基于VISA接口的四线法电阻测量方法研究
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51 四探针法测电阻率1. 理解四探针测量半导体或金属薄膜电阻率的原理 2. 了解四探针测量材料电阻率的注意事项实验原理四探针法测量电阻率常用的四探针法是将四根金属探针的针尖排在同一直线上的直线型四探针法如图1-1a 所示。
当四根探针同时在一块相对于探针间距可视为半无穷大的平面上时如果探针接触处的材料是均匀的并可忽略电流在探针处的少子注入则当电流I 由探针流入样品时可视为点电流源在半无穷大的均匀样品中所产生的电场线具有球面对称性即等势面为一系列以点电流源为中心的半球面。
样品中距离点电源r 处的电流密度j电场ε和电位V 分别直流四探针法也称为四电极法主要用于低电阻率材料的测量。
使用的仪器以及与样品的接线如图3-1所示。
由图可见测试时四根金属探针与样品表面接触外侧两根1、4为通电流探针内侧两根2、3为测电压探针。
由电流源输入小电流使样品内部产生压降同时用高阻抗的静电计、电子毫伏计或数字电压表测出其他二根探针的电压即V23伏。
a 仪器接线b点电流源c四探针排列图1-1 四探针法测试原理示意图一块电阻率为的均匀材料样品其几何尺寸相对于探针间距来说可以看作半无限大。
当探针引入的点电流源的电流为I由于均匀导体内恒定电场的等位面为球面则在半径为r处等位面的面积为2r2则电流密度为jI/2r2 1-1 52 根据电导率与电流密度的关系可得E2222rIrIj 1-2 其中E为电场强度σ和ρ分别是样品的电导率和电阻率。
若电流由探针流出样品则距点电荷r处的电势为rIV2 1-3 因此当电流由探针1流入样品自探针4流出样品时根据电位叠加原理在探针2处的电位为在探针 3 处的电位为式中的S1是探针1和2之间的距离S2是探针2和3之间的距离S3是探针3和4之间的距离。
各点的电势应为四个探针在该点形成电势的矢量和。
所以探针2、3 之间的电位为通过数学推导可得四探针法测量电阻率的公式为IVCrrrrIV231341324122311112 3-4 式中13413241211112rrrrC为探针系数单位为cmr12、r24、r13、r34分别为相应探针间的距离见图3-1c。
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910121209.6(22)申请日 2019.02.18(71)申请人 南京隆特集成电路科技有限公司地址 210000 江苏省南京市江北新区星火路17号(72)发明人 南式荣 杨漫雪 胡志远 其他发明人请求不公开姓名 (74)专利代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204代理人 张弛(51)Int.Cl.G01R 27/08(2006.01)(54)发明名称一种四线式电流感测电阻及其测量方法(57)摘要本发明公开了一种四线式电流感测电阻,通过在电阻板表面设置保护层,保护层的保护层主体部分和两个保护层侧翼部分形成十字型隔断将电阻板表面分隔出四个电极容置区域,两个电流输入电极和两个电压探测电极分别设置在四个电极区域内,从而避免为了分隔电极而在电阻板两侧蚀刻精度要求较高的凹槽,降低四线式电流感测电阻的制造难度,提高产品成材率。
同时电阻板两端部设置缺口,通过调整缺口的深度来调整电阻温度系数,减小电阻的TCR。
本发明同时还公开了该电阻的测量方法,该方法能够精确高效的测量电阻的阻值。
