外界因素造成膜式电阻器的异常失效分析

碳膜电阻的失效原因
碳膜电阻的失效原因主要有以下几个方面：
1. 热膨胀与收缩：碳膜电阻在工作过程中会因为温度的变化产生热胀冷缩，由于碳膜电阻的导电层是碳矽化合物，导电层与基底之间的界面存在着很大的应力，长时间的热胀冷缩会导致导电层与基底之间发生剥离，从而导致失效。

2. 湿气侵蚀：湿气中的水分会使碳膜电阻的导电层发生氧化反应，生成碳酸盐等化合物，导致导电性能下降，甚至失效。

3. 表面腐蚀：在恶劣的环境中，如高温、酸碱等条件下，碳膜电阻的导电层容易受到腐蚀，导致电阻值变化或失效。

4. 机械应力：碳膜电阻在使用过程中可能会受到外界的冲击、挤压或弯曲等机械应力，导致电阻值变化或失效。

5. 电流过载：碳膜电阻在电流过载的情况下，容易因为过热而导致材料结构发生变化，导致失效。

6. 高温效应：碳膜电阻在高温环境下，导电层的材料容易发生熔化、氧化等变化，导致失效。

针对这些失效原因，可以通过合理的设计与制造工艺、选择合适的材料以及改进环境条件等方式来降低碳膜电阻的失效概率。

电阻失效模式钠-回复电阻失效模式钠是电子组件中一个常见的问题，它会导致电阻器在正常使用过程中失去其预期的电阻值。

在本文中，我们将详细介绍电阻失效模式和钠对电阻器的影响，以及可能的原因和解决方案。

第一部分：介绍电阻失效模式电阻失效模式是指电阻器在正常使用过程中逐渐失去其预期的电阻值。

这可能导致电路中的电流和电压发生变化，影响整个系统的性能。

电阻失效模式有许多种可能的原因，包括温度变化、过载、湿度等等。

电子制造商通常会对其产品进行严格测试，以确保其在正常使用条件下的可靠性。

然而，电阻器可能会受到外部环境和应力的影响，从而引发失效模式。

第二部分：钠对电阻器的影响钠是一种常见的金属元素，在电子制造中被广泛应用。

然而，在一些特定情况下，钠可能对电阻器产生负面影响。

钠离子可以在电阻器中积聚，并与电阻器内部的材料产生反应，导致电阻失效。

这种情况通常发生在高温和高湿度环境下，因为这些条件会促使钠离子更容易迁移和积聚在电阻器的表面。

第三部分：可能的原因钠对电阻失效的影响主要是由以下原因引起的：1. 高温：当电阻器暴露在持续高温环境中时，钠离子更容易迁移到电阻器的表面，导致电阻失效。

2. 高湿度：湿度也会促进钠离子的迁移和积聚。

当存在高湿度时，水分会与钠离子反应，加速电阻失效的发生。

3. 错误使用：错误使用电阻器，例如暴露在高压或高电流下，也可能导致电阻失效。

第四部分：可能的解决方案为了防止电阻失效，我们可以采取以下措施：1. 控制温度和湿度：确保电路环境温度和湿度在可接受范围内，以减少钠离子在电阻器中的迁移和积聚。

2. 选择合适的电阻器：根据具体的应用需求，选择适合的电阻器，比如耐高温、耐湿度的型号。

3. 定期检查和更换：定期检查电路中的电阻器，并及时更换已经失效的电阻器。

4. 正确使用：使用电阻器时，遵循厂商的使用指导，并确保电阻器不会受到高压或高电流的损害。

总结：电阻失效模式和钠对电子组件的影响是一个需要注意的问题。

片式厚膜电阻器—电极断裂开路1) 样品名称：片式厚膜电阻器2) 背景：型号为5.6K Ω/1206和47K Ω/1206，在使用一年后发现失效。

3) 失效模式：阻值超差和开路。

4) 失效机理：面电极的银层断裂是样品开路和阻值增大的原因。

5) 分析结论：电极的银层断裂是由于焊接时，在Pb-Sn 焊料边缘的面电极Ag 大量熔于焊料中，形成边缘的Ag 层空洞，在长期工作过程Ag 的迁移和腐蚀造成空洞的扩大甚至断开而导致电子开路。

