LCM常见不良检查条件判定标准介绍

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1. 目的：
用以规范和统一产品LCM 检验、可靠性测试标准，保证LCM 的产品质量，指导生产人员和QA 检验人员的依据。

2. 适用范围：
本标准适用于本公司系列机型的样品的确认，进料检验，可靠性测试。

3. 编制依据：
《可靠性试验程序》、《整机检验标准》、《LCM 规格书》
4. 测量面定义：
LCM 检测表面属于AA 面：显示信息的区域
5. 缺陷定义
致命缺陷（Critical Defective ）: 产品存在对使用者的人身及财产安全
构成威胁的缺陷；
主要缺陷（Major Defective ） : 导致产品失效或使产品使用性能降低，
但为一般用户不可接受的缺陷；具体表现为：
1. 功能缺陷影响正常使用；
2. 性能参数超出规格标准；
3. 结构及外观方面存在让一般顾客难以接受的严重缺陷。

轻微缺陷（Minor Defective ）: 可能会使产品使用性能降低，但为一般用
户可以接受的缺陷。

注意：有些外观检查中发现的问题会影响到产品的功能，则按照功
能缺陷的标准来确定缺陷等级。

一、目的：规定LCD液晶显示屏的检验项目、检验方法及判定规格，为IQC、OQC、IPQC、QA检验人员提供判定依据。

二、适用范围：适用本公司各供应商及无特殊要求顾客提供的液晶屏的检验判定。

三、抽样水准：进行全检四、使用工具：1、VGA信号发生器2、测屏治具3、静电环、静电手套4、卷尺、放大镜、游标卡尺;五、检验条件：1、照明条件：日光灯600～800LUX；2、目光与被测物距离：30～45CM；3、常温条件下六、PANEL等级：6.1像素缺陷6.1.1定义液晶屏由正方形的像素组成，每一组像素有R/G/B三个子像素组成，如图1或图2所示6.1.2暗点：由于MOS管失效，造成一个子像素点一直不发光，称为暗点暗点的判定：当不发光的子像素面积大于像素面积的1/2时，判定为一个暗点，反之则不计。

如图3，图46.1.3亮点：由于MOS管失效，造成一个子像素一直发光，称为亮点亮点的判定；当发光的子像素面积大于子像素面积的1/2时，判定为一个亮点如图5，图6所示6.1.4微亮点：由于液晶屏内两个电极间侵入了可导电的杂质微粒，造成像素内部分区域一直发亮，符合下面条件时判为微亮点如图76.1.5杂质不良：杂质不良是液晶屏内背光模组部分或偏光片两面等部位侵入杂质引起的不良，杂质不良形状不规则，与像素没有必然的联系，分为圆形和线形，如下图6.1.6偏光片缺陷：液晶屏表面有划伤，凹痕，起泡，气泡等从外表可以看到的不良现象；6.1.7漏光：在黑场，或者蓝场的界面下（有专用测试LCD的颜色软件）能看到有泛白的区域，如图14对于漏光可以根据自己以及客户的接受界限来判定，像上图的大面积漏光且于周围有明显的分别是不允许接受的，如漏光区面积小且与正常区过渡平缓，无明显的分界（如图15）可以适量的接受。

七、屏幕划区：A/B区：八、检验项目及判定标准：1、外包装检查:检查外包装是否完好无损.（全检/批）2、规格型号、等级检查:按入库单号及采购定单，核对每批来料的规格型号、等级是否与实物一致（5PCS/批）.3、外形尺寸检测:检测其长度、宽度、厚度与及灯管线的长度，以工程研发提供相应的规格书为标准，确保所有检测的数据符合要求.（5PCS/批）4、显示画面缺陷判定:通电，用专用检测设备对各个画面进行检九、液晶屏等级判定：9.1 A+ 级等级判定规格备注A＋级亮点N=0所有缺陷不可同时存在微亮点N≤3 Windows桌面不可见暗点N≤3 暗点间距≥5cm连点不允许微暗点忽略污点A区不允许；B区≤1；C区≤2；A区+B区+C区N≤3；且Φ≤0.3mm或W≤0.3，L≤1.0mm；间距≥5cm Windows桌面显示为暗点白点（团）不可见.暗斑无9.2 A级9.3 B 级9.4 C 级十.相关记录:QR-H-02 A/0 --- IQC检验记录表。

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LCM成品检验标准
一.范围：
适用与单色LCM与彩色LCM (Color STN、TFT、OLED)之成品之组装检验和QC检验。