权利要求书1页 说明书3页 附图3页CN 109975614 A 2019.07.05C N 109975614A权 利 要 求 书1/1页CN 109975614 A1.一种四线式电流感测电阻,其特征在于,包括绝缘基板、设置于绝缘基板表面的电阻板、保护层、两个电流输入电极以及两个电压探测电极;所述电阻板为长方形电阻板,该长方形电阻板的两条短边的中间部位均具有在电阻板厚度方向贯通的缺口;所述保护层贴覆于电阻板表面,保护层具有自电阻板的一端短边的缺口处延伸至另一端短边的缺口处的保护层主体、自保护层主体分别向电阻板两条长边延伸的两个保护层侧翼,保护层主体和两个保护层侧翼形成十字型隔断将电阻板表面分隔出四个电极容置区域;所述两个电流输入电极分别设置于电阻板同一端的两个电极容置区域内,所述两个电压探测电极分别设置于另外两个电极容置区域内。
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也就是说,首先要求测量表具有4线电阻测量功能,比如这个3458A 的:另外,电阻也要求是四线的:当然,2线电阻也可以用四线电阻的表的四线电阻功能进行测量,此时需要4线开尔文测试夹,可以免除大部分接触电阻和测试线的电阻。
也可以用两个普通万用表加上一个电(流)源,把四线电阻的两个电流端通以电流,串联一个表看电流,用另外一个表测量两个电压端的电压,最后用公式R=V/I计算出电阻。
四线电阻的内部,也是要有两个开尔文接点(Kelvin)四线法的优势,不仅消除了引线电阻和接触电阻,还可以大大减少热电动势的影响。
因为电流端子是发热的源泉,但分开后由于恒流的作用,到底串联多大电阻、甚至串联个电池,都没有关系了,都是恒流的,因此接线端子也可以用很普通的。
另一方面,两个电压端子由于不流过电流,因此不发热,并且距离发热的电流端子保持一定的距离,也可以减少热传导过来,接线端子可以采用低热的。
上海海事大学
硕士学位论文
一种基于电流倒向技术的四线制微弱电阻测量方法
姓名:高玉峰
申请学位级别:硕士
专业:控制理论与控制工程
指导教师:汤天浩;彭建学
20060601
噪声是频谱很平的白噪声,呈高斯分御,并且不可预见。
一个电阻产生的噪声电压由下式决定:
E=4k,Big面(2—1)式中:k:波尔兹曼常数(1.38x10。
23J/K)
Tt绝对温度(K)
B:测量带宽(Hz)
R:电阻阻值(Q)
一个阻值为1M欧姆的电阻在27℃温度下,1KHz带宽时的均方根值为3.4研V。
根据统计学,峰峰值为5倍的均方根值的噪声电压占99%以上,故上述电阻的噪声电压峰峰值为17.32#V。
任何测量仪器都有其特定的理论测量极限,这一极限值就就是由测量线路的电阻所产生的噪声决定(约翰逊噪声)。
可以看出,被测信号源的内阻如果很高,理论允许的测量极限也相应提高。
不同的放大测量仪器所能检测到的微弱信号也是有其各自的极限的,可以从下图看出:
噬岜虫压婴邀虫阻
图2-2各种仪器所能检测到最小信号的理论极限
可测量的信号大小有一个理论极限。
这是由电路中的等效电阻产生的噪声所决定。
由于噪声电压大小正比于阻值、带宽和绝对温度乘积的平方根,因此如果源电阻较大,噪声电压显然也大,可见高的源电阻会限制电压测量的灵敏度。
比如,在1Q源电阻的电路中测量1“v信号是可能的,但在11n源电阻的电路中测量l#V信号则是不可能的。
既使在不人高的1MQ源电阻的电路中测量1“v,。
四探针电阻四探针电阻测量技术是一种常用的电阻测量方法,它通过使用四根导线组成的四探针,将电阻测量电路与待测电阻相连接,以减小导线电阻对测量结果的影响。
在四探针测量中,两根探针起到测量电压的作用,另外两根探针用于测量电流,通过测量电压和电流的比值来计算电阻的值。
