氧化锌纳米结构薄膜的微结构及光电特性调控
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氧化锌纳米结构的电化学控制制备及其光致发光性能张雯;贺永宁;周成波;崔吾元【摘要】利用电化学沉积法,通过调节电解液浓度、时间、温度等因素,在氧化铟锡(ITO)导电玻璃上制备了形貌不同的氧化锌(ZnO)纳米薄膜.通过X射线衍射、扫描电镜、透射电镜、光致发光谱等测试手段对不同形貌的ZnO纳米薄膜进行了表征和研究.研究表明,在高于阈值电压的情况下氧化锌薄膜迅速生成,微观形貌主要受电解质溶液的浓度影响,随着电解质浓度的升高可分别获得胞芽状、棒状、片层状结构,结合晶体生长理论探讨了不同形貌ZnO薄膜的成因.室温光致发光谱显示片状的ZnO纳米薄膜在近带边有较强的宽化激发峰,而可见区的发光峰受到明显抑制,这一结构有望应用于光电器件、传感器等领域.%Different types of zinc oxide (ZnO) nanostructures were prepared by electrochemical synthesis on an indium tin oxide (ITO) glass substrate by adjusting the concentration of the electrolyte, deposition time and temperature. X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscope (SEM), high resolution transmission electron microscope (HRTEM) and photoluminescence (PL) spectrum were to determine the characteristics of these ZnO nano structures. The results show that ZnO films is formed quickly at the voltage over a threshold. The ZnO films morphologies are determined by the concentration of the electrolyte. Nanobuds, nanorods, flakes can be obtained in turn with the concentration of Zn(NO3)2·6H2O increasing. Such different morphology formation mechanisms are discussed on the basis of crystal growth theory. The PL spectra of the samples show that the flake ZnO films have a significant widen near edge emission peak with the depressed visibleemission, which may have potential applications on optoelectronic devices and sensors.【期刊名称】《无机材料学报》【年(卷),期】2011(026)006【总页数】5页(P602-606)【关键词】氧化锌;纳米结构;电化学法;光致发光【作者】张雯;贺永宁;周成波;崔吾元【作者单位】西安交通大学,理学院,西安710049;西安交通大学,电信学院,西安710049;西安交通大学,电信学院,西安710049;西安交通大学,电信学院,西安710049【正文语种】中文【中图分类】TQ132近年来, 电化学沉积法在纳米材料的制备中受到越来越多的关注, 因为电化学沉积具有反应条件温和、可控性好、适用范围广、成本低等诸多优点[1].通过此方法已经获得了多种金属材料和非金属氧化物的纳米线、纳米管、纳米粉等[2-4].ZnO是一种重要的Ⅱ–Ⅵ族直接带隙宽禁带化合物半导体材料, 有很高的激子束缚能、生物相容性好, 来源广泛, 其一维结构在紫外激光、光致发光、场致发射、传感器、太阳能电池等领域具有很好的应用前景[5-8]. ZnO的制备一般采用气相生长法和溶胶−凝胶法, 目前较成熟的气相法生长温度高、设备昂贵、工艺条件不易控制、需在衬底片上预先生长催化剂层或者纳米籽晶层来引导自组装; 而溶胶−凝胶法的制备又存在时间较长、大面积均匀性差、重复性较差等问题, 使其难于工业化. 本工作采用电化学沉积法, 通过调节电解液浓度、反应温度、时间等因素, 在氧化铟锡(ITO)导电玻璃衬底上获得了形貌不同的ZnO纳米薄膜, 并通过各种表征手段对不同形貌的ZnO纳米薄膜进行了研究, 探索了其在光致发光及光电探测领域应用的可行性.1 实验利用常规的三电极系统在工作电极ITO玻璃上沉积获得ZnO纳米结构. 对电极为铂丝, 银/氯化银电极为参比电极, 用前活化. ITO玻璃的薄膜电阻率为13 mΩ˙cm. 电化学沉积的有效面积约为2cm2, 根据实验需要控制电位. 电解质分别为浓度0.001、0.01、0.1mol/L的Zn(NO3)2˙6H2O水溶液. 