6) 分析说明：失效品外观显示，端电极焊接不良（图1）。

X-RAY 观察分析，在端电极和面电极相连的区域发现面电极有断裂空洞（图2），在与端电极焊料边缘相连的面电极Ag 层部分，都有不连续的现象，形成一条把银层断开的空洞；同时，样品研磨切面也可见到银层空隙，开封都能观察到面电极银层不连续带状空隙（图3），因此，面电极在焊料边缘的空隙造成银层不连续是造成样品电阻增大和开路的真正原因。

面电极在焊料边缘出现不连续或空洞的原因是在焊接过程中，靠近端电极的面电极中的Ag 在焊接过程中大量损耗掉，“熔化”在焊料之中，形成边缘面电极局部区域的Ag 层空洞。

在长时间的使用过程中，由于Ag 迁移或者被腐蚀，空洞的扩大导致银层开路。

图1 样品的典型外貌 图2面电极有断裂空洞图3 面电解银层不连续带状空隙端电极面电极厚膜浆料陶瓷基片面电极断裂面电极端电极断裂处氧化膜电阻器—电解腐蚀开路1) 样品名称：氧化膜电阻器2) 背景：标称值为22KΩ±5%/2W，使用过程中出现开路。

3) 失效模式：电阻开路。

4) 失效机理：在水汽和直流电场作用下，镍铬膜被电解腐蚀开路。

5) 分析结论：电阻器镍铬膜在水汽和直流电场作用下，发生电解腐蚀开路，包封料中有少量的K+、Cl－加速了电解腐蚀的发生。

6) 分析说明：10只样品具有相同的失效模式－开路。

开封表明：电阻膜由于局部被腐蚀而导致电阻开路。

具体的腐蚀过程如下：电阻器在潮湿环境工作时，水份透过包封材料吸附在导电膜或刻槽表面，在直流电场作用下会在导电膜有缺陷的地方首先产生电解腐蚀。

电阻器老是失效机理的原因简析及解决办法薄膜电阻器的导电膜层一般用汽相淀积方法获得,在一定程度上存在无定型结构.按热力学观点,无定型结构均有结晶化趋势.在工作条件或环境条件下,导电膜层中的无定型结构均以一定的速度趋向结晶化,也即导电材料内部结构趋于致密化,能常会引起电阻值的下降.结晶化速度随温度升高而加快.电阻线或电阻膜在制备过程中都会承受机械应力,使其内部结构发生畸变,线径愈小或膜层愈薄,应力影响愈显著.一般可采用热处理方法消除内应力,残余内应力则可能在长时间使用过程中逐步消除,电阻器的阻值则可能因此发生变化.结晶化过程和内应力清除过程均随时间推移而减缓,但不可能在电阻器使用期间终止.可以认为在电阻器工作期内这两个过程以近似恒定的速度进行.与它们有关的阻值变化约占原阻值的千分之几.电负荷高温老化:任何情况,电负荷均会加速电阻器老化进程,并且电负荷对加速电阻器老化的作用比升高温度的加速老化后果更显著,原因是电阻体与引线帽接触部分的温升超过了电阻体的平均温升.通常温度每升高10℃,寿命缩短一半.如果过负荷使电阻器温升超过额定负荷时温升50℃,则电阻器的寿命仅为正常情况下寿命的1/32.可通过不到四个月的加速寿命试验,即可考核电阻器在10年期间的工作稳定性.直流负荷—电解作用:直流负荷作用下,电解作用导致电阻器老化.电解发生在刻槽电阻器槽内,电阻基体所含的碱金属离子在槽间电场中位移,产生离子电流. 湿气存在时,电解过程更为剧烈.如果电阻膜是碳膜或金属膜,则主要是电解氧化;如果电阻膜是金属氧化膜,则主要是电解还原.对于高阻薄膜电阻器,电解作用的后果可使阻值增大,沿槽螺旋的一侧可能出现薄膜破坏现象.在潮热环境下进行直流负荷试验,可全面考核电阻器基体材料与膜层的抗氧化或抗还原性能,以及保护层的防潮性能.(2)、气体吸附与解吸:膜式电阻器的电阻膜在晶粒边界上,或导电颗粒和黏结剂部分,总可能吸附非常少量的气体,它们构成了晶粒之间的中间层,阻碍了导电颗粒之间的接触,从而明显影响阻值.合成膜电阻器是在常压下制成,在真空或低气压工作时,将解吸部分附气体,改善了导电颗粒之间的接触,使阻值下降.同样,在真空中制成的热分解碳膜电阻器直接在正常环境条件下工作时,将因气压升高而吸附部分气体,使阻值增大.如果将未刻的半成品预置在常压下适当时间,则会提高电阻器成品的阻值稳定性.温度和气压是影响气体吸附与解吸的主要环境因素.对于物理吸附,降温可增加平衡吸附量,升温则反之.由于气体吸附与解吸发生在电阻体的表面.所以对膜式电阻器的影响较为显著.阻值变化可达1%~2%.(3)、氧化:氧化是长期起作用的因素(与吸附不同),氧化过程是由电阻体表面开始,逐步向内部深入.除了贵金属与合金薄膜电阻外,其他材料的电阻体均会受到空气中氧的影响.氧化的结果是阻值增大.电阻膜层愈薄,氧化影响就更明显.防止氧化的根本措施是密封(金属、陶瓷、玻璃等无机材料).采用有机材料(塑料、树脂等)涂覆或灌封,不能完全防止保护层透湿或透气,虽能起到延缓氧化或吸附气体的作用,但也会带来与有机保护层有关的些新的老化因素.(4)、有机保护层的影响:有机保护层形成过程中,放出缩聚作用的挥发物或溶剂蒸气.热处理过程使部分挥发物扩散到电阻体中,引起阻值上升.此过程虽可持续1~2年,但显著影响阻值的时间约为2~8个月,为了保证成品的阻值稳定性,把产品在库房中搁置一段时间再出厂是比较适宜的.。