四探针电阻测量技术具有精度高、适用范围广的优点,被广泛应用于电子、材料、电化学等领域的电阻测量。
下面将从原理、仪器、应用等方面进行详细介绍。
四探针电阻测量的原理是基于欧姆定律,即电流通过一个电阻的大小与两端的电压成正比。
在传统的二探针电阻测量中,电流通过线路的整个路径,包括电阻和连接电线的导线。
而四探针电阻测量中,电流是通过两根探针之间的电阻来测量,导线的电阻对测量结果的影响几乎可以忽略不计。
四探针电阻测量使用了两对互相独立的探针,其中一对探针用于测量被测电阻上的电压,另一对探针用于测量通过被测电阻的电流。
这种配置能够绕过被测电阻之间的导线电阻,并且减小了外部电磁干扰对测量结果的影响,从而提高了测量的准确度。
四探针电阻测量的仪器主要由三部分组成:电流源,电压测量设备和显示器。
电流源主要用于提供恒定的电流,通常使用交流电源。
电压测量设备一般采用微伏表或数字电压表,用于测量电压。
显示器用于显示测量结果。
四探针电阻测量技术有许多应用。
在半导体材料中,四探针电阻测量可以用于对薄膜电阻、接触电阻和材料表面电阻的测量。
在微电子器件的制造过程中,四探针电阻测量技术可以用于对导电膜、电极和金属线的电阻测量。
此外,四探针电阻测量还可以用于研究材料的电学性质、导电性和电阻率。
总之,四探针电阻测量技术通过使用四根导线组成的四探针,能够减小导线电阻对测量结果的影响,提高测量的准确度。
它是一种精度高、适用范围广的电阻测量方法,在电子、材料、电化学等领域得到了广泛的应用。
四探针电阻测量技术的原理简单明了,仪器配置方便实用,并有多种应用场景。
实验一 四电极法测量半导体材料的电阻一、引言电阻率是评价一种半导体材料电学性能的重要指标,四电极法作为测量电阻率的有效方案之一,在当前的科研实验测试中,被广泛应用,本实验采用四电极法测量半导体硅基片的电阻率。
二、实验目的1、 熟悉四电极法测量半导体材料或者金属薄膜材料电阻率的原理;2、 掌握四电极测量材料电阻率的方法。
三、实验原理半导体材料和金属薄膜材料是现代电子工业技术中广泛应用的重要材料,被广泛应用在微电子期间,微型传感器、微型驱动器等电子器件中。
金属薄膜的电阻率是金属薄膜材料的一个重要物理参量,是科研开发和生产实践中经常需要测量的物理量之一。
四电极电阻测量方法,主要用于半导体、金属薄膜、或者超导体材料等低电阻率样品的测量,使用的仪器和样品接线如图所示四探针法测试原理示意图测试时,四根金属电极和样品表面接触,外侧的1、4为通电流电极,内侧的2、3为测电压电极,由电流源输入小电流使得样品内部产生压降,同时用高阻抗的静电计、电子毫伏表或者数字电压表测出其他两根电极的电压即V 23(V)。
若一块电阻率为ρ的均匀半导体样品,其几何尺寸相对于探针间距来说可以看作无限大,当探针引入的点电流源的电流为I ,由于均匀导体内恒定电场的等位面为球面,则在半径为r 处的等位面的面积为2πr 2,电流密度为:j =1/2πr 2, 根据电导率和电流密度的关系可得:2222jI I E r rρσπσπ===, 则距点电荷r 处的电势为:2I V rρπ=, 半导体内各点的电势应为四个电极在该点形成电势的矢量和,通过数学推导可得四电极法测量电阻率的公式为:式中,11224133411112--+C r r r r π-=()为探针系数,单位为cm ;r 12、r 24、r 13、r 34分别为相应探针间的距离,见上图,若四电极在同一平面的同一条直线上,其间距分别为S 1,S 2,S 3,且S 1 = S 2 = S 3 = S 时,则1232311223311112--+2V V S I S S S S S S Iρππ-=⋅=⋅++() 这就是常见的直流等间距四电极法测电阻率的公式。
