、思考题:在给定的器件中,自己选择一个器件并设计电路,使输入波形与输出波形反相,用示波器观察。
预备实验门电路逻辑功能及测试一、实验目的1.熟悉门电路逻辑功能。
2.熟悉示波器使用方法。
二、实验仪器及材料双踪示波器74LS00 四2输入与非门 2片74LS20 二4输入与非门 1片74LS86 四2输入异或门 1片三、预习要求1.复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2.熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。
3.了解双踪示波器使用方法。
实验前先检查电源是否正常,然后选择实验用的集成电路,按自己的实验接线图接好连线,特别注意Vcc及地线不能接错。
先接好后经实验指导教师检查无误后可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。
1.测试门电路逻辑功能1)选用74LS20按图0-1接线输入端接S1-S4(电平开关输出插口),输出端接电平显示发光二极管(D1-D8任意一个)。
2)将电平开关按表0-1置位,分别测出电压及逻辑状态。
表0-12. 异或门逻辑功能测试1) 选74LS86按图0-2接线输入端1、2、4、5接电平开关,输出端A 、B 、Y 接电平显示发光二极管。
2) 将电平开关按表0-2置位,将结果填入表中。
表0-23.逻辑电路的逻辑关系1) 用74LS00按图 0-3,0-4接线,将输入输出逻辑关系分别填入表0-3,0-4中。
2) 写出上面两个电路逻辑表达式。
表0-3表0-4图0-2图 0-3图 0-44. 利用与非门控制输出用74LS00按图0-5接线,S 接任一电平开关用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
5.用与非门组成其它门电路并测试验证1) 组成或非门:用一片四2输入与非门组成或非门,画出电路图,测试并填表0-5。
2) 组成异或门:将异或门表达式转化为与非门表达式后,画出逻辑电路图,测试并填表0-6。
表0-5五、 实验报告1. 按各步骤要求填表并画出逻辑图。
2.思考题1) 怎样判断门电路逻辑功能是否正常?2) 与非门的一个输入接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过? 3) 异或门又称可控反相门,为什么?表0-6图 0-5实验一TTL与非门主要参数测试一、实验目的掌握TTL与非门电路主要参数的意义及测试方法。
实验十一LSTTL与非门的参数测量一.实验目的了解TTL与非门参数的物理意义和测试方法二.电路介绍与非门是逻辑电路中应用最广的一种门电路,其输入输出之间满足逻A 。
A、B代表输入变量,Y代表输出变量。
了解与非门的辑关系Y=B参数和测量方法是十分必要的,在数字实验电路中,大都采用低功耗肖特基TTL电路(即LSTTL电路),与非门采用74LS00的二输入端四与非门,逻辑图及外引线排列见下图所示。
典型参数:t pd =9.5ns P D=2mw/每门三.实验内容与方法数字集成电路的性能,可以由它的参数来表示。
各种参数可以从产品手册中查到,也可以通过专门的仪器测得。
下面主要测量与非门的几个主要参数。
1.空载导通功耗P ON——静态工作、输出为低电平时的功耗,即电源电压V CC和导通电源电流I CCL的乘积。
测试电路见图11-1。
图11-1 P ON 测试图P ON=V CCL ╳I CCL = 5 I CCL2.输入短路电流I IS——任何一个输入端接地时,流经这个输入端的电流(其余输入端悬空或接高电平)。
测试电路见图11-2。
I IS = mA。
图11-2 I I S 测试图图11-3 I I H 测试图3.输入漏电流I IH——任何一个输入端接高电平时(其余端接地)的输入电流。
测试电路见图11-3。
I IH = μA。
4.输入关门电平V OFF及输出高电平V OH——当输出电压为额定输出高电平V OH的90% 时,相应的输入电平,称为输入关门电平V OFF 。
当输入端之中任何一个接低电平时的输出电平为输出高电平V OH。
