下载文档原格式
Ppk,Cpk,Cmk三者区别及计算摘要: Ppk、Cpk，还有Cmk三者的定义是什么？有什么区别？如何计算？ 1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式 Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无 ...原文内容由 yangzhiyong1980 提供Ppk、Cpk，还有Cmk三者的定义是什么？有什么区别？如何计算？1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。
即：其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ| ，则：于是，，3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出：因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。
製程特性依不同的工程規格其定義如下：。
等級處理原則無規格界限時Cp(Pp)＝＊＊＊Cpk(Ppk)＝＊＊＊Ca ＝＊＊＊單邊上限(USL) Cp(Pp)＝CPUCpk(Ppk)＝CPUCa ＝＊＊＊單邊下限(LSL) Cp(Pp)＝CPLCpk(Ppk)＝CPLCa ＝＊＊＊雙邊規格(USL, LSL) Cp(Pp)＝(USL－LSL)／6σCpk(Ppk)＝MIN(CPU,CPL)Ca ＝|平均值－規格中心|／(公差／2)谈到过程能力，首先得解释变异（或者叫波动），正是因为有了变异的存在，才出现了能力大小。
产生变异的原因可以归结为两种，一种是普通原因，一种是特殊的原因。
所谓的普通原因就是平时一直客观存在，对过程有一定的影响但不明显，而特殊因素则是偶然出现，对过程影响很大。
举例说明：在一个有空调的房间进行培训时，虽然空调可能是设定在25度，但由于房间内外温度存在差异，所以每时每刻都会有能量在和房间外进行交换，所以如果用足够精确的温度计测量房间的温度就会发现房间里的温度其实并不是恒定在25.000度，而是24.99,24.98,25.00,25.01…..在微小的在一定范围内进行变化，这时我们就说受到的是普通因素的影响，而如果有人推门进来，那么在这瞬间，房间内的温度会出现较大变化，此时我们说受到了普通因素和特殊因素两种影响。
过程只受普通因素影响的时候在控制图上表现为过程是受控的，如果有特殊原因的影响在控制图上会有异常点的出现。
所以我们如果用Cp和Cpk来衡量过程能力，前提是要过程稳定且数据是正态分布，而且数据应该在25组以上（建议最少不要低于20组，数据组越少采信结果的风险越大），也就是说计算Cp,Cpk只考虑过程受普通因素的影响。
计算公式为：Cp=(usl-lsl)/6σ;1、Cpk=(1-k)Cp;k=|u-M|/(usl-lsl)/2;2、Cpk=min{(usl-u)/3σ ,(u-lsl)/3σ };注释：usl为上规格线，lsl 为下规格线，u为实际测得的平均值，M为上下规格的中心点，K值表示的意思是实际平均值偏离中心值的程度，此时的即为只考虑普通因素产生的变异，通常根据控制图的不同采用Rbar/d2,或者Sbar/C4,在minitab里有三种不同的估算方法。
cpk计算公式及解释判断标准：A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 ＞Cpk ≥1.67 优应当保持之A 级1.67 ＞Cpk ≥1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B 级1.33 ＞Cpk ≥1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 ＞Cpk ≥0.67 差制程不良较多，必须提升其能力D 级0.67 ＞Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程客户来审核了，检查以我们提供的PPAP，发现我们计算的CPK值小于PPK值，我跟他回复说CPK要求大于1.33，而PPK要求大于1.67，所以这样看应该是要求PPK大于CPK,但是他不认可，说是看到同一组数据计算出来的，说应该是CPK值大于PPK值。
查了相关资料也说是PPK大于CPK.到底该是怎么样啊!何谓工程能力？所谓工程能力是指在某种产品的生产中，是否能够均一地生产优质产品，这是产品质量管理的一个重要部分。
生产工程生产均一产品的能力叫做工程能力。
利用±3σ来作为表示这种能力的数值。
利用±3σ作为工程能力值的原因如果某种产品的质量特征是正态分布的话，以平均数为中心，在±3σ范围内包含有99.73%的产品，因此，将工程能力值设定为±3σ就几乎包括了所有产品。
工程能力指数存在一定的管理规格时，工程能力值与管理规格的比值叫做工程能力指数。
作为工程能力指数，我们学习了Cp和Cpk。
Cp和CpkCp表现了短期内最佳的Process状态，因此称为“短期工程能力指数”。
Cpk另一个工程能力指数Cpk则考虑到随着时间的流逝，每次抽取测定的data的样本时，中间值都有些差异，在这种情况下计算工程能力，叫做“长期工程能力指数”。
工程能力指数的计算－－存在两边规格的时候这是在假定给定data的平均数与基准Spec的中间值相同的情况下计算的。
