Type C認證流程與要點教育訓練考試題姓名: 工號: 分數:1.Type C連接器端口尺寸：USB 3.1 Gen1 的傳輸速率：USB 3.1 Gen2的傳輸速率：B2.0 Type C to C的最長長度：USB2.0 Type C to C可支持的最大電流：USB3.1 Type C to C Gen1的最長長度：USB3.1 Type C to C Gen2的最長長度：3.Type C Cable Assembly認證流程的正確排序為：B-IF協會將assign TID給貴司。
B-IF協會寄送Pass or Fail結果至貴司。
C.貴司提供協會回覆的相關資訊給百佳泰，百佳泰將依你要進行認證的產品進行測試。
D.測試完成，百佳泰將測試結果提交至USB-IF協會。
E.請先填寫 Cable Product Registration Form，並submit至USB-IF協會admin@。
B-IF協會review測試結果。
4. Type C Cable Assembly認證測試的Group有A.Group AB.Group B-1C. Group B-2D. Group B-3E. Group B-4F. Group B-5G. Group B-6H. Group B-75.Type C 連接器的插拔力及插拔壽命標準：Durability Cycles:Insertion Force:Extraction Force:After Durability:Type C認證流程與要點教育訓練考試題姓名: 工號: 分數:1.Type C連接器端口尺寸： 8.3 mm x2.5 mmUSB 3.1 Gen1 的傳輸速率：5GbpsUSB 3.1 Gen2的傳輸速率：10GbpsB2.0 Type C to C的最長長度：4MUSB2.0 Type C to C可支持的最大電流：5AUSB3.1 Type C to C Gen1的最長長度：2MUSB3.1 Type C to C Gen2的最長長度：1M3.Type C Cable Assembly認證流程的正確排序為：EACDFBB-IF協會將assign TID給貴司。
接口电路的测试方法
1. 信号完整性测试，这是接口电路测试中最基本的一步。
通过使用示波器和信号发生器等设备，可以测试接口电路中传输的信号的完整性，包括波形、幅度、频率等。
这有助于确保信号能够在电路中正确地传输和接收。
2. 电压和电流测试，接口电路通常需要处理不同的电压和电流水平。
因此，对电路中的电压和电流进行测试是非常重要的。
通过使用多用表等设备，可以确保电路能够在不同的电压和电流条件下正常工作。
3. 速度和时序测试，对于高速接口电路，如USB、HDMI等，速度和时序测试是至关重要的。
通过使用逻辑分析仪等设备，可以测试接口电路中信号的传输速度和时序，以确保数据能够在规定的时间内正确传输和接收。
4. 抗干扰测试，接口电路通常会受到外部干扰的影响，如电磁干扰、射频干扰等。
因此，对接口电路进行抗干扰测试是必不可少的。
通过在实验室中模拟不同的干扰条件，可以测试接口电路的抗干扰能力，以确保其在实际应用中能够正常工作。
总之，接口电路的测试是确保电子设备正常运行的关键步骤。
通过对信号完整性、电压和电流、速度和时序以及抗干扰等方面进行全面的测试，可以确保接口电路的可靠性和稳定性，从而提高电子设备的整体性能和可靠性。
Type-C Test GroupMeasurement Development Center (Taiwan) John LinFeb. 10, 2015EIA 364-1000.01 Group A-1T estPhase Test I tem Test C ondi0on Requirement 1 Examina0on2 LLCR EIA-‐364-‐2320 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. M easureform t erminal t o t erminal40 m illiohms m ax f or V BUS, G NDand a ll s ignal c ontacts.Baseline m easurement.3 Durability EIA 364-‐09Times : 5 0mes Appearance : N o D amage4 Temp L ife EIA 364-‐17105 ℃ f or 120 h ours. Appearance : N o D amage 5 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.6 Resea0ng By h and→3 m anual p lug / u nplug No e vidence o f p hysical damage7 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.EIA 364-1000.01 Group A-2T estPhase Test I tem Test C ondi0on Requirement 1 Examina0on2 LLCR EIA-‐364-‐2320 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A.Measure f orm t erminal t o t erminal40 m illiohms m ax f or V BUS, G NDand a ll s ignal c ontacts.Baseline m easurement.3 Durability EIA 364-‐09Times : 5 0mes Appearance : N o D amage4 Thermal S hock EIA 364-‐32 c ondi0on I–55℃ /30 m