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jtag边界扫描的概念
边界扫描（Boundary Scan）是一种测试技术，用于在集成电路板内进行测试，特别是对于那些无法通过传统的测试方法进行测试的复杂电路板。
它利用在每个芯片的输入输出管脚上增加的移位寄存器单元（Boundary-Scan Register Cell），这些寄存器单元分布在芯片的边界上，被称为边界扫描寄存器。
在JTAG调试中，边界扫描是一个非常重要的概念。
当需要调试芯片时，这些寄存器将芯片与外围电路隔离，实现对芯片输入输出信号的观察和控制。
对于输入管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把数据加载到该管脚中；对于输出管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕获”（CAPTURE）该管脚上的输出信号。
正常运行状态下，这些边界扫描寄存器单元对芯片是透明的，所以正常的运行不会受到影响。
另外，芯片输入输出管脚上的边界扫描（移位）寄存器单元可以相互连接起来，在芯片的周围形成一个边界扫描链（Boundary-Scan Chain）。
它可以串行地输入和输出，通过相应的时钟信号和控制信号，实现对处在调试状态下的芯片的输入和输出状态的观察和控制。
一般的芯片都会提供几条独立的边界扫描链，对边界扫描链的控制主要是通过TAP（Test Access Port）Controller来完成。
以上内容仅供参考，如需更多信息，建议查阅相关文献或咨询专业人士。
JTAG电路的工作原理JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它是一种通用的、硬件辅助的测试方法，可以用于验证芯片的功能和性能，以及进行故障诊断和调试。
JTAG电路的工作原理是基于一种被称为“Boundary Scan”的技术。
Boundary Scan是一种在芯片的边界上添加了一系列的测试逻辑和控制逻辑的方法。
这些逻辑电路通过JTAG接口与外部测试设备连接，可以对芯片内部的信号和电路进行测试和控制。
JTAG电路由四个主要组件组成：Test Access Port (TAP)、Instruction Register (IR)、Data Register (DR)和Boundary Scan Register (BSR)。
首先，TAP是JTAG电路的核心组件，它负责与外部测试设备进行通信。
TAP 包括两个状态机：Test-Logic-Reset (TLR)状态机和Run-Test/Idle (RTI)状态机。
TLR 状态机用于初始化和复位电路，而RTI状态机用于执行测试和调试操作。
其次，IR是一个用于存储指令的寄存器。
通过JTAG接口，外部测试设备可以向IR中加载不同的指令，用于控制芯片的测试和调试操作。
常见的指令包括读取和写入数据、设置和清除寄存器等。
然后，DR是一个用于存储数据的寄存器。
通过JTAG接口，外部测试设备可以向DR中加载测试数据，或者从DR中读取测试结果。
这样可以实现对芯片内部信号和电路的测试和调试。
最后，BSR是一组用于测试芯片边界上的信号和电路的寄存器。
它包含了一系列的扫描链，每一个扫描链都与芯片边界上的一个信号或者电路相连。
通过JTAG 接口，外部测试设备可以对BSR中的扫描链进行操作，以实现对芯片边界上信号和电路的测试和调试。
JTAG电路的工作流程如下：1. 初始化和复位：外部测试设备通过TAP的TLR状态机将芯片初始化和复位，确保芯片处于可测试状态。
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boundaryscan应用实例-回复什么是boundary scan技术？Boundary scan技术，又称JTAG（Joint Test Action Group）技术，是一种用于芯片级电路板测试和诊断的技术。
它使用了IEEE标准1149.1定义的边界扫描链（Boundary Scan Chain），通过在电路板上的闩锁功能来实现对芯片上的引脚的测试和调试。
Boundary scan技术的原理和功能如何工作？Boundary scan技术的原理基于一种边界扫描链结构（Boundary Scan Chain），该链将所有芯片引脚连接起来形成一个环。
这个环具有使能信号和测试控制信号，通过这些信号的控制，可以将测试数据从一个引脚传输到另一个引脚，实现对芯片引脚的测试和调试。
Boundary scan技术的功能主要有以下几个方面：1. 电路连通性测试：通过boundary scan技术，可以检测和诊断电路板上信号线的连通性是否良好，以及是否存在断路和短路。
2. 引脚功能测试：通过boundary scan技术，可以实时测试和诊断芯片引脚的功能是否正常。
这对于芯片级的调试和故障排除非常有用。
3. 元件配置和诊断：通过boundary scan技术，可以识别和配置电路板上的各种元件，例如存储器、逻辑门等。
这可以帮助工程师更好地了解电路板的组成和功能。
4. 容错性检查：通过boundary scan技术，可以检查电路板上的信号线是否遵循电气特性，例如正确的电阻和电容值。
这对于确保电路板的稳定性和可靠性至关重要。
