光刻胶产品的介绍

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光刻胶产品的介绍

光刻胶产品主要适用于集成电路产业和平板显示器产业的光刻工艺,以得到精细线路。文章介绍了高世代平板显示器用光刻胶产品的性能,用途。

标签:光刻胶;性能;用途

前言

所谓光刻胶(photoresist),是一类利用光化学反应进行精细图形转移的化学品。应用于集成电路、平板显示器、光伏电池、LED等产业。文章主要讨论用于高世代平板显示器(FPD)产业的正性光刻胶。

光刻胶隶属于电子化学品,指为电子工业配套的精细化工材料。工信部指出,“十一五”期,我国必须大力发展电子材料产业,缩小电子材料与国外先进水平的差距,提高国内自主配套能力,为电子信息产业的发展提供有力支撑。

文章讨论的正性光刻胶,利用曝光、显影后,感光部分树脂的溶解度远大于非感光部分树脂的特性,通过光刻工艺(LITHOGRAPHY),得到所需的线路图形,是光刻工艺中使用的关键化学品。

高世代的面板工厂,需建设大面积无尘洁净空间,购置大型的自动化精密机械,投资高昂。为面板工厂配套的各类电子化学品,需满足面板工厂对大尺寸和精细线路方面的高要求,才能保证产品的正品率,以收回高昂投资。

1 光刻胶的介绍

光刻胶,在曝光区域发生化学反应,造成曝光和非曝光部分在碱液中溶解性产生明显的差异,经适当的溶剂处理后,溶去可溶性部分,得到所需图像。根据其化学反应机理,分负性胶和正性胶两类。经曝光、显影后,溶解度增加的是“正性胶”,溶解度减小的是“负性胶”。正性胶有良好的分辨率,但成本较高。

适用于高世代平板显示器产业的光刻胶,一般采用正性光刻胶,以得到良好的分辨率。FPD工厂所用的曝光光源,一般采用H-line/G-line/I-line的紫外混合光源,光源波长在300nm~450nm范围。为适应高世代平板显示器尺寸越来越大的趋势,多采用刮涂工艺(SLIT COATING)。

典型的高世代平板显示器产业所用的正性光刻胶,主要成分和作用是:(1)线性酚醛树脂为成膜树脂,通过涂布工艺在喷溅金属的玻璃基材表面形成树脂涂层,利用光刻工艺,在涂层上“印制”线路。(2)感光剂(photo-active compound,简称PAC)采用邻重氮萘醌(diazo-naphthoquinone,简称为DNQ)磺酸酯,利用PAC在感光和非感光部分不同的反应,得到所需的图形。(3)溶剂和添加剂,溶剂作用是得到均匀的稀释液体,以便涂布时有良好的流动性,形成表面均一平

整的膜;添加剂含量很小,目地是改善附着性,增加感度,改善表面成膜性等。光刻胶是以上三种成分的混合物,三者大致组成为:(1)树脂含量10~40%;(2)感光剂含量1~6%;(3)溶剂含量50~90%,添加剂含量一般在1%以下。

正性紫外光刻胶的大致反应机理如下:

感光剂(PAC)受紫外光照射后,曝光区域的邻重氮萘醌磺酸酯(DNQ)发生分解,放出N2形成烯酮,烯酮遇水形成茚羧酸而易溶于稀碱:在非曝光区域,PAC与酚醛树脂在碱性环境下发生偶氮基的偶合反应,形成链长更长的高分子化合物。在曝光区域和非曝光区域,发生了不同的反应,曝光区域溶解性远大于非曝光区域。

在FPD工厂的光刻工序中,经过光刻胶涂布-曝光-显影-蚀刻-剥离这几个主要工序。(1)Cr,Mo,SiNx等金属材料或半导体材料经喷溅工艺,在玻璃基材形成导电膜层。(2)涂布光刻胶,涂布方式有滚涂(ROLL),旋涂(SPIN),刮涂(SLIT)等方式。(3)EBR溶剂进行清边。(4)前烘干(pre-bake),使光刻胶膜固化,前烘温度90~100℃。(5)曝光,利用曝光机和线路掩膜板,使光刻胶层在曝光区和非曝光区进行不同的光照,产生光反应。(6)显影,曝光区域的光刻胶在这一步被显影剂溶解,再经纯水清洗,曝光区域覆盖的光刻胶被除去。(7)后烘干,一般后烘的温度较前烘高。(8)刻蚀,用化学刻蚀(酸腐蚀)或等离子氧气刻蚀去除掉原曝光区域,经过显影后无光刻胶保护的金属层。(9)剥离,一般采用对光刻胶有良好溶解性的有机溶剂或碱性溶液,去除掉未曝光部分的光刻胶。

经过以上步骤,只在非曝光区域留下了金属层,就在玻璃基材上形成了所需的线路。以上步骤会重复多次,形成一个多层的线路。

2 光刻胶材料的质量参数

2.1 感光度(Sensitivity)

感光度指在胶膜上产生一个良好图形所需一定波长的光的能量值,即曝光量。单位是mJ/cm2。一般用Eop或Eth这两个参数来评估。其中Eop是指光刻胶图案的线宽与掩膜板上的线宽一致时的曝光量。Eth是指曝光部分的膜厚为零时的曝光量。

2.2 分辨率(Resolution)

分辨率是光刻工艺的一个特征指标,表示在基材上能得到的立体图形良好的最小的线路。

2.3 对比度(Contrast)

指光刻胶从曝光区域到非曝光区域过渡的陡度,对比度越好,得到的图形越

好。

2.4 残膜率(%)

经过曝光显影后,未曝光区域的光刻胶残余量。残膜率是残余膜厚与原膜厚的比率。

2.5 涂布性

光刻胶在基材表面形成无针孔,无气泡,无缺陷的膜厚均一的光刻胶膜,良好的涂布性是光刻胶的基本要求。

2.6 耐热性

光刻工艺中,经过前烘使光刻胶中的溶剂蒸发,得到膜厚均一的胶膜;经过后烘,进一步蒸发溶剂,提高光刻胶在显影后的致密性,增强胶膜与基板的粘附性。在这两个过程中,都要求光刻胶有一定的耐热性。

2.7 粘附性

光刻胶与基材需有很好的粘附性,才能保证光刻胶在烘干/显影/刻蚀等苛刻的过程中不发生剥离。

2.8 耐蚀性

刻蚀阶段,光刻胶有抗刻蚀能力,耐受等离子气体的“轰炸”。如下图,在光刻胶的边缘,发生了“侧蚀”现象,将影响图形的线宽。

2.9 粘度/膜厚

粘度(viscosity)是衡量光刻胶流动特性的参数,粘度与光刻胶组分中的溶剂含量有关,也与所用的树脂的分子量有关。膜厚是在特定涂布条件下(如某一旋涂转速),光刻胶涂层的厚度。

2.10 工艺条件依存性及其线性度

考衡光刻胶对工艺条件的依存性,了解条件的变化对线路的影响是否有线性关系。

2.11 洁净度

对微粒子含量和金属离子含量等材料清洁度的要求。上述列举了光刻胶的一些主要性能。由于光刻工艺的复杂性,并与多种化学品配套使用,设备,材料,环境,工艺条件等形成了一个综合的系统,影响着产品最终的质量和良品率,所