面向TPS架构的混合电路测试系统设计
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收 稿 日期 ： ０ ２０ — ３ 修 回 日期 ： ０ ２０ —９ ２ １ — ２１ ｛ ２ １ — ４０
口的信 号激 励 加 载 、 表 控 制 ， 试 结 果 判 断 、 仪 测 波
４６ ３
雷 达 科 学 与 技 术
第 １ 卷第 ４ ０ 期
形采 集 及 比刘 故障 判 断及 解 决 方 法 ， 具 体仪 器 、 而
固件 状态 ； 其次 为 提供 归 一 化 人机 界 面 ， 即提 供 给
用户 的软 件 应 是 具 有 统 一 风格 与 独 立 面 向对 象 ， 而需 避 免在一 个操 作 系 统 中 同时 运行 多个 应 用 软 件 。在 自动 测 试 系 统 工 程 化 过 程 中 ， 要 解 决 虚 需 拟仪 器底 层驱 动开 发与 ＧＰ Ｂ总 线接 入 、 于驱 动 Ｉ 基 的数 据库 管理 以及 开 放式 测 试 台与 被测 件 适 配 器 结构 设计 等 问题 Ｊ 。 混合 电路 组件 测 试 台是 为 三 型 雷达 中混 合 电 路组 件 的 功 能 测 试 和 故 障 诊 断 而 搭 建 的 测 试 平 台。该 测 试平 台 主要 由安捷 伦机 柜 、 字 示 波 器 、 数 波形 发 生 器 、 字 万 用 表 、 Ｔ 数 Ｊ ＡＧ 测 试 模 块 、 字 数
综 合 电路 集 成 测 试 系统 中。
关 键 词 ： 自动 测 试 系统 ；测 试 程 序 集 ； 测 件 模 型 ；关 系数 据 库 被 中 图分 类 号 ： Ｐ １ ． ２ Ｔ ５ Ｔ ３ １ ５ ； Ｎ９ ７ 文献标识码 ： Ａ 文 章 编 号 ：６ ２２３ （０ ２ ０ —４ ５０ １ ７—３ ７ ２ １ ） ４０ ３ —３
６ ０ｄ ｖ ｌｐ ｎ 。ｔ ｅｔｓ ｎ ｉｅｉ ｅ ｔｂｉｈ ｄ ｂ ｔ ｅ ｈ ｉ ｅ ｔｐｏ ｒｍ ｎ ｈ ｑ ｉｍｅ ｔｃ ｎｒ ｌ＆ ． ｅ ｅｏ ｍｅ ｔ ｈ ｅ ｔｅ ｇｎ ｓ ｓａ ｌ ｅ ｅｗｅ ｎｔ ｅｍａｎｔ ｓ ｒ ｇ ａ ａ ｄ ｔｅｅ ｕｐ ｎ ｏ ｔｏ ｓ
来越 受到 世 界各 军 事强 国 的高 度 重 视 并 得 到 了迅
１ 引
言
猛 的发展 。
国内地 面情 报雷 达 电路 单 元 综 合 自动 测 试 系 统研 制起 步 较 早 的 有 中 国航 天 科 工 集 团 测 控 、 中
随 着现代 电子测 试 技 术 、 电子 技 术 、 算 机 微 计 技术 的发 展 ， 用 于 武 器 装 备 测 试 诊 断 的 自动 测 适
２ 系统 测 试 原 理
自动测 试设 备 在 完 成测 试 的同 时要 确 保 被测
件技术 状 态 不 被 更 改 或 作 可逆 的 更 改 ， 要 面列‘ 首 的 问题 为如 何 解 决 保 持 测试 时 被 测 件 自身 软 件 、
于数 据库 的开 发 平 台 ， 过 数 据 库 实 现 了测 试 项 通
平 台与 测试 程序 集 （ Ｐ ） Ｔ Ｓ 实现 自动测 试＿ 。 ＿ ５
面 向 Ｔ Ｓ软 件结 构是 通用 自动测 试 系统 的发 Ｐ 展方向， 测试 程 序 集 中包 含 被 测 件 对 象 （ ＵＵＴ） 端
备 战斗 力和综 合 测试 保 障能力 的 高效 率武 器口 ， ］ 越
不 可少 的重要 装备 。据 统计 ， 采用 先 进 的 ＡＴ Ｅ技
“ 用部 分 ”４， 统一 的硬 件 平 台和软 件平 台框 架 专 ｒ 在 ］
下 ， 派 生 出 系 列 针 对 特 定 被 测 对 象 的 专 用 测 试 可
术， 能够 使武 器装 备 的 维修 测 试 效 率 提 高 １ Ｏ倍 以
（ 国 电子 科 技 集 团 公 司 第 三 十 八 研 究 所 ， 徽 合 肥 ２ ０ ８ ） 中 安 ３０ ８ 摘 要 ：面 向 测 试 程 序 集（ Ｐ ） 件 架 构是 通 用 自动 测 试 系统 的 发 展 方 向 ， 建 立 统 一 的 测 试 系统 模 Ｔ Ｓ软 而