电解液由电解质、支持电解质和溶剂组成. 支持电解质为0.1mol/L KCl溶液, 目的是减小溶液电阻, 消除电迁移效应, 保持溶液的离子强度恒定. 电沉积温度如无特别指明一般为70℃, 时间为10min.用XRD-6000型X射线衍射分析仪(X-ray diffraction, XRD)分析 ZnO纳米结构的物相组成; 用 JEOL JSM-7000型扫描电子显微镜(scanning electron microscope, SEM)观察薄膜的微观形貌, 利用附带的 X射线光电子能谱(on-system energy-dispersive X-ray, EDX)获得纳米结构的元素组成比; 用高分辨透射电镜(high resolution transmission electron microscope, HR-TEM) 观察纳米结构, 并用选区电子衍射花样确定晶体结构; 以波长为325 nm的He-Cd激光器(KIMMON)为激发源测定样品光致发光谱.2 结果与讨论图1 不同浓度Zn(NO3)2˙6H2O在ITO玻璃上电化学沉积获得的不同结构的ZnO 薄膜的SEM照片及XRD图谱(70℃, 10min)Fig.1 SEM images and XRD patterns of ZnO nanostructures electro-deposited on ITO glasses withdifferent concentrations of Zn(NO3)2˙6H2O solutions(70℃, 10min)(a)0.1mol/L; (b) 0.01mol/L; (c) 0.001mol/L; (d) XRD patterns图1 为电化学沉积法在温度为70℃, 沉积时间为10min条件下采用不同浓度的Zn(NO3)2˙6H2O溶液获得的薄膜微观形貌照片及相对应的XRD图谱,由图1可看到在其它条件相同的条件下, 仅电解液浓度的变化对薄膜的微观形貌影响很大. 在Zn(NO3)2˙6H2O浓度较高的情况下(0.1 mol/L)生长出一层白色连续的膜, 其微观为竖立的垂直与衬底的六方片交织结构, 六方片的厚度仅有 30~100nm左右, 而片尺寸却较大, 可达 2~3 μ m; 当Zn(NO3)2˙6H2O浓度低至0.01 mol/L时获得的薄膜是由直径为几百纳米垂直于衬底生长的小短棒构成; 而当Zn(NO3)2·6H2O 浓度很低时(0.001mol/L), ZnO薄膜的微观结构呈现小胞芽状, 大小从几十到几百纳米不等, 但薄膜整体的均匀性很好. 图 1(d)各不同微观形貌薄膜所对应的 XRD图谱也表现出明显的差别. 微观为片层交织结构薄膜的衍射峰符合ZnO 纤锌矿结构(JCPDS 36-1451), 其中(102)、(103)晶面强度较高而(002)峰受到一定的抑制; 微观为短棒状结构的薄膜只表现出(002)峰, 呈现较强的 c 轴取向特征; 微观为小胞芽状的薄膜在2θ >30°范围内无明显ZnO的特征衍射峰, 但经500℃热处理1h后出现明显的ZnO特征峰. 通过透射电镜照片和选区电子衍射花样标定可知热处理后的小胞芽ZnO为单晶(图2), 属密排六方结构[9].研究显示, 除电解质浓度外, 其它电化学沉积条件的改变在一定程度上也可引起薄膜微观形貌的变化. 图3为0.1 mol/L Z n(NO3)2˙6H2O在70℃下沉积不同时间获得薄膜的微观形貌, 由图可以看到沉积时间越长, 片状结构的厚度和六边形的尺寸越大,这符合晶体生长的一般规律. 晶核形成和长大存在动态的平衡, 那些垂直与衬底且与导电层接触良好的六边形生长优势明显, 在延长沉积时间的情况下择优生长.体系温度的变化会影响到传质. 一般的, 电化学沉积法是在较低的温度下进行, 温度控制在60℃到90℃范围内. 若温度太低, 则得到的电化学沉积膜不够均匀, 细小片层结构分布散乱, 规律性较差;而温度过高会使传质加剧, 临近片层融合而失去原有的结构特征.研究发现电压的大小对氧化锌纳米结构的微观形貌几乎没有影响, 但是需要注意的是, 电压必须超过一定阈值, 电化学沉积才能正常进行, 换而言之就是需维持导电层上一定的电流密度; 电压也不能过大, 否则会导致衬底片上的电流密度过大, 进而破坏ITO玻片上的导电层, 使薄膜发黑.电解液浓度的变化对薄膜的微观形貌影响很大,可综合考虑电解液中的离子影响以及晶体成核和长大的竞争来解释. 电化学沉积的基本原理可简化成如下的方程式[10-11].图2 电化学沉积获得的(a)胞芽状ZnO纳米晶TEM照片及(b)选区电子衍射花斑Fig. 2 (a) TEM image of nanocoils obtained by electro-depositing synthesis;(b) the select area electron diffraction pattern (SAED) from the position marked with circle70℃, 10min, 0.001mol/L Zn(NO3)2˙6H2O图3 在ITO玻璃上电化学沉积不同时间获得的ZnO薄膜SEM照片( 70℃,0.1mol/L Zn(NO3)2˙6H2O)Fig. 3 SEM images of ZnO nanostructures electro-deposited on ITO glasses for different time(a) 10min, (b) 120minZn(NO3)2˙6H2O溶于水得到Zn2+和NO3−, NO3−得电子被还原为NO2−, 同时产生一定量的活性氧负离子O2−, O2−氧化性很强, 可迅速与周围的H2O反应生成OH−, 或与Zn2+直接作用形成ZnO. 