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![[自然科学]安捷伦7700ICP-MS仪器及原理介绍](https://uimg.taocdn.com/a6e0e6626137ee06eef91896.webp)
ICP-MS技术参数1．仪器应用范围：用于地表水、海水及沉积物、土壤等环境样品中微量及痕量金属元素的定性和定量分析。
2．仪器技术要求2.1 仪器硬件2.1.1 雾化器：高效同心雾化器，可选耐氢氟酸进样系统。
2.1.2 雾化室：小体积旋流型雾化室，低死体积，低记忆效应，带半导体制冷装置。
2.1.3 分体设计的可拆卸式石英炬管，日常更换维护方便，无需拆卸气体管路。
2.1.4 等离子体可视系统：可以实时监控等离子体状态。
2.1.5 接口：耐高盐份样品，保证长期分析高盐样品的稳定性，满足不同类型样品高通量分析或大进样量等应用需求，维护简单。
2.1.6 仪器主机ICP部分，配置质量流量计：包括等离子体气，辅助气，雾化气。
2.1.7 真空系统：要求从大气压开始抽至可工作的真空度的时间小于15分钟。
2.1.8 自激式全固态RF发生器，频率稳定性<±0.01%。
2.1.9离子源采用变频技术快速匹配，具有消除锥口二次电弧放电技术。
2.1.10 离子传输系统：低背景的离子传输设计，将待分析离子彻底与光子以及未电离的中性粒子分离，保证主四极杆质量分析器最佳的分析信噪比。
离子传输偏转透镜、碰撞反应池和四极杆质量分析器均为免拆洗维护部件。
2.1.11 四极杆材料：保证最佳的质量轴稳定性。
2.1.12 脉冲模拟双模式同时型电子倍增器，必须可以在一次进样过程中同时完成扫描和跳峰分析（定性和定量分析），同时可以自动在模拟和脉冲模式之间实现切换。
2.1.13 等离子体炬位调整：由计算机控制步进电机进行三维(X,Y,Z方向)位置控制。
2.1.14 质谱范围：5-290amu。
*2.1.15 碰撞反应池：具有质量甄别功能，可选择性地去除干扰离子进入主四级杆质量分析器，确保在足够高的灵敏度下获得最佳的干扰去除效果。
配置2路MFC质量流量计，碰撞池条件和标准条件的切换为全自动化，且在一次分析中同时给出所有测量模式的测量结果。
安捷伦电感耦合等离子体串联质谱仪(ICP-MS/MS)指标1.电感耦合等离子体串联质谱(ICP-MS/MS)的定义及应用要求1.1.电感耦合等离子体串联质谱(以下简称ICP-MS/MS)是指液态样品经雾化器雾化、雾室筛选后进入等离子体，在高温下样品电离，离子经过接口锥进入真空系统，滤除中性未电离成分后的离子束经第一级四级杆(Q1)选择单一质量数的离子(母离子)进入碰撞反应池，母离子在池中经碰撞/反应后产生子离子，再经过第二级四级杆(Q2）筛选，选定质量数的子离子最终进入检测器。
1.2.ICP-MS/MS不但能替代传统的ICP-MS适用于食品、环境、半导体、医药、核工业等广泛领域的各种样品的元素分析和同位素分析任务，更以其卓越的抗干扰能力可达到无视基体的分析能力，可成功解决传统ICP-MS未能解决的质谱干扰，在众多领域可替代昂贵的高分辨率双聚焦等离子体质谱(HR-ICP-MS)，甚至在某些特定领域可完成HR-ICP-MS所无法完成的工作。
1.3.ICP-MS/MS具有以下分析能力：1) 通过离子的荷质比以及同位素比指纹进行定性分析的能力；2）可选择特定母离子进入碰撞反应池，再进行子离子扫描，杜绝副反应对分析结果的影响，无视基体的多元素准确定量分析能力；3) 不需要标准工作曲线，通过全谱扫描对所有元素进行较准确的半定量分析的能力，可能的未知的多种干扰可采用碰撞/反应池技术直接排除；4) 同位素比测定能力以及同位素稀释法精确定量能力；5）可以与色谱技术联机进行形态分析。