测量电路见图11-4,方法是将电路在一输入端与地之间,接入0.8V 电压,其余输入端开路,输出接规定负载R L,测出V OH (R L= V OH/NI IH=3.2/(8╳50)=8KΩ)。
由0逐渐增大输入电压,当V0H下降至V OH的90%时,测得输入电压为V OFF 。
V OFF= (V)。
实验箱简介一、实验箱的组成及特点1.实验箱的供电实验箱的后方设有带保险丝管(0.5A)的220V单相交流三芯电源插座(配有三芯插头电源线一根)。
箱内设有一只降压变压器,供直流稳压电源。
2.两块大型(433 mm×323mm)单面散敷铜印刷线路板,正面丝印有清晰的各部件、元器件的图形、线条和字符;反面则是装接其相应的实际元器件。
该板上包含着以下各部分内容:(1)左下角装有带灯电源总开关一只。
(2)高性能双列直插式圆脚集成电路插座41只(其中40P 3只,28P 2只,24P,2只,20P 4只,16P 17只,14P 9只,8P 4只)。
(3)900多只高可靠的自锁紧式、防转、叠插式插座。
它们与集成电路插座、镀银针管座以及其它固定器件,线路等已在印制板面连接好。
正面板上有黑线条连接的地方,表示内部(反面)已接好。
采用高性弹性插件,这类插件,其插头与插座之间的导电接触面很大,接触电阻极其微小(接触电阻<Ω,使用寿命>10000次以上),而且插头之间可以叠插,从而可形成一个立体布线空间,使用起来极为方便。
(4)90多根镀银长(15mm)紫铜针管插座,供实验接插小型电位器、电阻、电容等分立元件之用(它们与相应的锁紧插座已在印刷面连通)。
(5)2只无译码LED数码管,其中“共阴”,“共阳”各一只。
¥八个显示段的管脚均已与相应的锁紧插座相连。
(6)6位十六进制七段译码器与LED数码显示器每一位译码器均采用可编程器件GAL设计而成,具有十六进制全译码功能。
显示器采用LED共阴极红色数码管(与译码器在反面已连接好),可显示四位BCD码十六进制的全译码代号:0、1、2、3、4、5、6、7、8、9、A、B、C、D、E、F。
(7)4位BCD码十进制码拔码开关组每一位的显示窗指示出0~9中的一个十进制数字,在A、B、C、D四个输出插口处输出相对应的BCD 码。
每按一次“+”或“-”键,将顺序地进行加1计数或减1计数。
实验一 门电路逻辑功能测试及简单设计一、实验目的1.熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用;2.掌握TTL 和CMOS 与门主要参数的测试方法;3.了解门电路的电压传输特性的测试方法;4.掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74LS86异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能;5.掌握三态门的逻辑功能。
6.掌握利用门电路设计数字电路的方法。
二、预习要求1.了解TTL 和CMOS 与非门主要参数的定义和意义。
2.熟悉各测试电路,了解测试原理及测试方法。
3.熟悉74LS00、74LS02、74LS86、74LS125和CC4011的外引线排列。
4.画实验电路和实验数据表格。
三、实验原理与参考电路1、TTL 与非门的主要参数TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。
(1)输出高电平OH V :输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。
空载时,OH V 必须大于标准高电平(V V SH 4.2=),接有拉电流负载时,OH V 将下降。
测试OH V 的电路如图1.1所示。
(2)输出低电平OL V : 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
空载时,OL V 必须低于标准电平(V V SL 4.0=),接有灌电流负载时,OL V 将上升。
测试OL V 的电路如图1.2所示。
图1.1 V OH 的测试电路 图1.2 V OL 的测试电路(3)输入短路电流IS I :输入短路电流IS I 是指被测输入端接地,其余输入端悬空时,由被测输入端流出的电流。