电阻故障的常见可能原因电阻故障是指电阻器在工作过程中出现的各种异常情况，导致电路无法正常工作或者工作不稳定。

电阻故障的种类繁多，以下是一些常见的可能原因：1. 电阻器本身失效：电阻器本身的质量问题可能导致电阻故障。

例如，电阻器的内部导体出现断路、短路、变阻等问题，或者因为制造工艺不良导致接触不良等问题，都会影响电阻器的正常工作。

2. 过高的工作电流：电阻器具有耐电流能力，如果工作电流太大，超过了电阻器的额定电流，则电阻器可能发生过热、电阻率变化等问题。

尤其是在长时间高负载运行的情况下，电阻器容易出现失效。

3. 温度问题：温度对电阻器的性能和寿命有很大的影响。

如果环境温度过高，或者电阻器在长时间高负载运行下温度升高过快，会导致电阻器内部发热过大，从而引发电阻故障。

4. 湿度和腐蚀：湿度和腐蚀也是导致电阻器故障的常见因素之一。

在高湿度环境下，电阻器内部的金属导体易受到氧化，从而导致电导率变差或者出现短路现象。

5. 操作错误：错误的使用和操作也可能导致电阻故障。

例如，未正确连接或固定电阻器，导致与其他元器件接触不良或短路；过度弯曲、扭曲电阻器引线，导致引线断开或接触不良等。

6. 振动和冲击：电阻器受到剧烈振动和冲击时，容易导致内部的连接不可靠，或者电阻器的结构受损，从而导致电阻故障。

7. 静电击穿：静电击穿是指静电放电导致电阻器内部介质击穿，破坏了电阻器的正常工作。

静电击穿通常发生在使用和安装过程中，特别是在干燥的环境中，如冬季过于干燥的室内。

8. 电压过高或过低：如果电阻器所承受的电压超过了其额定电压，会导致电阻器内部击穿或其他损坏；相反，电阻器承受的电压过低，可能导致电阻器无法正常工作。

为避免以上的电阻故障，建议在选用电阻器时要注意其额定电流和电压，根据工作条件选择适合的型号和规格。

在使用和安装过程中要遵循正确的操作方法，避免湿度和腐蚀等环境因素的影响，以及减少振动和冲击对电阻器的影响。

同时，定期检查电路和电阻器的状态，及时更换老化或损坏的电阻器，也是保证电路稳定工作的重要措施。

电阻电路的失效分析与故障排除在学习电路相关知识时，电阻电路是最基础、最常见的电路之一。

然而，在实际应用中，电阻电路有时会出现失效情况，导致电路无法正常工作或产生故障。

本文将分析电阻电路的失效原因，并探讨相应的故障排除方法。

一、电阻电路失效的可能原因1. 电阻元件损坏：电阻元件可能会因过载、过热、过电压等原因而损坏。

例如，电流过大超过了电阻元件的额定值，会导致电阻器烧毁。

2. 接线错误：电阻电路的正确接线很重要，如果接线错误，可能导致电路无法正常工作。

常见的接线错误包括接反、接触不良等问题。

3. 连接线路故障：连接电阻元件的线路也可能出现故障，如线路断开、短路等情况，这将导致电阻电路无法正常传导电流。

4. 环境因素：电阻电路的工作环境也会对其失效产生影响。

例如，高温、潮湿、腐蚀性气体等环境因素可能导致电阻元件性能下降或损坏。

二、电阻电路故障排除的方法1. 检查电阻元件：首先需要检查电阻元件是否受损。

可以使用万用表等工具进行测量，检查电阻值是否正常，是否符合元件的规格要求。

若发现电阻值异常，需要更换受损的电阻元件。

2. 检查接线：对电路的接线进行仔细检查，确保连接正确、接触良好。

可以逐一检查每个连接点，排除接线错误或锈蚀等问题。

3. 检查连接线路：检查连接电阻元件的线路是否有断开、接触不良等问题。