in, +85 ℃/30 m in, 10 C yclesAppearance : N o D amage5 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.6 Humidity 25 ± 3 ℃ a t 80± 3% R H @ 1hr ~65 ± 3 ℃ a t 50± 3% R H. @ 1hrThermal R amp 0.5 h our24 c ycles. T otal : 72Hrs.Appearance : N o D amage7 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.8 Resea0ng By h and→3 m anual p lug / u nplug No e vidence o f p hysical d amage9 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.EIA 364-1000.01 Group A-3T estPhase Test I tem Test C ondi0on Requirement 1 Examina0on2 LLCR EIA-‐364-‐2320 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A.Measure f orm t erminal t o t erminal40 m illiohms m ax f or V BUS, G NDand a ll s ignal c ontacts.Baseline m easurement.3 Durability EIA 364-‐09Times : 5 0mes Appearance : N o D amage4 Temp L ife EIA 364-‐17 105 ℃ f or 72 h ours. Appearance : N o D amage5 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.6 Vibra0on EIA 364-‐28 T est C ondi0on V II, T est L eaer DFreq.：20~500Hz , P SD:3.1g(rms)Time：X, Y, Z e ach 15 m in/axis.No e vidence o f p hysical d amages.Discon0nuity<1us7 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.EIA 364-1000.01 Group A-4T estPhase Test I tem Test C ondi0on Requirement 1 Examina0on2 LLCR EIA-‐364-‐2320 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A.Measure f orm t erminal t o t erminal40 m illiohms m ax f or V BUS, G NDand a ll s ignal c ontacts.Baseline m easurement.3 Durability EIA 364-‐09Times : 5 0mes Appearance : N o D amage4 Temp L ife EIA 364-‐17 105 ℃ f or 72 h ours. Appearance : N o D amage5 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.6 ThermalDisturbance 15 ± 3 ℃/5 m in, 85 ± 3 ℃/5 m in ,Thermal R amp 14 m in (2℃ p er m in)Total : 10 c ycles. (14 h ours.)Appearance : N o D amage7 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.8 Resea0ng By h and→3 m anual p lug / u nplug No e vidence o f p hysical d amage9 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.EIA 364-1000.01 Group A-5T estPhase Test I tem Test C ondi0on Requirement1 Temp. R ise A c urrent o f 5.0 A s hall b e a ppliedcollec0vely t o V BUS p ins (i.e., p ins A4, A9,B4, a nd B9) a nd1.25 A a pplied t o t he V CONN p in (i.e., B5 o fthe p lug c onnector) w ith t he r eturn p aththrough t he c orresponding G ND p ins (i.e.,pins A1, A12, B1, a nd B12).A m inimum c urrent o f 0.25 A s hall a lso b eapplied i ndividually t o a ll t he o ther c ontacts.Temperature r ise s hall n ot e xceed30 °CEIA 364-1000.01 Group A-7T estPhase Test I tem Test C ondi0on