制程能力分析制程能力研究在于确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水平之上，作为制程持续改善的依据。
制程能力研究的时机分短期制程能力研究及长期制程能力研究，短期着重在新产品及新制程的试作、初期生产、工程变更或制程设备改变等阶段；长期以量产期间为主。
制程能力指标 C p 或 Cp k 之值在一产品或制程特性分配为常态且在管制状态下时，可经由常态分配之机率计算，换算为该产品或制程特性的良率或不良率，同时亦可以几 Si gma来对照。
计数值统计数据的数量表示缺点及不良(Def ects VS. De fect ives)缺点代表一单位产品不符要求的点数，一单位产品不良可能有一个缺点或多个缺点，此为计点的质量指针。
例如描述一匹布或一铸件的质量，可用每公尺棉布有几个疵点，一铸件表面有几个气孔或砂眼来表达，无尘室中每立方公尺含微粒之个数，一片PC B有几个零件及几个焊点有缺点，一片按键有几个杂质、包风、印刷等缺点，这些都是以计点方式表示一单位产品的特性值。
不良代表一单位产品有不符要求的缺点，可能有一个或一个以上，此将产品分类为好与坏、良与不良及合格与不合格等所谓的通过－不通过(Go-No Go)的衡量方式称为计件的质量指针。
例如单位产品必须以二分法来判定质量，不良的单位产品必须报废或重修，这是以计件方式来表示一单位产品的特值。
每单位缺点数及每百万机会缺点数(DPU VS. DPMO)一单位产品或制程的复杂程度与其发生缺点的机会有直接的关系，越复杂容易出现缺点；反之越简单越不容易出现缺点。
因此，以每单位缺点数(DP U)来比较复杂程度不同的产品或制程质量是不公平的，在管理上必须增加一个衡量产品或制程复杂程度的指标，Six Sig ma 以发生缺点的机会(Opp ort uni tie s)来衡量。
DPU 是代表每件产品或制程平均有几个缺点，而D PMO 是每检查一百万个机会点平均有几个缺点。
CPK与PPK计算入门一、CPK1、定义CPK，过程能力指数（Process capability index），是指过程在一定时间内，处于控制状态（稳定状态）下，固有的满足产品质量标准要求（规格范围等）的能力。
CPK表示过程的潜在固有能力，主要用于周期性的过程评价，大批量生产后的生产能力的评价。
2、计算公式CPK=Min（CPU,CPL）CPU=（USL-X bar）/3σCPL=（X bar-LSL）/3σσ=R bar/d2式中，USL为规格上限；LSL为规格下限；R bar为各个子组极差的平均值；d2为修正值，可查表（附后）。
（1）当公差双侧对称时，CPK=CP*(1-|Ca|)CP=（USL-LSL）/（6σ）Ca=（X bar-U）/（（USL-LSL）/2）式中，U为规格中心值。
（2）当公差双侧不对称时，则分别计算CPU和CPL，取最小值。
（3）当公差为单侧时，有上限公差则只计算CPU，有下限公差则只计算CPL。
3、数值选取Cpk计算之前，一定要检查过程是否稳定，要求受控。
一般要求至少有100个数据，25个均值。
也就是说，采值是进行分组，涉及到子组，子组容量，采值频次等，它针对的是一个长期的过程。
4、指数意义CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价。
·Cpk≥2.0 特优，可考虑成本的降低；·2.0 > Cpk ≥ 1.67 优，应当保持之；·1.67 > Cpk ≥ 1.33 良，能力良好，状态稳定，但应尽力提升；·1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般，状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升；·1.0 > Cpk ≥ 0.67 差，制程不良较多，必须提升其能力；·0.67 > Cpk 不可接受，其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
CPK PPK公式中的符号意义我来参与一下吧．．呵．．Q=sigmaQ ppk = Q异波＋Q偶波Q cpk = Q偶波所以，正常情况下PPK＜CPK（根据T/6Q公式）大家看过上述公式（这个公式应该是书上没有的，是我总结出来的．当然也许有，我没看到也是可能的），就很容易理解了：1) PPK是在试产的时候用的（书上都这么说），确实是，因为试产不是量产，存在很多异常原因（异波），但这个时候，又要做估计一下CPK，于是就有ppk, 而Q ppk是＂总体变异＂，换句话说，这个Q是全体检验的结果！！！注意，不是抽检．2)故，抽检算出来的的Q，就用来计算cpk了．用抽检，表示制程是正常，只剩下偶然原因（偶波），而这个时候的ppk大致和cpk是相等的（也接近）（看公式就容易理解了），这个意思就是cpk是一个稳定制程的结果．换句话讲，当制程不稳定，＂算不出＂cpk, 因为算了，也是在不同时间，相差会很大．但算一算也好，因为很多＂不同时间＂，你可以根据他们的差别，来找出原因．（有的原因在特定的时间出现，如机器磨损到一定程度．）3)故，一个公司重点在用＂持续改善＂的工具，去让制程＂稳定＂. 如果一个制程不稳定，算cpk是无意义的．不真实的．但ppk永远是真实．其实，不稳定的时候，cpk是算不出来的．4)当一个制程可以算cpk 的时候，也就是稳定，这个时候，可以考虑撤消IPQC,或大部分IPQC可以不需要了．CPK是用来干什么的？无非就是计算不良率．用统率的方法计算不良率．CPK只是一个不良率的＂外号＂罢了．1、谢谢很好的解释。