前级输出低电平时,后级门的IS I 就是前级的灌电流负载。
一般IS I <1.6mA 。
测试IS I 的电路见图1.3。
(4)扇出系数N :扇出系数N 是指能驱动同类门电路的数目,用以衡量带负载的能力。
图1.4所示电路能测试输出为低电平时,最大允许负载电流OL I ,然后求得ISOL I I N 。
数字电子技术实验讲义(试用)标准化文件发布号:(9312-EUATWW-MWUB-WUNN-INNUL-DQQTY-数字电子技术实验简要讲义适用专业:电气专业编写人:于云华、何进中国石油大学胜利学院机械与控制工程学院目录实验一:基本仪器熟悉使用和基本逻辑门电路功能测试 (3)实验二:小规模组合逻辑电路设计 (4)实验三:中规模组合逻辑电路设计 (5)实验四:触发器的功能测试及其应用 (7)实验五:计数器的功能测试及其应用 (8)实验六:计数、译码与显示综合电路的设计 (9)实验一:基本仪器熟悉使用和常用门电路逻辑功能测试(建议实验学时:2学时)一、实验目的:1、熟悉实验仪器与设备,学会识别常用数字集成芯片的引脚分配;2、掌握门电路的逻辑功能测试方法;3、掌握简单组合逻辑电路的设计。
二、实验内容:1、测试常用数字集成逻辑芯片的逻辑功能:74LS00,74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32,74LS86等(预习时查出每个芯片的逻辑功能、内部结构以及管脚分配)。
2、采用两输入端与非门74LS00实现以下逻辑功能:① F=ABC ② F=ABC③ F=A+B ④ F=A B+A B三、实验步骤:(学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容)主要包括:1、实验电路设计原理图;如:实现F=A+B的电路原理图:2、实验真值表;3、实验测试结果记录。
如:输入输出A B F300灭01亮10亮11亮四、实验总结:(学生根据自己实验情况,简要总结实验中遇到的问题及其解决办法)注:本实验室提供的数字集成芯片有:74LS00, 74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32,74LS74,74LS90,74LS112,74LS138,74LS153, 74LS161实验二:小规模组合逻辑电路设计一、实验目的:1、学习使用基本门电路设计、实现小规模组合逻辑电路。
2、学会测试、调试小规模组合逻辑电路的输入、输出逻辑关系。
《数字电子技术》实验指导书《数字电子技术》实验指导书主编黑龙江农业工程职业学院《数字电子技术》实验指导书主编专业班级姓名实验一:楼梯照明电路的设计设计一个楼梯照明电路,装在一、二、三楼上的开关都能对楼梯上的同一个电灯进行开关控制。
合理选择器件完成设计。
1.实验目的(1)学会组合逻辑电路的设计方法。
(2)熟悉74系列通用逻辑芯片的功能。
(3)学会数字电路的调试方法。
(4)学会数字实验箱的使用。
2.实验前准备(1)复习组合逻辑电路的设计方法。
(2)熟悉逻辑门电路的种类和功能。
(3)实验器材准备:数字电路实验箱、导线若干。
3.实验内容1)分析设计要求,列出真值表。
设A、B、C分别代表装在一、二、三楼的三个开关,规定开关向上为1,开关向下为0;照明灯用Y 代表,灯亮为1,灯暗为0。
根据题意列出真值表如表1所示。
表1照明电路真值表输入输出 A B C Y 0 0 0 0 0 0 1 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 2)根据真值表,写出逻辑函数表达式。
3)将输出逻辑函数表达式化简或转化形式。
4)根据输出逻辑函数画出逻辑图。
如图1所示。
图1照明电路逻辑图5)实验箱上搭建电路。
将输入变量A、B、C分别接到数字逻辑开关k1(对应信号灯LED1)、k2(对应信号灯LED2)、k3(对应信号灯LED3)接线端上,输出端Y接到“电位显示”接线端上。
将面包板的Ucc和“地”分别接到实验箱的+5V与“地”的接线柱上。
检查无误后接通电源。
6)将输入变量A、B、C的状态按表2-19所示的要求变化,观察“电位显示”输出端的变化,并将结果记录到表2中。