1.4.★投标所用的ICP-MS/MS型号需具有广泛的用户基础及应用前景，投标商须提供不少于20篇2014年至2017年发表的使用该型号进行应用研究的外文应用文献。
2.仪器主机:2.1.雾化器: 高精度、高效同心雾化器。
2.2.雾化室: 双通道设计，石英材质，高效半导体控温装置。
2.3.★高盐进样系统：仪器配置全自动在线稀释装置，稀释方式为气体自动稀释，避免使用溶剂稀释引入污染，最高可连续测定含盐量高达25%的样品；2.4.ICP发生器: 数字式驱动的固态ICP发生器，27 MHz，最大功率1.6 kW。
赛默飞世尔XSeries II电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)新一代是XSeries II 当前世界上最小的台式ICP-MS，其所用空间甚至小于一些AAS系统。
创新的保护性离子提取技术和Infinity II 型离子透镜技术，使XSeries II 具有同类产品中最低的背景噪声。
此外，第三代碰撞反应池技术（CCT）可以使用简单碰撞气体，反应气体，和混合气体。
有效地消除由样品集体或等离子体源引起地多原子离子地干扰，并保证副反应最小化。
伴随Xt和Xs接口应用，进一步改善了检出限。
半导体控温系统和碰撞反应池技术使XSeries II ICP-MS 成为当前四级杆ICP-MS仪器中拥有最高地信噪比性能。
高性能四极杆分析器所需的高真空系统由一个全新的分流式涡流分子泵后接一个机械泵提供。
可以使用7% 氢气/氦气混合气或1% 氨气/氦气混合气于CCT模块中。
这样便解决了将高纯度的氢气或氨气直接通入CCT中所造成的潜在的腐蚀问题。
同时也大大提高了仪器的稳定性和操作安全性。
同时型模拟/脉冲检测器以及其实时的多通道电子学系统提供了大于8个量级的动态线性范围，这使得仪器能够同时适应稳定信号和瞬时信号分析。
【技术参数】灵敏度（cps/mg/L）：Be>7×106 In>60×106 U>60×106背景噪声（cps）：<0.5 (220amu)信噪比：>120×106短期稳定性：<1.5%RSD长期稳定性：<3%RSD氧化物离子：CeO+/Ce+<2%检出限(3 ，ng/L)：Be<3Co，In，U<0.5同位素比精度：<0.2%(107Ag/109Ag)热焰高灵敏度模式：灵敏度(cps/mg/L)：In>200×106 U>200×106背景（cps）：<1 (220amu)高灵敏度模式信噪比：>200×106冷焰模式：检出限(3 ，ng/L)：Li<1；Na<29；K<20；Ca<30；Fe<5。
电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)技术规格要求1. 仪器整体要求1.1电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)应由电感耦合等离子体离子源、四级杆离子透镜、四级杆通用碰撞反应池、四极杆质量过滤器、离子检测系统等部分构成。
由微机和必要的软件对仪器进行控制，并进行数据获取、压缩、处理显示和存储。
质谱仪还应该包括维持高真空的所有设备，以及进行常规溶液样品雾化的进样系统。
1.2 ICP-MS的功能应包括样品引入、原子化、离子化和质量分析，以进行样品的定性确认、定量分析以及同位素分析和形态分析。
