电子显微镜第四章电镜显微图象解释
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电子显微镜原理图
电子显微镜(Electron Microscope)是一种利用电子束来观察
物质的显微镜。
它的工作原理是利用电子的波粒二象性,通过聚焦电子束和物质相互作用的方式来得到高分辨率的样品图像。
电子显微镜由电子源、透镜系统、样品台、探测器等组成。
电子源一般采用热丝或阴极发射电子源,产生的电子经过加速器加速后,进入透镜系统。
透镜系统由一系列透镜组成,包括聚焦透镜、准直透镜和缺陷透镜等。
这些透镜能够精确控制电子束的聚焦和偏转,以便形成清晰的像。
样品台是放置待观察样品的平台,上面可以固定和调整样品的位置和角度。
电子束照射到样品上时,会与样品中的原子、分子相互作用。
这些相互作用产生的信号可以通过探测器进行检测和记录。
常见的探测器有二次电子探测器和背散射电子探测器等。
电子显微镜能够达到很高的分辨率,可以观察到亚微米甚至纳米级的物质细节。
这得益于电子具有很短的波长,远远小于可见光的波长,使得电子显微镜有更高的分辨率。
同时,电子束的聚焦和偏转系统也使得显微镜具有更好的成像效果。