型 是 测 试 系 统 中 资 源 管 理 与 配 置 的 关 键 。提 出 了一 种基 于 Ｔ Ｓ的 自动 测 试 系 统 建模 方 案 及 实现 机 制 ， 用 Ｐ 利 关 系型 数 据 库 建 立 包括 仪 器 仪 表 资 源 自动 配 置 、 测 件 管 理 、 试 底 版 通 信 控 制 的 自动 测 试 系统 模 型 。基 被 测
ｉ ｌｍｅ ｔ ｄ ｖ ａ ｒ ｌｔ ｎ ｌ ａ ａ ａ ｅ，ｍａｎ ｙ ｃ ｍｐ ｓ ｄ ｏ ｈ ｕ ｏ ｔｃｔ ｓ ｑ ｉｍ ｅ ｔ ＡＴＥ）ｃ ｎ ｉ ｕ ａｉ ｎ。 ｍｐ ｅ ｎ ｅ ｉ ｅａ ｉ ａ ｔ ｂ ｓ ｏ ｄ ｉ ｌ ｏ ｏ ｅ ｆｔ ｅ ａ ｔ ｍａ ｉ ｅ ｔ ｅ ｕ ｐ ｎ （ ｏ ｆｇ ｒ ｔｏ
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一 一
效提 高数 量 和种 类 较 多 的 各 种 适 配 板 的可 靠 性 ，
国电科集 团第 十 四所 、 国电 科 集 团 第二 十八 所 、 中 中国 电科 集 团第 四十 一 所 等 。 目前 共 同的 特 点 是
将测 试 软 件 设 计 为 “ 用 部 分 ” “ 通 用 部 分 ” 通 、准 、
试 系统 及 设 备 （ Ｅ）１３ 由于 军 事 工 业 的 需 要 ＡＴ ［２也 － 和现 代 战 争 的需 求 而 不 断 向前 发 展 。 目前 ＡＴＥ 已成 为 武器装 备研 制 、 生产 、 试 和 维修 过 程 中必 测
化 的接 口向上层提供其 服务 ， 如图 ２ 所示 。
测试 主程 序
Ｉ） （ 模块 、 控 电源 、 测 件 适 配 器 、 算 机 和 打 印 程பைடு நூலகம்被 计
机 等部 分组成 。 混 合 电 路 组 件 测 试 台 采 用 无 源 适 配 器 ， 有 可
，
ｉ
ｆｆ
ｊ ｊ
第 ４期 ２１ ０２年 ８月
雷 达 科 学 与 技 术
Ｒ ａｄａｒ Ｓｃｉ Ｇｅ ａｎ ｏｎ ｄ Ｔｅｃｈｎ ｏｇｙ ｏ［
Ｖ ｏｌ ０ ＿１ Ｎ Ｏ ．４
Ａｕ ｇｕｓ ０１ ｔ２ ２
面 向 ＴＰ Ｓ架 构 的 混 合 电 路 测 试 系 统 设 计
王 春艳 。 艳 丽 赵
ｔ ｓ ｏ ｒ ，ｗｈ ｃ ｋ ｓ ｔ ｅｔ ｓ ｏ ｔ ｒ ｄ ｐ ｎ ｅ ｔｏ ｈ ｅ ｌ ｅ ｔｒ ｓ ｕ ｃ ．Ｔｈ ｓ ｄ ｓｇ ａ ｅ ｎ ａ ｐ ｉｄ ｅ ｔｂ ａ ｄ ｉｈ ｍａ ｅ ｈ ｅ ｔｓ ｆｗａ ｅｉ ｅ ｅ ｄ ｎ ｆｔ ｅ ｒ ａ ｓ ｅ ｏ ｒ ｅ ｎ ｔ ｉ ｅ ｉ ｎ ｈ ｓｂ ｅ ｐ ｌ ｅ ｓ ｃ ｅ ｓ ｕ ｌ ｎ ｔ ｅ ｈ ｂ ｉ ｉｃ ｉ ｉ ｔ ｇ ａ ｅ ｅ ｔ ｓ ｓ ｅ ｏ ａ ａ ． ｕ ｃ ｓ ｆ ｌ ｉ ｈ ｙ ｒｄ ｃｒ ｕ ｔ ｎ ｅ ｒ ｔ ｄ ｔ ｓ ｙ ｔ ｍ ｆａ ｒ ｄ ｒ ｙ Ｋｅ ｒ ｓ ａ ｔ ｍａ ｉ ｔ ｓ ｙ ｔ ｍ ；ｔ ｓ ｒ ｇ ａ ｓ ｔ ｙ ｗｏ ｄ ： ｕ ｏ ｔｃ ｅ ｔｓ ｓ ｅ ｅ ｔ ｐ ｏ ｒ ｍ ｅ ；ＵＵＴ ｄ ｌ ｅａ ｉ ｎ ｌ ａ ａ ａ ｅ ｍｏ ｅ ；ｒ ｌｔ ａ ｔ ｂ ｓ ｏ ｄ
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Ｗ ＡＮＧ Ｃｈｕ — ａ ｎ ｙ ｎ，ＺＨＡＯ ｎ ｌ Ｙａ —ｉ
（ ． ８Ｒｅｅ ｒｈ Ｉ ｓｉ ｔ ｏ ＥＴ Ｎｏ ３ ｓ ｃ ｎ ｔ ｕ ｅ ｆ Ｃ Ｃ。Ｈｅ ｅ ２ ０ ８ ，Ｃ ｉａ ａ ｔ ｆ ｉ ３ ０ ８ ｈｎ ）
仪表 的 选择 则在 测 试软 件 开 发 或运 行 环 境 中 自动
实 现 。通 过 仪表 控 制程 序 实 现测 试 主 程 序 与 真实 资源之 间 的 配 置 、 用 和 管 理 。与 传 统 的直 接 面 使
向 仪 器 的 方 法 相 比 ， 向 ＴＰ 的 设 计 方 法 解 决 了 面 Ｓ