而Zn2+也可与反应得到的OH−发生羟化反应生成Zn(OH)2,最后经过脱水得到ZnO. NO3−浓度较高的体系转化得到的O2−和OH−浓度也较高, 形成Zn(OH)2的羟化作用的速度明显大于其脱水生成ZnO的速度, 导致膜层呈富氧的非整比状态. 此外, 电化学沉积体系中都加入了0.1mol/L的氯化钾(KCl)支持电解质, 较高浓度的氯离子(Cl−)通电情况下易于吸附于 ZnO的(0001)晶面上, 与锌氧结构基元形成一定的竞争关系, 阻碍锌氧结构基元靠近(0001)晶面, 而羟化作用的速度快使体系有足够的生长基元, 克服了择优取向, 使锌氧结构基元也在其它晶面沉积, 多方向发展最终形成二维纳米结构. 当使用较低浓度的Zn(NO3)2时, 羟化作用的速度明显减慢, 锌氧结构基元对(0001)晶面的亲和力要高于Cl−, 较慢的生长速度使离子有足够的时间发生交换, 避免了Cl−在(0001)晶面上的存在, 使 ZnO最终形成了一维的纳米短棒状结构. 而进一步降低Zn(NO3)2的浓度会使体系生长基元不足, 只能获得胞芽状结构. 这一影响也可从表1中不同纳米结构的能谱分析结果中得到验证, 表中片状结构中氧元素和氯元素的含量都明显高于低浓度得到的胞芽状结构中两元素的含量.经过上述分析可见: 电化学沉积得到的二维纳米结构是高浓度硝酸锌羟化速率大于脱水速率和支持电解质中的氯离子共同作用的结果.表1 片状和胞芽状纳米结构的元素组成(原子百分比)Table 1 Elemental compositions(at%) for ZnO flakes and nanobudsNanobuds 52.96 3.26 Cl K 8.21 2.47 Zn K 19.43 37.51 In K 2.90 3.80 Total 100.00 100.00图4为不同电解质浓度下获得的ZnO纳米薄膜的PL图谱. 由图可知, 片层交织结构在376 nm处有较强的紫外发射峰, 但峰明显宽化, 延伸到470nm 附近, 而微观为短棒状和胞芽状的 ZnO薄膜紫外发射峰很弱.通常认为, 可见区的蓝绿光发射与ZnO纳米结构中深能级晶格缺陷有关[12]. 485nm附近发光是由氧空位与间隙氧之间跃迁产生的, 520nm处发光是由于ZnO 纳米结构表面上离子化氧空位中的电子与价带中光激发的空穴之间的复合[13]. 电化学晶体生长过程中产生的氧空位量较少, 且由于薄膜制备的环境中Cl−含量较高, 在 ZnO晶体形成过程中ZnO表面产生氧空位缺陷的几率则被大大降低, 从而抑制了深能级的可见光发射. 而紫外发射峰半高宽展宽一般认为是由所得纳米结构尺度不够均匀所导致的[14]. 片层厚度在 30~100nm左右可能是其产生宽化紫外发射峰的原因. 片状ZnO薄膜带边发射强度和缺陷发射峰强度比值大, 表明六边形片整体结晶性好, 缺陷少, 室温下的光致发光以自由激子发光为主. 这一结构将在光电器件、传感器等领域有很好的应用前景.3 结论利用电化学沉积, 通过调节电解液浓度、时间、温度等因素, 在ITO玻璃上沉积获得不同微观形貌的ZnO纳米薄膜. 研究表明在高于阈值电压的情况下, 氧化锌薄膜迅速生成. 随电解质溶液浓度的升高可分别获得胞芽状、棒状、片层状微观结构, 其原因在于不同电解质浓度下羟化作用和脱水作用的不同和支持电解质中氯离子的影响导致晶体生长受不同过程控制. 垂直于衬底的六方片状ZnO层有很好的单晶特性, 厚度仅为30~100nm, 室温光致发光谱显示薄膜在近带边有较强的宽化激发峰, 而可见区的深能级发光峰受到明显抑制, 这一结构有可能应用于光电器件及传感器等领域.图4 不同Zn(NO3)2˙6H2O浓度下获得的ZnO纳米薄膜PL图谱Fig. 4 PL spectra of ZnO nanostructure films electro deposited with different concentrations of Zn(NO3)2·6H2O参考文献:【相关文献】[1] Reginald M P. 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掺钛氧化锌纳米薄膜微结构及其光电性能研究 陈真英;聂鹏;廖庆佳;黄文华;孟炎;熊定康;邓文 【期刊名称】《功能材料》 【年(卷),期】2016(047)001 【摘 要】采用射频磁控溅射法,以不同保温时间的掺钛氧化锌为靶材在普通玻璃衬底上制备了TZO(掺钛氧化锌)薄膜样品,测试其微结构和光电性能,从而获得制备性能优越的TZO薄膜所需靶材的最佳条件.测试结果表明,所有样品均为具有c轴择优取向的六角铅锌矿多晶纳米薄膜;靶材烧结温度和保温时间对薄膜微结构和光电性能有较大影响;以经1 500℃烧结并保温6h的靶材所制备的薄膜光电性能较好,具有较大晶粒尺寸,在可见光区(400~760 nm)有较高的平均透过率91.16%,较低电阻率1.07×10-4Ω·cm,较高的载流子浓度和较大迁移率.
