数字逻辑实验指导书(1)

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实验一 实验箱及小规模集成电路的使用 一 实验目的 1 掌握实验箱的功能及使用方法 2 学会测试芯片的逻辑功能 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片:74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS04 六非门 1片 三 实验内容 1 测试芯片74LS00和74LS86的逻辑功能并完成下列表格。 (1) 74LS00的14脚接+5V电源,7脚接地;1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关,3、6、8、11接发光二极管。(可以将1、4、9、12接到一个逻辑开关上,2、5、10、13接到一个逻辑开关上。)改变输入的状态,观察发光二极管。74LS86的接法74LS00基本一样。 表1.1 74LS00的功能测试 输入 输入 输出 1、4、9、12 2、5、10、13 3 6 8 11

0 0 0 1 1 0 1 1

表1.2 74LS86的功能测试

(2)分析74LS00和74LS86的四个门是否都是完好的。 2 用74LS00和74LS04组成异或门,要求画出逻辑图,列出异或关系的真值表。

(3)利用74LS00和74LS04设计一个异或门。画出设计电路图。

输入 输入 输出 1、4、9、12 2、5、10、13 3 6 8 11 0 0 0 1 1 0 1 1

& 1 2 3 & 4 5 6 GND 7 & 10 9 8 & 13 12 11 14 Vcc 74LS00 =1 1 2 3 =1 4 5 6 GND 7

=1 10 9 8 =1 13 12 11 14

Vcc

74LS86 GND 7

Vcc 14 74LS04 4 3 1 6 5 1 2 1 1 12 13 1 10 11

1 8 9

1 实验二 译码器和数据选择器 一 实验目的 1继续熟悉实验箱的功能及使用方法 2掌握译码器和数据选择器的逻辑功能 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片:74LS138 3线-8线译码器 1片 74LS151 八选一数据选择器 1片 74LS20 四输入与非门 1片 三 实验内容 1 译码器功能测试(74LS138) 芯片管脚图如图2.1所示,按照表2.1连接电路,并完成表格。其中16脚接+5V,8脚接地,1~6脚都接逻辑开关,7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。

表2.1 输入 输出 使能端 选择端 0Y 1Y 2Y 3Y 4Y 5Y 6Y 7Y

1S 2S 3S

A2 A1 A0

× 1 1 × × × 1 1 1 1 1 1 1 1 0 × × × × × 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 0 1 1 1

2 数据选择器的测试(74LS151) 按照表2.2连接电路,并完成表格。其中16脚接+5V,8脚接地;9、10、11,为地址

输入端,接逻辑开关;4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端,接逻辑开关;G为选通输入端,Y为输出端,接发光二极管。 表2.2 选通端 地址输入端 数据输入端 输出

G A2 A1 A0 D0 D1 D2 D3 D4 D5 D6 D7 Y

1 × × × × × × × × × × × 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 0 1 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0

3 分别用74LS138(配合74LS20)和74LS151实现逻辑函数),,,(7421mmmmF,要求画出逻辑图。

GND 8 16 Vcc 74LS138 1 A0 2 A1 3 A2 4 S2 5 S3 7 Y7 15 Y0 14 Y1 13 Y2 12 Y3 11 Y4 6 S1 10 Y5 9 Y6 GND 8 16 Vcc 74LS151 1 D3 2 D2 3 D2

4 D0 5 Y 7 G 15 D4 14 D5 13 D6 12 D7 11 A0 6 Y

10 A1 9

A2 实验三 加法器和中规模集成电路的改造 一 实验目的 1掌握半加器和全加器的功能测试 2掌握中规模集成电路的功能改造。 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片:74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS151 八选一的数据选择器 1片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片 三 实验内容 1 测试用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)组成的半加器的逻辑功能 (1)按照图3.1进行连线,其中A、B接电平开关,Y、Z接发光二极管。 (2)按表的要求改变A、B状态,填表。

表3.1 输入端 A 0 0 1 1

B 0 1 0 1 输出端 Y

Z

2 测试全加器的逻辑功能 (1)用异或门74LS86、与或非门74LS54、与非门74LS00组成全加器,按图3.2接线,其中A、B、CI接电平开关,S、CO接发光二极管,74LS54的3、4、5、9、10、11均接地。 (2)按表要求改变A、B、CI的状态,并填表。

1 3 2

1 =1

6 5

4 =1

& ≥1 3

2

1 &

2

12

13

A B

CI S

CO 图3.2

3 2

1 =1

3 2 1 & 6 5

4 &

A B Y

Z 图 3.1 表3.2 A B CI CO S 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1

3 测试以下电路的逻辑功能,要求写出真值表,得出逻辑表达式并化为最简与或式。

74LS54逻辑表达式:JIHGFEDCBAF & 1 2 3 & 4 5 6 GND 7 & 10 9 8 & 13 12 11 14 Vcc 74LS00 GND 7 14 Vcc 74LS54 1 A 2 B 3 C 4 D 5 E 6 Y 13 J 12 I 11 H 10 G 9 F 8 =1 1 2 3 =1 4 5 6 GND 7

=1 10 9 8 =1 13 12 11 14

Vcc

74LS86

GND 8 16 Vcc 74LS151 1 D3 2 D2

3 D2

4 D0 5 Y 7 G 15 D4 14 D5 13 D6 12 D7 11 A0 6 Y

10 A1 9

A2 实验四 中规模集成电路的改造 一 实验目的 掌握中规模集成电路的功能改造。 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片: 74LS151 八选一的数据选择器 1片 74LS04 六非门 1片 三 实验内容

1 用74LS151和74LS04实现逻辑函数),,,(),,,(mmmmDCBAF,并画出逻辑图

GND 8 16 Vcc 74LS151 1 D3 2 D2 3 D2 4 D0 5 Y 7 G 15 D4 14 D5 13 D6 12 D7 11 A0 6 Y 10 A1 9 A2 GND 7 14 Vcc 74LS04 1 13 12 1 1 2 1 3 4

1

5 6

1 1110 1 9 8 实验五 触发器及示波器的使用 一 实验目的 1 熟悉并掌握D,J-K触发器的构成工作原理和功能测试方法。 2 学会正确使用触发器集成芯片。 二 实验仪器及芯片 1 双踪示波器 2 器件: 74LS74 双D触发器 一片 74LS76 双JK触发器 一片 三 实验内容 边沿触发器的测试 1在实验箱上将D触发器连接成T’触发器 2 用示波器CH1通道显示时钟CP信号;用CH1通道显示触发器输出信号Q,观察Q的变化发生在CP的什么状态? 3 把D触发器换成JK触发器,并连接成T’触发器,利用示波器观察Q与CP的关系 4 绘制时序图 5 要求画出D和JK触发器改造成T’触发器的连接图。

74LS74 2 1D 3 1CP 5 1Q GND 7 14 Vcc 12 2D 11 2CP 9 2Q 8 2Q 13 2RD 10 2SD 6 1Q 1 1RD 4 1SD 74LS76

1 1CP 4 1J 5 Vcc

15 1Q 16 1K 13 GND 12 2K 11 2Q 9 2J 2 1SD 6 2CP 3 1RD 7 2SD 8 2RD 10 2Q 14 1Q

Rd Sd Q Q D CP 图5.1 D触发器的逻辑符号 CP Rd Sd Q

Q J

K

图5.2 JK触发器的逻辑符号