光刻工艺问答
- 格式:docx
- 大小:36.88 KB
- 文档页数:20
半导体工艺原理测试题及答案大全一、选择题(每题2分,共20分)1. 下列关于半导体材料的叙述中,错误的是:A. 半导体材料的导电性介于导体和绝缘体之间。
B. 半导体材料的导电性随温度升高而增加。
C. 半导体材料的导电性受光照影响。
D. 半导体材料的导电性不受掺杂影响。
答案:D2. 在半导体工艺中,光刻技术主要用于:A. 沉积薄膜B. 氧化C. 刻蚀D. 形成图案答案:D3. 下列哪种掺杂方式可以增加半导体的导电性?A. N型掺杂B. P型掺杂C. 无掺杂D. 以上都是答案:D4. 氧化层在半导体工艺中的作用不包括:A. 保护B. 绝缘C. 导电D. 隔离答案:C5. 扩散工艺在半导体工艺中主要用于:A. 形成晶体管B. 形成绝缘层C. 形成金属层D. 形成氧化层答案:A二、填空题(每题2分,共20分)1. 在半导体工艺中,____是形成晶体管PN结的关键步骤。
答案:扩散2. 半导体工艺中的氧化层通常采用____材料。
答案:二氧化硅3. 光刻胶在光刻过程中的作用是____。
答案:形成掩模4. 离子注入技术可以用于____掺杂。
答案:N型或P型5. 在半导体工艺中,____技术用于去除不需要的材料。
答案:刻蚀三、简答题(每题10分,共30分)1. 简述CMOS工艺中晶体管的工作原理。
答案:在CMOS工艺中,晶体管的工作原理基于PN结的开关特性。
N型晶体管(NMOS)在栅极电压高于源极电压时导通,而P型晶体管(PMOS)在栅极电压低于源极电压时导通。
通过控制栅极电压,可以实现晶体管的开关控制。
2. 描述氧化层在半导体工艺中的作用。
答案:氧化层在半导体工艺中主要起到保护、绝缘和隔离的作用。
它可以保护硅片不受化学腐蚀,防止杂质扩散,同时作为绝缘层隔离不同的晶体管或电路元件,确保电路的稳定性和可靠性。
3. 离子注入技术在半导体工艺中的应用是什么?答案:离子注入技术在半导体工艺中主要用于掺杂,通过将掺杂原子注入硅片,可以精确控制掺杂的类型、浓度和深度,从而制造出具有特定特性的半导体器件,如晶体管、二极管等。
填空 20’简答20’判断10’综合50’第一单元1.必定温度,杂质在晶体中拥有最大均衡浓度,这一均衡浓度就称为何?固溶度2.按制备时有无使用坩埚分为两类,有坩埚分为?无坩埚分为?(P24)有坩埚:直拉法、磁控直拉法无坩埚:悬浮区熔法3.外延工艺按方法可分为哪些?(P37)气相外延、液相外延、固相外延和分子束外延4.Wafer 的中文含义是什么?当前常用的资料有哪两种?晶圆;硅和锗5.自混杂效应与互扩散效应(P47-48)左图:自混杂效应是指高温外延时,高混杂衬底的杂质反扩散进入气相界限层,又从界限层扩散掺入外延层的现象。
自混杂效应是气相外延的本征效应,不行能完好防止。
自混杂效应的影响:○1改变外延层和衬底杂质浓度及散布○2对p/n或n/p硅外延,改变pn 结地点右图:互(外)扩散效应:指高温外延时,衬底中的杂质与外延层中的杂质相互扩散,惹起衬底与外延层界面邻近的杂质浓度迟缓变化的现象。
不是本征效应,是杂质的固相扩散带来(低温减小、消逝)6.什么是外延层?为何在硅片上使用外延层?1)在某种状况下,需要硅片有特别纯的与衬底有同样晶体构造的硅表面,还要保持对杂质类型和浓度的控制,经过外延技术在硅表面堆积一个新的知足上述要求的晶体膜层,该膜层称为外延层。
2)在硅片上使用外延层的原由是外延层在优化pn 结的击穿电压的同时降低了集电极电阻,在适中的电流强度下提升了器件速度。
外延在 CMOS集成电路中变得重要起来,由于跟着器件尺寸不停减小它将闩锁效应降到最低。
外延层往常是没有玷辱的。
7.常用的半导体资料为何选择硅?1)硅的充裕度。
硅是地球上第二丰富的元素,占地壳成分的25%;经合理加工,硅能够提纯到半导体系造所需的足够高的纯度而耗费更低的成本。
2)更高的融化温度同意更宽的工艺容限。
硅1412 ℃>锗3)更宽的工作温度。
用硅制造的半导体件能够用于比锗937℃。
更宽的温度范围,增添了半导体的应用范围和靠谱性。
光刻工艺介绍一、定义与简介光刻是所有四个基本工艺中最关键的,也就是被称为大家熟知的photo,lithography,photomasking, masking, 或microlithography。
