第四章晶体中的点缺陷与线缺陷作业题答案
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第四章晶体结构缺陷习题与解答4.1 名词解释(a)弗伦克尔缺陷与肖特基缺陷;(b)刃型位错和螺型位错解:(a)当晶体热振动时,一些能量足够大的原子离开平衡位置而挤到晶格点的间隙中,形成间隙原子,而原来位置上形成空位,这种缺陷称为弗伦克尔缺陷。
如果正常格点上原子,热起伏后获得能量离开平衡位置,跃迁到晶体的表面,在原正常格点上留下空位,这种缺陷称为肖特基缺陷。
(b)滑移方向与位错线垂直的位错称为刃型位错。
位错线与滑移方向相互平行的位错称为螺型位错。
4.2试述晶体结构中点缺陷的类型。
以通用的表示法写出晶体中各种点缺陷的表示符号。
试举例写出CaCl2中Ca2+置换KCl中K+或进入到KCl间隙中去的两种点缺陷反应表示式。
解:晶体结构中的点缺陷类型共分:间隙原子、空位和杂质原子等三种。
在MX 晶体中,间隙原子的表示符号为MI或XI;空位缺陷的表示符号为:VM或VX。
如果进入MX晶体的杂质原子是A,则其表示符号可写成:AM或AX(取代式)以及Ai(间隙式)。
当CaCl2中Ca2+置换KCl中K+而出现点缺陷,其缺陷反应式如下:CaCl2++2Cl ClCaCl2中Ca2+进入到KCl间隙中而形成点缺陷的反应式为:CaCl2+2+2Cl Cl4.3在缺陷反应方程式中,所谓位置平衡、电中性、质量平衡是指什么?解:位置平衡是指在化合物MaXb中,M格点数与X格点数保持正确的比例关系,即M:X=a:b。
电中性是指在方程式两边应具有相同的有效电荷。
质量平衡是指方程式两边应保持物质质量的守恒。
4.4(a)在MgO晶体中,肖特基缺陷的生成能为6ev,计算在25℃和1600℃时热缺陷的浓度。
(b)如果MgO晶体中,含有百万分之一mol的Al2O3杂质,则在1600℃时,MgO晶体中是热缺陷占优势还是杂质缺陷占优势?说明原因。
解:(a)根据热缺陷浓度公式:exp(-)由题意△G=6ev=6×1.602×10-19=9.612×10-19JK=1.38×10-23 J/KT1=25+273=298K T2=1600+273=1873K298K:exp=1.92×10-511873K:exp=8×10-9(b)在MgO中加入百万分之一的Al2O3杂质,缺陷反应方程为:此时产生的缺陷为[ ]杂质。
3-1纯金属晶体中主要点缺陷类型有肖脱基空位和弗兰克空位,还有和弗兰克空位等量的间隙原子。
点缺陷附近金属晶格发生畸变,由此会引起金属的电阻增加,体积膨胀,密度减小;同时可以加速扩散,过饱和点缺陷还可以提高金属的屈服强度。
3-2答:在一定的温度下总是存在一定浓度的空位,这是热力学平衡条件所要求的,这种空位浓度为空位平衡浓度。
影响空位浓度的主要因素有空位形成能和温度。
3-3解:由exp(/)E V C A E kT =-138502201exp(/)111051000exp[()] 6.9510exp(/)29311238.31E V E V C A E kT C A E kT -⨯==-⨯=⨯- 3-4解:6002300112exp(/)11exp[()]exp(/)E V V E V C A E kT E C A E kT kT kT -==-⨯- 56600300121111ln/()8.61710(ln10)/() 1.98573873E V E C E eV C kT kT -=-=⨯⨯-=或190kJ/mol 3-5解:exp(/)e V C A E kT =-exp(/)i i C A E kT '=-由题设,A A '=,0.76, 3.0v i E eV E eV ==, 所以当T=293K 时538exp(/)exp()/exp[(3.00.76)/(8.61710293)] 3.3910exp(/)e V i V i i C A E kT E E kT C A E kT --==-=-⨯⨯=⨯'-当T=773K 时514exp(/)exp()/exp[(3.00.76)/(8.61710773)] 4.0210exp(/)e V i V i i C A E kT E E kT C A E kT --==-=-⨯⨯=⨯'-3-6答:1为左螺旋位错,2为负刃型位错,3为右螺旋位错,4为正刃型位错。