Boundary scan技术的应用实例1. 电子设备制造：Boundary scan技术可以在生产线上用于测试和验证电子设备的电路板，以确保其质量和可靠性。
它可以有效地检测和排除电路板上的连通性问题和故障，提高生产效率和产品质量。
2. 电路板维修：当电子设备发生故障时，boundary scan技术可以用于定位和修复故障点。
IEEE1149.1标准是一项用于测试和故障诊断集成电路的重要标准，而JTAG（Joint Test Action Group）是这项标准的主要推动者之一。
本文将对IEEE1149.1标准进行解析，从其定义、原理、应用等多个角度进行分析，帮助读者更好地理解和应用这一标准。
一、 IEEE1149.1标准的定义IEEE1149.1标准，也称为边界扫描标准或JTAG标准，是一项由IEEE 制定的用于测试集成电路的标准。
该标准于1990年发布，已被广泛应用于半导体工业、电子制造业等领域。
通过在芯片内部设置边界扫描链，可以实现对芯片内部连接和状态的测试和调试，从而提高了集成电路的可靠性和稳定性。
二、 IEEE1149.1标准的原理1. 边界扫描链IEEE1149.1标准的核心是边界扫描链（boundary scan ch本人n），通过在集成电路的引脚上添加扫描逻辑，实现了对芯片内部连接和状态的测试。
这种边界扫描链可以将芯片的内部引脚与外部引脚进行连接，从而实现对芯片内部信号的观测和控制。
2. TAP控制器IEEE1149.1标准还引入了TAP（Test Access Port）控制器，用于与边界扫描链进行通信和控制。
TAP控制器可以对边界扫描链进行初始化、数据传输和状态控制，从而实现对集成电路的测试和调试。
三、 IEEE1149.1标准的应用1. 芯片测试IEEE1149.1标准最主要的应用是用于集成电路的测试。
通过在芯片内部设置边界扫描链，可以实现对芯片内部连接和状态的测试，从而发现潜在的故障和缺陷。
2. 芯片调试除了测试功能，IEEE1149.1标准还可以用于集成电路的调试。
通过边界扫描链和TAP控制器，工程师可以对集成电路进行状态观测和信号控制，从而快速定位和分析故障原因。
3. 芯片编程IEEE1149.1标准还可以用于集成电路的编程。
一些可编程逻辑器件（如FPGA）可以通过边界扫描信息口进行编程，实现对逻辑器件内部配置和状态的控制。
什么是边界扫描(boundary scan)?Boundary Scan测试原理及实现JTAG标准的IC芯片结构IEEE 1149.1 标准背景JTAG什么是边界扫描(boundary scan)?边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术，是在传统的在线测试不在适应大规模，高集成电路测试的情况下而提出的，就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。
这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。
当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。
除了上面的移位寄存器外，在IC上还集成测试访问端口控制器 (TAP controller),指令寄存器(Instruction register)对边界扫描的指令进行解码以便执行各种测试功能。
旁路寄存器(bypass register)提供一个最短的测试通路。
另外可能还会有IDCODE register和其它符合标准的用户特殊寄存器。
边界扫描器件典型特征及边界扫描测试信号的构成。
如果一个器件是边界扫描器件它一定有下面5个信号中的前四个：1．TDI (测试数据输入)2．TDO (侧试数据输出)3．TMS (测试模式选择输入)4．TCK (测试时钟输入)5．TRST (测试复位输入，这个信号是可选的)TMS,TCK,TRST构成了边界扫描测试端口控制器(TAP controller)，它负责测试信号指令的输入，输出，指令解码等，TAP controller是一个16位的状态机，边界扫描测试的每个环节都由它来控制，所以要对TAP controller有一个比较清楚的了解。
在后续的文章中还会向大家介绍边界扫描的其它方面。
边界扫描为开发人员缩短开发周期，并且提供良好的覆盖率和诊断信息。
文档来源为:从网络收集整理.word版本可编辑.欢迎下载支持. 集成电路测试方法研究目录1 边界扫描测试方法 ....................................................................................................... 错误!未定义书签。
1.1边界扫描基本状况 ................................................................................................... 错误!未定义书签。
1.2IEEE S TD 1149.1 ........................................................................................................ 错误!未定义书签。
