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mura产生原理Mura产生原理Mura是指液晶显示器中出现的亮度不均匀现象，即屏幕上出现了黑暗或亮度不一致的区域。
这种现象通常是由于液晶显示器制造过程中的不完美或外部环境因素引起的。
下面将从液晶显示器的结构、液晶分子排列和电场作用等方面介绍Mura产生的原理。
液晶显示器是由多个液晶单元组成的，每个液晶单元包含一个液晶分子层和两个电极。
液晶分子层是一种有机化合物，具有一定的电介质特性。
当外加电场作用于液晶单元时，液晶分子会发生排列，从而改变光的传播方式，实现图像的显示。
然而，由于制造过程中的一些影响因素，液晶显示器中的液晶分子排列不可避免地会出现一定程度的不均匀性。
这就是导致Mura现象的一个重要因素。
液晶分子排列的不均匀性主要表现为以下几个方面：1. 液晶分子方向不一致：液晶分子在不同区域的方向可能存在微小的差异，导致光的传播方向也不一致，从而在屏幕上形成亮暗不均的区域。
2. 液晶分子排列密度不均匀：液晶分子排列的密度不均匀也会导致光的传播方式不同。
在某些区域，液晶分子排列较为紧密，光的透过率较低，而在其他区域，液晶分子排列较为疏松，光的透过率较高，从而形成明暗差异。
3. 液晶分子层厚度不一致：液晶分子层的厚度不一致也会导致Mura现象的出现。
液晶分子层厚度的不均匀性会引起光的相位差，进而影响光的干涉和衍射效应，使得屏幕上出现光强不均的现象。
除了液晶分子排列的不均匀性，Mura现象还受到其他因素的影响，例如背光源的不均匀性、温度的变化等。
背光源的不均匀性会导致液晶显示器的亮度不一致，从而形成Mura现象。
而温度的变化会引起液晶分子的扭曲和展开，进而影响液晶分子的排列和光的传播。
为了解决Mura现象，制造商会采取一些措施。
例如，通过优化液晶分子的配方和制造工艺，减小液晶分子的方向和密度的不均匀性。
此外，还可以通过改进背光源的设计和温控系统，减少背光源和温度对Mura现象的影响。
总结起来，Mura现象是液晶显示器中常见的一种亮度不均匀现象。
Mura 测试方案1.液晶缺陷1)Zara—漏光，漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不紧密导致灯管光直接透射出来。
2)Zure—错误对位，指液晶屏的滤光单元与TFT对位出现错误导致的缺陷3)SIMI—基板上有污渍4)Mura—是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象，最简单的判断方法就是在暗室中切换到黑色画面以及其它低灰阶画面，然后从各种不同的角度用力去看，随着各式各样的制程瑕疵，液晶显示器就有各式各样的mura。
以上各种缺陷，Mura是最难以检测的，因为它是光学，色度学以及人类心理学的一个结合体。
2.Mura定义：mura本来是一个日本字, 随着日本的液晶显示器在世界各地发扬光大, 这个字在显示器界就变成一个全世界都可以通的文字。
mura是指显示器亮度不均匀, 造成各种痕迹的现象。
最简单的判断方法就是, 在暗室中切换到黑色画面, 以及其他低灰阶画面. 然后从各种不同的角度用力去看, 随着各式各样的制程瑕疵, 液晶显示器就有各式各样的mura. 可能是横向条纹或四十五度角条纹, 可能是切得很直的方块, 可能是某个角落出现一块, 可能是花花的完全没有规则可言, 东一块西一块的痕迹.《液晶显示器件第2-2-4部分：手机用彩色矩阵液晶显示模块详细规范》指出，云纹（Mura）应该在6%中性密度滤光镜遮盖后不可见，或对照标准样本。
然而，液晶面板的质量判定大部分是采用专业训练人员以人眼检测，隐含人类视觉限制、训练程度及主观认定等因素，容易产生不可靠的判定结果，成为生产者与消费者之间的争议，故厂商积极发展机器视觉的检测架构。
3.Mura测试与量化SEMI针对Mura测试建立了一个标准。
•定义：JND — Just Noticeable Difference•公式：•C jnd是mura 缺陷最小可觉察的对比度差异•S jnd为C jnd下的mura 缺陷面积。
可见，每一个S jnd都有一个固定的C jnd对应。
S jnd与C jnd是递减关系，面积越大，人眼对对比度低的mura更敏感。
显示屏Mura定义与量化分析TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display）从一问世起，就受到了人们的广泛关注。
与传统的CRT（Cathode Ray Tube）显示器相比，它除了具有高分辨率、高亮度和无几何变形等诸多优点外，还具有体积小、重量轻和功耗低等特点。
因此，TFT-LCD 被广泛应用于数码照相机、数码摄像机、车载显示器、桌上显示器、笔记本电脑和液晶电视等几乎所有的显示器领域[1]（如图1-1 所示）。
TFT-LCD 屏的缺陷检测主要有三个目的。
第一，淘汰那些不合格的产品。
第二，为修复某些类型的缺陷提供依据。
第三，分析缺陷的特点和产生原因以提高生产工艺水平。
目前，TFT-LCD 屏的缺陷检测方法主要包括电学方法和光学方法两大类。