在晶圆的制造过程中,晶体三极管、二极管、电容、电阻和金属层的各种物理部件在晶圆表面或表层内构成,这些部件是预先做在一块或者数块光罩上,并且结合生成薄膜,通过光刻工艺过程,去除特定部分,最终在晶圆上保留特征图形的部分。
光刻其实就是高科技版本的照相术,只不过是在难以置信的微小尺寸下完成,现在先进的硅12英寸生产线已经做到22nm,我们这条线的目标6英寸砷化镓片上做到0.11um。
光刻生产的目标是根据电路设计的要求,生成尺寸精确的特征图形,并且在晶圆表面的位置正确且与其它部件的关联正确。
二、光刻工艺流程介绍光刻与照相类似,其工艺流程也类似:实际上,普通光刻工艺流程包括下面的流程:1)Substrate Pretreatment 即预处理,目的是改变晶圆表面的性质,使其能和光刻胶(PR)粘连牢固。
主要方法就是涂HMDS,在密闭腔体内晶圆下面加热到120℃,上面用喷入氮气加压的雾状HMDS,使得HMDS和晶圆表面的-OH健发生反应已除去水汽和亲水健结构,反应充分后在23℃冷板上降温。
该方法效果远比传统的热板加热除湿好。
2)Spin coat即旋转涂光刻胶,用旋转涂布法能提高光刻胶薄膜的均匀性与稳定性。
光刻胶中主要物质有树脂、溶剂、感光剂和其它添加剂,感光剂在光照下会迅速反应。
一般设备的稳定工作最高转速不超过4000rpm,而最好的工作转速在2000~3000rpm。
3)Soft Bake(Pre-bake)即软烘,目的是除去光刻胶中溶剂。
一般是在90℃的热板中完成。
4)Exposure即曝光,这也是光刻工艺中最为重要的一步,就是用紫外线把光罩上的图形成像到晶圆表面,从而把光罩上面的图形转移到晶圆表面上的光刻胶中。
半导体工艺工程师面试问题及答案在半导体行业中,半导体工艺工程师是一个至关重要的职位。
他们负责研发和改进半导体制造过程,确保产品的质量和性能。
面试时,招聘人员通常会提出一些围绕半导体制造工艺的问题。
下面是一些常见的半导体工艺工程师面试问题及答案,希望能够帮助你准备面试。
1. 请介绍一下你的半导体工艺工程师背景和经验。
答:我拥有学士学位和硕士学位,专业是半导体工程。
在我的学术背景中,我研究了多种半导体制备工艺和工艺设备的使用。
在实际工作中,我曾在一家知名半导体公司担任半导体工艺工程师一职,负责制定和优化半导体制造流程,并参与了新产品的研发和生产。
2. 你熟悉哪些常见的半导体制造工艺?答:我熟悉的常见半导体制造工艺包括:沉积、光刻、蚀刻、扩散、离子注入和清洗。
在沉积工艺方面,我熟悉化学气相沉积(CVD)和物理气相沉积(PVD)等。
光刻方面,我对掩膜的设计和光刻胶的选择有一定的了解。
蚀刻方面,我熟悉湿法蚀刻和干法蚀刻。
在扩散和离子注入工艺中,我了解掺杂的原理和工艺参数的优化。
此外,我还熟悉硅晶片的清洗工艺和技术。
3. 请详细描述一下你在半导体制造工艺方面的项目经验。
答:在我之前的工作中,我参与了多个半导体研发项目。
其中一个项目是开发一种更高效的金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)制造工艺。
我负责制定并优化了金属氧化物的沉积工艺,确保了薄膜的均匀性和质量。
此外,我还改进了光刻胶的选择和曝光参数,以提高图形的解析度。
通过这些改进,我们成功地生产出了具有更高性能的MOSFET晶体管。
4. 在半导体工艺设计中,你如何处理工艺参数的优化和问题解决?答:在半导体工艺设计中,我通常会进行一系列的工艺参数优化。
首先,我会通过仿真软件进行工艺参数的设计和优化。
然后,我会进行实验验证和数据分析,根据实验结果对参数进行调整和优化。
如果在工艺过程中出现问题,我会进行详细的故障排除和问题解决,分析问题根源并提出解决方案。
半导体工艺实操100问答1.硅片、芯片的概念硅片:制造电子器件的基本半导体材料硅的圆形单晶薄片芯片:由硅片生产的半导体产品1.什么是微电子工业技术?微电子工业技术主要包括哪些技术?微电子工艺技术:在半导体材料芯片上采用微米级加工工艺制造微小型化电子元器件和微型化电路技术。