1.3IEEE S TD 1149.4 ........................................................................................................ 错误!未定义书签。
1.4IEEE S TD 1149.5 ........................................................................................................ 错误!未定义书签。
1.5IEEE S TD 1149.6 ........................................................................................................ 错误!未定义书签。
JTAG技术俗称边界扫描技术，是近代发展起来的高级测试技术。
随着电子技术的高速发展，电路已经进入超大规模时代，芯片的封装技术也日新月异，从最初的DIP到QFP，已经当今的BGA，电路的物理可测试性正在逐渐消失。
为了寻找更先进的测试技术，1985年，IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips、Siemens、Alcatel、Ericsson等几家公司联合成立了JETAG(Joint European Test Action Group欧洲联合测试行动小组)，并提出边界扫描技术。
通过存在于器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC(Boundary Scan Cell)对器件及其外围电路进行测试。
1986年，一些欧洲之外的其他公司加入该组织，JETAG组织的成员已不仅仅局限在欧洲，所以该组织名称由JETAG更改为JTAG。
1990年，IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers，美国电气和电子工程师协会)正式承认JTAG标准，命名为IEEE1149.1-1990。
JTAG主要有以下几个方面应用：1).互连测试。
判断互连线路是否存在开路、短路或固定逻辑故障。
2).可编程器件的程序加载。
如FLASH、CPLD、FPGA等器件的加载。
3).电路采样。
器件正常工作时，对管脚状态进行采样观察。
JTAG测试一般使用标准的TAP(Test Access Port)连接器,如下图所示。
A).1号脚为TCK。
JTAG测试参考时钟，由JTAG主控制器提供给被测试器件，该信号需要下拉处理，下拉电阻不能小于330ohm，一般选择1Kohm。
之所以TCK 要下拉处理，是因为JTAG测试规范规定：在TCK为低电平时，被测试器件的TAP 状态机不得发生变化。
所以，默认状态下，TCK必须为低电平，使TAP状态机保持稳定。
最小驱动电流为2mA。
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它是一种基于串行通信的技术，可以通过该接口与芯片内部的测试和调试电路进行通信，从而实现对芯片的测试、调试、编程和故障诊断等功能。
本文将详细解释JTAG工作原理及其相关概念。
1. JTAG的基本原理JTAG接口由四根线组成，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
其中，TCK是用于控制测试操作的时钟信号，TMS是用于控制测试模式的信号，TDI是用于输入测试数据的信号，TDO是用于输出测试数据的信号。
2. JTAG的状态机JTAG使用状态机来控制测试和调试操作。
状态机有三种基本状态：Test-Logic-Reset（TLR）、Run-Test/Idle（RTI）和Select-DR-Scan（SDRS）。
在TLR 状态下，芯片的测试逻辑电路被复位，此时可以进行芯片的初始化操作。
在RTI 状态下，芯片处于正常运行状态，可以进行功能测试。
在SDRS状态下，可以对芯片的数据寄存器进行扫描操作。
3. JTAG的扫描链JTAG使用扫描链来实现对芯片内部寄存器的访问。
扫描链是由多个寄存器组成的链式结构，每个寄存器都有一个数据输入端和一个数据输出端。
通过TCK、TMS、TDI和TDO信号，可以对扫描链中的寄存器进行数据输入和输出操作。
4. JTAG的测试模式JTAG定义了多种测试模式，用于测试和调试不同的功能和电路。
常用的测试模式包括Boundary-Scan（边界扫描）模式和Internal-Scan（内部扫描）模式。
Boundary-Scan模式用于测试芯片的引脚和与引脚相关的电路。
Internal-Scan模式用于测试芯片内部的逻辑电路和寄存器。
5. JTAG的应用JTAG广泛应用于集成电路的测试和调试领域。
什么是边界扫描(boundary scan)?Boundary Scan测试原理及实现JTAG标准的IC芯片结构IEEE 1149.1 标准背景JTAG什么是边界扫描(boundary scan)?边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术，是在传统的在线测试不在适应大规模，高集成电路测试的情况下而提出的，就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。
