CSP结构的热应力分析

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2008年¥11期 中图分类号:TN305.94 ■ 文献标识码:A 文章编号:1009—2552{2008)11一OO46—03 

CSP结构的热应力分析 

孙炳华 (南通大学理学院,南通226007) 摘要:利用ansys软件通过仿真得到了在稳态情况下的CSP结构热场分布,在此基础上,把稳 态情况下的热场分布作为温度载荷施加到模型上,得到了CSP结构热应力分布,这对集成电路 热设计方案的选择,尤其对提高大功率集成电路的可靠性具有重要意义。 关键词:热建模;CSP结构;热应力 Analysis of thermal stress of CSP structure SUN Bing.hua (School of,Science,Nantong University,Nantong 226( ̄,China) Abstract:In this paper,the thermal distribution of the CSP structure is simulated under the equilibrium state with the ansys software,and by applying the thermo—distribution under the equilibrium state to the model,the thermal stress distribution of the CSP is obtained,this is significant to choosing a suitable thermo-package design of integrated circuit(IC),especially to improving the reliability of high power IC. Key words:thermal modeling;CSP structure;thermal stress 

要实现更高密度的封装,几十年来主宰电子封 装技术发展的芯片小 、封装大这一芯片与封装的矛 盾就显得尤为突出。到了20世纪8O年代后期开始 发展新技术,将多个不加封装的芯片直接装载在同 一基板上并封装于同一壳体内,由于这种封装减少 了芯片间的引线长度,故可以明显改善信号延迟、降 低高频损耗,而且还可以统一密封,集中冷却,有利 于降低器件温度,提高可靠性。因此,它是一种实现 高密度、微型化较理想的封装技术。但是MCM成功 的基础是必须具有质量确实可靠的裸芯片,而对各 种形状、大小以及端子数不同、功能不同的裸芯片进 行实验以及老化筛选是极其困难的,这就导致了 MCM成品率低、制造成本高,至今尚未在商品化方 面有大的突破。在这样的背景下,日本于20世纪 90年代初研究开发一种接近芯片尺寸的超小型封 装,这种封装被称为CSP,CSP是在BGA基础上发展 起来的接近LSI芯片尺寸的新型封装产品,它彻底 解决了芯片与封装之间的矛盾。这种封装结构的产 品具有以下几个特点…: ——46—— ①体积小。CSP是目前体积最小的封装,引脚 数相同的LSI,CSP的面积不到0.5mm引脚间距QFP 的十分之一,只有BGA的三分之一到十分之一。 ②相同尺寸的LSI。CSP的引脚最多,QFP的引 脚最多304根,若增加引脚数,只能减小引脚间距, BGA的引脚数以600 700为宜,再多制作和安装难 度增大。 ③CSP具有优良的电性能。由于CSP内部的布 线长度比QFP和BGA短的多,故寄生效应弱,信号 传输时间短。 ④CSP的散热性能优良。由于CSP大多将芯片 面向下安装,能从芯片背面散热,效率较高。 从芯片与封装基板的结合形式看分为两种,一 种是芯片通过管芯粘接剂同基板相粘接,用金丝通 过引线键合(wire bonding)的方式把芯片的输入/输 出(t/o)端与基板上的焊凸点相连;另一种是芯片通 

收稿日期:2008—04—14 作者简介:孙炳华(1963一),副教授,硕士研究生,研究方向为微电 子封装。 过倒装焊技术(flip chip technology,rc)焊接在基板 上,本文针对第一种结构形式利用ANSYS8.0软件 对CSP芯片热可靠性进行研究。 - 1利用Ansys软件对CSP结构进行二 

