• gi↑、Ei ↓ 、T ↑都会使NiFra Baidu bibliotek↑。但gi、Ei为定值,故只受 T影响。 12 • 将波耳兹曼方程式代入谱线强度公式中 Iij= Ni Aij h ij gi I ij Aij h ij N 0e g0 Ei kT 原子线、离子线都适用 ——此式为谱线强度公式 统计权重 g /g ∝I i 0 ij 仪器分析 第二章 原子发射光谱法 (AES) 1 本章主要内容 • • • • • § § § § § 2-1 2-2 2-3 2-4 2-5 概述 原子发射法基本原理 原子发射光谱仪 光谱定性及半定量分析 光谱定量分析 2 § 2-1 概述 一、原子发射光谱定义 原 子 发 射 光 谱 法 : (AES—Atomic Emission Spectrometry) 根据物质的气态原子或离子受激发后,所发射 的特征光谱的波长及其强度来测定物质中元素组成 和含量的分析方法。 (1)直流电弧光源 (2)低压交流电弧光源 (3)高压火花光源 (4)电感耦合等离子体光源 (ICP——Inductively Coupled Plasma) 28 1. 直流电弧光源 • 两个碳电极为阴阳两极,试样装在阳极的孔穴 中,直流电弧引燃,常采用高频引燃装置,或 使上下电极接触短路,随即拉开,电弧被引燃。 15 谱线强度和温度的关系 16 3. 跃迁概率Aij • 跃迁是原子的外层电子从高能态跃迁到低能态并发 射光子的过程。 • 跃迁概率:单位时间内自发发射的原子数与激发态 原子数之比,或者是单位时间内每个原子由一个能 级跃迁至另一能级的次数, Aij在106~109s-1之间。 gi I ij Aij h ij N 0e g0 5 把光分开 § 2-2 原子发射法基本原理 一、原子发射光谱的产生 在通常情况下,物质的原子处于基态,当受到外 界能量的作用时,基态原子被激发到激发态,同时还 能电离并进一步被激发。激发态的原子或离子不稳定 (寿命约 10-8 s ),以光(电磁辐射)形式放出能量, 跃迁到较低能级或基态,就产生原子发射光谱。 A基→A* → A + h A+→ A+* → A+ + h 激发态 Ni N0 i g i kT e g0 E • Ni、N0— 分别为处于i能态和基态原子密度。 • gi、g0— 分别为i 能态和基态的统计权重。 • Ei —i 能态和基态之间的能量差(单位:J) • k—波尔兹曼常数(1.38×10-23J·K-1或8.618×10-5ev ·K-1)。 • T —绝对温度(K) • 稳定性差,重现性不好;不适于高含量定量分析。 • 适用于矿物、难挥发试样的定性、半定量及痕量组 分分析。 30 2.低压交流电弧光源 • 交流电弧具有与直流电弧相似的放电性质。 特点: (1)每交流半周点弧一次,阴极或阳极亮斑位置不固定 在某一局部。因此,试样蒸发均匀——重现性好。 (2)电极头的温度比直流电弧阳极低,试样蒸发能力差, 分析绝对灵敏度低。 阴 阳 • 阴极产生的电子不断轰击阳极,使阳极表面形 成炽热的阳极斑,阳极头温度高达3800K,有利 于试样的蒸发、解离。 •气态原子、离子与其它粒子碰撞激发,产生原 子、离子的发射光谱。 29 • 直流电弧光源电极头温度高,有利于试样的蒸发; 适用于难挥发物质的定性分析。 • 弧焰温度高,一般达4000~7000K,激发能力强。 分析绝对灵敏度高。 • ICP炬管—由三层同心石英管组成。 外管:①工作气;②冷却气; 中管:辅助气(提高火焰、防止积碳、 保护进样管); 内管:(又称喷管或进样管)载气。 Ar 气 34 石英管外绕高频感应线圈, 用高频火花引燃, Ar气被电离,相互碰撞,更多的工作气体电离, 形成等离子体,当这些带电 离子达到足够的导电率时, 会产生强大的感应电流,瞬 间将气体加热到10000K高温。 试液被雾化后由载气带入等 离子体内,试液被蒸发、解 离、电离和激发,产生原子 发射光谱。 I ∝ C ——光谱定量分析的基础 18 gi I ij Aij h ij N 0e g0
Ei kT 在激发能、激发温度一定时,上式各项均为常数,由 此得出一定条件下谱线强度I 与试样中待测元素的浓 度c成正比,即I = ac a—与谱线性质、实验条件有关的常数 该式只在c低时才成立,浓度较大时,由于发生自吸 现象,上式修正为: I = acb,(赛伯-罗马金公式) (b为自吸系数;c低b≈1,c高 b﹤1)。 取对数:lg I = b lg c + lg a 9 3.共振线和主共振线 共振线:由各个激发态与基态之间跃迁产生的谱线。 主共振线:在共振线中, 从第一激发态与基态之间 跃迁产生的谱线称为主共 振线,也叫第一共振线。 共振线 主共振线 10 二、谱线的强度
(一)谱线强度表达式 谱线强度是原子发射光谱定量分析的依据, 了解谱线强度与各影响因素之间的关系。 试样蒸发、 将发射的 原子化、 特征光谱 激发 线分开 把发射光谱 记录或检测 下来 ①摄谱仪 电弧.火花 棱镜.光栅 感光板 ②直读光谱仪 电弧.火花 棱镜.光栅 光电倍增管 ③火焰分光 光度计 火 焰 滤光片 光电管或 27 棱镜.光栅 光电倍增管 一、光源(激发源) • 作用:为试样的蒸发、解离、原子化、激发提供能量 • 对光源的要求:灵敏度高,稳定性好,再现性好, 使用范围宽。 • 光源影响检出限、精密度和准确度。 • 光源的类型: 3 二、 原子发射光谱分析的基本过程 1. 在激发光源中将被测物质蒸发、解离、激发。 2. 由激发态返回基态或低能态,辐射出不同特征 波长的光,将被测定物质发射的复合光经分光 装置色散成光谱。 3. 根据光谱的谱线位置进行光谱定性分析,根据 谱线强度进行光谱定量分析。 4 三 、原子发射光谱分类 导入 分光系统 1. 摄谱分析法:试样 → 电光源→高能态→低能态 感光板 映谱仪(定性分析) 测微光度计(定量分析) 2. 光电直读法:电光源激发,不需经过暗室处理 3. 火焰光度法:火焰为激发光源(碱金属及个别碱土金属) 19 原子发射光谱法定量分析的基本公式 (三)谱线的自吸与自蚀 • 在发射光谱中,谱线的辐射是从弧焰中心轴辐射出 来的,中心部位温度高,边缘处的温度较低,元素 的原子或离子从光源中心部位辐射,被光源边缘基 态或较低能态同类原子吸收,使发射谱线减弱—— 谱线自吸。 谱线的自吸不仅影响谱线强度,还 影响谱线形状。 gi I ij Aij h ij N 0e kT g0 14 2. 温度T—关系较复杂 gi I ij Aij h ij N 0e g0