四线法电阻测试标准
一、测试设备
1. 电阻测试仪:应采用四线法电阻测试仪,其精度应不低于1%。
2. 测试线:测试线应采用截面积不小于0.5mm²的绝缘线,长度不宜超过10m。
3. 测试夹具:测试夹具应具有足够的刚性和稳定性,不易变形和松动。
4. 电源:应提供稳定的直流电源,电压范围为0-100V。
二、测试环境
1. 温度:测试环境温度应保持在20±5℃范围内。
2. 湿度:测试环境湿度应保持在相对湿度不大于80%的范围内。
3. 防干扰:测试环境中应无强磁场和电场干扰。
三、测试方法
1. 准备工作:将被测电阻按要求连接在测试仪上,并确保连接牢固、可靠。
2. 设定参数:根据被测电阻的额定参数设置测试仪的电压、电流等参数。
3. 开始测试:按照测试仪说明书的要求进行测试操作,记录测试数据。
4. 数据处理:根据测试数据计算电阻值、温度系数等指标,并进行数据分析。
四、测试精度
1. 电阻值精度:测试结果的精度应不低于±2%。
2. 温度系数精度:测试结果的精度应不低于±5%。
五、安全注意事项
1. 测试时应注意安全,避免触电事故的发生。
2. 测试过程中如发现异常情况,应立即停止测试并及时处理。
3. 测试完毕后应对测试设备进行检查和维护,确保其正常运行。
用数字万用表精确测量小电阻摘要:提出用“四线”和“馈线补偿法”精确测量小电阻的方法,并给出了实验结果。
关键词:四线测量;馈线补偿;恒流1引言数字万用表测量电阻是通过测量恒流源电流I流过被测电阻RX所产生的电压Vx实现的。
通过对Vx数字化及小数点移位便可得到Rx的数字化值。
原理框图如图1:测试时,恒流源电流I通过Hi-Lo端和测量线馈送至被测电阻Rx,电压测量端S1、S2通过短路线接至Hi-Lo端。
数字万用表实际测量到的电阻值包括被测电阻Rx及馈线电阻RL1和RL2。
当测量的电阻阻值较小时,馈线电阻产生的误差就不容忽视。
如何用现有的数字万用表精确测量阻值很小的电阻是工程技术人员经常遇到的问题。
2四线测量四线测量是将恒流源电流流入被测电阻R的两根电流线和数字万用表电压测量端的两根电压线分离开,使得数字万用表测量端的电压不再是恒流源两端的直接电压,如图2所示。
从图中可以看出,四线测量法比通常的测量法多了两根馈线,断开了电压测量端与恒流源两端连线。
由于电压测量端与恒流源端断开,恒流源与被测电阻Rx、馈线RL1、RL2构成一个回路。
送至电压测量端的电压只有Rx两端的电压,馈线RL1、RL2电压没有送至电压测量端。
因此,馈线电阻RL1和RL2对测量结果没有影响。
馈线电阻RL3和RL4对测量有影响,但影响很小,由于数字万用表的输入阻抗(MΩ级)远大于馈线电阻(Ω级),所以,四线测量法测量小电阻的准确度很高。
不过,四线测量中的恒流源电流的精确度非常关键。
建议采用外加的更稳定的恒流源电流;应注意的是,外加的恒流源电流的大小要与数字万用表恒流源电流的大小相等。
我们采用的外加的恒流源电流由高精密基准电压源MAX6250、运放及扩流复合管组成,如图3所示。
电压源MAX6250的温漂≤2ppm/℃,时漂ΔV out/t=20ppm/1000h。
I取800μA~1mA,R是极低温漂线绕电阻(若取I=1mA,R=5kΩ),这时I的温漂和时漂相当于MAX6250的水平。
、普通二线测试原理
通常的开短路测试方法即为普通二线测试,如下图所示,二线测试是目前普遍应用的一种技术指导文件。
二线测试只有一个回路,所测得的阻抗为+,即所测得的阻抗为馈线电阻和待测线路阻值之和,故无法精确测定被测之低阻值。
但因为开路测试的条件一般为Ω,故馈线电阻影响不大,可以忽略不计。