2、您说，“当制程不稳定，＂算不出＂cpk, 因为算了，也是在不同时间，相差会很大．但算一算也好，因为很多＂不同时间＂，你可以根据他们的差别，来找出原因”。
是否应当说，计算Cpk之前，必须检查过程是否稳定。
如果稳定了，再算。
得到的是Cpk；如果没有检查是否稳定，那么计算得到的只能认为是Ppk。
过程能力计算及评价方法1.过程能力等级说明1.1 Cp评价等级——《质量专业理论与实务》（中级）1.2 无偏时Cp与合格（不合格）率的对应关系由上表可知，在无偏时Cp与合格（不合格）率的对应关系是非线性的一一对应的关系，过程能力指数越大，合格率越高（反之亦然）。
——《六西格玛管理质疑》1.3 Cpk1.4 Pp 、Ppk 评价等级A ）Pp 、Ppk > 1.67 该过程目前能满足和符合顾客要求。
顾客批准后即可开始生产，并按照控制计划进行。
B ） 1.33 ≤ Ppk ≤ 1.67 该过程目前可能被顾客接受，但是可能会被要求进行一些改进。
与顾客取得联系，并评审研究结果，如果在批量生产开始之前仍没有改进，将要求对控制计划进行更改。
C ） Ppk < 1.33 该过程目前不能满足和符合顾客要求。
与顾客取得联系，并对研究结果进行评审，对需改进的过程必须有书面的纠正措施计划，增加检验与试验频率直到Cpk>1.33为止，修改后的控制计划应经顾客批准。
——《PPAP 手册》1.5 过程中的过程能力要求A ）过程稳定且数据呈常（正）态分配时，过程能力指数须达到Cpk ≧1.33。
B ）长期不稳定的过程，但是SPC 抽检样本的质量符合规格且呈可预测的型态时，初期过程能力指数须达到Ppk ≧1.67。
2. 计算公式2.1 过程能力指数计算公式过程能力——仅使用统计稳定的过程，是过程固有变差的6σ范围，σ通常用“R /d2”或者“s/c4”来估计。
过程性能——过程总变差的6σ范围，σ通常用样本的标准差s 来估计。
——《SPC 手册》σε62)1(-=-=T Cp K Cpk2.2 短期过程能力指数与过程性能指数公式比较——《质量专业理论与实务》（中级）。
PK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标。
CPK值越大表示品质越佳。
CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；8. 依据公式：，计算出制程准确度：Ca值9. 依据公式：Cp = ，计算出制程精密度：Cp值10. 依据公式：Cpk=Cp ，计算出制程能力指数：Cpk值11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 ＞C pk ≥ 1.67 优应当保持之A 级1.67 ＞Cpk ≥ 1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B 级1.33 ＞Cpk ≥ 1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 ＞Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多，必须提升其能力D 级0.67 ＞Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
CPK与PPK的计算和评价等级CPK（Cpk）和PPK（Ppk）是用于评估一个过程符合规范要求的能力的统计指标。
它们是通过测量所产生的数据与规范上下限之间的差异来计算的。
CPK是一个制程能力指数，表示制程的长期能力。
它使用标准差和过程平均值作为计算输入。
CPK的计算公式如下：CPK = min(USL - μ, μ - LSL) / (3σ)其中，USL是规范上限，LSL是规范下限，μ是过程平均值，σ是过程的标准差。
CPK的计算结果表示过程分布与规范上下限的能力，数值越大，表示能力越好。
一般来说，CPK大于1.33表示制程能力良好，大于1.0表示制程能力可接受，小于1.0表示制程能力有待提高。
PPK是一个制程性能指数，表示制程的短期能力。
它使用过程平均值、过程标准偏差和过程数据的离散程度作为计算输入。
PPK的计算公式如下：PPK = min(USL - X, X - LSL) / (3σ)其中，X是过程的平均测量值，又称为Cp的样本均值。
与CPK相比，PPK更关注短期的制程能力和数据的离散程度。
它的计算结果也表示过程分布与规范上下限的能力，数值越大，表示能力越好。
一般来说，PPK大于1.33表示制程性能良好，大于1.0表示制程性能可接受，小于1.0表示制程性能有待改进。
根据CPK和PPK的数值，可以对制程能力或制程性能进行评价等级的划分。
一般来说，评价等级可分为：1.优秀：CPK/PPK大于1.672.良好：CPK/PPK大于1.33，但小于等于1.673.可接受：CPK/PPK大于1.0，但小于等于1.334.需改进：CPK/PPK小于等于1.0。
评价等级的划分可以帮助制程改进团队了解他们的产品质量水平，并采取相应的措施优化过程。
CPK和PPK的计算和评价可以为制程改进提供客观的参考指标，并帮助企业提高产品质量和效率。
总结：CPK和PPK是用来评估制程能力和制程性能的统计指标。
CPK 表示长期能力，PPK表示短期能力。