包括超精细加工技术、薄膜生长和控制技术、高密度组装技术、过程检测和过程控制技术等1.集成电路制造涉及的5个大的制造阶段的内容集成电路制造阶段:硅片制备、芯片制造、芯片测试/拣选、装配与封装、终测1.IC工艺前工序,IC工艺后工序,以及IC工艺辅助工序IC工艺前工序:薄膜制备技术:主要包括外延、氧化、化学气相淀积、物理气相淀积(如溅射、蒸发)等掺杂技术:主要包括扩散和离子注入等技术图形转换技术:主要包括光刻、刻蚀等技术IC工艺后工序:划片、封装、测试、老化、筛选IC工艺辅助工序:超净厂房技术;超纯水、高纯气体制备技术;光刻掩膜版制备技术;材料准备技术1.微芯片技术发展的主要趋势提高芯片性能(速度、功耗)提高芯片可靠性(低失效)降低芯片成本(减小特征尺寸,增加硅片面积,制造规模)1.什么是关键尺寸(CD)?芯片上的物理尺寸特征称为特征尺寸特别是硅片上的最小特征尺寸,也称为关键尺寸或CD半导体材料1.本征半导体和非本征半导体的区别是什么?本征半导体:不含任何杂质的纯净半导体,其纯度在99.999999%(8~10个9)1.为何硅被选为最主要的半导体材料?硅材料:硅的丰裕度——制造成本低熔点高(1412OC)——更宽的工艺限度和工作温度范围SiO2的天然生成1.GaAs相对硅的优点和缺点各是什么?优点:1.比硅更高的电子迁移率,高频微波信号响应好——无线和高速数字通信2.抗辐射能力强——军事和空间应用3.电阻率大——器件隔离容易实现4.发光二极管和激光器缺点1.没有稳定的起钝化保护作用的自然氧化层2.晶体缺陷比硅高几个数量级3.成本高圆片的制备1.两种基本的单晶硅生产方法直拉法(CZ法)、区熔法1.晶体缺陷根据维数可分为哪四种?a) 点缺陷—空位、自填隙等b) 线缺陷—位错c) 面缺陷—层错d) 体缺陷3. 画出圆片制备的基本工艺步骤流程图,并给出其任意三个步骤的主要作用晶体生长、整型、切片、磨片倒角、刻蚀、抛光、清洗、检查、包装磨片和倒角:切片完成后,传统上要进行双面的机械磨片以除去切片时留下的损伤,达到硅片两面高度的平行及平坦;硅片边缘抛光修整(又叫倒角)可使硅片边缘获得平滑的半径周线切片:对于200mm的硅片,切片是用带有金刚石切割边缘的内圆切割机来完成的。
半导体设备工艺工程师面试题及答案1.介绍一下您的半导体设备工艺工程师背景及经验?答:我拥有硕士学位,并在过去五年中一直从事半导体工艺工程师的工作。
在上一份工作中,我负责优化先进的制程技术,提高生产效率,并成功引入新一代的光刻技术,将生产周期缩短了15%。
2.请详细描述一下您在先进半导体工艺中的经验?答:我在XXX公司参与了先进工艺的研发工作,负责制程改进和技术升级。
通过引入光刻技术的多层次改进,成功提高了芯片的分辨率和制程稳定性,减小了产品的制程偏差。
3.如何应对半导体工艺中的设备故障及生产中断?答:我在过去的项目中,建立了高效的设备维护团队,并制定了紧急故障处理流程。
通过实施预防性维护策略,我们成功减少了设备故障频次,同时建立了备用工艺流程以应对可能的生产中断。
4.半导体制程中,如何平衡生产效率和产品质量?答:我注重在设计阶段就考虑到质量控制,采用先进的制程监控技术,确保每一步骤都符合质量标准。
通过实时监测和反馈系统,我们在提高生产效率的同时,保持了产品的高质量。
5.请分享一次您在优化半导体工艺中的成功经验?答:在上一份项目中,我带领团队成功优化了化学气相沉积(CVD)过程,通过调整参数和引入新的先进前驱体,提高了薄膜的均匀性和附着力,降低了制程成本。
6.半导体工厂中的工艺改进涉及到多方面,您是如何协调不同团队和部门的合作?答:我强调跨职能团队的协作,定期召开联合会议,确保所有团队理解和共享最新的信息。
通过建立透明的沟通渠道,我们能够更迅速地响应变化,高效推进工艺改进项目。
7.在半导体工厂中,遇到新材料或新工艺的引入,您是如何快速适应和掌握的?答:我乐于学习并密切关注行业趋势。
我会主动参与培训,并积极与供应商、专业组织保持联系,以便第一时间获取最新信息。
这样,我能够快速了解新材料和新工艺,并将其成功应用到工厂生产中。
8.半导体工厂中的工艺优化如何影响产品成本和市场竞争力?答:通过工艺的不断优化,我们可以降低生产成本,提高产能和产品质量。
光刻工艺介绍一、定义与简介光刻是所有四个基本工艺中最关键的,也就是被称为大家熟知的photo,lithography,photomasking, masking, 或microlithography。
在晶圆的制造过程中,晶体三极管、二极管、电容、电阻和金属层的各种物理部件在晶圆表面或表层内构成,这些部件是预先做在一块或者数块光罩上,并且结合生成薄膜,通过光刻工艺过程,去除特定部分,最终在晶圆上保留特征图形的部分。
