Mura产生原因解读
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Rubbing Mura分析改善报告QA & CS CenterTFTGate Gate Gate※系统对策计划ITEM对策Result预期效果Remark短期Rubbing Cloth变更:棉布→纤维Rubbing Mura改善良好Mura程度≤L1需要Rubbing Cleaner设备升级改造PI 增厚650A→1000A (EN测试已完成)Rubbing Mura Mura程度≤L1需检讨PI Coater Anilox RollModify,Gate layer THK 降低3400A→2200A样品评价中-TFT Mask更新(优先导入)Rubbing Mura OKNew Mask评价进行中Mura程度≤L1Ratio1%以内长期Rubbing Cleaner设备升级日程同三星向PI Coater Anilox Roll Modify检讨升级预计PO完成@6/22,设备到厂@8/22,设备安装@8/23Remark:优先导入TFT mask措施※TFT Mask 更新(快速对应方式)通过在TFT 有段差处增加Dummy Pattern ,提高Rubbing 均一性,改善Rubbing Mura ;Gate Gate Gate TFT 段差Gate Gate Gate降低TFT 段差,改善Rubbing 均一性型号Mask Rubbing Cloth PI ink Mura Level3.97inchANew mask 89ic+89ic 6514L1B New mask HY+89ic 6514L1-L2C New mask 89ic+89ic 2914L14.95inchANew mask 89ic+89ic 6514L1B New mask HY+HY 6514L2CNew maskHY+89ic6514L1New Mask + MP 条件(89ic+89ic+6514)Rubbing Mura 效果,Mura 程度L1左右;。
基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术研究共3篇基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术研究1基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术研究随着科技的不断进步,TFT-LCD屏已经广泛应用于电子产品中,如手机、电视、电脑等。
然而,由于其制造过程中存在多种不可避免的因素,如尘埃、残留物等,会导致一些缺陷出现在屏幕上,从而影响到其质量和使用效果。
其中,mura缺陷是一种最为常见的缺陷,通常表现为屏幕表面出现不均匀的亮度和色彩等问题。
为了保证产品质量和客户体验,需要对TFT-LCD屏进行缺陷检测。
本文探讨了一种基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术。
机器视觉是一种以计算机视觉算法为基础的视觉系统,它可以对图像进行快速而准确的分析和处理。
在TFT-LCD屏的mura缺陷检测中,机器视觉可以实现快速定位、准确识别缺陷,并进行有效的分类处理。
具体来说,该技术主要包含以下几个步骤:第一步是图像采集。
使用高分辨率相机或显微镜等设备采集TFT-LCD屏的图像,并将其转换成数字信号。
第二步是预处理。
将图像进行去噪、平滑和灰度化等处理,以消除噪声、提高图像质量和降低复杂度。
第三步是特征提取。
将处理后的图像进行特征提取,如亮度、颜色、对比度等,以获取重要的信息。
第四步是缺陷检测。
提取到特征向量后,可以利用支持向量机、卷积神经网络等算法进行分类,并进行缺陷检测。
第五步是结果分析。
根据测试结果分析缺陷类型、分布范围、严重程度等,并进行记录和报告,为后续处理提供依据。
在具体实现过程中,需要考虑多种因素。
例如,图像采集设备的选择与配置、人工干预的影响、算法准确度等。
同时,在算法方面还需要进一步提高检测的速度和准确度,以满足不同应用场景的需要。
总的来说,基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术具有快速、准确、可靠的优点,可以有效地提升产品质量和客户体验。
未来,我们可以进一步拓展应用领域,如面板制造、电子产品检测等,为智能制造和智慧生活提供更多的支持综上所述,基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术是一种重要的质检方法,具有高效、准确、可靠的优点。
push mura原理
Push-mura原理是一种减少液晶显示器中矩阵式液晶单元之间
亮度非均匀度(Mura)的技术。
Mura指的是显示器屏幕上出
现的亮度不均匀的现象,可能是由于液晶材料的不均匀分布、电场的不均匀或封装过程中的误差等造成的。
Push-mura原理可以通过施加恒定的电场脉冲来产生电荷驱动
的变色液晶材料的变色现象,从而使得液晶单元的亮度变均匀。
具体来说,Push-mura技术利用了电荷驱动模式下液晶材料的
非线性光学特性。
通过调整施加到液晶单元上的电场脉冲的强度和时间,可以调节液晶材料的偏振转换特性,以实现亮度的均匀分布。
通过Push-mura技术,液晶显示器在生产过程中可以经过一系
列的测试和校准,以消除或减小Mura现象的出现。
这样可以
提升液晶显示器的显示质量,使得画面更加均匀、清晰、细腻。