一般来讲，电学方法可以识别那些电气缺陷所引起的点缺陷和线缺陷，但是对于化学污染等非电气原因造成的mura 缺陷，电学方法就显得无能为力了[4]。
为此，近年来基于机器视觉的光学检测技术成为了研究的热点，并针对具体的缺陷类型提出了一些检测方法或判别标准。
空间相关法空间相关法适用于点缺陷和线缺陷的检测[5]。
其原理如图1 所示。
依据该算法，首先用一个摄像机（例如CCD）对被测液晶屏进行图像采集。
然后，将摄取的图像与经过移位一个像素的图像做相关运算。
如果存在像素缺陷（线缺陷），则相关图像中只有缺陷像素（线）作为检测信号被检出；如果不存在像素缺陷（线缺陷），则相关结果无输出信号。
假设原始图像信号记为C ，右移一个像素的图像信号记为R ，而左移一个像素的图像信号记为L ，相关运算的结果为Φ= R + L - 2C其中Φ表示相关信息。
图1：空间相关法原理图空间相关法利用邻像素的空间相关性进行像素缺陷检测，所以该方法可以把噪声、不均匀的背光源和液晶屏的其它固有缺陷等因素所引起的图像不均匀性的影响降到最低。
Muralook 检测算法从1991 年起，Photon Dynamics 的William K.Pratt 等人就开始研究mura 缺陷的检测系统，并且在大量应用知识的基础上，于2000 年左右在《Automatic blemish detection in liquid crystal flat paneldisplays》一文中首次提出了Muralook 检测算法[6]。
push mura原理
Push-mura原理是一种减少液晶显示器中矩阵式液晶单元之间
亮度非均匀度（Mura）的技术。
Mura指的是显示器屏幕上出
现的亮度不均匀的现象，可能是由于液晶材料的不均匀分布、电场的不均匀或封装过程中的误差等造成的。
Push-mura原理可以通过施加恒定的电场脉冲来产生电荷驱动
的变色液晶材料的变色现象，从而使得液晶单元的亮度变均匀。
具体来说，Push-mura技术利用了电荷驱动模式下液晶材料的
非线性光学特性。
通过调整施加到液晶单元上的电场脉冲的强度和时间，可以调节液晶材料的偏振转换特性，以实现亮度的均匀分布。
通过Push-mura技术，液晶显示器在生产过程中可以经过一系
列的测试和校准，以消除或减小Mura现象的出现。
这样可以
提升液晶显示器的显示质量，使得画面更加均匀、清晰、细腻。
mura补偿原理
MURA是指液晶面板在制造过程中所产生的不均匀性，导致
显示屏在显示画面时出现不均匀的亮度、色彩等现象。
MURA补偿原理是通过调整液晶显示面板的电压和光栅结构，以消除或减小MURA现象的方法。
MURA补偿原理主要包括以下几个方面：
1.电压分配补偿：根据液晶面板上各个像素单元的电压特性，
对电压进行精确分配，以消除不同区域之间的亮度差异。
通过调整电压曲线，使得所有像素单元的亮度尽量趋于一致。
2.光栅结构调整补偿：通过调整液晶分子的排列方式和光栅结构，使得光线在液晶面板上的传输更加均匀。
这样可以减小或消除因光线传输不均匀而导致的MURA现象。
3.背光源调整补偿：背光源是液晶显示屏的主要光源，其均匀
性直接影响显示效果。
通过调整背光源的亮度、色温等参数，以达到均匀照明液晶面板的效果。
通过以上方法的组合应用，可以有效地减小或消除MURA现象，提高液晶显示屏的显示品质。
彩色滤光片外观 Mura简介摘要：彩色滤光片（Color Filter）是LCD液晶显示器的重要部件之一，其生产过程中外观Mura管控是品质质量管控的重要环节。
本文针对彩色滤光片外观mura的形貌、产生原因分析及处理对策简单介绍，本文介绍只针对Macro设备（宏观检查机）内不同光源下肉眼观察外观不良，可以对显示行业或者半导体行业的外观品质管控提供参考借鉴。
关键词：彩色滤光片；外观MURA前言：彩色滤光片是LCD颜色产生的重要部件，通过光的三原色（RGB）加法混合原理显示颜色。
三原色叠加能形成1670万种色彩，色彩有三种特性：明亮、色度、彩度。
本文介绍的mura则对明亮度有很大的影响，外观mura指的是显示器亮度不均、造成各种痕迹的现象。
Mura的产生影响CF的品质及客户的满意度。
文章主要介绍四种外观不良：点状、线状、膜面污染及镀膜色差。
一、点状Mura下面简单介绍五类CF场内常见的点状mura。
一、Stage Pin MURA一般是设备机台上有异物导致，整面大板位置固定，常见设备是涂布机和曝光机，如果是连续发生和涂布机Stage关联较大，而曝光机Stage上异物产生点状MURA不良会呈奇偶分布，背白灯光下可见，绿灯下观察形态似山丘，随着光源移动光晕会呈现大小变化；设备平台上沾附异物灰尘或者清洁作业时带入或者异常基板流片是带入等。
二、Lift Pin MURA常见设备有VCD和HPCP，呈现片间差异性，上白灯和上钠灯光源下外观检查可见，呈圆点状有规律等间距排布，存在设备单元集中性，主要原因是光阻未固化前VCD真空和HP预烘烤对玻璃基板造成影响。
三、手指纹mura一般是显影机腔室内显影液滴落导致，分布无规律，macro外观上白、上钠、绿灯、手持荧光灯均可见发亮不规则状或者类似拇指按压状。
四、背污mura一般是基板在传输过程中与滚轮摩擦产生的不良。
常见设备有显影机和清洗机。
绿灯下可见发亮。
五、光阻残MURA 导致光阻残出现的设备比较多且不规则、位置也不固定。