光刻其实就是高科技版本的照相术,只不过是在难以置信的微小尺寸下完成,现在先进的硅12英寸生产线已经做到22nm,我们这条线的目标6英寸砷化镓片上做到0.11um。
光刻生产的目标是根据电路设计的要求,生成尺寸精确的特征图形,并且在晶圆表面的位置正确且与其它部件的关联正确。
二、光刻工艺流程介绍光刻与照相类似,其工艺流程也类似:实际上,普通光刻工艺流程包括下面的流程:1)Substrate Pretreatment 即预处理,目的是改变晶圆表面的性质,使其能和光刻胶(PR)粘连牢固。
主要方法就是涂HMDS,在密闭腔体内晶圆下面加热到120℃,上面用喷入氮气加压的雾状HMDS,使得HMDS和晶圆表面的-OH健发生反应已除去水汽和亲水健结构,反应充分后在23℃冷板上降温。
该方法效果远比传统的热板加热除湿好。
2)Spin coat即旋转涂光刻胶,用旋转涂布法能提高光刻胶薄膜的均匀性与稳定性。
光刻胶中主要物质有树脂、溶剂、感光剂和其它添加剂,感光剂在光照下会迅速反应。
一般设备的稳定工作最高转速不超过4000rpm,而最好的工作转速在2000~3000rpm。
3)Soft Bake(Pre-bake)即软烘,目的是除去光刻胶中溶剂。
一般是在90℃的热板中完成。
4)Exposure即曝光,这也是光刻工艺中最为重要的一步,就是用紫外线把光罩上的图形成像到晶圆表面,从而把光罩上面的图形转移到晶圆表面上的光刻胶中。
光刻印刷工艺光刻印刷工艺是一种用于制作微电子器件的重要工艺。
它在集成电路、光学元件、平板显示器等领域具有广泛的应用。
光刻印刷工艺通过光敏感材料的化学反应和光的干涉效应来实现图形的转移和制备。
在光刻印刷工艺中,首先需要准备一块光刻胶覆盖的基板。
这个基板通常是硅片或玻璃基板,上面覆盖着一层光刻胶。
光刻胶是一种敏感于紫外光或电子束的聚合物材料,通过对光刻胶进行曝光和显影,可以在基板上形成所需的图形。
在曝光过程中,使用曝光机将掩膜对准光刻胶覆盖的基板,并通过紫外光或电子束照射,使光刻胶的化学结构发生变化。
光刻胶的曝光过程会根据掩膜上的图形模式,在光刻胶上形成暗区和亮区。
接下来是显影过程,将曝光后的光刻胶进行显影,使光刻胶中的暗区或亮区消失,从而形成所需的图形。
显影可以使用化学液体,通过溶解或反应的方式将暗区或亮区的光刻胶去除。
显影后,基板上就形成了所需的图形。
光刻印刷工艺的关键在于掩膜的制备。
掩膜是一种光刻胶的模板,上面有所需的图形。
掩膜制备可以使用光刻机或电子束曝光机,通过特定的曝光和显影工艺,在掩膜上形成所需的图形。
掩膜的制备需要高分辨率和高精度的设备,以确保光刻胶在基板上形成准确的图形。
光刻印刷工艺的应用十分广泛。
在集成电路制造中,光刻印刷工艺被用于制备电路图形、电路层间的连接孔等。
在光学元件制造中,光刻印刷工艺被用于制备光栅、光波导等。
在平板显示器制造中,光刻印刷工艺被用于制备液晶显示层、触摸屏等。
光刻印刷工艺的发展离不开光刻胶的进步。
随着微电子器件尺寸的不断缩小,对光刻胶的分辨率和精度要求也越来越高。
目前,已经有一些新型的光刻胶被开发出来,具有更高的分辨率和更好的显影性能。
总的来说,光刻印刷工艺是一种重要的微电子器件制备工艺。
它通过光的干涉效应和光刻胶的化学反应,实现图形的转移和制备。
光刻印刷工艺在集成电路、光学元件、平板显示器等领域具有广泛的应用。
随着微电子器件尺寸的不断缩小,光刻印刷工艺也在不断发展,以满足对更高分辨率和更高精度的需求。
招聘半导体或芯片岗位笔试题及解答(某大型央企)(答案在后面)一、单项选择题(本大题有10小题,每小题2分,共20分)1、半导体行业中,以下哪种材料通常用作硅晶圆的衬底材料?A. 氧化铝B. 硅C. 硅碳D. 氧化硅2、在芯片制造过程中,以下哪种工艺属于光刻工艺的范畴?A. 刻蚀B. 化学气相沉积C. 离子注入D. 光刻3、以下哪个选项不属于半导体制造过程中使用的蚀刻技术?A. 化学蚀刻B. 物理蚀刻C. 光刻D. 激光蚀刻4、在半导体器件中,以下哪种现象与二极管正向导通有关?A. 内部电流增大B. 内部电流减小C. 内部电势降低D. 内部电势升高5、以下哪种元素是半导体材料的主要成分?A. 钙(Ca)B. 铝(Al)C. 硅(Si)D. 