晶体缺陷习题及答案晶体缺陷习题及答案晶体缺陷是固体材料中晶格结构的一种缺陷或不完美。
它们可以是原子、离子、分子或电子的缺陷,对材料的性质和行为有着重要的影响。
在材料科学和固体物理学中,研究晶体缺陷是一项重要的课题。
下面将为大家提供一些晶体缺陷的习题及答案,希望能够帮助大家更好地理解和掌握这一领域的知识。
习题一:什么是晶体缺陷?请简要描述一下晶体缺陷的种类。
答案:晶体缺陷是指固体材料中晶格结构的缺陷或不完美。
晶体缺陷可以分为点缺陷、线缺陷和面缺陷三种类型。
点缺陷包括空位、间隙原子、替位原子和杂质原子等;线缺陷包括位错和螺旋位错等;面缺陷包括晶界、堆垛层错和孪晶等。
习题二:请简要描述一下晶体中的空位缺陷和间隙原子缺陷。
答案:空位缺陷是指晶体中某些晶格位置上没有原子的缺陷。
在晶体中,原子有一定的热运动,有些原子可能会从晶格位置上跳出来,形成空位。
空位缺陷会导致晶体的密度减小,热稳定性降低。
间隙原子缺陷是指晶体中某些晶格位置上多出一个原子的缺陷。
在晶体中,有时会有一些原子占据了本不属于它们的晶格位置,形成间隙原子。
间隙原子缺陷会导致晶体的密度增大,热稳定性降低。
习题三:请简要描述一下晶体中的替位原子缺陷和杂质原子缺陷。
答案:替位原子缺陷是指晶体中某些晶格位置上被其他原子替代的缺陷。
在晶体中,有时会有一些原子替代了原本应该占据该位置的原子,形成替位原子。
替位原子缺陷会导致晶体的晶格常数发生变化,对晶体的性质产生重要影响。
杂质原子缺陷是指晶体中掺入了少量杂质原子的缺陷。
杂质原子可以是同位素原子或不同原子种类的原子。
杂质原子缺陷会导致晶体的导电性、光学性质等发生变化。
习题四:请简要描述一下晶体中的位错和螺旋位错。
答案:位错是指晶体中晶格排列发生错位的缺陷。
位错可以是边界位错或螺旋位错。
边界位错是指晶体中两个晶粒的晶格排列发生错位。
边界位错可以是位错线、位错面或位错体。
边界位错会影响晶体的力学性能和导电性能。
螺旋位错是指晶体中晶格排列呈螺旋状的缺陷。
缺陷化学试题及答案一、选择题(每题2分,共20分)1. 缺陷化学中,点缺陷是指:A. 晶体中原子的缺失B. 晶体中原子的多余C. 晶体中原子的错位D. 以上都是答案:D2. 以下哪种缺陷不属于点缺陷?A. 空位B. 间隙原子C. 晶界D. 置换原子答案:C3. 晶体中空位的形成能与下列哪个因素无关?A. 晶体的类型B. 晶体的尺寸C. 晶体的温度D. 晶体的化学成分答案:B4. 间隙原子通常在晶体的哪个区域形成?A. 晶界B. 晶格点C. 晶格面D. 晶格边缘5. 置换原子缺陷在晶体中形成时,晶体的体积变化是:A. 增加B. 减少C. 不变D. 无法确定答案:C6. 下列哪种缺陷可以增加晶体的电导率?A. 空位B. 间隙原子C. 置换原子D. 晶界答案:B7. 晶体中缺陷的浓度与温度的关系是:A. 温度升高,缺陷浓度增加B. 温度升高,缺陷浓度减少C. 温度降低,缺陷浓度增加D. 温度降低,缺陷浓度减少答案:A8. 晶体中缺陷的存在对晶体的机械性能影响是:A. 总是增强B. 总是减弱C. 可能增强也可能减弱D. 没有影响答案:C9. 以下哪种缺陷可以作为晶体中的扩散通道?B. 间隙原子C. 置换原子D. 晶界答案:A10. 晶体中缺陷的浓度与晶体的化学成分的关系是:A. 无关B. 化学成分不同,缺陷浓度相同C. 化学成分不同,缺陷浓度可能不同D. 化学成分不同,缺陷浓度一定不同答案:C二、填空题(每题2分,共10分)1. 晶体中的点缺陷包括________、________和________。
答案:空位、间隙原子、置换原子2. 晶体中的缺陷浓度可以通过________或________来增加。
答案:提高温度、掺杂3. 晶体中缺陷的存在可以导致晶体的________和________发生变化。
答案:物理性质、化学性质4. 晶体中缺陷的类型包括点缺陷、线缺陷和________。
答案:面缺陷5. 晶体中缺陷的形成能是指形成缺陷时系统________的变化。