一种用于器件模型参数提取的芯片测试数据的获取方法

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1引言 .
确 ,这种 提取 方法 需要实测 大量 的 于M S E 结构。以1 2m S l M S OFT . u O C O
半 导体器 件 的建 模 及模 型参 数 测 试数据 来 比对 、验 证 。那 么 ,如 工 艺为例 ,M S E 结构 由4 分组 OF T 部
提取 是 电子设计 自动化 ( D )领域 何系统、科学的获取测试数据就显得 成 :三 端n O F T EA M S E 、三端p O F T M SE 、
c ar c eri t i C y h a t s c Ur e
( )lw sb ta eb a ( )h g u s r t is a o u sr t is b ih s b t a e b a
适合推广使用 。
参考文献
【J .iuA,nl i adDei f 1 JLo A a s n s no ] ys g MOS —
的关键 性 工作 …。参 数提 取 的任务 尤为必要 。本文以12m S I C O 工 四端n O F T .u O M S M S E 、四端p O F T M S E ,如 图2 是要从 一组器 件测 量特 性 中得 到与 艺为实 例 ,介 绍 了搭建数据 测试 平 所示 ,每一 部分都包 含有 6 个 不 同 4 器件模 型相对 应 的一套器 件模 型参 台 、获 取直流 参数 与获取 交流参 数 宽长 比 ( / )的M S E 。 WL O F T 数值 ] 。其办法 是先 给 出一组 模型 的具体 方法 该 。该 方法简 单 易用 , 为 了提取器件模型的直流参数 ,
o t i n r c s o lxme s e n d t f c i ey a da c a ey, a di si o v n e t o a p yi t t e o b n a dp o e sc mp e a a u me t a e e t l n c u t l r a v r n ti sc n e in t p l t o r mp e aa t r o h c lxp r me e
Dei s 9 3 09: 1—2 9 v e, 8, ( 1 411. c 1 3 )2 【 Y n ,h t r ePK, p ma p — 4 a gPC at j Ano t l a ] ee i
r m ee x r c o r g a f rM OS ET a t r e ta t n p o m i r o F
用相 同的工作 区进 行测 量 、参 数提
2数据获取的测量平台搭建 .
两者 不一致 ,就 修改参 数值 ,直到 Ii I 好地拟合 。实 际上 , , 很 s ̄ 。
本文通过 由进行直流测量 的H4 取 。为 了进 行这样 的提 取 ,每 个器 P1
5A 5 半导体参数分析仪、 ̄47 A 25 多频 件都需要测量 以下五组数据 :

ga d i u s n e , 9 , ( : 04 5 r e r i dS ms 9 8 7 )0 - . t C c t a  ̄t 1 1 5 4 0
图8 S I M S E 短沟道器件 (0 / . m O PO FT 2 m 12 )转移特性 曲线 ( )线 u a 性 区 ( )饱 和 区 b
Sn o gW e b n n i
( ai e sfistt o ifr t n ai 10 3 i nn rvn e hn ) D l nnuo tue fnomai ,D l n16 2 ,L a ig o ic ,C ia a ln i o a o P
A src :Deie d l n dl aa t xrcini temotmp r n at f e lc o i ds natmain ( D b tat vc mo e a dmo e p rme r t t s i ot t r o et nc ei uo t e e a o sh a p t e r g h o E A)
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Hale Waihona Puke 。 n n I n l dui mmme mm d ]E r — ; o s ga r Na o dU. EETas a t son Co pu e - de ei n ofI t ・ c on m i tr- Ai d D sg n e- ;
【 关键词 】M S O 器件;模型参数;参数提取;数据测试
A e s e e e h d o M a ur m ntM t o fChi e t a af rt ePr c s f e ieM od lPa a e e sEx r ci n p T s t o h o e so v c D D e r m t r t a to
e t c i nfed . x a t ls r o i Ke r s y wo d :M OS d v c e ie;M o e a a tr P r m ee x a t n; M e s e n aa d l r me e ; a a t r t c i P er o a u me t t r d
1 2 l . t lt 2 1. / 0 一 皂- l l / 2 3  ̄ t 0 0
I》 _. ) 研发展…………………………一 )
合较 好 。这 说 明我们 的数据 获取 的 测 量平 台搭建 的 比较 合理 ,数据 获 取方法简单可行 ,而且精度很高 。
6结 论 .
从 实 际 的测试 效 果来 看 ,传输
特 性 曲线和 转移特 性 曲线都 拟合 的
: 0 ’ - 2 - 3 4 0 1 ’ 2 ‘ 3 J 5 :