钾(K)6、在半导体器件中,用于控制电流通断的器件称为:A. 电阻B. 晶体管C. 电容D. 电感7、题干:在半导体制造过程中,用于去除硅片表面的杂质和氧化物层的工艺称为:A. 离子注入B. 化学气相沉积C. 化学机械抛光D. 硅片清洗8、题干:在芯片设计中,以下哪项技术用于提高晶体管的工作速度?A. 多晶硅技术B. 封装技术C. 纳米技术D. 缓存技术9、题干:在半导体制造过程中,用于将硅晶圆表面氧化形成绝缘层的工艺是:A. 光刻B. 离子注入C. 化学气相沉积D. 硅片切割二、多项选择题(本大题有10小题,每小题4分,共40分)1、以下哪些选项是半导体制造过程中常用的化学气体?()A、氮气(N2)B、氢气(H2)C、氯气(Cl2)D、氧气(O2)E、氟化氢(HF)2、以下哪些技术是用于提高半导体芯片集成度的关键?()A、CMOS技术B、FinFET技术C、3D集成电路技术D、量子点技术E、微机电系统(MEMS)3、以下哪些是半导体制造过程中常见的缺陷类型?()A、表面划痕B、孔洞缺陷C、金属化层缺陷D、硅片位错E、氧化层缺陷4、在芯片设计中,以下哪些是常用的数字设计技术?()A、组合逻辑设计B、时序逻辑设计C、模拟电路设计D、数字信号处理E、VLSI设计5、以下哪些技术或工艺与半导体制造密切相关?()A. 光刻技术B. 化学气相沉积(CVD)C. 离子注入D. 热氧化E. 机械加工6、在半导体器件设计中,以下哪些因素会影响器件的功耗?()A. 工作电压B. 静态功耗C. 动态功耗D. 工作频率E. 材料特性7、以下哪些属于半导体制造工艺流程的关键步骤?()A、光刻B、蚀刻C、离子注入D、化学气相沉积E、热处理8、以下哪些因素会影响半导体器件的性能?()A、半导体材料的纯度B、器件的结构设计C、温度D、电场强度E、工作频率9、以下哪些选项是半导体制造过程中常见的材料?A. 高纯度硅B. 硅酸盐C. 金D. 光刻胶三、判断题(本大题有10小题,每小题2分,共20分)1、集成电路的制造过程中,光刻步骤是直接在硅晶圆上进行的,无需任何掩模。
半导体芯片制造中、高级工考试题1、填空(江南博哥)大容量可编程逻辑器件分为()和()。
解析:复杂可编程逻辑器件;现场可编程门阵列2、单选人们规定:()电压为安全电压.A.36伏以下B.50伏以下C.24伏以下答案:A3、问答题对于大尺寸的MOS管版图设计,适合采用什么样的版图结构?简述原因。
解析:(1)S管的版图一般采用并联晶体管结构。
采用并联晶体管结构后,可共用源区和漏区,使得在同样宽长比的情况下,漏区和源区的面积被减小,并因此使得器件源极和漏极的PN 结电容被减小,对提高电路的动态性能很有好处。
(2)寸器件在版图设计时还采用折叠的方式减小一维方向上的尺寸。
因为器件的尺寸大,即叉指的个数较多,如果采用简单并列的方式,将由于叉指到信号引入点的距离不同引起信号强度的差异。
同时,由于在一维方向上的工艺离散性,也将导致最左端的叉指和最右端的叉指所对应的并联器件在参数和结构上产生失配。
4、填空在一个晶圆上分布着许多块集成电路,在封装时将各块集成电路切开时的切口叫()。
解析:划片槽5、填空半导体材料可根据其性能、晶体结构、结晶程度、化学组成分类。
比较通用的则是根据其化学组成可分为元素()、()半导体、固溶半导体三大类。
解析:半导体;化合物6、问答题叙述H2还原SiCl4外延的原理,写出化学方程式。
解析:在气相外延生长过程中,首先是反应剂输运到衬底表面;接着是它在衬底便面发生反应释放出硅原子,硅原子按衬底晶向成核,长大成为单晶层。
化学方程式如下:7、填空化学清洗中是利用硝酸的强()和强()将吸附在硅片表面的杂质除去。
解析:酸性;氧化性8、问答题集成电路封装有哪些作用?解析:(1)机械支撑和机械保护作用。
(2)传输信号和分配电源的作用。
(3)热耗散的作用。
(4)环境保护的作用。
9、填空外延生长方法比较多,其中主要的有()外延、()外延、金属有机化学气相外延、分子束外延、()、固相外延等。
解析:化学气相;液相;原子束外延10、填空半导体材料有两种载流子参加导电,具有两种导电类型。
杭州电子科技大学研究生考试卷(B卷)1、什么是CMOS器件的闩锁效应?描述三种阻止闩锁效应的制造技术。
(12分)答:闩锁效应就是指CMOS器件所固有的寄生双极晶体管(又称寄生可控硅,简称SCR)被触发导通,在电源和地之间形成低阻抗大电流的通路,导致器件无法正常工作,甚至烧毁器件的现象。
