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mura产生原理Mura产生原理Mura是指液晶显示器中出现的亮度不均匀现象，即屏幕上出现了黑暗或亮度不一致的区域。
这种现象通常是由于液晶显示器制造过程中的不完美或外部环境因素引起的。
下面将从液晶显示器的结构、液晶分子排列和电场作用等方面介绍Mura产生的原理。
液晶显示器是由多个液晶单元组成的，每个液晶单元包含一个液晶分子层和两个电极。
液晶分子层是一种有机化合物，具有一定的电介质特性。
当外加电场作用于液晶单元时，液晶分子会发生排列，从而改变光的传播方式，实现图像的显示。
然而，由于制造过程中的一些影响因素，液晶显示器中的液晶分子排列不可避免地会出现一定程度的不均匀性。
这就是导致Mura现象的一个重要因素。
液晶分子排列的不均匀性主要表现为以下几个方面：1. 液晶分子方向不一致：液晶分子在不同区域的方向可能存在微小的差异，导致光的传播方向也不一致，从而在屏幕上形成亮暗不均的区域。
2. 液晶分子排列密度不均匀：液晶分子排列的密度不均匀也会导致光的传播方式不同。
在某些区域，液晶分子排列较为紧密，光的透过率较低，而在其他区域，液晶分子排列较为疏松，光的透过率较高，从而形成明暗差异。
3. 液晶分子层厚度不一致：液晶分子层的厚度不一致也会导致Mura现象的出现。
液晶分子层厚度的不均匀性会引起光的相位差，进而影响光的干涉和衍射效应，使得屏幕上出现光强不均的现象。
除了液晶分子排列的不均匀性，Mura现象还受到其他因素的影响，例如背光源的不均匀性、温度的变化等。
背光源的不均匀性会导致液晶显示器的亮度不一致，从而形成Mura现象。
而温度的变化会引起液晶分子的扭曲和展开，进而影响液晶分子的排列和光的传播。
为了解决Mura现象，制造商会采取一些措施。
例如，通过优化液晶分子的配方和制造工艺，减小液晶分子的方向和密度的不均匀性。
此外，还可以通过改进背光源的设计和温控系统，减少背光源和温度对Mura现象的影响。
总结起来，Mura现象是液晶显示器中常见的一种亮度不均匀现象。
【mura深度篇】mura的常见种类、检测以及常见鉴本及解决⽅法⼤全任何颜⾊，明暗不均的现象都称为MuraMura产⽣的原因包括制程异常，膜厚差异，CD变异，Pattern偏移，异物等OLEDindustry君之前已经为⼤家推送过关于Mura⾮常基础的内容今天则是要把Mura⼀点点剖析看⼀看更深层次的东西OLEDindustry群技术咖谈Mura“Mura判定有些⿇烦，有些Mura很轻微，有些⼈可以看得到，有些⼈看不到··· ···这个没有标准没有国际规范，主要看经验和视觉。
但是⽤机器判定的话，必须给⼀个确切的界限，否则也⽆法判定。
这也是各个公司AOI 和demura 参差不齐的原因所在～⼀般明显的还好判定。
但有的时候是在特定光源下显现出来，有时还需⽔雾⽓⽅式显现，判定⽬前多是经验传承。
有些mura当时有，但是到后⾯却消失不见了，具有鲜明特征的应该算是lens mura,这个公认的Limit sample 或者ND filter 如何判定mura ，这个标准不会统⼀的，每个⼈看到的视觉程度会有差异。
每当出现这种不良时，只能现场去订，和赌博有点像，重点是看终端客户接受的程度。
终端如果不接受，都是免谈。
之前的情况是⽤5%的ND来判，有的企业⽤JND值在判。
台湾友达⼚内是⽤JND值来分等级，但给客户的IIS标准是⽤5%的ND来遮的，⽤ND也有要求的。
终端没标准，标准取决于各家⼚内⾃⼰制定。
每⼀段⼯艺都有可能会产⽣mura，⽽消费者的要求也在不断提⾼。
⽔雾⽓式就不适⽤前段，⼀般cell 才会⽤，array 不会⽤。
前⾯可以卡的曝光机跟涂布显影mura⼀般调整对应机台参数当站可以解掉没解就报废或流⼏⽚给后段验证其他的都是做⾼风险⽚验证看后段反馈具体的mura类型搞PIE的应该了解。
lens mura，stage mura，BF mura，Arc mura，Lips震动mura，roller mura，Pin mura，好多··············只要叫不出名字的，都可以归为mura~~不同公司还有属于⾃⼰的独特的mura~~沙沙mura,⿊雾mura············Tcon的存储空间增加，做demura 时间导致的产能损失。
液晶显示器 Mura缺陷及测量方法浅析摘要：近年来，液晶显示器迎来一定的快速发展，使得相关显示器应用范围明显扩大。
但与此同时，发生Mura缺陷的几率明显增大。
为了使设备应用水平得到全面提升，要对影响其质量的因素加强重视。
同时在合理分析处理机制的前提下，来对液晶显示器Mura缺陷进行科学判断。
另外在科学有效的测量方法的基础上，使Mura缺陷发生几率得到有效控制。
本文将液晶显示器Mura缺陷的内涵以及种类当成切入点，对Mura缺陷的成因进行详细阐述，同时提出相关的测量方法，进而为液晶显示器的质量提供保障。
