Mura 产生原因

mura产生原理Mura产生原理Mura是指液晶显示器中出现的亮度不均匀现象，即屏幕上出现了黑暗或亮度不一致的区域。

这种现象通常是由于液晶显示器制造过程中的不完美或外部环境因素引起的。

下面将从液晶显示器的结构、液晶分子排列和电场作用等方面介绍Mura产生的原理。

液晶显示器是由多个液晶单元组成的，每个液晶单元包含一个液晶分子层和两个电极。

液晶分子层是一种有机化合物，具有一定的电介质特性。

当外加电场作用于液晶单元时，液晶分子会发生排列，从而改变光的传播方式，实现图像的显示。

然而，由于制造过程中的一些影响因素，液晶显示器中的液晶分子排列不可避免地会出现一定程度的不均匀性。

这就是导致Mura现象的一个重要因素。

液晶分子排列的不均匀性主要表现为以下几个方面：1. 液晶分子方向不一致：液晶分子在不同区域的方向可能存在微小的差异，导致光的传播方向也不一致，从而在屏幕上形成亮暗不均的区域。

2. 液晶分子排列密度不均匀：液晶分子排列的密度不均匀也会导致光的传播方式不同。

在某些区域，液晶分子排列较为紧密，光的透过率较低，而在其他区域，液晶分子排列较为疏松，光的透过率较高，从而形成明暗差异。

3. 液晶分子层厚度不一致：液晶分子层的厚度不一致也会导致Mura现象的出现。

液晶分子层厚度的不均匀性会引起光的相位差，进而影响光的干涉和衍射效应，使得屏幕上出现光强不均的现象。

除了液晶分子排列的不均匀性，Mura现象还受到其他因素的影响，例如背光源的不均匀性、温度的变化等。

背光源的不均匀性会导致液晶显示器的亮度不一致，从而形成Mura现象。

而温度的变化会引起液晶分子的扭曲和展开，进而影响液晶分子的排列和光的传播。

为了解决Mura现象，制造商会采取一些措施。

例如，通过优化液晶分子的配方和制造工艺，减小液晶分子的方向和密度的不均匀性。

此外，还可以通过改进背光源的设计和温控系统，减少背光源和温度对Mura现象的影响。

总结起来，Mura现象是液晶显示器中常见的一种亮度不均匀现象。

液晶显示器 Mura缺陷及测量方法浅析摘要：近年来，液晶显示器迎来一定的快速发展，使得相关显示器应用范围明显扩大。

但与此同时，发生Mura缺陷的几率明显增大。

为了使设备应用水平得到全面提升，要对影响其质量的因素加强重视。

同时在合理分析处理机制的前提下，来对液晶显示器Mura缺陷进行科学判断。

另外在科学有效的测量方法的基础上，使Mura缺陷发生几率得到有效控制。

本文将液晶显示器Mura缺陷的内涵以及种类当成切入点，对Mura缺陷的成因进行详细阐述，同时提出相关的测量方法，进而为液晶显示器的质量提供保障。

关键词：液晶显示器；Mura缺陷；测量方法Abstract: In recent years, liquid crystal displays have ushered in a certain rapid development, which has significantly expanded the application range of related displays. But at the same time, the probability of Mura defects has increased significantly. In order to improve the application level of equipment, it is necessary to pay more attention to the factors that affect its quality. At the same time, under the premise of a reasonable analysis and processing mechanism, scientific judgments are made on the Mura defect of the liquid crystal display. In addition, on the basis of scientific and effective measurement methods, the probability of Mura defects can be effectively controlled. This article regards the connotation and types of Mura defects in liquid crystal displays as an entry point, elaborates on the causes of Mura defects, and proposes related measurement methods to ensure the quality of liquid crystal displays.Keywords: liquid crystal display; Mura defect; measurement method液晶显示器自身具有明显的复杂性，不仅生产流程复杂程度较高，还对生产环境有较高的要求，即生产车间需要保持无尘状态。

面板斜纹Mura不良分析及改善对策研究摘要：所谓的斜纹Mura为面板通电后，在不同区域显示灰度不一致的斜条纹，通过分析本文中的内容可以看出,主要是因为氧化铟锡ITO2 孔层线宽CD偏大导致条纹Mura，加上佳能曝光机月牙形状机构，面板在治具上点亮后宏观表现为斜纹Mura。