这种寄生双极晶体管存在CMOS器件内的各个部分,包括输入端、输出端、内部反相器等。
当外来干扰噪声使某个寄生晶体管被触发导通时,就可能诱发闩锁,这种外来干扰噪声常常是随机的,如电源的浪涌脉冲、静电放电、辐射等。
闩锁效应往往发生在芯片中某一局部区域,有两种情况:一种是闩锁只发生在外围与输入、输出有关的地方,另一种是闩锁可能发生在芯片的任何地方,在使用中前一种情况遇到较多。
2、为什么要用区熔法生长硅晶体?比较FZ和CZ优缺点。
(10分)答:(1)原因:因为区熔法可以得到低至1011cm-1的载流子浓度。
区熔生长技术的基本特点是样品的熔化部分是完全由固体部分支撑的,不需要坩埚。
柱状的高纯多晶材料固定于卡盘,一个金属线圈沿多晶长度方向缓慢移动并通过柱状多晶,在金属线圈中通过高功率的射频电流,射频功率技法的电磁场将在多晶柱中引起涡流,产生焦耳热,通过调整线圈功率,可以使得多晶柱紧邻线圈的部分熔化,线圈移过后,熔料在结晶为为单晶。
另一种使晶柱局部熔化的方法是使用聚焦电子束。
整个区熔生长装置可置于真空系统中,或者有保护气氛的封闭腔室内(2)CZ和FZ区别:CZ是直拉法,就是首先把多晶硅置于坩埚内加热熔化,然后采用小的结晶“种子”——籽晶,再慢慢向上提升、结晶,获得大的单晶锭。
(3)CZ和FZ优缺点比较:FZ是水平区域熔化生长法,就是水平放置、采用感应线圈加热、并进行晶体生长的技术。
直拉法在Si单晶的制备中更为常用,占75%以上。
直拉法制备Si单晶的优点是:1)成本低;2)能制备更大的圆片尺寸,6英吋(150mm)及以上的Si单晶制备均采用直拉法,目前直拉法已制备出400mm(16英吋)的商用Si单晶;3)制备过程中的剩余原材料可重复使用;4)直拉法制备的Si单晶位错密度低,0~104cm-2。
简述光刻的原理及应用方法1. 光刻的原理光刻是一种微影技术,通过光、影、化学反应的相互作用,在光敏材料上形成精细的图案。
其原理主要包括以下几个步骤:1.掩膜制备:首先,根据设计要求,制备一个光学透明的模板,即掩膜。
掩膜上的图案将会被复制到光敏材料上。
2.底材涂覆:在需要进行图案复制的底材表面涂覆一层光敏材料。
这层材料将承载掩膜上的图案。
3.掩膜对位:将掩膜放置在光敏材料表面,并通过对位仪器对其进行调整,使得掩膜上的图案与底材上的期望位置对齐。
4.曝光:通过将掩膜暴露在特定波长的光源下,光经过掩膜的透光部分,形成投影在光敏材料上的图案。
掩膜上的透光区域对应于光敏材料上所需形成的图案。
5.显影:将光敏材料浸入显影液中,在显影液的作用下,未曝光的光敏材料将被去除,而曝光的部分将保留下来。
显影过程中,光敏材料会发生化学反应,使得图案得以呈现。
6.清洗:清洗光刻后的光敏材料,去除显影液残留的部分,保证光刻图案表面的纯净度。
2. 光刻的应用方法光刻技术在半导体制造、光学器件制造、微电子器件制造等领域有着广泛的应用,下面列举几种常见的应用方法:•半导体制造:光刻技术在半导体工艺中起到了关键的作用。
通过光学镜头将掩膜上的图案投影到硅片上,形成各种微小结构,如晶体管和电容器等,从而实现集成电路中的电子元器件的制造。
•平板显示制造:光刻技术在平板显示器制造中也扮演重要的角色。
通过光刻技术,可以在液晶面板上形成微小的像素点,从而实现高分辨率的显示效果。
常见的液晶电视、手机屏幕等产品都离不开光刻技术的应用。
•微电子器件制造:光刻技术被广泛应用于微电子器件的制造过程中。
例如,制备微处理器、传感器和MEMS(微机电系统)等微电子器件,都需要使用光刻技术来定义器件的结构和形状。
•光学器件制造:光学器件是利用光的性质进行信息处理和传输的重要组成部分。
光刻技术在光学器件的制造中起到了至关重要的作用。
例如,光刻技术可以制备光纤、光波导器件、光栅和透镜等光学器件。