目选 择 、 测试步 骤控 制 及 测试 数 据 管 理 ， 现 了测 实 试流 程 的高效 开发 、 使用 和维护 。 根 据 需求 分 析 ， 实 现 平 台 的通 用 性 和 紧 凑 为
型 ， 用 购买 通 用 仪 器控 制 模 块 和 自 主研 发 专 用 选 模块 结合 的方式 实现 。
ｔ ｅ ｕ ｉ ｕ ｄ ｒｔ ｓ （ ｈ ｎ ｔ ｎ ｅ ｅ ｔ ＵＵ Ｔ） ｍａ ａ ｅ ｎ ｎ ｈ ｅ ｔｂ ａ ｄ ｃ ｍｍｕ ｉａ ｉ ｎ Ｏｎ ｔ ｅ ｐ ａ ｆ ｒ ｏ ｓ ａ ｔ ｄ ｏ ｎ ｇ ｍｅ ｔａ ｄ ｔ ｅ ｔ ｓ ｏ ｒ ｏ ｎｃ ｔ ． ｏ ｈ ｌ ｔｏ ｍ ｆＶｉｕ ｌＳ ｕ ｉ
测 试程 序对 具体 仪 器 的 依赖 问题 。 当增 加 新 的被 测件时 ， 只需 要 在数 据库 中输 入相 应 的 Ｔ Ｓ步骤 ， Ｐ
口的信 号激 励 加 载 、 表 控 制 ， 试 结 果 判 断 、 仪 测 波
４６ ３
雷 达 科 学 与 技 术
第 １ 卷第 ４ ０ 期
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固件 状态 ； 其次 为 提供 归 一 化 人机 界 面 ， 即提 供 给
用户 的软 件 应 是 具 有 统 一 风格 与 独 立 面 向对 象 ， 而需 避 免在一 个操 作 系 统 中 同时 运行 多个 应 用 软 件 。在 自动 测 试 系 统 工 程 化 过 程 中 ， 要 解 决 虚 需 拟仪 器底 层驱 动开 发与 ＧＰ Ｂ总 线接 入 、 于驱 动 Ｉ 基 的数 据库 管理 以及 开 放式 测 试 台与 被测 件 适 配 器 结构 设计 等 问题 Ｊ 。 混合 电路 组件 测 试 台是 为 三 型 雷达 中混 合 电 路组 件 的 功 能 测 试 和 故 障 诊 断 而 搭 建 的 测 试 平 台。该 测 试平 台 主要 由安捷 伦机 柜 、 字 示 波 器 、 数 波形 发 生 器 、 字 万 用 表 、 Ｔ 数 Ｊ ＡＧ 测 试 模 块 、 字 数
综 合 电路 集 成 测 试 系统 中。
关 键 词 ： 自动 测 试 系统 ；测 试 程 序 集 ； 测 件 模 型 ；关 系数 据 库 被 中 图分 类 号 ： Ｐ １ ． ２ Ｔ ５ Ｔ ３ １ ５ ； Ｎ９ ７ 文献标识码 ： Ａ 文 章 编 号 ：６ ２２３ （０ ２ ０ —４ ５０ １ ７—３ ７ ２ １ ） ４０ ３ —３
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国内地 面情 报雷 达 电路 单 元 综 合 自动 测 试 系 统研 制起 步 较 早 的 有 中 国航 天 科 工 集 团 测 控 、 中
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２ 系统 测 试 原 理
自动测 试设 备 在 完 成测 试 的同 时要 确 保 被测
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于数 据库 的开 发 平 台 ， 过 数 据 库 实 现 了测 试 项 通
平 台与 测试 程序 集 （ Ｐ ） Ｔ Ｓ 实现 自动测 试＿ 。 ＿ ５
面 向 Ｔ Ｓ软 件结 构是 通用 自动测 试 系统 的发 Ｐ 展方向， 测试 程 序 集 中包 含 被 测 件 对 象 （ ＵＵＴ） 端
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测试 主程 序
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向 仪 器 的 方 法 相 比 ， 向 ＴＰ 的 设 计 方 法 解 决 了 面 Ｓ
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