1.3 仪器要求符合美国EPA200.8 ，EPA6020等标准方法2. 仪器工作环境2.1工作环境温度:15-30?2.2工作环境湿度:20- 80%2.3 电源:220VAC , 10% ，50 Hz3. 等离子体3.1射频发生器:40.68 MHz，功率600,1600W，1W连续可调。
射频发生器为自激式，匹配自动进行，等离子体的功率通过反馈电路维持恒定。
*3.2射频线圈采用氩气冷却。
*3.3具有通风感应功能，当没有开通风而点火时，等离子体在10分钟内自动熄灭，并在软件诊断的炬管箱温度给出提示。
*3.4 每次点火前和点火后，炬管的位置都固定不动，无需炬管后退和调节。
仪器应能够使炬管在分析样品的位置点燃等离子体，而无需在点燃等离子体后再移动到分析样品的位置。
*3.5质谱仪后侧无任何连接管路和电路，仪器可以紧贴着实验室墙面来安装和运行。
*3.6 等离子体具有全彩色的观察窗，通过观察窗可以实时观察锥孔和炬管中心管是否需要清洗。
*3.7 互相反相的两路射频来维持等离子体并消除线圈与采样锥之间的放电，无需屏蔽炬这样的消耗品。
3.8 等离子体位置XYZ三轴全自动调节，定位精度优于50微米。
4. 进样系统4.1蠕动泵:内置的三通道蠕动泵以稳定样品提升的流量。
蠕动泵应由计算机控制，泵速0-48rpm连续可调。
蠕动泵应安装在与等离子体隔绝的仪器外部以避免化学侵蚀而损坏。
前言国际标准方法 ISO 17294 概述了使用 ICP-MS 对水样中元素的分析[1, 2]。
第 1 部分 (2004) 提供了使用 ICP-MS 技术的一般指导。
第 2 部分 (2016) 则介绍了饮用水、地表水、地下水和废水等样品中痕量与常量元素的测定。
ISO 17294-2:2016 规定的 60 多种元素清单中包括许多新型污染物（例如稀土元素 (REEs)）。
REEs 被越来越多地应用于新的工业生产过程和产品中，引起了人们对其在环境中的分布和转归的关注。
REE 污染的潜在来源包括采矿活动、炼油、电子器件的废弃处理、运输、农业和医疗废物造成的污染。
因此，地表水、地下水和其他环境样品中 REEs 的含量可能会升高。
作者Tetsuo Kubota安捷伦科技有限公司使用针对 ICP-MS 的 ISO 方法 17294-2，快速、准确地分析水中的 28 种元素Agilent 7850 ICP-MS 凭借出色的多原子及双电荷干扰控制能力，可在各种水样分析中实现卓越的长期准确度和重现性REEs 的第二电离势较低，意味着它们在等离子体中形成双电荷 (M2+) 离子相对较容易。
在四极杆 ICP-MS 中，离子根据其质荷比 (m/z) 得到分离，因此 REE2+离子出现在其真实质量数的一半处，可造成与 As 和 Se 的谱图重叠[3]。
除了开发方法以满足新的法规要求并确保不同类型样品的数据质量外，环境检测实验室还面临着管理样品检测工作流程的挑战。
商业实验室通常每天分析数百个样品的各种潜在污染物，因此保持高水平的分析效率和数据质量对于实验室的成功至关重要。
实验室可以从缩短分析工作流程关键步骤（制备校准标样和样品、开发方法、执行日常检查、查看数据和报告结果）所需的时间中获益。
Agilent 7850 ICP-MS 符合这些要求，通过易于使用的标准化方法，为各种环境样品中的常量和痕量分析物提供快速、准确且可重现的结果。
安捷伦电感耦合等离子体串联质谱仪（ICP-MS/MS）联1.电感耦合等离子体串联质谱QCP-MS/MS）的£义及应用要求1.1.电感耦合等离子体串联质谱（以下简称ICP-MS/MS）是指液态样品经雾化器雾化、雾室筛选后进入等离子体，在高温下样品电离，离子经过接口锥进入真空系统，滤除中性未电离成分后的离子束经第一级四级杆（Q1）选择单一质量数的离子（母离子）进入碰撞反应池，母离子在池中经碰撞/反应后产生子离子，再经过第二级四级杆（Q2）筛选，选定质量数的子离子最终进入检测器。