Requirement1 DielectricWithstandingVoltageEIA-‐364-‐20100 V AC/ 1 m inuteNo d isrup0ve d ischarge2 LLCR EIA-‐364-‐2320 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A.Measure f orm t erminal t o t erminal40 m illiohms m ax f or V BUS, G NDand a ll s ignal c ontacts.Baseline m easurement.3 Inser0on F orce EIA-‐364-‐13 S peed：12.5 m m / m in. M ax 5~20 N4 Extrac0on F orce EIA-‐364-‐13 S peed：12.5 m m / m in. M ax 8~20N5 Durability EIA 364-‐09Cycle r ate o f 200 c ycles p er h r,10,000 c yclesAppearance : N o D amage6 Extrac0on F orce EIA-‐364-‐13 S peed：12.5 m m / m in. M ax 8~20N7 LLCR 20 m V m ax. o pen c ircuit a t 100 m A. △10 mΩ m ax.8 DielectricWithstandingVoltageEIA-‐364-‐20100 V AC/ 1 m inuteNo d isrup0ve d ischargeGroup B-1T estPhase Test I tem Test C ondi0on Requirement1 Cable p ull o ut EIA-‐364-‐3840N/1min f or c able a ssemblyNo d iscon0nui0es g reater t han1µs2 Cable flex EIA-‐364-‐41, C ondi0on 1100 c ycles i n e ach o f t wo p lanesA r ound t rip w ith 120 d egree a rc a s o necyclesNo d iscon0nui0es g reater t han1µs3 4-‐Axiscon0nuity Plugs s hall b e s upplied i n a c able a ssembly w ith arepresenta0ve o vermold. T he t est fixture s hall i ni0ally b eplaced i n a h orizontal p lane, a nd a m oment o f 0.75 N m (e.g.,50N a t 15 m m f rom t he e dge o f t he r eceptacle) s hall b eapplied t o t he c able i n a d ownward d irec0on, p erpendicular t othe a xis o f i nser0on, f or a p eriod o f a t l east 10 s econds. No d iscon0nui0es g reater t han 1µs4 WrenchingStrength5 Voltage d rop Use t he h ighest r ated c urrent f or t he c ableassembly. A pply 20V w ith 5A. 250 m V f or G ND 500 m V f or V BUS.6 VisualInspec0on Existence o f b raided s hield aaached t o s hell o f c onnectorTest Group B-2: USB 2.0 and Low Speed Signal Tests of Type-C Cable AssembliesT estPhase Test I tem Test C ondi:onRequirementType-‐C t o T ype-‐C Type-‐C t o L egacy Type-‐C t o L egacyAdaptor1 D+/D-‐Pair A aenua0on10MHz~500MHz ≥−1.02 d B @ 50 M Hz≥−1.43 d B @100 M Hz≥−2.40 d B @200 M Hz≥−4.35 d B @400 M Hz≥−1.02 d B @ 50 M Hz≥−1.43 d B @100 M Hz−2.40 d B @200 M Hz≥−4.35 d B @400 M Hz≥ −0.7 d B @ 400 M Hz2 D+/D-‐ P air D ifferen0alImpedance 400 p s (20%-‐80%) r ise0me 75 o hms t o 105 o hms 75 o hms t o 105 o hms75 o hms t o 105 o hms3 D+/D-‐ P air P ropaga0on D elay 400 p s (20%-‐80%) r ise0me a t 50% v oltagecrossing20 n s m ax10 n s m ax f or T ype-‐C t oMicro-‐B c able a ssembly;20 n s m ax f or a ll o therType-‐C t o l egacy U SBcable a ssemblies.n/a4 D+/D-‐ I ntra-‐Pair S kew 400 p s (20%-‐80%) r ise0me a t 50% v oltagecrossing100 p s m ax.100 p s m ax.20 p s m ax.5 Differen0al C ouplingbetween C C a nd U SB D+/D-‐Appendix E.5.