表2照明电路实验结果输入输出 LED1 LED2 LED3 电位输出暗暗暗暗暗亮暗亮暗暗亮亮亮暗暗亮暗亮亮亮暗亮亮亮 4.实验报告(1)写出设计过程(2)整理实验记录表,分析实验结果(3)画出用与非门、或非门和非门实现该电路的逻辑图实验二:三人表决器的设计设计一个三人(用A、B、C代表)表决电路。
数字电子技术实验简要讲义适用专业:电气专业编写人:于云华、何进中国石油大学胜利学院机械与控制工程学院2015.3目录实验一:基本仪器熟悉使用和基本逻辑门电路功能测试 (3)实验二:小规模组合逻辑电路设计 (4)实验三:中规模组合逻辑电路设计 (5)实验四:触发器的功能测试及其应用 (7)实验五:计数器的功能测试及其应用 (8)实验六:计数、译码与显示综合电路的设计 (9)实验一:基本仪器熟悉使用和常用门电路逻辑功能测试(建议实验学时:2学时)一、实验目的:1、熟悉实验仪器与设备,学会识别常用数字集成芯片的引脚分配;2、掌握门电路的逻辑功能测试方法;3、掌握简单组合逻辑电路的设计。
二、实验内容:1、测试常用数字集成逻辑芯片的逻辑功能:74LS00,74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32,74LS86等(预习时查出每个芯片的逻辑功能、内部结构以及管脚分配)。
2、采用两输入端与非门74LS00实现以下逻辑功能:①F=ABC ②F=ABC③F=A+B ④F=A B+A B三、实验步骤:(学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容)主要包括:1、实验电路设计原理图;如:实现F=A+B的电路原理图:2、实验真值表;3、实验测试结果记录。
如:输入输出A B F30 0 灭0 1 亮1 0 亮1 1 亮四、实验总结:(学生根据自己实验情况,简要总结实验中遇到的问题及其解决办法)注:本实验室提供的数字集成芯片有:74LS00, 74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32,74LS74,74LS90,74LS112,74LS138,74LS153, 74LS161实验二:小规模组合逻辑电路设计(建议实验学时:3学时)一、实验目的:1、学习使用基本门电路设计、实现小规模组合逻辑电路。
2、学会测试、调试小规模组合逻辑电路的输入、输出逻辑关系。
二、实验内容:1、用最少的门电路设计三输入变量的奇偶校验电路:当三个输入端有奇数个1时,输出为高,否则为低。
数电实验讲义数字电子技术基础一实验设备认识及门电路功能测试一、目的:1、熟悉万用表及电子技术综合实验平台的使用方法;2、掌握门电路逻辑功能测试方法;3、了解TTL器件和CMOS器件的使用注意事项。
二、实验原理门电路的逻辑功能。
三、实验设备与器件1、电子技术综合实验平台一台2、万用表一块3、器件(1) 74LS02 一片(四二输入或非门)(2)74HC86 一片(四二输入异或门)(3) 74LS03 一片(四二输入与非门(OC))(4)74LS00 一片(四二输入与非门)四、实验内容和步骤1、测试74LS02和74HC86的逻辑功能。
注意CMOS电路的多余输入端不得悬空,应按需要接成相应的高低电平。
表中VO为不加负载时的电压,即开路输出电压。
表4-1-12.OC门上拉电阻计算及逻辑功能测试2.1 OC门上拉电阻的计算OC门输出端可以并联连接,即OC门可以实现“线与”逻辑,但必须接一个合适的上拉电阻RL,计算方法如下:RL(max)VCC VOLVCC VOHRL(mi nnIOH mIIHILM m IIL式中:m ― 负载门总输入端数n ― OC门并联的个数m ― 负载门个数IOH ― OC门输出管截止时的漏电流(对于74LS03按IOH=50 A计算) ILM ― OC门输出管导通时允许的最大灌电流(按VOL≤0.3V,ILM≤7.8mA估算) IIH ― 负载门每个输入端的高电平输入电流(对于74LS00按IIH=0.01 A) IIL ― 每个负载门的低电平输入电流(对于74LS00按IIL=-0.25mA估算) VCC ― 电源电压(5V) VOH ― 输出高电平(按3V估算) VOL ― 输出低电平(按0.3V估算)图4-1-1 2.2 OC门“线与”应用将各OC门输入端A、B和C分别接逻辑开关;Z、Y1和Y2分别接LED指示灯,连接电路图如图4-1-1所示。