这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。
当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。
除了上面的移位寄存器外，在IC上还集成测试访问端口控制器 (TAP controller),指令寄存器(Instruction register)对边界扫描的指令进行解码以便执行各种测试功能。
旁路寄存器(bypass register)提供一个最短的测试通路。
另外可能还会有IDCODE register和其它符合标准的用户特殊寄存器。
边界扫描器件典型特征及边界扫描测试信号的构成。
如果一个器件是边界扫描器件它一定有下面5个信号中的前四个：1．TDI (测试数据输入)2．TDO (侧试数据输出)3．TMS (测试模式选择输入)4．TCK (测试时钟输入)5．TRST (测试复位输入，这个信号是可选的)TMS,TCK,TRST构成了边界扫描测试端口控制器(TAP controller)，它负责测试信号指令的输入，输出，指令解码等，TAP controller是一个16位的状态机，边界扫描测试的每个环节都由它来控制，所以要对TAP controller有一个比较清楚的了解。
在后续的文章中还会向大家介绍边界扫描的其它方面。
边界扫描为开发人员缩短开发周期，并且提供良好的覆盖率和诊断信息。
jtag时序定义-回复"JTAG时序定义"JTAG或称为边界扫描测试（Boundary Scan Test）是一种用于测试和诊断集成电路（IC）的技术。
它是通过在IC的边界上添加额外的逻辑电路来实现的。
这些电路允许对IC进行测试，在设计和制造过程的各个阶段进行故障诊断和调试。
在深入了解JTAG的工作原理和时序定义之前，我们先来了解一下JTAG 的基本原则以及其在现代电子设备中的作用。
JTAG的基本原则是通过在电路的边界上引入一个环形移位寄存器（Chain），使所有的逻辑设备连接在一起，并能够通过一个统一的接口进行访问。
这种连接方式允许通过JTAG接口逐个扫描移位寄存器，并对每个设备进行测试和诊断。
这对于检测和修复复杂电子系统中的开放和短路等问题至关重要。
现代电子设备中的许多组件都支持JTAG接口，并采用了标准的JTAG时序定义。
这些时序定义包括：Test-Logic-Reset（TLR）、Run-Test/Idle （RTI）、Shift-IR（SIR）、Shift-DR（SDR）和更新数据寄存器（Update-IR/DR）等。
首先，Test-Logic-Reset（TLR）是JTAG测试时序的起始点。
在TLR期间，所有的边界扫描寄存器（BSR）和移位寄存器都会被清零并重置到其初始状态。
这个步骤确保了一个可重复的测试状态，为后续的测试做好准备。
接下来是Run-Test/Idle（RTI）期间。
在RTI期间，设备会处于一个空闲状态，等待后续的指令。
这个步骤对于等待外部指令是非常重要的，例如Shift-IR、Shift-DR或者其他执行测试和诊断操作的指令。
Shift-IR（SIR）和Shift-DR（SDR）是JTAG测试过程中最重要的两个步骤。
在Shift-IR期间，所有设备的指令被逐个扫描进入其边界扫描寄存器中。
每个设备都会根据其扫描链长度移动指令位。
Shift-DR期间则是将数据从一个设备的输出移入下一个设备的输入。
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它提供了一种快速、可靠且灵活的方式来访问和控制集成电路内部的信号和数据。
本文将详细解释JTAG的工作原理，包括其基本原理、信号线定义、工作模式和应用案例。
1. 基本原理：JTAG是一种串行测试接口，它通过一组定义好的信号线与目标芯片进行通信。
这些信号线包括TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO （数据输出线）。
通过这些信号线，测试设备可以向目标芯片发送指令、读取和写入内部寄存器的数据，并监测芯片的状态。
2. 信号线定义：- TCK（Test Clock）：时钟信号，用于同步数据传输。
- TMS（Test Mode Select）：状态信号，用于选择测试模式。
- TDI（Test Data Input）：数据输入信号，用于向目标芯片发送数据。
- TDO（Test Data Output）：数据输出信号，用于从目标芯片读取数据。
3. 工作模式：JTAG定义了四种工作模式，分别是测试模式（Test-Logic-Reset）、数据扫描模式（Shift-DR）、配置模式（Shift-IR）和用户模式（Run-Test/Idle）。
- 测试模式：在测试模式下，目标芯片被复位并进入测试状态，以便进行测试和调试操作。
- 数据扫描模式：在数据扫描模式下，通过TMS信号的控制，可以将数据从测试设备中移入或移出目标芯片的寄存器，用于读取或写入内部数据。
- 配置模式：在配置模式下，可以对目标芯片的配置寄存器进行读取或写入操作，用于配置芯片的功能和参数。
- 用户模式：在用户模式下，目标芯片正常运行，可以执行其设计的功能。
4. 应用案例：JTAG广泛应用于集成电路的测试和调试中。
以下是一些常见的应用案例：- 芯片测试：通过JTAG接口，可以对芯片进行功能测试、电气特性测试和边界扫描测试，以确保芯片的正常工作。