≤ 20 ·∙log10( f) – 40 (indB) f or 1 M Hz<f≤12.6MHz, a nd ≤ -‐18 d B f or12.6 M Hz< f ≤ 100 M Hzn/a n/aTest Group B-2: USB 2.0 and Low Speed Signal Tests of Type-C Cable AssembliesT estPhase Test I tem Test C ondi:onRequirementType-‐C t o T ype-‐C Type-‐C t o L egacy Type-‐C t o L egacyAdaptor6 Single-‐ended C ouplingbetween V BUS a nd S BU_A/SBU_B a nd S ingle-‐ e ndedcoupling b etween V BUS a ndCCAppendix E.5.≤ 20 ·∙log10( f) – 40 (in d B)for 1 M Hz<f≤10 M Hz, a nd ≤-‐20 (dB) f or 10 M Hz< f ≤100MHz.n n/a7 Differen0al C oupling b etweenVBUS a nd U SB D+/D-‐Appendix E.5.≤ -‐40 d B f or 1 M Hz<f≤30MHz, a nd ≤ 19.12·∙log10(f/30)-‐40 (in d B) f or 30 M Hz< f≤ 100 M Hz.n/a n/a8 Single-‐ e nded C ouplingbetween S BU_A/SBU_B a ndCC.Single-‐ e nded C ouplingbetween S BU_A a nd S BU_B.Appendix E.5.≤ 20.015 ·∙log10(f) – 46 (indB) f or 1 M Hz < f ≤11.2 M Hz,and ≤ -‐25 (dB) f or 11.2 M Hz< f ≤ 500 M Hz.n/a n/a9 Differen0al C oupling b etweenSBU_A/SBU_B a nd U SB D+/D−Appendix E.5.≤ 20.015 ·∙log10(f) – 46 (indB) f or 1 M Hz < f ≤11.2 M Hz,and ≤ -‐25 d B f or 11.2 M Hz <f ≤ 500 M Hz.n/a n/a10 VBUS l oop i nductance Appendix E.5.≤ 900 n H.n/a n/aNotes:All c ouplings i nclude b oth n ear-‐end a nd f ar-‐end c rosstalk (NEXT a nd F EXT). So b oth N EXT a nd F EXT s hall b e m easured.Test Group B-3: USB SuperSpeed Signal Tests of Type-C Cableand Adaptor AssembliesT estPhase Test I tem Test C ondi:onRequirementType-‐C t o T ype-‐C Type-‐C t o L egacy Type-‐C t o L egacyAdaptor1 Inser0on L oss F it a t N yquistFrequencies (ILfitatNq)Appendix E.3For a ll U SB 3.1 G en2 p airs:≥ −4 d B a t 2.5 G Hz≥ −6 d B a t 5 G Hz≥ −11 d B a t 10 G HzFor U SB 3.1 G en-‐1 c ableassembly:≥−7.0 d B a t 2.5 G Hz≥ −12 d B a t 5 G Hz.≥ −4 d B @ 2.5 G Hz,except f or t he U SBType-‐C p lug t o U SB3.1 S tandard-‐A p lugcable a ssembly w hichis ≥ −3.5 d B @ 2.5GHz.≥ −2 d B a t 2.5GHz2 Integrated M ul0-‐reflec0on(IMR) A ppendix E.3≤ 0.126 ·∙ I LfitatNq^2+ 3.024·∙ I LfitatNq – 23.392 i n d B.≤ 0.126 ·∙ I LfitatNq^2+3.024 ·∙ I LfitatNq –21.392, i n d B≤ −38 d B3 Integrated C rosstalk o nSuperSpeed P airs (INEXT,IFEXT, a nd I SSXT)Appendix E.3Integrated n ear-‐endcrosstalk:INEXT ≤ -‐40 d BIntegrated f ar-‐endcrosstalk:IFEXT ≤ -‐40 d BISSXT ≤ −38 d B ISSXT ≤ −38 d BTest Group B-3: USB SuperSpeed Signal Tests of Type-C Cableand Adaptor AssembliesT estPhase Test I tem Test C ondi:onRequirementType-‐C t