正畸头影侧位定位X片骨性测量标准值

口腔正畸学实验教程实验七、八 X线头影测量（6学时）[目的和要求]初步了解常用标志点的定位，常用的平面及测量项目的组成和意义。

[实验内容]⒈示教X头影测量的常用标志点，常用平面及常用测量项目。

⒉学生在X线头颅侧位片上进行常用标志点，平面描迹，测量常用的角、线距等项目。

[实验用品] “口腔正畸学”教科书、头颅侧位片、硫酸描图纸、硬质铅笔、橡皮、三角尺、量角器、X线看片灯等。

[方法与步骤]⒈第一实验阶段⑴描图示教：指导教师在X线头颅定位侧位片上，进行常用标志点、平面、测量项目的描迹。

⑵学生描图：1）将硫酸描图纸固定在X线头颅定位侧位片上，且置于观片灯上。

2）用铅笔描出以下点、线：蝶鞍中心点（S）：蝶鞍影像的中心。

鼻根点（N）：鼻额缝的最前点。

耳点（P）：外耳道之最上点。

颅底点（Ba）：枕骨大孔前缘之中点。

Bolton(Bo)：翼上颌裂轮廓之最下点。

眶点（O）：眶下缘之最低点。

翼上颌裂点（Ptm）翼上颌裂轮廓之最下点。

前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖。

后鼻棘（PNS）：硬腭后部骨棘之尖。

上齿槽座点（A）：前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点。

上齿槽缘点（SPr）：上齿槽突之最前下点。

上中切牙点（VI）：上中切牙切缘之最前点。

髁顶点（Co）：髁突的最上点。

关节点（Ar）：颅底下缘与下颌角的后下点。

下颌角点（Go）：下颌角的后下点。

下齿槽座点（B）：下齿槽突缘点与颏前点间之骨部最凹点。

下齿槽缘点（Id）：下齿槽突之最前上点。

下齿牙点（Li）：下中切牙缘之最前点。

颏前点（Po）：颏部之最突点。

颏下点（Me）：颏部之最下点。

颏顶点（Gn）：颏前点与颏下点之中点。

D点：下颌体骨性联合部之中心点。

——NA（mm）上中切牙缘至NA连线的垂直距离。

——NB（mm）下中切牙缘至NB连线的垂直距离。

Po-NB（mm）：颏前点至NB连线的垂直距离。

3）描绘出常用的测量平面：眼耳平面（FH）：由蝶鞍点与鼻根点之连线组成。

Bolton平面：由Bolton点与鼻根点连线组成。

头影测量的标志点、平面、角度、线距头影测量的标志点、平面、角度、线距一、标志点：1、颅部标志点：鼻根点（N）、蝶鞍点（S）、耳点（P）、Bolton点；2、上颌标志点：眶点（Or）、前鼻棘点（ANS）、后鼻棘点（PNS）、上切牙点（UI）、上齿槽点（A）；3、下颌标志点：下切牙点（LI）、下齿槽点（B）、颏前点（Po，）、颏顶点（Gn）、颏下点（Me）、下颌角点（Go）；4、软组织点：鼻顶点（Prm）、软组织颏前点（Pos）、软组织颏顶点（Gs）、软组织颏下点（Me）、上唇度突点（UL）、下唇度突点（LL）。

二、头影测量平面：（1）基准平面：前颅底平面—SN、眼耳平面—FH、Boltond平面。

（2）测量平面：腭平面（ANS-PNS，PP，MxP）、颅底平面（Ba-N）、合平面（OP）、下颌平面（MP，MnP）、下颌升支平面（RP）、面平面（NPo）、NA平面、AB平面、APo平面、审美平面（Prm-Pos，E-line）三、角度和线距：01、颅底角（NSBa）：该角反映的是关节凹与颞下颌关节的位置。

该角小时下颌趋向前，反之下颌后缩。

02、SNA角：表明上颌相对于前颅底的前后位置。

该角大时上颌相对鼻根点前突，反之，后缩。

03、SNB角：该角表示下颌相对于前颅底的前后位置。

该角大时下颌前突，反之下颌后缩。

04、ANB角：表示上颌骨和下颌骨的相对前后位置。

该角越大时表示上颌前突或者下颌后缩，反之，上颌后退或者下颌前突。

05、面角（FH-NPo）：表示颏相对于面部其他部份的位置。

面角增大表示颏部前突，反之后退。

06、A-B水平距（Wits）：由A和B点向功能合平面作垂线，其两交点之间的距离。

表示A点和B点之间的前后不调，显示上颌基骨和下颌基骨之间的不调程度，修正ANB角的固有问题。

BO在AO前负值，2mm以上，表示安氏III类错合，AO在BO前正值，表示安氏II类颌关系。

07、A-B平面角：A-B平面与面平面之间的上交角，表示上颌基骨和下颌基骨相对于面平面的前后关系。

目录∙1拼音∙2X线头影测量的主要应用∙3头颅定位X线照像和头影图的描绘o 3.1头颅定位Xo 3.2头影图的描绘∙4常用X线头影测量的标志点及平面o 4.1头影测量标志点o 4.2∙5常用硬组织测量项目o 5.1上下颌骨的常用测量项目。

o 5.2上下前牙的常用测量项目o 5.3面部高度的常用测量项目∙6电子计算机化的X线头影测量o 6.1电子计算机化的Xo 6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程o 6.3数学模型的建立[返回]1拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xī1生长发育通过对各年龄阶段个体作对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。

由于定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。

Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。

Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。

林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。

林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。

通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生2畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。

而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。

3错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想4X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。