当输入端A、B和C取不同值时,观察Z、Y1和Y2的变化情况,填入表4-1-2中。
实验一 门电路逻辑功能测试及简单设计一、实验目的1.熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用;2.掌握TTL 和CMOS 与门主要参数的测试方法;3.了解门电路的电压传输特性的测试方法;4.掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74LS86异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能;5.掌握三态门的逻辑功能。
6.掌握利用门电路设计数字电路的方法。
二、预习要求1.了解TTL 和CMOS 与非门主要参数的定义和意义。
2.熟悉各测试电路,了解测试原理及测试方法。
3.熟悉74LS00、74LS02、74LS86、74LS125和CC4011的外引线排列。
4.画实验电路和实验数据表格。
三、实验原理与参考电路1、TTL 与非门的主要参数TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。
(1)输出高电平OH V :输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。
空载时,OH V 必须大于标准高电平(V V SH 4.2=),接有拉电流负载时,OH V 将下降。
测试OH V 的电路如图1.1所示。
(2)输出低电平OL V : 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
空载时,OL V 必须低于标准电平(V V SL 4.0=),接有灌电流负载时,OL V 将上升。
测试OL V 的电路如图1.2所示。
图1.1 V OH 的测试电路 图1.2 V OL 的测试电路(3)输入短路电流IS I :输入短路电流IS I 是指被测输入端接地,其余输入端悬空时,由被测输入端流出的电流。
前级输出低电平时,后级门的IS I 就是前级的灌电流负载。
一般IS I <1.6mA 。
测试IS I 的电路见图1.3。
(4)扇出系数N :扇出系数N 是指能驱动同类门电路的数目,用以衡量带负载的能力。
图1.4所示电路能测试输出为低电平时,最大允许负载电流OL I ,然后求得ISOL I I N 。
数字电子技术实验原理数字电子技术实验原理数字电子技术是现代电子技术的一个重要方向,主要应用于数字系统、计算机、通讯、控制、娱乐等领域。
数字电子技术实验是电子工程专业的基础实验之一,通过实验可以深入了解数字电子技术的基本原理和应用;掌握数字电路的设计、测试和分析方法;培养实际动手能力和综合解决问题的能力。
本文主要介绍数字电子技术实验原理及实验内容。
一、数字电子技术实验原理1. 数字电路基本概念数字电路是一种由逻辑门电路组成的电路,它仅由两个稳定状态(通常为0和1)组成。
数字电路的主要特点是由逻辑部件构成的数字系统,通常在二进制数码系统下运算,表现出高速、高精度、可靠性好等特点。
2. 数字芯片分类数字芯片是数字电路的重要组成部分,广泛应用于通讯、计算机、自动控制、娱乐等领域。
数字芯片按功能可分为逻辑门芯片、触发器芯片、计数器芯片、移位寄存器芯片等。
3. 逻辑门电路实验原理逻辑门电路是数字电路的基本部分,主要包括与门、或门、非门、异或门等。
逻辑门电路实验原理是通过实验掌握各种逻辑门的基本功能及逻辑关系。
其中,与门、或门、非门可用于组合电路中;而异或门可用于简单加法和异或运算。
4. 组合逻辑电路实验原理组合电路由多个逻辑门组成,可以实现不同的逻辑功能。
组合电路实验原理是通过实验掌握组合逻辑电路的基本原理和应用,了解各类组合逻辑电路的实现方法和原理。
5. 时序逻辑电路实验原理时序逻辑电路是由时序元件(如触发器、计数器、移位寄存器等)和组合逻辑电路组成的数字电路。
时序逻辑电路实验原理是通过实验掌握时序逻辑电路的基本原理、时序元件的特性和应用,了解各类时序逻辑电路的实现方法和原理。