关键词：液晶显示器；Mura缺陷；测量方法Abstract: In recent years, liquid crystal displays have ushered in a certain rapid development, which has significantly expanded the application range of related displays. But at the same time, the probability of Mura defects has increased significantly. In order to improve the application level of equipment, it is necessary to pay more attention to the factors that affect its quality. At the same time, under the premise of a reasonable analysis and processing mechanism, scientific judgments are made on the Mura defect of the liquid crystal display. In addition, on the basis of scientific and effective measurement methods, the probability of Mura defects can be effectively controlled. This article regards the connotation and types of Mura defects in liquid crystal displays as an entry point, elaborates on the causes of Mura defects, and proposes related measurement methods to ensure the quality of liquid crystal displays.Keywords: liquid crystal display; Mura defect; measurement method液晶显示器自身具有明显的复杂性，不仅生产流程复杂程度较高，还对生产环境有较高的要求，即生产车间需要保持无尘状态。
显示屏Mura定义与量化分析TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display）从一问世起，就受到了人们的广泛关注。
与传统的CRT（Cathode Ray Tube）显示器相比，它除了具有高分辨率、高亮度和无几何变形等诸多优点外，还具有体积小、重量轻和功耗低等特点。
因此，TFT-LCD 被广泛应用于数码照相机、数码摄像机、车载显示器、桌上显示器、笔记本电脑和液晶电视等几乎所有的显示器领域[1]（如图1-1 所示）。
TFT-LCD 屏的缺陷检测主要有三个目的。
第一，淘汰那些不合格的产品。
第二，为修复某些类型的缺陷提供依据。
第三，分析缺陷的特点和产生原因以提高生产工艺水平。
目前，TFT-LCD 屏的缺陷检测方法主要包括电学方法和光学方法两大类。
一般来讲，电学方法可以识别那些电气缺陷所引起的点缺陷和线缺陷，但是对于化学污染等非电气原因造成的mura 缺陷，电学方法就显得无能为力了[4]。
为此，近年来基于机器视觉的光学检测技术成为了研究的热点，并针对具体的缺陷类型提出了一些检测方法或判别标准。
空间相关法空间相关法适用于点缺陷和线缺陷的检测[5]。
其原理如图1 所示。
依据该算法，首先用一个摄像机（例如CCD）对被测液晶屏进行图像采集。
然后，将摄取的图像与经过移位一个像素的图像做相关运算。
如果存在像素缺陷（线缺陷），则相关图像中只有缺陷像素（线）作为检测信号被检出；如果不存在像素缺陷（线缺陷），则相关结果无输出信号。
假设原始图像信号记为C ，右移一个像素的图像信号记为R ，而左移一个像素的图像信号记为L ，相关运算的结果为Φ= R + L - 2C其中Φ表示相关信息。
图1：空间相关法原理图空间相关法利用邻像素的空间相关性进行像素缺陷检测，所以该方法可以把噪声、不均匀的背光源和液晶屏的其它固有缺陷等因素所引起的图像不均匀性的影响降到最低。
Muralook 检测算法从1991 年起，Photon Dynamics 的William K.Pratt 等人就开始研究mura 缺陷的检测系统，并且在大量应用知识的基础上，于2000 年左右在《Automatic blemish detection in liquid crystal flat paneldisplays》一文中首次提出了Muralook 检测算法[6]。
push mura原理
Push-mura原理是一种减少液晶显示器中矩阵式液晶单元之间
亮度非均匀度（Mura）的技术。
Mura指的是显示器屏幕上出
现的亮度不均匀的现象，可能是由于液晶材料的不均匀分布、电场的不均匀或封装过程中的误差等造成的。
Push-mura原理可以通过施加恒定的电场脉冲来产生电荷驱动
的变色液晶材料的变色现象，从而使得液晶单元的亮度变均匀。
具体来说，Push-mura技术利用了电荷驱动模式下液晶材料的
非线性光学特性。
通过调整施加到液晶单元上的电场脉冲的强度和时间，可以调节液晶材料的偏振转换特性，以实现亮度的均匀分布。
通过Push-mura技术，液晶显示器在生产过程中可以经过一系
列的测试和校准，以消除或减小Mura现象的出现。
这样可以
提升液晶显示器的显示质量，使得画面更加均匀、清晰、细腻。
1、液晶屏检验标准 1、A 、B 、C 区域划分以信号源狮子头图标为准：
2、液晶显示屏：
3、
1A 区允许1亮点,整屏2亮点； 2A 区允许2暗点；
3A 区不允许有划伤；
4A 、B 区域不允许有MURA 或者杂质导致的亮斑；C 区在不影响图像观看时可放行；
5整屏不允许出现横竖亮线;
2、 液晶屏MURA 、横竖线、亮斑及漏光的定义：
1、横竖线定义,各厂家均不允许有不良图片见图1;
2、MURA:液晶屏面被按压而出现的暗斑、亮斑或彩斑不良图片见图
2;
3、漏光：液晶屏由于偏光膜收缩等原因造成了液晶屏四周的特定
图谱下颜色异于正常图谱的颜色不良照片见图3、图4;
4、亮斑：由于杂质压缩而出现的光圈形成亮斑不良图片见图5;
W
A H 20%H 60%W 20%W
20%H 60%H
20%H。