应注意观察线路的完整性，并使用万用表等工具检测线路的连通性。

4. 检查工作环境：如果发现电阻电路在特定的工作环境下失效，需要考虑环境因素对电阻元件性能的影响。

可以采取防护措施，如加装散热器、防潮措施等，以提高电路的可靠性。

5. 使用故障排除工具：在排除电阻电路故障时，还可以借助故障排除工具，如示波器、信号发生器等。

这些工具可以帮助检测信号波形、频率等参数，有助于快速定位故障点。

三、结论电阻电路的失效与故障排除是电路学习和实践中的重要内容。

通过对电路元件和线路的仔细检查，以及合理的故障排除方法，可以帮助我们迅速定位故障点并解决问题。

薄膜电阻常见的问题解释说明以及概述1. 引言1.1 概述薄膜电阻是一种常用的电子元件，广泛应用于电路与系统中。

它具有体积小、重量轻、稳定性好等特点，被广泛应用于各种电子设备中。

1.2 文章结构本文将首先介绍薄膜电阻常见的问题，包括问题一、问题二和问题三。

然后，对这些问题进行解释说明，包括解释一、解释二和解释三。

最后，将对整个文章内容进行概述总结，并给出相关结论。

1.3 目的本文的目的在于帮助读者更好地理解和应用薄膜电阻，在面对常见问题时能够快速识别并找到解决方法。

通过深入分析不同问题和解释说明，读者将能够提高对薄膜电阻的认识，并有效地使用和维护该类电子元件。

注意：以上仅为参考答案，可根据实际情况自行调整语言表达方式。

2. 薄膜电阻常见问题2.1 问题一：在使用薄膜电阻时，会出现电阻值漂移的问题。

电阻值漂移是指薄膜电阻的电阻值随时间或环境变化而发生偏移，导致测量结果不准确。

造成电阻值漂移的原因有很多，例如材料老化、环境湿度变化、温度波动以及工艺制造不当等。

为避免该问题，可以选择质量可靠、稳定性较好的薄膜电阻，并采取适当的封装和保护措施。

2.2 问题二：另一个常见的问题是温度系数不稳定。

温度系数是指薄膜电阻在不同温度下，其电阻值随着温度变化的程度。

温度系数不稳定可能导致在不同温度条件下测量结果的误差增加。

要解决这个问题，可以选择具有较小温度系数的薄膜材料，并采用恰当的控制和校准手段来补偿温度影响。

2.3 问题三：还有一个常见的问题是耐久性差。

耐久性是指薄膜电阻在长时间使用或特殊环境下能否保持稳定的性能。

一些薄膜电阻可能受到潮湿、化学物质溶解或机械应力等因素的影响而失去其性能。

为了克服这个问题，可以采用耐久性好的材料制造薄膜电阻，并在实际应用中避免将其暴露在有害环境下。

以上就是薄膜电阻常见问题的介绍。

了解这些问题并选择合适的解决方法，可以提高使用薄膜电阻时的稳定性和准确性。

3. 解释说明：3.1 解释一:薄膜电阻是一种常见的电子元件，其具有较小的体积和质量，适用于在各种电路中进行精确的电阻调节。

电阻第三方失效分析报告摘要：本次报告通过对电阻第三方失效进行详细的分析和研究，发现了电阻第三方失效的原因、对系统性能的影响、解决方案以及相关的经济影响。

本报告旨在提供给相关研究人员、工程师和企业决策者一个全面的了解，以便更好地预防电阻第三方失效，并提出相应的解决方案。

一、引言电阻是电路中常见的元件之一，用于调节电流和电压。

在现代电子系统中，电阻第三方失效成为了一个重要的研究领域，因其可能对系统的稳定性和可靠性产生负面影响。

本次报告将对电阻第三方失效进行深入研究。