【总页数】5页(P1077-1081) 【作 者】陈真英;聂鹏;廖庆佳;黄文华;孟炎;熊定康;邓文 【作者单位】广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004;广西大学行健文理学院,南宁530004;广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004;广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004;广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004;广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004;广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004;广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004
【正文语种】中 文 【中图分类】TB34 【相关文献】 1.掺镧二氧化钛纳米薄膜杀菌性的研究 [J], 李红丽;陆晓唯;林云跃;陆治国 2.氢气氛退火对掺钛氧化锌薄膜光电性能的影响 [J], 罗珑玲;孙慧;陈丹馨;宋美霖;徐守磊;邓文 3.钛镁共掺氧化锌透明导电薄膜的制备及其光电性能 [J], 钟志有;田雨;龙浩;陈首部;杨春勇 4.溅射压强对掺钛氧化锌纳米薄膜微结构和光电性能的影响 [J], 陈真英;黄文华;李丽夏;黄宇阳;邓文 5.氧氩流量比对氧化铋纳米薄膜微结构及光电性能的影响研究 [J], 陈真英;周际越;邓文;彭富平
化学之光氧化锌的光催化性质化学之光:氧化锌的光催化性质引言光催化是一种重要的催化过程,在化学、环境和能源领域都具有广泛的应用前景。
氧化锌是一种常见的光催化材料,具有独特的光催化性质,被广泛研究和应用。
本文将就氧化锌的光催化性质进行探讨,旨在深入了解其在环境净化、光电器件和能源转化等方面的潜在应用。
一、氧化锌的基本性质和结构氧化锌(ZnO)是一种具有广泛用途的化合物,它是一种白色固体,具有光电、磁电和压电性质。
ZnO晶体结构为六方紧密堆积,晶格常数较小,催化活性高。
此外,氧化锌可通过不同的合成方法制备出不同形貌的纳米结构,如纳米线、纳米颗粒和纳米片等。
二、氧化锌的光催化机制氧化锌作为一种光催化剂,其光催化机制主要涉及以下几个方面:1. 光生载流子的产生当氧化锌吸收光能时,电子从价带跃迁到导带,形成光生载流子。
光生载流子在氧化锌表面活化了催化反应,是光催化反应的关键步骤。
2. 氧化锌的带隙结构氧化锌的带隙宽度约为3.37 eV,属于宽带隙半导体材料。
带隙宽度决定了其能够吸收的光谱范围,从紫外到可见光,在光催化反应过程中能够有效利用太阳光能。
3. 氧化锌表面的活性位点氧化锌表面具有丰富的活性位点,如氧空位、锌空位和亚表面氧等。
这些活性位点吸附和激活反应物,提高了光催化反应的速率和效率。
三、氧化锌的光催化应用1. 环境净化氧化锌的光催化性质可以被用于空气和水的净化。
以空气净化为例,氧化锌可以将有害气体如一氧化氮、二氧化硫等转化为无害物质。
通过调节氧化锌的形貌和控制光照条件,可以提高空气净化的效果。
2. 光电器件氧化锌的光催化性质使其成为制备光电器件的理想材料。
例如,氧化锌纳米线可以用于制备染料敏化太阳能电池,其高光催化活性和导电性能使得光电转化效率显著提高。
3. 能源转化氧化锌的光催化特性可应用于能源转化领域,例如水分解制氢和二氧化碳还原制备可燃气体等。
这种基于氧化锌的光催化方法为可持续能源发展提供了新途径。
铟掺杂对氧化锌薄膜的结构和光致荧光特性的影响1. 氧化锌薄膜的制备氧化锌薄膜通常采用物理气相沉积(PVD)或化学气相沉积(CVD)等方法制备。
其中以溅射法制备氧化锌薄膜具有较高的制备温度,制备过程中容易产生氧化物杂质等缺点。
而溶液法制备氧化锌薄膜的工艺简单、成本低,因此在实际应用中更受到青睐。
2. 铟掺杂氧化锌薄膜的制备铟掺杂氧化锌薄膜的制备通常采用溶胶-凝胶法。
首先通过溶剂(如乙醇)、表面活性剂(如十二烷基硫酸钠)以及适量的铟源(如铟醋酸)将氧化锌前驱体和铟源混合,制备成预体溶胶。
随后,将溶胶旋涂于基板上,并在适当的温度下进行热处理,最终得到铟掺杂氧化锌薄膜。