TFT-LCD HADS显示模式下黑白Mura机理研究及设计优化郑箫逸;袁帅;崔晓鹏;林鸿涛;陈维涛;薛海林;邵喜斌【摘要】随着高分辨率TFT-LCD HADS产品的开发,一种与像素ITO图形密切相关、有明暗(黑白)亮度差异、不同视角观察下存在黑白反转现象的Mura不良高发.经过对不良产品的参数测量和模拟分析,确定发生该不良的原因是在邻近区域内,像素开口区内的像素电极ITO(1ITO)图形和公共电极ITO(2ITO)图形发生了不同程度的相对偏移,电场分布存在差异,因此亮度发生明显差异;而且由于图形间的相对偏移导致电极间的电场发生偏移,形成像素左右两侧的一侧为强电场,一侧为弱电场,因而会出现从一侧观察发亮而从另一侧观察发暗、左右视角观察的黑白反转现象.Mura 区与相邻OK区1ITO?2ITO对位差异为0.5μm.通过1ITO和2ITO的线宽设计优化,可提高产品对此偏移不均一的容忍度.最终采用最佳1ITO、2ITO线宽条件生产,配合1ITO和2ITO共用设备及TP非线性补正等条件并举,此不良由高发时的14.2%降至0.2%以下.本文研究成果对于高分辨率HADS产品的设计和性能改善,有着重要的指导和参考意义.【期刊名称】《液晶与显示》【年(卷),期】2019(034)003【总页数】6页(P261-266)【关键词】黑白Mura;对位偏移;氧化铟锡膜;电场;均一【作者】郑箫逸;袁帅;崔晓鹏;林鸿涛;陈维涛;薛海林;邵喜斌【作者单位】北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176【正文语种】中文【中图分类】TN141.91 引言显示器作为人机交流的界面,承载着大量的信息传递的功能。
液晶显示器Mura缺陷及测量方法浅析张鹏;马婷婷;杨叶花;王潇潇;黄锋;谭山【摘要】Mura defect is a common phenomenon in liquid crystal display (LCD), which directly affects the quality of the display image. In this paper, Mura defect of liquid crystal display (LCD) is reviewed in detail. First, the types and main sources of Mura defects are summarized, and then three kinds of measurement methods of Mura defects are introduced, which are artificial visual recognition, electrical measurement and optical measurement. Artificial visual recognition method using filter observation samples, low cost, but can't achieve the objective evaluation of product grades; electrical measurement method is used in the Mura caused by electrical defects; optical measurement method based on machine vision is a hotspot of current research, Mura defects for various reasons have good detection effect. The characteristics of various measurement methods are analyzed in detail, and the conclusion is summarized.%Mura缺陷是液晶显示器(LCD)中常见的不良现象,直接影响到显示图像质量.本文对液晶显示器Mura 缺陷进行了详细的综述,首先概述了Mura缺陷的种类及主要来源,然后介绍了Mura缺陷的三类测量方法:人工视觉识别法、电学测量法、光学测量法.人工视觉识别法利用滤光片观察样品,成本较低,但无法做到客观的评定产品等级;电学测量法适用于电气缺陷造成的Mura;基于机器视觉的光学测量法是当前研究的热点,对于各种原因造成的Mura缺陷均具有良好的检测效果.详细分析了各种检测方法的特点,最后进行归纳总结.【期刊名称】《电子测试》【年(卷),期】2017(000)006【总页数】3页(P50-52)【关键词】LCD;Mura缺陷;人工视觉识别法;机器视觉【作者】张鹏;马婷婷;杨叶花;王潇潇;黄锋;谭山【作者单位】广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质量监督检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质量监督检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质量监督检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质量监督检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质量监督检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质量监督检验中心,广东广州,510030【正文语种】中文随着3D、4K等新技术的发展,消费者对显示性能提出了更高的要求:大尺寸、轻薄、高清、环保节能。
sandy mura原理
Sandy Mura是一种常见的液晶显示器的缺陷,表现为像素电极断裂导致通电时液晶分子偏转异常,从而阻挡光的透过形成暗点。
其原理主要涉及薄膜晶体管液晶显示器件(TFT-LCD)的制作过程中,像素电极在刻蚀过程中因过刻发生断裂,导致在通电时该处液晶分子偏转发生异常,进而阻挡了光的透过而形成暗点。
为了解决这一问题,可以变更ITO薄膜的厚度及刻蚀时间等一系列措施,防止像素电极在PVX过孔处因过刻引起的断裂,不良发生率降至0.3%,产品质量得到了很大的提高。
此外,过孔设计优化方案有助于新产品开发阶段避免该不良的发生。