二线测试的精度虽然不高,但是用来判断线路的开短路已经能满足绝大部分的印制线路板的需要。
但仅适用于完全断线、完全孔断之测试,对于低阻值测试则无能为力。
、低阻四线测试原理
开尔文连接方式(或称四线测试方式)如下图所示,开尔文连接有两个要求:对于每个测试点都有一条激励线和一条检测线,二者严格分开,各自构成独立回路。
同时要求检测线必须接到一个有极高输入阻抗的测试回路上,使流过检测线的电流极小,近似为零。
激励线即是电流供给回路,检测线即是电压测定回路,电流、电压两回路各自独立。
电流供给回路两端子与电压测定回路两端子共计四端子,故称四线测试。
≒ (因 (小电流)再乘上小电阻得到更小的压降),因电压表的内部阻抗非常高(Ω级),远远大于电压测定回路的馈线电阻和(Ω级),使得几乎全部的电流流经过,流经电压表的电流几乎为零,故所量到的电压也几乎是本身的压降,馈线电阻完全可以忽略,使所测得的几乎近似于本身,由此可精确测定被测之微小阻值,其四线测试的测试精度可达到Ω级。
Kelvin四线测试电阻技术及应用1 引言在半导体工艺中许多器件的重要参数和性能都与薄层电阻有关,为提高厚、薄膜集成电路和片式电阻的生产精度,需要使用设备仪器如探针台、激光调阻机对其进行测试或修调。
一般所用的测量仪器或设备都包含连接、激励、测量和显示单元,有时还有后期数据处理单元。
采用不同的测量方法和不同的连接方式引入的测量误差不同,得到的测量精度也不同。
通常开关矩阵中继电器触点闭合电阻为1Ω左右,FET开关打开时的电阻为十几欧,引线电阻为几百毫欧。
如何根据需要减少测量误差是测试技术的关键之一。
2 电阻测试基本原理在电阻测试中我们常采用恒流测压方法、惠斯通电桥(单臂电桥)和双臂电桥方法。
2.1 恒流测压方法图1中, r是引线电阻与接触电阻之和;I是程控恒流电流源; V是具有极高输入阻抗的电压表,它对恒流电流源不产生分流作用。
施加已知的恒定电流I,流过被测电阻R t,然后测量出电阻两端的电压V,当R t>> r时,根据公式Rt=V/ I就可算出电阻值。
2.2 惠斯通电桥方法图2中,V1,V 2是程控恒电压源;Rstd是标准电阻; Rt是被测电阻;I是电流表。
当电桥平衡即流过电流表I的电流为零时,有V1 /V2=Rstd/R t,由此可计算出Rt =R std×V2/V1 。
2.3 双臂电桥方法单臂电桥测量范围为10~106 Ω,单电桥测几欧姆的低电阻时,引线电阻和接触电阻已经不可忽略。
而双臂电桥适用于10-6~102 Ω电阻的测量,它是改进的单臂电桥,如图3。
将电桥中的中低电阻 Rt和R改成四端接法,并在桥路中增加两个高阻电阻R3和R4,则大大降低了引线电阻和接触电阻的影响。
详细介绍参见文献[1]。
本文主要介绍恒流测压法。
当被测电阻阻值远远大于测试引线电阻和测试探针与测试点的接触电阻时,采用图1所示的两线测试的基本方法是可行的,并且也可以获得相当高的测试精度。
3 开尔文连接测试技术当被测电阻阻值小于几欧,测试引线的电阻和探针与测试点的接触电阻与被测电阻相比已不能忽略不计时,若仍采用两线测试方法必将导致测试误差增大。
基于开尔文四线法进行接触电阻的测量实例ASTM的方法B539 “测量电气连接的接触电阻”和MIL-STD-1344的方法3002“低信号电平接触电阻”是通常用于测量接触电阻的两种方法。
通常,一些基本的原则都采用开尔文四线法进行接触电阻的测量。
接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻。
这类测量是在诸如连接器、继电器和开关等元件上进行的。
接触电阻一般非常小其范围在微欧姆到几个欧姆之间。
根据器件的类型和应用的情况,测量的方法可能会有所不同。