3. 结构表征对铟掺杂氧化锌薄膜的结构进行表征可以通过X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)等手段。
XRD结果可以得到样品的晶胞参数和衍射峰位置,从而了解样品的结晶性和晶格结构;SEM和TEM结果则可以观察样品的表面形貌和内部微观结构,从而了解样品的形貌和微观结构。
4. 光致荧光特性测试光致荧光特性测试通常采用光致发光(PL)和光致减少(PLE)等手段。
PL测试是将样品暴露在紫外光下,观察其发出的荧光信号,从而了解样品的荧光强度和荧光峰位置;PLE测试则是在不同波长下激发样品,观察其发出的荧光信号,从而了解样品的激发能级和能带结构。
5. 铟掺杂对氧化锌薄膜结构的影响研究表明,铟掺杂可以有效地改善氧化锌薄膜的结晶性和晶体结构。
通过XRD测试发现,铟掺杂能够显著提高氧化锌薄膜的结晶度,减小晶粒尺寸,使得晶格参数发生改变。
SEM和TEM测试结果也表明,铟掺杂明显改善了氧化锌薄膜的致密性和表面平整度,使得薄膜的微观结构更加均匀和紧密。
6. 铟掺杂对氧化锌薄膜光致荧光特性的影响铟掺杂对氧化锌薄膜的光致荧光特性也有着显著影响。
通过PL和PLE测试可以得知,铟掺杂显著增强了氧化锌薄膜的荧光强度和荧光峰位置。
这是因为铟的掺杂能够引入能带杂质能级,改变氧化锌的能带结构,使得载流子的复合和辐射过程得到促进,从而提高了氧化锌薄膜的光致荧光性能。
《纳米棒状ZnO自组装结构的制备及其光电性能研究》篇一一、引言随着纳米科技的飞速发展,纳米材料因其独特的物理和化学性质,在众多领域展现出了广阔的应用前景。
其中,氧化锌(ZnO)作为一种宽禁带、高激发束缚能的半导体材料,因其良好的光电性能而备受关注。
本文以纳米棒状ZnO自组装结构为研究对象,详细探讨了其制备方法及其光电性能。
二、纳米棒状ZnO自组装结构的制备(一)实验材料与设备本实验所使用的材料主要包括氧化锌粉体、氢氧化钠、氢氧化钾等。
实验设备包括磁力搅拌器、高温反应釜、离心机、电镜等。
(二)制备方法本实验采用水热法制备纳米棒状ZnO自组装结构。
首先,将氧化锌粉体溶于适量的去离子水中,形成一定浓度的锌盐溶液;其次,向溶液中加入适量的氢氧化钠和氢氧化钾,调节溶液的pH 值;然后,将溶液置于高温反应釜中,在一定的温度和压力下进行水热反应;最后,通过离心、洗涤、干燥等步骤得到纳米棒状ZnO自组装结构。
三、结构与形貌分析(一)结构分析通过X射线衍射(XRD)技术对所制备的纳米棒状ZnO进行结构分析。
结果显示,所制备的ZnO为六方纤锌矿结构,具有良好的结晶性。
(二)形貌分析利用扫描电子显微镜(SEM)对所制备的纳米棒状ZnO进行形貌观察。
结果显示,所制备的ZnO为直径约几十纳米的棒状结构,且呈现出自组装的特点,形成了三维网络结构。
四、光电性能研究(一)光吸收性能通过紫外-可见光谱(UV-Vis)对所制备的纳米棒状ZnO的光吸收性能进行研究。
结果显示,ZnO纳米棒在紫外光区域具有较高的光吸收性能,且随着波长的增加,光吸收逐渐减弱。
(二)光电导性能在黑暗和光照条件下,分别测量所制备的纳米棒状ZnO的电流-电压(I-V)曲线。
结果显示,在光照条件下,ZnO纳米棒的光电导性能明显增强,表明其具有良好的光响应性能。
五、结论本文采用水热法成功制备了纳米棒状ZnO自组装结构,并通过XRD、SEM、UV-Vis和I-V等手段对其结构和光电性能进行了研究。
射频溅射氧化锌薄膜晶体结构和电学性质1 射频溅射氧化锌薄膜晶体结构与电学性质近年来,由于其极具竞争力的性能、结构和电学性质,太阳能电池和相关器件在电子工业中得到了广泛应用。
锌氧化薄膜材料具有高光电转换效率、高弹性和高耐压强度等优异特性。
随着工业的发展,研究人员发现射频(RF)溅射氧化锌薄膜晶体具有成本低、制作流程简单的优点,且具有良好的形貌、光学和电学性能。
研究发现,氧化锌约占含量85-94 %的薄膜膜层中的81 % 的质量,而其余的含量约为碳和氧。
2 射频溅射氧化锌薄膜晶体结构射频溅射法制备的氧化锌薄膜晶体,其结构表面质量取决于原料涂料配方和制备工艺参数,如溅射过程的拍频周期、脉冲宽度、加料速率和沉积温度。
根据研究表明,ZnO晶形具有高表面粗糙度和微结构的特殊结构参数,如谷底深度、谷底宽度和波峰与波谷之间的相关性。
3 射频溅射氧化锌薄膜晶体电学性质射频溅射制备氧化锌薄膜晶体还具有优异的电学性能。