维热应力分析 1.1 Ansys软件介绍[2 美国ANSYS公司是John Swanson博士于1970 年成立,总部位于美国宾西法尼亚州的匹兹堡。 ANSYS程序是一个通用设计分析软件,ANSYS程序 是能够同时分析结构、热、流体、电磁、声学的高级多 物理场藕合分析程序,先进的多物理场藕合分析技 术现今世界首屈一指。各独立物理场的分析功能包 括各种结构的静、动力线性或非线性分析、温度场的 稳态或瞬态分析以及相变、计算流体动力学分析、声 学分析、电磁分析。另外,还提供目标设计优化、拓 扑优化、概率有限元设计、二次开发技术(参数化设 计语言APDL、用户图形界面设计语言UIDL以及用 户可编程特性UPFS)、子结构、子模型、单元类型、疲 劳断裂计算等先进技术。 ANSYS有限元分析的主要流程可分为三大步: 建立模型,施加载荷求解及检查结果。 ①建立有限元模型 本步骤可能是整个操作过程中用户花费时间最 多的部分,包括定义单元类型、实常数、性质和建立 模型的几何形状、网格划分,为有限元分析进行 准备。 ②施加载荷进行求解 有限元分析最主要的目的,在于了解结构系统 组件受载荷后的反应。故定义适当、正确的载荷,然 后进行求解是有限元分析必不可少的一步。 ③求解 加载后,便可执行求解(SOLVE)命令以完成解 题操作。ANSYS求解的结果内容,包括节点结果与 单元结果,结果的输出可写入输出文件(output file), 数据库(file.ab)及结果文件。 ④查看结果 求解结束可用ANSYS后处理器查看求解结果。 可用等值线、矢量图显示模拟结果。 1.2有限元模型的建立 Ansys提供了两种分析热应力的方法:直接法和 间接法。直接法是直接采用具有温度和位移自由度 的耦合单元,同时得到热分析和结构应力分析的结 果;间接法则是先进行热分析,然后求得的节点温度 作为体载荷施加到结构应力分析中。本论文采用间 接法求热应力,热应力分析流程如图1所示。 CSP结构模型如图2所示,通过环氧树脂把芯 

程卜_] 前处理过程: 求解过程: 后处理: 1.定义单元类型 1.定义分析类型 l_显示结构温度 2.建模 2.施加温度载荷 分布 3.输入材料属性 3.定义边界条什 2.显示温度梯度 

4.划分单元格 4.输出控制 分布 

I 厂— 热一结构耦合过程 I I 前处理过程: 求解过程: 后处理: 1.转换单元类型 1.设置位移约束 1.显示节点位移 2.设置材料属性 2.设置参考温度 2.显示节点应力 3.从热分析中读入 节点温度 

图1热一结构热应力分析流程图 片和BT(BT一832)基板结合起来,再用模塑树脂包 封。基板尺寸:10mm×10mm×0.5mm;环氧树脂尺 寸:8mm×8mm×0.01mm;芯片尺寸:8mm×8mm× 0.3mm;模塑树脂高0.5mm。边界条件是自然对流, 对流系数为40 fm℃,环境温度为20℃。 

共晶焊球 环氧树脂BT树脂(BT一832) 图2 CSP结构模型图 根据上述已知条件,可以建立起二维热分析模 型,对所建立起来的二维热模型做五点假设: ①考虑结构的对称性,选取对称面的1/2部分 作为分析对象。 QCSP结构中四层材料被认为是各向同性、均 匀的材料。 ③对流换热系数假定为一恒定值,与其他因素 无关。 ④整个过程都不考虑热辐射的影响。 ⑤忽略布线、焊点的影响。由于只分析四层材 料内部的热分布,不考虑焊球的散热。 在上述五点假设的基础上,考虑到计算量和易 于网格剖分等因素,采用自由网格划分,得到的网格 模型图如图3所示。同时所用材料特性参数如表l 所示。 

图3 CSP结构网格模型图 ・—-——47・-・—— 表1材料特性参数 材料酱 撩 耄 

1.3利用Ansys软件对CSP结构进行二维热应力仿真 仿真后得到温度场、合位移、等效热应力分布图 见图4—6。 

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图4 CSP结构温度场分布 mⅨ-.捌l啡Iz 硼・.删 蛊口c・。∞;‘幢 

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图5 CSP结构的合位移等值线图 

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图6 CSP结构的等效应力图 

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2仿真结果分析 从仿真结果可以看出最大应力不在芯片上,而 在模塑材料上与芯片相交的那个界面拐角处,即图 中标有MX的位置。这是由于粘接层相对比较厚引 起的,粘接层的厚度对界面应力的影响是不可忽略。 因为它的材料性能与芯片的材料性能相差很多,如 果粘接层比较薄,界面间的过渡越突然,基板和粘接 层间的相互作用越强,应力就越大,就会产生分层现 象,所以在电子封装设计中,选择合适的粘接层厚度 可以有效地抑制结构的脱层破坏。对于芯片来说, 应力最大的位置在尖角处。现在可以从理论上求得 模塑材料热应力分布的解析解L4J。 为了简化计算,将芯片的尖角等效为一直角楔 形体,并假设周围的封装塑料无限大,作用封装材料 与芯片界面的正应力为P。,0≤r≤a,口表示芯片 的长度。如图7所示。 

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