二、电阻第三方失效的原因1. 材料老化：电阻通常采用金属丝或碳膜作为材料，长时间的使用会导致材料老化，进而失去原本的阻值。

2. 温度变化：温度变化会导致电阻的阻值发生变化，一些低质量的电阻可能会因此造成第三方失效。

3. 外部电压过高：在一些特殊情况下，电阻可能会承受超出其额定电压的外部电压，导致损坏和失效。

4. 电流过载：过大的电流会导致电阻的温度升高，进而导致其阻值发生变化，可能造成第三方失效。

三、电阻第三方失效对系统性能的影响1. 电路稳定性下降：电阻第三方失效会导致电路的阻抗变化，进而影响到整个电路的稳定性。

在一些高精度和高可靠性的仪器设备中，电阻失效可能会导致整个系统的性能下降，以致出现故障。

2. 电压和电流失调：电阻失效可能会导致电路中电压和电流的失调，造成电子设备不工作或异常工作。

3. 信号失真：电阻失效会导致信号的失真，影响到信号的传输和处理质量，降低了整个系统的性能。

四、电阻第三方失效的解决方案1. 选择高质量电阻：选用质量可靠的电阻能够大大降低电阻第三方失效的概率。

在选购电阻时，应该选择具有较高的工作温度范围和电流容量的电阻。

2. 定期检测和维护：定期对电阻进行检测和维护，及时发现问题并采取措施修复，可以有效减少电阻第三方失效的风险。

3. 合理设计电路：在电路设计阶段考虑到电阻的使用条件和阻值的变化范围，合理设计电路能够减少电阻第三方失效的概率。

简析厚膜片式电阻器的硫化失效一、前言我们所接触到的厚膜片式电阻器本身是现有电子电路中经常使用的贴装元件之一，硫化失效本身是现有的一种较为常见的失效现象，电阻器的硫化往往会直接影响电阻器的性能。

空气中存在着各种形式的含硫物质，如汽车尾气、化工废气、温泉的硫磺气体等，这些含硫物质会与面电极中的银发生反应而逐渐生成一种导电效果较差的化学物质，继而逐渐导致电阻器出现阻值变大或者开路问题。

其硫化反应的化学反应方程式如下：对由于硫化失效的电阻器进行电镜扫描观察与能谱分析，在电阻器的二次保护包裹层与面电极的交界位置发现的含硫物质即为硫化银，见图1～图3。

图1硫化失效的电阻器SEM形貌图2电阻器硫化失效生成硫化银SEM形貌图3图2方框所示区域的能谱分析结果上图纸中所显示的是电阻器发生硫化失效后的硫化银形貌以及能谱谱图，电阻器发生硫化位置中的碳、硅元素是其表面所附着硅胶的构成成分，银元素为面电极材料，只有硫元素属于外来成分。

二、制造工艺与结构简介电阻器的硫化失效与其工艺、结构以及使用环境密切相关。

在对厚膜片式电阻器硫化失效展开分析前，首先需要对它的生产工艺与结构有一定的认识。

厚膜片式电阻器的传统制造工艺如下：基材背导、正导印刷→导体烧结→电阻体印刷、烧结→一次玻璃保护层印刷、烧结→刻沟槽调整电阻值→二次玻璃保护层印刷、烧结→标识字符印刷、烧结→拆条→侧导→拆粒→电镀→测试→包装。

厚膜片式电阻器的端电极一般包括内、中、外三层电极结构，其典型结构示意图见图4。

其中，内电极还分为面电极（银钯材料Ag/Pd）、背电极（银浆料Ag）和侧电极（镍铬合金Ni/Cr）；中间电极为电镀镍Ni；外部电极为电镀锡Sn。

图4厚膜片式电阻器的结构示意图三、硫化失效机理厚膜片式电阻器的二次保护包裹层与内部电极的交接处本身就是相对薄弱的环节。

当外界环境存在含硫物质时，含硫物质可以通过薄弱环节渗透至面电极中，导致该处面电极发生质变（即银元素发生硫化反应）逐渐生成一种导电效果较差的物质，继而导致电阻值逐渐增大。