二、数字电子技术实验内容1. 门电路实验1.1 实验目的掌握逻辑门的基本功能及逻辑关系;了解数字电路实现的基本方法。
1.2 实验器材数字信号发生器、示波器、电阻、电路板、数码显示器。
1.3 实验步骤(1) 按逻辑门的输入输出原理,设计适当的输入输出端口。
《数字电子技术》实验指导书安阳工学院电子信息与电气工程学院实验要求一、实验前必须充分预习,完成指定的预习任务。
二、用仪器和实验箱前必须了解其性能、操作方法及注意事项,在操作时应严格遵守。
三、实验时接线要认真,相互仔细检查,确定无误才能接通电源。
四、实验时应注意观察,若发现有破坏性异常现象,例如元件冒烟、发烫或有异味等,应立即关断电源,保持现场,报告指导老师。
找出原因、排除故障,经指导老师同意后再继续做实验。
五、实验过程中需要改接线时,应关断电源后才能拆、接线,使用自锁紧插头时,严禁用力拉线,拆线时,应手捏线端并旋转轻微向上用力拔起,以防线被拉断。
六、实验过程中要仔细观察实验现象,记录实验结果(数据、波形、现象)。
所记录的实验结果经指导老师审阅签字后再拆除实验线路。
七、实验结束后,必须关断电源、拔出电源插头,并将仪器、设备、工具、导线等按规定整理。
八、实验后每个学生必须按要求独立完成实验报告。
数字电路实验箱使用说明本实验箱可以完成数字电路课程实验,由实验板和保护箱组成。
该实验箱的实验板采用独特的两用板工艺,正面贴膜,印有原理图及符号,反面为印制导线并焊有相应元器件,需要测量及观察的部分装有自锁紧式接插件,使用直观、可靠。
一、技术性能及配置1、电源输入 : AC220V 士 10 %。
输出 : DC 5V/1A 、 DC 1、25V ~ 15V/0、2A (两路) 有过载保护及自动恢复功能。
2、信号源单脉冲:为消抖动脉冲,可同时输出正负两个脉冲,前后沿≤20ns ,脉冲宽度≤0、2μs ,脉冲幅值为 TTL 电平。
连续脉冲:两组,一组为 4 路固定频率的方波。
其频率分别为 200KHZ 、100KHz、50KHz、25KHz 。
另一组为: 1Hz~5KHz 连续可调方波,分二档由开关切换,两路输出均为 TTL 电平。
3、八组逻辑电平开关:可输出“O”、“1”电平。
置于H时输出为+5V,置于L时输出为0。
……………………………………………………………精品资料推荐…………………………………………………数字电子技术实验指导书杨延宁编延安大学信息学院2015年5月前言数字电路是一门理论性和技术性都较强的技术基础课,实验是本课程的重要教学环节,必须十分重视。
本实验讲义是为通信工程专业学生作数字电路实验而设计和编写的。
编写时考虑了本专业的现行计划学时、所用教材内容及后续课程内容等。
本讲义编写了八个实验,每个实验计划用时180分钟。
一、数字电路实验目的1、验证、巩固和补充本课程的理论知识,通过理论联系实际,进一步提高分析和解决问题的能力。
2、了解本课程常用仪器的基本原理、主要性能指标, 并能正确使用仪器及熟悉基本测量方法。
3、具有正确处理实验数据、分析实验结果、撰写实验报告的能力,培养严谨、实事求是的工作作风。
二、实验准备要求实验准备包括多方面,如实验目的、要求、内容以及与实验内容有关的理论知识都要做到心中有数,并要写好预习报告。
预习报告可以简明扼要地写一些要点,而不需要按照什么格式,只要自己能看懂就行。
内容以逻辑图与电路图(连线图)为主,附以文字说明或必要的记录实验结果图表。
在预习报告中要求将逻辑图与连线图同时画出,这是因为,只有逻辑图则不利于连接线路,而只有连线图则反映不出电路逻辑图。
在实验过程中一旦出了问题,不便进行理论分析。
特别当电路较复杂时还应将逻辑图与连线图结合起来。
三、数字电路实验中的常见故障及排除数字电路实验过程的第一步,一般都是连接线路,当线路连接好后,就可以加电进行试验。
若加电后电路不能按预期的逻辑功能正常工作,就说明电路有故障,产生故障的原因大致有以下几个方面:1、电路设计错误。
2、布线错误。
3、集成块使用不当或功能不正常。
4、接触不良。
5、电源电压不符合要求。
在我们的实际实验过程中,故障最多的情况当属接触不良和布线错误。
为了使实验能顺利进行,减少出现故障的可能性,实验过程必须做到仔细、认真、有步骤地进行。