光刻工艺问答 PHOTO 流程? 答:上光阻→曝光→顯影→顯影後檢查→CD量測→Overlay量測 何为光阻?其功能为何?其分为哪两种? 答:Photoresist(光阻).是一种感光的物质,其作用是将Pattern从光罩(Reticle)上传递到Wafer上的一种介质。其分为正光阻和负光阻。 何为正光阻? 答:正光阻,是光阻的一种,这种光阻的特性是将其曝光之后,感光部分的性质会改变,并在之后的显影过程中被曝光的部分被去除。 何为负光阻? 答:负光阻也是光阻的一种类型,将其曝光之后,感光部分的性质被改变,但是这种光阻的特性与正光阻的特性刚好相反,其感光部分在将来的显影过程中会被留下,而没有被感光的部分则被显影过程去除。 什幺是曝光?什幺是显影? 答:曝光就是通过光照射光阻,使其感光;显影就是将曝光完成后的图形处理,以将图形清晰的显现出来的过程。 何谓 Photo? 答:Photo=Photolithgraphy,光刻,将图形从光罩上成象到光阻上的过程。 Photo主要流程为何? 答:Photo的流程分为前处理,上光阻,Soft Bake, 曝光,PEB,显影,Hard Bake等。 何谓PHOTO区之前处理? 答:在Wafer上涂布光阻之前,需要先对Wafer表面进行一系列的处理工作,以使光阻能在后面的涂布过程中能够被更可靠的涂布。前处理主要包括Bake,HDMS等过程。其中通过Bake将Wafer表面吸收的水分去除,然后进行HDMS工作,以使Wafer表面更容易与光阻结合。 何谓上光阻? 答:上光阻是为了在Wafer表面得到厚度均匀的光阻薄膜。光阻通过喷嘴(Nozzle)被喷涂在高速旋转的Wafer表面,并在离心力的作用下被均匀的涂布在Wafer的表面。 何谓Soft Bake? 答:上完光阻之后,要进行Soft Bake,其主要目的是通过Soft Bake将光阻中的溶剂蒸发,并控制光阻的敏感度和将来的线宽,同时也将光阻中的残余内应力释放。 何谓曝光? 答:曝光是将涂布在Wafer表面的光阻感光的过程,同时将光罩上的图形传递到Wafer上的过程。 何谓PEB(Post Exposure Bake)? 答:PEB是在曝光结束后对光阻进行控制精密的Bake的过程。其目的在于使被曝光的光阻进行充分的化学反应,以使被曝光的图形均匀化。 何谓显影? 答:显影类似于洗照片,是将曝光完成的Wafer进行成象的过程,通过这个过程,成象在光阻上的图形被显现出来。 何谓Hard Bake? 答:Hard Bake是通过烘烤使显影完成后残留在Wafer上的显影液蒸发,并且固化显影完成之后的光阻的图形的过程。 何为BARC?何为TARC?它们分别的作用是什幺? 答:BARC=Bottom Anti Reflective Coating, TARC=Top Anti Reflective Coating. BARC是被涂布在光阻下面的一层减少光的反射的物质,TARC则是被涂布在光阻上表面的一层减少光的反射的物质。他们的作用分别是减少曝光过程中光在光阻的上下表面的反射,以使曝光的大部分能量都被光阻吸收。 何谓 Iline? 答:曝光过程中用到的光,由Mercury Lamp(汞灯)产生,其波长为365nm,其波长较长,因此曝光完成后图形的分辨率较差,可应用在次重要的层次。 何谓 DUV? 答:曝光过程中用到的光,其波长为248nm,其波长较短,因此曝光完成后的图形分辨率较好,用于较为重要的制程中。 I-line与DUV主要不同处为何? 答:光源不同,波长不同,因此应用的场合也不同。I-Line主要用在较落后的 制程(0.35微米以上)或者较先进制程(0.35微米以下)的Non-Critical layer。DUV则用在先进制程的Critical layer上。 何为Exposure Field? 答:曝光区域,一次曝光所能覆盖的区域 何谓 Stepper? 其功能为何? 答:一种曝光机,其曝光动作为Step by step形式,一次曝整個exposure field,一個一個曝過去 何谓 Scanner? 其功能为何? 答:一种曝光机,其曝光动作为Scanning and step形式, 在一個exposure field曝光時, 先Scan完整個field, Scan完後再移到下一個field. 何为象差? 答:代表透镜成象的能力,越小越好. Scanner比Stepper优点为何? 答:Exposure Field大,象差较小 曝光最重要的两个参数是什幺? 答:Energy(曝光量), Focus(焦距)。如果能量和焦距调整的不好,就不能得到要求的分辨率和要求大小的图形,主要表现在图形的CD值超出要求的范围。因此要求在生产时要时刻维持最佳的能量和焦距,这两个参数对于不同的产品会有不同。 何为Reticle? 