这些材料具有低拉曼散射损失和较高的电子导线将导致其作为有效的电磁波吸收器。
研究发现,晶体层具有良好的电磁波吸收性能,特别是在低压应力水平,较低的黑体晶体热膨胀。
此外,ZnO晶体具有优异的稳定性,可抵抗显著的温度变化,这是其作为一个关键材料用于太阳能电池应用的重要原因。
4 结论射频溅射氧化锌薄膜晶体具有优异的晶体结构和电学性能,可用作太阳能电池中的关键材料,具有良好的表面粗糙度、微结构参数、拉曼散射损失、电子传导能力和稳定性等性能。
由于其低成本、简便的制备流程,射频溅射氧化锌薄膜晶体受到了广泛的应用,可以有效提高太阳能电池的可靠性和性能。
铟掺杂对氧化锌薄膜的结构和光致荧光特性的影响1. 引言1.1 研究背景随着科学技术的不断发展,人们对铟掺杂对氧化锌薄膜的结构和光致荧光特性的影响进行了深入研究。
了解铟掺杂后对氧化锌薄膜的影响,不仅可以拓展其在光电器件中的应用范围,还有助于优化器件的性能,提高其稳定性和可靠性。
本文旨在探讨铟掺杂对氧化锌薄膜的结构和光致荧光特性的影响,通过实验和理论分析,深入了解铟掺杂后氧化锌薄膜的微观结构变化和光致荧光性能的改变,为进一步优化氧化锌薄膜在光电器件中的应用提供理论依据和实验支持。
1.2 研究目的研究目的:本研究旨在探讨铟掺杂对氧化锌薄膜结构和光致荧光特性的影响。
通过分析铟掺杂后氧化锌薄膜的结构特征,可以深入了解铟掺杂对晶格结构、晶体形貌等方面的影响。
研究铟掺杂对氧化锌薄膜的光致荧光特性的影响,有助于揭示铟掺杂后薄膜的发光机制,为进一步优化氧化锌薄膜的光电性能提供理论依据。
通过对铟掺杂氧化锌薄膜的研究,可以为薄膜的制备工艺优化和光电器件的应用提供重要参考,推动氧化锌材料在光电领域的发展。
2. 正文2.1 铟掺杂对氧化锌薄膜结构的影响铟掺杂是一种常用的手段,用来改善氧化锌薄膜的结构与性能。
铟(In)元素的掺杂可以有效地调控氧化锌薄膜的晶体结构和晶粒尺寸。
实验表明,随着铟掺杂浓度的增加,氧化锌薄膜的晶体结构逐渐由多晶向单晶转变,晶粒尺寸也逐渐增大。
这种结构的调控可以显著改善氧化锌薄膜的导电性能和光学性能。
铟掺杂还可以影响氧化锌薄膜的表面形貌和表面能。
随着铟掺杂量的增加,氧化锌薄膜表面的粗糙度逐渐减小,表面能也逐渐增大。
这种表面形貌和表面能的变化对于氧化锌薄膜的光学特性和化学稳定性有着重要的影响。
铟掺杂可以有效地调控氧化锌薄膜的结构,主要通过影响晶体结构、晶粒尺寸、表面形貌和表面能来改善薄膜的性能。
这些研究结果为进一步深入探究铟掺杂对氧化锌薄膜性能的影响提供了重要参考和依据。
2.2 铟掺杂对氧化锌薄膜光致荧光特性的影响铟掺杂是一种常用的改变氧化锌薄膜光致荧光特性的方法。
铟掺杂对氧化锌薄膜的结构和光致荧光特性的影响引言一、ZnO薄膜的制备ZnO薄膜可以通过多种方法来制备,如物理气相沉积(PVD)、化学气相沉积(CVD)和溶液法等。
溶液法制备ZnO薄膜具有工艺简单、成本低廉、可实现大面积制备等优点,因此在实际应用中得到了广泛关注。
实验中,我们采用了溶胶-凝胶法来制备ZnO薄膜,具体步骤如下:将适量的Zn(CH3COO)2溶解在乙醇中,形成Zn离子溶液;然后,加入适量的铟掺杂剂,如InCl3;接着,在溶液中加入适量的NH4OH,通过反应生成Zn(OH)2凝胶;通过热处理过程将Zn(OH)2凝胶转变为ZnO薄膜。
经过多次实验优化,我们得到了结晶度较高且表面平整的ZnO薄膜。
二、铟掺杂对ZnO薄膜结构的影响1. 晶体结构铟掺杂对ZnO薄膜的晶体结构有着显著的影响。
通过X射线衍射(XRD)分析发现,随着铟掺杂浓度的增加,ZnO薄膜的(002)衍射峰出现了明显的位移,且强度逐渐增强。
这表明铟掺杂可以有效促进ZnO薄膜的结晶生长,提高其晶体质量。
随着铟掺杂浓度的增加,ZnO薄膜的晶格常数也发生了变化,这可能是由于铟离子的替换作用导致了晶格畸变。
2. 表面形貌铟掺杂还对ZnO薄膜的表面形貌产生了影响。
扫描电子显微镜(SEM)观察发现,未掺杂的ZnO薄膜表面呈现出较大的颗粒状结构,而铟掺杂后,薄膜表面的颗粒大小和分布均匀度均有所提高。
这可能是由于铟掺杂抑制了ZnO薄膜晶粒的生长,从而使得薄膜表面的颗粒更加均匀。
1. 光致荧光光谱通过光致荧光光谱分析,我们发现铟掺杂显著影响了ZnO薄膜的发光特性。
在未掺杂的ZnO薄膜中,主要存在于385 nm处的紫外光致发光峰;而在铟掺杂后,紫外光致发光峰出现红移,且发光强度有所增强。