二.检验设备工具：
点灯检查设备，放大镜，测试架，游标卡尺，点线毛对比卡，带刻度目镜，测试机，数位电表，样品等
三．检验水准
3．1 生产过程中制造部对主缺之质量项目须全检；
3．2 OQC以下方式进行抽样检验
依AQL-105E-一般正常LEVEL II进行（特殊情况时实施全检，如客退品）
3．3QA与制造全检
3．4IPQC 5pcs/2H随机抽样检验
四．检验方式
5．可视区域的定义： A 区可视区域
B 区：外行尺寸，包括A 区的可视区域
五．检验规格，如下： 5．1 外观规格
※※密集定义：25m㎡数量﹥5个，称为
5.2.1电性功能--------显示
六.其他说明::
6.1 图中图片后续会更新
6.2 当客户提供检验标准时,以客户标准优先执行.。

模组L C M检验标准 Document number【SA80SAB-SAA9SYT-SAATC-SA6UT-SA18】目的:规范LCM 彩屏成品的检验项目以及判断标准，保证产品出货能满足客户需求。

适用范围:适用于本公司LCM 彩屏产品内部的出货检验（客户有特殊要求的依客户要求）。

检查条件：在20～40W 日光灯的光照环境下，被检查样品放在离检查者眼睛20cm 的位置，检查者在垂直方向45±15度区域内观察。

LCD 区域定义：区域A ：符号或数字显示区区域B ：视区（除A 区）（A 区+B 区=最小视区，相对于模块确认图中的VA 区范围） 区域C ：视区外围（模块确认图的VA 区外，客户机壳设计应参考此范围，装机后看不到此区域）.注：在区域C 中有看得见的缺陷，但不影响产品稳定性及客户产品组装，允许出货。

5.2.7TP外观相关标准TP气泡/凹凸点尺寸Φ(mm)接收数量A区B区C区Φ≤忽略（不允许串忽略<Φ≤2（点距≧10mm）<Φ≤1<Φ0轻缺陷TP组装歪斜按图纸要求且不允许超出背光边缘TP水印水印：测力计垂直用力≥300g力不见OKTP牛顿环/似牛顿环不点亮模块，在正常或倾斜视角从触摸屏表面看到的规律性或非规律性的彩色圈1、规律性：不允许2、非规律性：Ｓ牛顿环≤ 1/ 6ＳTP，且点亮背光后不影响文字及直线失真，允许。

TP点胶标准1、IC位置的缺口必须点满胶。

2、胶不能点到FPC的弯折位，不能点到背光两边胶架及触摸屏的表面。

3、白胶不能进入视区。

TP脏污内脏污按不同型号的极限样板TP边角破裂同边角破裂标准（备注：破损不允许进入银线）图案字体1、图案字体清晰，无严重粗细现象，允许轻微图案字体渗透或干版；2、字体线条变粗或变细较正常线条宽度≤1/3（且≤+/-0.1mm），无断字菲林形拱5.2.8UV/易拉胶纸规格未附贴不允许轻缺陷附贴位置参照产品规格书或者产品图纸轻缺陷序号检查项目检查标准等级5.2.9喷码未喷码不允许重缺陷2.产品有热压之制程,其金手指（压着区）沾锡,拒收 空焊：焊面与焊垫未接合不可 重缺陷 锡尖/裂、虚焊一律不可 重缺陷 不可有白色粉状残留物 轻缺陷元件偏移≥1/2?L 2. A2/3W2/3W B1/2?L 4. t1/2*T轻缺陷焊点锡量高度大于零件焊脚(鸥翼型)，拒收 焊点锡量高度大于零件焊面高度(圆型),拒收轻缺陷鸥翼型:焊点锡量高度小零件焊脚1/3H ，或焊垫吃锡少于70%，拒收圆柱型:焊点锡量高度小于零件焊面1/4H 或焊垫吃锡少于70%，拒收重缺陷L BA WTt 参照1、2标示大于，NG 大于焊面高度NGH焊量高度小于焊脚1/3H 锡量高度小于焊面连接器(含:卡盖)不可破损或掉，连接部位不可有松香，阻焊剂，白色粉状残留物，异物重缺陷板翘: PCB与平面之间的间隙大于长度的1/100不可(若无特殊要求依此标准作业)轻缺陷5.2.14离型纸/导电布等脱落不允许轻缺陷脏污参考极限样板、功能测试5.3.1 LCD Module 功能测试，一般依据设计提供的该产品的标准测试软件和夹具进行。

1 目的本标准目的：建立LCM不良项目明细规标准.2 使用围生产部、品保部、其它相关部门3 注意事项3.1 静电防护3.1.1静电手环：直接拿取产品人员必须佩带—作业者及工艺技术的维修者适用。