鉴于此，本文就斜纹Mura不良分析及改善对策展开探讨，以期为相关工作起到参考作用｡关键词：面板驱动；斜纹Mura；ITO2 CD；穿透率1.不良现象分析1.1 面板驱动原理简介面板驱动电路由LC驱动模块+TFT开关模块进行驱动通电显示。

通过给MOS管栅极Gate施加一定的正电压后，栅极Gate吸引电子形成导通沟道，再给MOS管源极S通以负电压提供电子流入。

当电子通过导通沟道达到漏极D时，整个MOS管处于工作状态，即可提供Cs液晶电容进行充放电，Cs液晶电容放电过程中极板间形成电势差，即可驱动面板内的液晶分子水平旋转排列，从而驱动像素显示。

如图1：图1 图2 不良现象1.2 斜纹Mura不良原因分析本文所述的斜纹Mura为面板通电后白灰画面下发黑，呈斜纹形状，显示程度大于客户要求ND1.0，ND Filter滤光片，为通过彩色滤光片后穿透率，ND越小，穿透率越大。

如图:2：2.斜纹Mura产生原因分析2.1．扫描电子显微镜观察曝光是利用高能量UV光做曝光光源，透过光罩使光束局部通过透光区至光阻上，使得光阻之感光剂产生分解或聚合图形转移首重线宽转移，一般要求分辨率线宽CD越低越好。

不良面板剖面后，在扫描电子显微镜SEM下观察剖面区域,发现不良区域曝光后ITO2 CD实做比设计值偏大0.5um（实做：2.5~2.6um，设计：2.1um）｡从电场角度确认：当CD&Space（CD间距）有偏差时，ITO2与ITO1两电级电压差产生的水平电场受影响，液晶偏转的角度受限，从而导致光学穿透率下降，进而产生亮暗不均现象，即斜纹Mura。

彩色滤光片外观 Mura简介摘要：彩色滤光片（Color Filter）是LCD液晶显示器的重要部件之一，其生产过程中外观Mura管控是品质质量管控的重要环节。

本文针对彩色滤光片外观mura的形貌、产生原因分析及处理对策简单介绍，本文介绍只针对Macro设备（宏观检查机）内不同光源下肉眼观察外观不良，可以对显示行业或者半导体行业的外观品质管控提供参考借鉴。

关键词：彩色滤光片；外观MURA前言：彩色滤光片是LCD颜色产生的重要部件，通过光的三原色（RGB）加法混合原理显示颜色。

三原色叠加能形成1670万种色彩，色彩有三种特性：明亮、色度、彩度。

本文介绍的mura则对明亮度有很大的影响，外观mura指的是显示器亮度不均、造成各种痕迹的现象。

Mura的产生影响CF的品质及客户的满意度。

文章主要介绍四种外观不良：点状、线状、膜面污染及镀膜色差。

一、点状Mura下面简单介绍五类CF场内常见的点状mura。

一、Stage Pin MURA一般是设备机台上有异物导致，整面大板位置固定，常见设备是涂布机和曝光机，如果是连续发生和涂布机Stage关联较大，而曝光机Stage上异物产生点状MURA不良会呈奇偶分布，背白灯光下可见，绿灯下观察形态似山丘，随着光源移动光晕会呈现大小变化；设备平台上沾附异物灰尘或者清洁作业时带入或者异常基板流片是带入等。

二、Lift Pin MURA常见设备有VCD和HPCP，呈现片间差异性，上白灯和上钠灯光源下外观检查可见，呈圆点状有规律等间距排布，存在设备单元集中性，主要原因是光阻未固化前VCD真空和HP预烘烤对玻璃基板造成影响。

三、手指纹mura一般是显影机腔室内显影液滴落导致，分布无规律，macro外观上白、上钠、绿灯、手持荧光灯均可见发亮不规则状或者类似拇指按压状。

四、背污mura一般是基板在传输过程中与滚轮摩擦产生的不良。

常见设备有显影机和清洗机。

绿灯下可见发亮。

五、光阻残MURA 导致光阻残出现的设备比较多且不规则、位置也不固定。