( v



() a
( ) b


很好 ,这 说 明了本文提 出的数据 获
取 的测量 平 台搭建 的 比较合 理 ,测 图7 s I M S E 短沟道器件 ( 0 / . )输 出特性 曲线 ( )低 O P O F T 2 um 12 m u a 试 数据量 充足 ,而且 利用 该方法 获 衬偏 ( )高衬偏 b Fi 7 S P O F T s o t h n el d vi e ( 0 / g . OI M S E h r c a n e c s 2 m 1 取数据简单易行 ,有较高的精确度 ,
FETS: o ln Sm u a on,nd Pa a e e M dei g,i lt i a rm tr
Ex r ci n M] UW ER AC ta to [ KL ADEMI C
PUBLI SHERS,9 8 19.
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参数初 始值 ,代 入器件模 型 公式得 具 有 较 高 的精 确 度 ,可 以作 为 深 需要 分别测 量器件 组 中每一个 器件 到一组模拟 结果;然后 比较 I ( 。 模 亚,适合推广使用 。
拟 结果 )与 I。 测 量 结 果 ),如 (
的I 特性 曲线 。对每 一个器件 都采 V
且V 。 小 , 以保 证 器 件 工 作 在 线 。很 性 区 。n M S E 的测量 电路 如 图3 —OFT
( )所 示。 a
测量数 据 是前提 条件 ,也是 非常重 要 的一 个环 节 。为 了让 实验 结果精
3直流数据的获取 .
直 流 测试 数 据 的获取 主 要来源

I 研发展…………………………. .

种 用于器 件模 型 参数提 取 的芯片测试数据
的获取 方法
大连 东软信 息学院 宋文斌
【 摘要 】半导体器件的建模及模型参数提取是电子设计 自动化 ( D )领域的关键性工作。要提取器件参数,获取并处 E A
理复杂繁 重的测量数据是前提 条件 ,也是 非常重要 的一个 环节 ,如何 简单有效 的提取 并处理参数提取 测试数据就 显得 格外 重 要。本文提 出 了简单 易用 的用于器件模 型参 数提取 的测试 数据 的获取 方法 。实验证 明,该方法可 以有效 的获取大量繁杂 的测试 数据 ,具有较 高的精确度 ,而且简单 易用 ,适合推广使用。
F 8 S P O F T h r c a n d vi e ( 0 / . m) t a s e . OI M S E s o t h n eI e s 2 m 1 2 i g c rnf r
c ar c eri ti c r e h a t s C u v
【 Y n ,ht r ePK, p ma p — 3 a gPC a ej Ano t l a ] t e i
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mo es ]E rn at n o l t n d lU. EE T a sc o n Ee r I i co
a e sT x r c ed v c a a t r , o t i i g a d p o e sn fc mp e a u e n a a i v r mp ra t smp e meh d t r a . o e t t e i e p me e s a t h r b an n n r c s ig o o l x me s r me td t e y i o n . i l t o o s t A o t i i gt e ts a o e iem o e a a ee x a to r p s d i i p p r h x e me tl e u t h w a eme o a b an n t t f rd v c d l rm t r t c i n i p o o e t s a e . ee p r h e da p er s nh T i n a s l s o t t h t dC r s h t h n