并注意以下几点:1、插集成元件时,应注意校准其所有引脚,使其端、直、等距。
然后慢慢插入实验板,以免用力过猛而折断或弯曲集成元件的引脚。
并注意集成元件方向,以免倒插。
双列直插式集成元件一端具有半圆形定位标记,其下方为第1引脚,上方为最后一个引脚,引脚序号以逆时钟方向递增。
2、在布线之前,最好先对实验所用集成元件进行逻辑功能测试,这样就可以避免在实验中因元件功能不正常而产生电路工作不正常。
实际上预先检查元件的逻辑功能并不需花费多少时间。
3、布线所用导线为单芯直径约0.6nm的导线,布线时注意导线不要垮接在集成元件的上面,也不要使其交叉连接在空中搭成网状,而应使导线贴近实验板连接,沿水平和垂直两个正交方向走向。
4、布线时应有顺序地进行,以免漏接。
连接时,首先连接固定电平的引脚,如电源正负极、门的多余输入端、工作过程中保持高电平或低电平的置位、复位和选通端等。
然后再按照信号流向顺序依次布线。
5、对于使用集成元件较多的大型实验,应分块连接,调试,最后总体连接。
在实验电路设计正确的情况下,布好线又经检查后,一般出问题的机率是不多的。
并且数字电路中的故障一般比模拟电路中的故障较易检查和排除。
对于实验中出现的故障进行排除时,要保持头脑冷静,有分析地逐步进行,避免抱着侥幸心理乱碰,或在几分钟内找不到故障所在,则束手无策,甚至把连线全部拨掉,从头开始,这样太浪费时间。
下面推荐两种排除故障的方法:1、逻辑分析法。
接通电源后,置电路于初始状态,并用单步工作方式给电路输入信号,观察电路工作情况,如有问题,则不要急于检查,而应继续给电路以不同的输入,记录电路的输出或状态。
由此可得电路的一张真值表或状态转换表。
然后与正确的情况进行比较分析,从而判断故障的性质、原因及所在位置。
2、逐级追查法。
逐级追查法即根据电路的逻辑图顺序检查各级的输入与输出。
其方向既可以由输入至输出逐级检查,也可以由输出到输入逐级检查。
目录实验一组合逻辑电路设计(SSI)............................实验二编码器与译码器...................................实验三全加器及其应用...................................实验四数据选择器及应用.................................实验五时序电路的测试与设计............................实验六集成计数器.......................................实验七节日彩灯设计.....................................实验八六人抢答器设计.................................附录一数字实验箱简介....................................附录二半导体集成电路型号命名法...........................附录三集成电路引脚图....................................实验一 组合逻辑电路设计(SSI)一、实验目的1、掌握组合逻辑电路的一般设计方法。
2、了解多输出组合逻辑电路设计技巧。
二、实验原理逻辑电路分为组合逻辑电路和时序逻辑电路两种,组合逻辑电路设计则是各种逻辑设计的基础。
组合逻辑电路的设计步骤为:1、根据实际命题作数学抽象列出真值表。
2、由真值表列函数表达式。
3、化简逻辑函数并根据所用的器件变换逻辑函数形式。
4、画逻辑图。
在采用小规模集成电路SSI 的情况下,电路设计的最佳标准为:1、使用的逻辑器件数要最少,这就要求逻辑函数中的项数最少。
2、逻辑网络中的连线数要最少,这就要求逻辑函数各个项的变量数要最少。
在设计多输出函数时,为了达到上述二标准,应使化简后的函数中包含更多的公共项。
三、实验仪器及材料稳压电源一台74LS00 二块74LS10 一块74LS86 一块74LS04 一块四、实验内容1、设计一个将8421BCD 码转换为余3BCD 码的代码转换器,所用器件为一块74LS04,两块74LS00,一块74LSl0,写出设计过程,画出逻辑图、连线图,测试其功能。