1.2.ICP-MS/MS不但能替代传统的ICP-MS适用于食品、环境、半导体、医药、核工业等广泛领域的各种样品的元素分析和同位素分析任务，更以其卓越的抗干扰能力可达到无视基体的分析能力，可成功解决传统ICP-MS未能解决的质谱干扰，在众多领域可替代昂贵的高分辨率双聚焦等离子体质谱（HR-ICP-MS），甚至在某些特定领域可完成HR-ICP-MS所无法完成的工作。
1.3.ICP-MS/MS具有以下分析能力：1）通过离子的荷质比以及同位素比指纹进行定性分析的能力；2）可选择特定母离子进入碰撞反应池，再进行子离子扫描，杜绝副反应对分析结果的影响，无视基体的多元素准确定量分析能力；3）不需要标准工作曲线，通过全谱扫描对所有元素进行较准确的半定量分析的能力，可能的未知的多种干扰可采用碰撞/反应池技术直接排除；4）同位素比测定能力以及同位素稀释法精确定量能力；5）可以与色谱技术联机进行形态分析。
1.4.★投标所用的ICP-MS/MS型号需具有广泛的用户基础及应用前景，投标商须提供不少于20篇2014年至2017年发表的使用该型号进行应用研究的外文应用文献。
2.仪器主机：2.1.雾化器:高精度、高效同心雾化器。
2.2.雾化室:双通道设计，石英材质，高效半导体控温装置。
2.3.★高盐进样系统：仪器配置全自动在线稀释装置，稀释方式为气体自动稀释，避免使用溶剂稀释引入污染，最高可连续测定含盐量高达25%的样品；2.4.ICP发生器:数字式驱动的固态ICP发生器，27 MHz，最大功率1.6 kW。
赛默飞世尔XSeries II电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)新一代是XSeries II 当前世界上最小的台式ICP-MS，其所用空间甚至小于一些AAS系统。
创新的保护性离子提取技术和Infinity II 型离子透镜技术，使XSeries II 具有同类产品中最低的背景噪声。
此外，第三代碰撞反应池技术（CCT）可以使用简单碰撞气体，反应气体，和混合气体。
有效地消除由样品集体或等离子体源引起地多原子离子地干扰，并保证副反应最小化。
伴随Xt和Xs接口应用，进一步改善了检出限。
半导体控温系统和碰撞反应池技术使XSeries II ICP-MS 成为当前四级杆ICP-MS仪器中拥有最高地信噪比性能。
高性能四极杆分析器所需的高真空系统由一个全新的分流式涡流分子泵后接一个机械泵提供。
可以使用7% 氢气/氦气混合气或1% 氨气/氦气混合气于CCT模块中。
这样便解决了将高纯度的氢气或氨气直接通入CCT中所造成的潜在的腐蚀问题。
同时也大大提高了仪器的稳定性和操作安全性。
同时型模拟/脉冲检测器以及其实时的多通道电子学系统提供了大于8个量级的动态线性范围，这使得仪器能够同时适应稳定信号和瞬时信号分析。
【技术参数】灵敏度（cps/mg/L）：Be>7×106 In>60×106 U>60×106背景噪声（cps）：<0.5 (220amu)信噪比：>120×106短期稳定性：<1.5%RSD长期稳定性：<3%RSD氧化物离子：CeO+/Ce+<2%检出限(3 ，ng/L)：Be<3Co，In，U<0.5同位素比精度：<0.2%(107Ag/109Ag)热焰高灵敏度模式：灵敏度(cps/mg/L)：In>200×106 U>200×106背景（cps）：<1 (220amu)高灵敏度模式信噪比：>200×106冷焰模式：检出限(3 ，ng/L)：Li<1；Na<29；K<20；Ca<30；Fe<5。