测量方法 图4-42 说明用来测试一个接点的接触电阻的基本配置。
使用具有四端测量能力的欧姆计,以避免在测量结果中计入引线电阻。
将电流源的端子接到该接点对的两端。
取样(Sense)端子则要连到距离该接点两端电压降最近的地方。
其目的是避免在测量结果中计入测试引线和体积电阻(bulk resistance)产生的电压降。
体积电阻就是假定该接点为一块具有相同几何尺寸的金属实体,而使其实际接触区域的电阻为零时,整个接点所具有的电阻,设计成只有两条引线的器件有的时候很难进行四线连接。
器件的形式决定如何对其进行连接。
一般,应当尽可能按照其正常使用的状态来进行测试。
在样品上放置电压探头时不应当使其对样品的机械连接产生影响。
例如,焊接探头可能会使接点发生不希望的变化。
然而,在某些情况下,焊接可能是不可避免的。
被测接点上的每个连接点都可能产生热电动势。
然而,这种热电动势可以用电流反向或偏置补偿的方法来补偿。
干电路(Dry Circuit)测试 通常,测试接点电阻的目的是确定接触点氧化或其它表面薄膜积累是否增加了被测器件的电阻。
即使在极短的时间内器件两端的电压过高,也会破坏这种氧化层或薄膜,从而破坏测试的有效性。
击穿薄膜所需要的电压电平通常在30mV到100mV的范围内。
在测试时流过接点的电流过大也能使接触区域发生细微的物理变化。
电流产生的热量能够使接触点及其周围区域变软或熔解。
四线电阻测量方法四线电阻测量方法是一种用于测量电阻值的常用方法,它通过使用四根导线来减小电阻测量系统的误差,提高测量的准确性。
本文将介绍四线电阻测量方法的原理和步骤,以及其在实际应用中的优势。
一、四线电阻测量方法的原理四线电阻测量方法利用了导线的电阻和电流的传输特性,通过分别测量电流和电压来计算出被测电阻的值。
它的原理基于欧姆定律和电压分压原理。
在传统的两线电阻测量方法中,电流通过被测电阻和测量导线的电阻,导致测量结果产生误差。
而四线电阻测量方法通过使用两根测量电流的导线和两根测量电压的导线,将电流和电压分开传输,消除了测量导线的电阻对测量结果的影响。
1. 连接仪器:将被测电阻与四线电阻测量仪器相连。
确保连接牢固稳定,避免接触不良。
2. 设置测量范围:根据被测电阻的预估值,选择合适的测量范围。
如果预估值较大,则选择较大的测量范围,以提高测量的准确性。
3. 接线:将仪器的两根测量电流的导线分别与被测电阻的两端相连,将仪器的两根测量电压的导线分别与被测电阻两端的两个焊点相连。
4. 测量电流:打开仪器,设定合适的电流值,通过测量电流的导线传输电流至被测电阻。
5. 测量电压:测量电压的导线将被测电阻两端的电压传输至仪器。
6. 计算电阻值:根据测量电流和电压的数值,利用欧姆定律计算出被测电阻的值,即R=U/I。
三、四线电阻测量方法的优势1. 准确性高:四线电阻测量方法能够消除测量导线的电阻对测量结果的影响,提高了测量的准确性。
2. 稳定性好:由于测量电流和电压分开传输,四线电阻测量方法能够提供更稳定的测量结果。
3. 适用范围广:四线电阻测量方法适用于各种电阻值的测量,无论是小电阻值还是大电阻值。
4. 方便快捷:四线电阻测量方法操作简单,只需连接好导线,设定合适的测量范围和电流值,即可进行测量。
5. 适用于低阻值测量:四线电阻测量方法对于低阻值测量尤为适用,可以提供更准确的测量结果。
总结:四线电阻测量方法是一种准确可靠的电阻测量方法,通过使用四根导线分别传输电流和电压,消除了测量导线的电阻对测量结果的影响。
