实验一 实验箱及小规模集成电路的使用
一 实验目的
1 掌握实验箱的功能及使用方法
2 学会测试芯片的逻辑功能
二 实验仪器及芯片
1 实验箱
2 芯片：74LS00 二输入端四与非门 1片
74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS04 六非门 1片
三 实验内容
1 测试芯片74LS00和74LS86的逻辑功能并完成下列表格。
（1） 74LS00的14脚接＋5V 电源，7脚接地；1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关，3、6、8、11接发光二极管。（可以将1、4、9、12接到一个逻辑开关上，2、5、10、13接到一个逻辑开关上。）改变输入的状态，观察发光二极管。74LS86的接法74LS00基本一样。
表1.2 74LS86的功能测试
（2）分析74LS00和74LS86的四个门是否都是完好的。
2 用74LS00和74LS04组成异或门，要求画出逻辑图，列出异或关系的真值表。
（3）利用74LS00和74LS04设计一个异或门。画出设计电路图。
实验二译码器和数据选择器
一实验目的
1继续熟悉实验箱的功能及使用方法
2掌握译码器和数据选择器的逻辑功能
二实验仪器及芯片
1 实验箱
2 芯片：74LS138 3线－8线译码器1片
74LS151 八选一数据选择器1片
74LS20 四输入与非门1片
三实验内容
1 译码器功能测试（74LS138）
芯片管脚图如图2.1所示，按照表2.1连接电路，并完成表格。其中16脚接＋5V，8脚接地，1～6脚都接逻辑开关，7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。
表2.1
2 数据选择器的测试（74LS151）
按照表2.2连接电路，并完成表格。其中16脚接＋5V，8脚接地；9、10、11，为地址输入端，接逻辑开关；4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端，接逻辑开关；G为选通输入端，Y为输出端，接发光二极管。
表2.2
3 分别用74LS138（配合74LS20）和74LS151实现逻辑函数),,,(7
4
2
1
m m m m F ∑=,要求
画出逻辑图。
GND 8
16 Vcc 74LS138
1 A 0
2 A 1
3 A 2
4 S 2
5 S 3 7 Y 7 15 Y 0 14 Y 1 13 Y 2 12 Y 3 11 Y 4 6
S 1 10 Y 5 9 Y 6
GND 8
16 Vcc 74LS151
1 D 3
2 D 2
3 D 2
4 D 0
5 Y 7 G 15 D 4 14 D 5 13 D
6 12 D
7 11
A 0 6 Y 10 A 1 9
A 2
实验三加法器和中规模集成电路的改造
一实验目的
1掌握半加器和全加器的功能测试
2掌握中规模集成电路的功能改造。
二实验仪器及芯片
1 实验箱
2 芯片：74LS00 二输入端四与非门1片
74LS151 八选一的数据选择器1片
74LS86 二输入端四异或门1片
74LS54 四组输入与或非门1片
三实验内容
1 测试用异或门（74LS86）和与非门（74LS00）组成的半加器的逻辑功能
（1）按照图3.1进行连线，其中A、B接电平开关，Y、Z接发光二极管。
（2）按表的要求改变A、B状态，填表。
2 测试全加器的逻辑功能
（1）用异或门74LS86、与或非门74LS54、与非门74LS00组成全加器，按图3.2接线，其
中A、B、CI接电平开关，S、CO接发光二极管，74LS54的3、4、5、9、10、
11均接地。
（2）按表要求改变A、B、CI的状态，并填表。
图3.2
3 测试以下电路的逻辑功能，要求写出真值表，得出逻辑表达式并化为最简与或式。
74LS54逻辑表达式：J I H G F E D C B A F ⋅+⋅⋅+⋅
⋅+⋅=
GND 7 14 Vcc 74LS54
1 A
2 B 3
C 4
D 5
E 6 Y 13 J
12 I 11 H 10 G
9 F
8
GND
8
16 Vcc 74LS151
1 D 3
2 D 2
3 D 2
4 D 0
5 Y 7 G 15 D 4 14 D 5 13 D
6 12 D
7 11
A 0 6 Y 10
A 1 9
A 2
实验四 中规模集成电路的改造
一 实验目的
掌握中规模集成电路的功能改造。
二 实验仪器及芯片
1 实验箱
2 芯片： 74LS151 八选一的数据选择器 1片
74LS04 六非门 1片
三 实验内容
1 用74LS151和74LS04实现逻辑函数∑=),,,(),,,(m m m m D C B A F ,并画出逻辑图
GND 8
16 Vcc 74LS151
1 D 3
2 D 2
3 D 2
4 D 0
5 Y 7 G 15 D 4 14 D 5 13 D
6 12 D
7 11
A 0 6 Y 10 A 1 9
A 2