这表明铟掺杂可以有效提高ZnO薄膜的发光效率,并且可以拓宽其发光范围,使其具有更广泛的应用前景。
2. 能带结构进一步通过光电子能谱(XPS)分析发现,随着铟掺杂浓度的增加,ZnO薄膜的导带和价带位置均发生了显著的变化。
纳米结构氧化锌半导体zno薄膜的室温紫外激光发射引言1.1 概述纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜作为一种具有优异光学和电学性能的材料,近年来受到了广泛关注。
它不仅具有高透过率和低电阻率的特点,还表现出优异的紫外激光发射性能。
随着纳米技术的不断发展,人们对于纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜在光电器件和生物医学领域中的应用前景越来越感兴趣。
1.2 文章结构本文分为五个部分进行阐述。
首先是引言部分,对纳米结构氧化锌半导体ZnO 薄膜的室温紫外激光发射进行了概述,并说明了文章的结构。
接下来是第二部分,详细介绍了纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜的基本原理、室温下紫外激光发射机制以及制备方法和工艺技术。
第三部分探讨了纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜在光电器件和生物医学领域的应用前景,并指出了制备和性能优化方面所面临的挑战。
第四部分详细描述了实验方法和结果分析,包括ZnO薄膜制备过程、结构表征和光学特性测试以及实验结果的分析与讨论。
最后一部分是结论及展望,对纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜的室温紫外激光发射进行总结,并提出未来研究方向和展望。
1.3 目的本文旨在系统地探讨纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜在室温下的紫外激光发射特性。
通过对纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜基本原理、室温下紫外激光发射机制以及制备技术等方面进行研究,进一步探讨其在光电器件和生物医学领域中的应用前景。
此外,我们还将介绍实验方法和结果,并对纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜的未来研究方向进行展望。
以上为文章“1. 引言”部分的详细内容。
2. 纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜的室温紫外激光发射:2.1 纳米结构氧化锌半导体ZnO薄膜的基本原理:纳米结构氧化锌(ZnO)是一种独特的半导体材料,具有广泛的应用前景。
ZnO薄膜具有优异的光学和电学性质,使其成为实现室温紫外激光发射的理想材料。
这是因为ZnO具有直接带隙特性,并且能够实现较高的载流子浓度。
此外,纳米结构ZnO通过量子限制效应,可以显著改变其电子结构和光学特性。
氧化锌纳米结构薄膜的微结构及光电特性调控
氧化锌(ZnO)具有优异的光电性能,在紫外蓝光光电子器件、透明电子器件、自旋电子器件和压电及热电传感器等领域有着重要的研究价值,目前已成为学术界研究的一个焦点。
虽然对氧化锌的研究已经有了相当长的历史,但ZnO材料的一些光学电学性能及其调控机理并未完全清楚,这些问题包括p型ZnO问题、ZnO的施主受主缺陷的辨认问题、ZnO在可见光区的发光中心问题及ZnO分级结构的可控制备问题等等。
寻找这些问题的答案对于增强、扩展ZnO材料在器件上的应用以及器件功能的实用化来说至关重要。
泽辉化工主要在以下几个方面做了一些工作:(一)采用磁控溅射法制备了Mo掺杂的氧化锌(MZO)薄膜,研究了不同的掺杂量对ZnO薄膜的微结构、电学、光学及发光性能的影响,研究了退火对薄膜导电性能、发光性能的影响。
结果表明,MZO薄膜为多晶颗粒膜,掺钼影响薄膜的表面粗糙度;退火后薄膜的多晶颗粒尺寸变大数倍。
MZO’薄膜均为六方纤锌矿结构,且沿c轴择优生长。
MZO薄膜的平均晶粒尺寸及薄膜内的应力均呈现随Mo掺杂量的增大而先增大后减小的趋势,MZO:2%薄膜具有最大的平均晶粒尺寸和内应力。
退火可以使MZO薄膜的晶粒尺寸明显增大,同时使薄膜中的应力释放。