o T ype-‐C Type-‐C t o L egacy Type-‐C t o L egacyAdaptor4 Integrated D ifferen0alCrosstalk o n D+/D-‐ (IDDXT)Appendix E.3n/a≤ −34 d B ≤ −32 d B5 Integrated R eturn L oss (IRL)Appendix E.3≤ 0.046·∙ I LfitatNq^2 +1.812 ·∙ I LfitatNq –10.784 i n d B≤ 0.046·∙ILfitatNq^2 + 1.812·∙ I LfitatNq – 9.784in d B≤ −24 d B6 Differen0al-‐to -‐Common-‐Mode C onversion (SCD12/SCD21)Appendix E.3≤ -‐20dB f rom 100MHz t o 10 G Hz≤ -‐20dB f rom 100MHz t o 10 G Hz≤ -‐20dB f rom 100 M Hz t o7.5GHzTest Group B-4: USB Type-C Cable and Adaptor AssemblyShielding EffectivenessT estPhase Test I tem Test C ondi:onRequirementType-‐C t o T ype-‐C Type-‐C t o L egacy Type-‐C t o L egacyAdaptor1 Cable S hieldingEffec0veness Appendix F Differen0al m odel:≤-‐60 d B f or f ≤1.6 G Hz≤ -‐55dB f or 1.6 G Hz ≤ f≤ 4.0 G Hz a nd f or5 G Hz ≤ f ≤6 G HzCommon m odel:≤-‐40 d B f or f≤1.6 G Hz≤ -‐35 d B f or 1.6 G Hz ≤ f≤ 4 G Hz a nd f or5 G Hz ≤ f ≤6 G HzDifferen0al m odel:≤ -‐55 d B f or f ≤1.6 G Hz≤ -‐50 d B f or 1.6 G Hz ≤ f≤4 G Hz a nd f or5 G Hz ≤ f ≤6 G HzCommon m odel:≤ -‐40 d B f or f ≤1.6 G Hz≤ -‐35 d B f or 1.6 G Hz ≤f ≤ 4 G Hz a nd f or 5GHz ≤ f ≤ 6 G HzDifferen0al m odel:≤ -‐55 d B f or f ≤1.6 G Hz≤ -‐50 d B f or 1.6 G Hz ≤ f≤4 G Hz a nd f or5 G Hz ≤ f ≤6 G HzCommon m odel:≤ -‐40 d B f or f ≤1.6 G Hz≤ -‐35 d B f or 1.6 G Hz ≤ f ≤4 G Hz a nd f or5 G Hz ≤ f ≤6 G HzGroup B-5T estPhase Test I tem Test C ondi0on Requirement1 Cri0calDimensions連結創新, 成就未來Smart Link, Bright Future15。
警告感谢您购买了本公司的ETCR 3000数字式接地电阻测试仪，为了更好地使用本产品，请一定：——详细阅读本用户手册。
——严格遵守本手册所列出的安全规则及注意事项。
u本仪表根据IEC61010安全规格进行设计、生产、检验。
u任何情况下，使用本仪表应特别注意安全。
u测量时，移动电话等高频信号发生器请勿在仪表旁使用，以免引起误差。
u注意本仪表机身的标贴文字及符号。
u使用前应确认仪表及附件完好，仪表、测试线绝缘层无破损、无裸露、无断线才能使用。
u测量过程中，严禁接触裸露导体及正在测量的回路。
u测量前请先确认FUNCTION功能旋钮已设定在适当的量程范围内。
u确认导线的连接插头已紧密地插入仪表接口内。
u请勿在测试端与接口之间施加超过600V的交流电压或直流电压，否则可能损坏仪表。
u请勿在易燃性场所测量，火花可能引起爆炸。
u仪表在使用中，机壳或测试线发生断裂而造成金属外露时，请停止使用。
u请勿于高温潮湿，有结露的场所及日光直射下长时间放置和存放仪表。
u更换电池请确认测试线已移离仪表，FUNCTION旋钮处于“OFF”位置。
u不用的废旧电池请放到指定回收点。
u仪表无自动关机功能，使用完毕请将FUNCTION旋钮处于“OFF”位置。
u仪表显示电池电压低符号“”，应及时更换电池。
u长时间不用本仪表，请取出电池。
u注意本仪表所规定的测量范围及使用环境。
u使用、拆卸、校准、维修本仪表，必须由有授权资格的人员操作。
u由于本仪表原因，继续使用会带来危险时，应立即停止使用，并马上封存，由有授权资构处理。
u仪表及手册中的安全警告标志，使用者必须严格依照本手册内容进行安全操作。
目录一．简介 (3)二．量程及精度 (3)三．技术规格 (3)四．仪表结构 (5)五．测量原理 (6)六．功能速查 (6)七．操作方法 (7)1．开关机 (7)2．电池电压检查 (7)3．辅助接地棒的插入和连线 (7)4．接地电压测量 (7)5．线阻校验 (8)6．接地电阻精密测量 (8)7．简易法测量接地电阻 (9)8．背光控制 (10)9．报警设置 (10)10．数据锁定/存储 (10)11．数据查阅/删除 (11)12．数据上传 (11)八．电池更换 (11)九．装箱单 (12)一．简介ETCR 3000数字式接地电阻测试仪专为现场测量接地电阻而精心设计制造的，采用最新数字及微处理技术，3线或2线法测量接地电阻，具有独特的线阻校验功能、抗干扰能力和环境适应能力，确保长年测量的高精度、高稳定性和可靠性。