开尔文四线检测Kelvin Four-terminal sensing开尔文四线检测(Kelvin Four-terminal sensing)也被称之为四端子检测(4T检测,4T sensing)、四线检测或4点探针法,它是一种电阻抗测量技术,使用单独的对载电流和电压检测电极,相比传统的两个终端(2T)传感能够进行更精确的测量。
开尔文四线检测被用于一些欧姆表和阻抗分析仪,并在精密应变计和电阻温度计的接线配置。
也可用于测量薄膜的薄层电阻。
四线检测的关键优点是分离的电流和电压的电极,消除了布线和接触电阻的阻抗。
四线检测感应也被称为开尔文(Kelvin)检测,威廉·汤姆森·开尔文勋爵(William Thomson, Lord Kelvin)在1861年发明的开尔文电桥测量低电阻。
每两线连接,可以称得上是Kelvin连接。
原理假设我们希望一些组件位于一个显着的距离从我们的欧姆表测量电阻。
这种情况下会产生问题,因为欧姆表测量所有的电路回路中的电阻,它包括导线的电阻(R wire)连接的欧姆表被测量组件(R subject):通常情况下,导线的电阻是非常小的(仅几欧姆的导线上的压力表(大小),主要取决于每数百英尺),但如果连接线很长,和/或待测组分有一个非常反正低电阻,引入线电阻测量误差将是巨大的。
在这样的情况下的电阻测量主体的一个巧妙的方法,涉及的电流表和电压表的使用。
我们知道,从欧姆定律,电阻等于电压除以电流(R = E / I)。
因此,我们应该能够确定电阻的主体成分,如果我们测量的电流通过,并且两端的电压下降电流在电路中的所有点相同,因为它是一个串联回路。
因为我们只测量电压下降的整个主体电阻(而不是导线的电阻)。
不过,我们的目标,是从远处来衡量这个主题性,所以我们必须位于电压某处附近电流表,由另一对含有电阻的导线跨接受阻力:起初,我们似乎已经失去了任何电阻测量这种方式的优点,因为现在电压表测量电压通过长着一双引入杂散电阻(电阻)线,再次进入测量电路。
基于四线测量法的智能微电阻测试仪设计张朵;许宜申;吴茂成;肖龙飞;周思阳;朱欣华【期刊名称】《电测与仪表》【年(卷),期】2015(000)010【摘要】针对低电阻精确测量的应用需求,设计了一种基于四线测量法的智能高精度微电阻测试仪。
系统采用模块化设计方式,包括供电电源、恒流源、A/D转换、显示与按键等单元。
测试仪采用四线测量法,将电流流入回路和电压测量回路分开接线,并通过在电压提取端设计电压跟随器,使电压测量引线上的电流为零,可避免引线电阻和接触电阻对微小电阻测量的影响,大大提高系统的测量精度。
实验测试结果表明:该仪器可以实现1μΩ~2MΩ范围内电阻值的高精度自动测量,同时还具有电阻分选功能,可与自动化生产线相连,完成电阻参数的分选工作。
【总页数】7页(P29-34,55)【作者】张朵;许宜申;吴茂成;肖龙飞;周思阳;朱欣华【作者单位】苏州大学物理与光电· 能源学部,江苏苏州215006;苏州大学物理与光电· 能源学部,江苏苏州215006;苏州大学物理与光电· 能源学部,江苏苏州215006;苏州大学物理与光电· 能源学部,江苏苏州215006;苏州大学物理与光电· 能源学部,江苏苏州215006;南京理工大学机械工程学院,南京210094【正文语种】中文【中图分类】TM93【相关文献】1.智能高精度微电阻测试仪 [J], 黄义雄;黄丽2.基于MSP430的微电阻测试仪的设计 [J], 张安莉;谢檬;王娟3.基于四线法的微电阻现场测量方法 [J], 王浩; 肖晶晶4.基于AVR单片机的微电阻测试仪研究 [J], 权晓红5.基于单片机的语音播报智能化电阻测试仪设计 [J], 邹飞;黄华;祝诗平因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。