XPS结果显示Mo在ZnO薄膜中呈+6价,显示Mo6+原子在溅射过程中其自身的化合态保持不变。
MZO:2%薄膜的Zn2p3/2结合能峰中出现位于1022.0eV的子峰(对应于Zni),说明适量Mo掺杂可以促进Zni 原子的生成。
Mo掺杂对薄膜的光学透过率和光学带隙影响不大。
MZO薄膜的电阻率随Mo 掺杂量的增大呈先减小后增大的趋势,说明适量Mo掺杂可以降低MZO薄膜的电阻率。
这应该归因于少量的钼掺杂刺激了Zni缺陷或Zni-X复合缺陷的生成,使薄膜中的Zni缺陷浓度增大,从而使载流子浓度增大。
退火导致薄膜的电阻率急剧增大。
这应该是由于薄膜中Zni缺陷浓度的降低和薄膜表面的氧吸附这两方面的原因导致的。
未退火的MZO薄膜的光致发光谱中存在一个极弱的位于380nm处的ZnO本征发光峰和一个稍强的蓝光发光峰。
退火使薄膜的光致发光强度快速增强,这应该是由于退火导致薄膜晶粒尺寸增大所导致的。
退火还导致位于380和412nm位置处的发光峰逐渐被增强的位于400nm处的发光峰所掩盖,在525nm 位置处也逐渐出现另一个新生成的绿光发光峰。
在800℃下退火1小时后,MZO薄膜光致发光谱的发光峰位置基本一致,但MZO薄膜的发光强度几乎是未掺杂ZnO薄膜的发光强度的近10倍,说明在退火过程中MZO薄膜更容易生成发光缺陷(Vzn和Ozn缺陷)。
(二)采用水热法分别制备了掺铝、掺镧和掺钇的ZnO纳米结构薄膜,并研究了每种样品的微结构、光学特性及低温发光特性。
结果表明,掺铝氧化锌(AZO)纳米结构薄膜由六方纤锌矿结构的ZnO纳米锥构成,掺铝对薄膜的表面形貌和光学透过率没有明显影响。
薄膜的光致发光谱存在两个比较宽的发光峰,P1峰和P2峰。
随着掺杂量的增大,P1峰的绝对光强度及其对P2峰的相对光强度都迅速增大,并在掺杂浓度达到10%时达到最大值。
在10-297K温度下的低温光致发光谱显示,P1峰受温度变化产生的改变不明显,但P2峰的发光强度随温度的升高呈现快速的淬灭。
这种温度淬灭应该是由于当温度升高时,发光中心的晶格弛豫增强,无辐射跃迁几率增大,从而使发光效率降低所导致的。
对于掺镧氧化锌(LZO)纳米结构薄膜,随着镧掺杂量的增大,ZnO纳米锥的平均直径和薄膜的(002)衍射峰的强度均增大。
在紫光到绿光范围内,LZO薄膜的透过率比AZO薄膜的明显低很多。
LZO薄膜在室温下紫外发光很弱,而在500-800nm内的可见光发光很强。
随着镧掺杂量的增大,可见光区发光峰的强度也在逐渐增大,当掺杂浓度达到8%时,样品发光峰的强度是未掺杂ZnO薄膜的2.5倍左右。
紫外发光峰强度随着掺杂量的增大没有明显变化。
LZO薄膜的可见光区发光也呈现与AZO薄膜类似的温度淬灭现象,同时其紫外发光峰的峰位在升温过程中有红移现象,这种峰位的移动应该是由于温度升高时晶格常数增大所导致的。
掺钇氧化锌(YZO)薄膜的微结构及光学透过率对不同钇掺杂量的变化情况与LZO薄膜的类似。
室温下YZO薄膜在500-800nm范围内有较强
的光致发光,但钇掺杂对发光谱的强度和峰位无明显影响,这一特点与AZO、YZO薄膜均不同。
(三)采用化学浴沉积法在ZnO薄膜表面沉积了不同尺寸和密度的CdS量子点,研究了CdS-ZnO纳米异质结构薄膜的微结构、光学、光催化特性,具体结果如下。
在ZnO表面,CdS 量子点的尺寸和密度随着化学浴沉积次数的增大而越来越大;沉积4次得到的CdS-ZnO-4Ts 样品表面的CdS量子点粒径均匀,分布较密。
CdS量子点修饰导致薄膜吸收系数增大很多。
CdS量子点修饰对ZnO发光的影响不明显。
CdS-ZnO-4Ts薄膜在120分钟内对甲基橙溶液的降解率可达到96%,而纯的ZnO薄膜在120分钟的时间内只降解了35%的甲基橙,说明CdS 量子点修饰可以明显增强ZnO薄膜的光催化效果。
(四)采用电沉积法和阳极氧化法制备了ZnO纳米结构,具体结果如下。
采用电沉积法制备的ZnO纳米结构呈现对电解液较为敏感的变化,当溶剂中的乙醇和水的比例为1:3时,为简单纳米片结构;当此比例为1:1时,制备出由纳米片一级一级生长所构成的“米”字形纳米分级结构;当此比例为3:1时,分级结构呈类似“雪花状”结构。
电解液中所含乙醇比例越大,所得样品光致发光谱中红光区域的强度越小,蓝光区域的强度越大。
采用阳极氧化法制备的ZnO多孔膜的表面形貌呈现随氧化电压的增大而改变的规律。
当氧化电压为20V时,可制备出一种类似四方形管的突起状结构,这种结构的成因尚在进一步研究中。