2、用一块74LS86设计一个四位二进制码的原反码转换电路,输入为A :A 3A 2A 1A o 和控制端M,当M 为0时,输出为原码A 3A 2A 1A o ;当M 为1时输出为反码0123A A A A 画出逻辑图、连线图,并测试其功能。
8421BCD码与余3码转换真值表实验二 编码器与译码器一、实验目的1.了解译码器、编码器的工作原理及其逻辑功能。
2.掌握译码器、编码器的扩展方法及在多输出组合函数设计中的典型应用。
二、实验仪器与器材1.数字逻辑实验仪1台2.数字万用表1块3.直流稳压电源1台4.74LS8148两块,74LS00一块,74S138两块,74S20一块三、 预习要求1.复习编码器、译码器的工作原理。
2.熟悉编码器与译码器的扩展方法及典型应用。
3.熟悉74LS148、74LS138的外形及引脚排列。
四、实验原理1.编码器原理数字电路处理、存储及传输的信息是二进制码,而人们在自然界中遇到并习惯的则为非二进制信息。
因此就需要有一种将非二进制信息转化为二进制信息的电路。
给每个表示信息的符号按一定的规律赋于二进制码的过程称为编码。
如在计算机中将十进制数0~9、大小写英文字母、各种运算符和各种控制符按一定规律编为二进制码,称为ASCII 码;在程控电话中,将话音信号采样、量化后编为二进制码;在各种数字测量仪表中,将被测量信号转化为二进制码,等等。
在数字系统中,编码占有很重要的地位。
实现编码功能的电路即编码器。
编码器的逻辑符号如图2-1所示。
图的左边为输入线,每一条输入线代表一个数符或字符,图的右边为输出线,全部输出线输出的每种组合对应于一条输入线上数符或字符的二进制码。
在同一时刻,编码器的m 条输入线只允许其中一条线上有信号。
编码器输入端数m 与输出端数n之间的关系为m ≤2n 。
由于编码器不允许同时两条输入线上有信号,否则会引起逻辑混乱。
为此人们设计了优先编码器。
如8线-3线优先编码器(74LS148)。
10线-4线8421BCD 码优先编码器(74LS147)。
下面具体介绍8线-3线优先编码器(74IS148)图2-2为74LS148的逻辑符号,表2-1为它的逻辑功能表。
其中S 为选通输入端,s Y 为选通输出端, EX Y 为扩展端, s Y 和EX Y 用于扩展编码功能,所有输入端和输出端都是低电有效。
S 为低电时,本集成块选通,编码器正常工作,否则所有输出端均被封锁,输出高电平。
只有当本集成块选通,且无输入时,即S =0, 0I ,1I 、2I 、3I 、4I 、5I 、6I 、7I 全为高电平时, s Y 有效,说明本片无输入;当S =0, 0I ~7I 只有一个为零时, EX Y =0表示本片有输入。
根据表3-1可得输出端函数表达式:S I I I I I I I I I I Y ⋅+++=)(76564364210S I I I I I I I I Y ⋅+++=)(765435421S I I I I Y ⋅+++=)(76542S I I I I I I I I Y S ⋅=)(76543210 S S I I I I I I I I Y EX ⋅⋅=)(76543210 最后指出,优先编码器还被广泛应用于各种优先控制系统中。
如计算机中的优先中断控制电路,核电站优先报警系统等。
2.译码器原理图2—2 译 码 器 1 2 m 20 212n 图2—3· · · · · ·译码是编码的逆过程,它是将二进制码按它原意翻译成相应的输出信号。
实现译码功能的电路称为译码器,其逻辑符号如图2-3所示。
译码器输入的是二进制码,输入线数n为二进制码的位数。
输出的每条线与一组二进制码相对应,或者说每个输出函数是n个输入变量的一个最小项,故译码器有时被称为最小项发生器。
译码器输入端数n与输出端数m之间的关系为m≤2n。
在中规模集成电路中,有3线-8线译码器,4线-16线译码器,它们属于全译码,m=2n。
还有4线-10线8421BCD十进制译码器,属于部分译码。
另外,还有另一类完全不同的数字显示译码器,其MSI有BCD八段显示译码器和BCD七段显示译码器两类。
下面着重介绍3线-8线译码器74LS138,其逻辑图如图2—4所示,表2-2给出了74LS138的逻辑功能。
译码器被广泛应用于数据分配器、时钟脉冲分配器、数码显示和存储器系统的地址译码器等方面。