答:Reticle也称为Mask,翻译做光掩模板或者光罩,曝光过程中的原始图形的载体,通过曝光过程,这些图形的信息将被传递到芯片上。 何为Pellicle? 答:Pellicle是Reticle上为了防止灰塵(dust)或者微塵粒子(Particle)落在光罩的图形面上的一层保护膜。 何为OPC光罩? 答:OPC (Optical Proximity Correction)为了增加曝光图案的真实性,做了一些修正的光罩,例如,0.18微米以下的Poly, Metal layer就是OPC光罩。 何为PSM光罩? 答:PSM (Phase Shift Mask)不同于Cr mask, 利用相位干涉原理成象,目前大都应用在contact layer以及较小CD的Critical layer(如AA,POLY,METAL1)以增加图形的分辨率。 何為CR Mask? 答:傳統的鉻膜光罩,只是利用光訊0與1干涉成像,主要應用在較不Critical 的layer 光罩编号各位代码都代表什幺? 答:例如003700-156AA-1DA, 0037代表产品号,00代表Special code,156代表layer,A代表客户版本,后一个A代表SMIC版本,1代表FAB1,D代表DUV(如果是J,则代表I-line),A代表ASML机台(如果是C,则代表Canon机台) 光罩室同时不能超过多少人在其中? 答:2人,为了避免产生更多的Particle和静电而损坏光罩。 存取光罩的基本原则是什幺? 答:(1) 光罩盒打开的情况下,不准进出Mask Room,最多只准保持2个人(2) 戴上手套(3) 轻拿轻放 如何避免静电破坏Mask? 答:光罩夹子上连一导线到金属桌面,可以将产生的静电导出。 光罩POD和FOUP能放在一起吗?它们之间至少应该保持多远距离? 答:不能放在一起,之间至少要有30公分的距离,防止搬动FOUP时碰撞光罩Pod而损坏光罩。 何谓 Track? 答:Photo制程中一系列步骤的组合,其包括:Wafer的前、后处理,Coating(上光阻),和Develop(显影)等过程。 In-line Track机台有几个Coater槽,几个Developer槽? 答:均为4个 机台上亮红灯的处理流程? 答:机台上红灯亮起的时候表明机台处于异常状态,此时已经不能RUN货,因此应该及时Call E.E进行处理。若EE现在无法立即解决,则将机台挂DOWN。 何谓 WEE? 其功能为何? 答:Wafer Edge Exposure。由于Wafer边缘的光阻通常会涂布的不均匀,因此一般不能得到较好的图形,而且有时还会因此造成光阻peeling而影响其它部分的图形,因此 将Wafer Edge的光阻曝光,进而在显影的时候将其去除,这样便可以消除影响。 何为PEB?其功能为何? 答:Post Exposure Bake,其功能在于可以得到质量较好的图形。(消除standing waves) PHOTO POLYIMIDE所用的光阻是正光阻还是负光阻 答:目前正负光阻都有,SMIC FAB内用的为负光阻。 RUN货结束后如何判断是否有wafer被reject? 答:查看RUN之前lot里有多少Wafer,再看Run之后lot里的WAFER是否有少掉,如果有少,则进一步查看机台是否有Reject记录。 何谓 Overlay? 其功能为何? 答:迭对测量仪。由于集成电路是由很多层电路重迭组成的,因此必须保证每一层与前面或者后面的层的对准精度,如果对准精度超出要求范围内,则可能造成整个电路不能完成设计的工作。因此在每一层的制作的过程中,要对其与前层的对准精度进行测量,如果测量值超出要求,则必须采取相应措施调整process condition. 何谓 ADI CD? 答:Critical Dimension,光罩图案中最小的线宽。曝光过后,它的图形也被复制在Wafer上,通常如果这些最小的线宽能够成功的成象,同时曝光的其它的图形也能够成功的成象。因此通常测量CD的值来确定process的条件是否合适。 何谓 CD-SEM? 其功能为何? 答:扫描电子显微镜。是一种测量用的仪器,通常可以用于测量CD以及观察图案。 PRS的制程目的为何? 答:PRS (Process Release Standard)通过选择不同的条件(能量和焦距)对Wafer曝光,以选择最佳的process condition。