3.1.2防静电服及防静电帽子—生产现场的作业者以及管理者全体适用。

3.1.3手指套：直接拿取产品人员必须佩带—生产现场的作业者以及管理者全体适用。

4. 不良项目明细4．1 功能性不良：NO 不良名称图片不良现象描述不良原因判定处理方案1 不显通电状态LCD没有被驱动制程可返修2 显示不稳定通电状态LCD驱动不稳定制程可返修3 显异点亮状态与正常显示画面容和颜色有明显差异制程可返修4 显浓显淡点亮状态显示效果比较标准样板色彩浓或淡来料不可返修5 残像/残影点亮状态画面切换时残留有上一画面显示容来料不可返修（依限度样品判定）6 屏闪点亮状态画面容正常，但整体抖动或水波纹来料不可返修（依限度样品判定）7 缺划点亮状态下,显示画面出现一条线状缺线a、制程b、来料1.属压贴不良返修2.属LCD不良报废8 多显点亮状态在某些画面出现从显示区域边沿开始的缺短线来料不可返修（报废）10 亮点点亮状态所有RGB画面都可看到明显白点状来料不可返修（依检验标准判定）11 暗点点亮状态在部分画面显示时出现黑色点来料不可返修（依检验标准判定）12 彩点点亮状态在莫些画面可看到超出标准的明显彩色点来料不可返修（依检验标准判定）13 聚集点TFT产品点亮状态黑色画面超过5个相距不超过1mm的白点或彩点不良来料不可返修（依限度样品判定）14 网状白点点亮状态出现成网状分布的白点来料不可返修（报废）4．2 外观性不良：NO 不良名称不良图片不良现象描述不良原因判定处理方案1 漏液封口处或环氧胶某处出现断裂造成液晶渗出盒外，该区域出现明显的底色差异，液晶成不定向排布来料不可返修（报废）2 液晶气泡在背光下观察,盒部分区域出现无规律圆形/椭圆状/气泡还带有树枝状来料不可返修（报废）4 切割不良切割造成LCD尺寸不良来料不可返修（按模组尺寸判定）5 角崩LCD受力破碎依现场判定不可返修（依检验标准判定）6 裂纹Pad面有裂纹依现场判定不可返修（依检验标准判定）7 玻璃划伤Lcd表面划伤依现场判定不可返修（依检验标准判定）8 多胶ITO保护胶流到FPC或POL 制程可返修（依检验标准判定）9 打胶气泡硅胶覆盖区气泡制程可返修（依检验标准判定）10 断胶硅胶未完全覆盖IC与小玻璃间隙制程可返修（依检验标准判定）4．3 FPC类不良NO 不良名称图片不良现象描述不良原因判定处理方案1 元器件脱落Fpc上部分元器件脱落来料不允许2 FPC金手指折/撕裂Fpc金手指或者表面有折痕依实物判定依检验标准判定3 FPC金手指沾锡FPC金手指沾锡制程不可返修（依检验标准判定）4 焊接错位焊接的PIN角对位超过正常的对位基准(横向/纵向)制程可返修（依检验标准判定）5 FPC组装偏位FPC未按设计要求对位组装制程可返修（依检验标准判定）6 焊接不良焊接时虚焊、少锡、连锡等不良制程可返修（依检验标准判定）7 FPC脏污FPC表面有脏污及黑胶不良制程可返修（依检验标准判定）A/A區4.4 POL类不良NO 不良名称图片不良现象描述不良原因判定处理方案8 POL水纹背光下可看到扩散状液体残留痕迹来料可返修（依检验标准判定）9 POL凹凸点台灯下撕膜可看到POL表面又不平点来料可返修（依检验标准判定10 POL压痕台灯下撕膜可看到POL表面有外力挤压痕迹依实物判定可返修（依检验标准判定）11 POL异物背光下POL与panel间有点状异物外发贴POL：来料我司贴POL：制程可返修（依检验标准判定12 POL纤维/毛丝背光下POL与panel间有纤维状异物外发贴POL：来料我司贴POL：制程可返修（依检验标准判定13 POL划伤POL在尖锐外物冲击后形成的线状不良依实物判定可返修（依检验标准判定）14 POL被刺/刺伤POL在尖锐外物冲击后形成的点状不良依实物判定可返修（依检验标准判定）15 POL翘起POL与玻璃部分未完全贴和依实物判定不可返修（依检验标准判定）16 POL错位POL与玻璃边沿未平行或超出玻璃边沿外发贴POL：来料我司贴POL：制程可返修（依检验标准判定17 POL气泡POL贴覆区域有气泡鼓起外发贴POL：来料我司贴POL：制程可返修（依检验标准判定18 POL烫伤POL受热卷曲依实物判定可返修（依检验标准判定）19 POL贴错POL角度或型号选择错误，一般表现为底色异常或显示画面视角不正确外发贴POL：来料我司贴POL：制程可返修（依检验标准判定20 POL脏污揭开保护膜目测保护膜与POL之间有异物依实物判定可返修（依检验标准判定）21 POL脱胶POL边缘胶溢出来料可返修（依检验标准判定）22 保护膜翘起保护膜与POL之间未完全贴合依实物判定可返修（依检验标准判定）23 未贴片LCD没有贴POL裸露于空气中外发贴POL：来料我司贴POL：制程可返修（依检验标准判定4．5 背光类不良:NO 不良名称图片不良现象描述不良原因判定处理方案1 B/L划擦伤/刺伤背光划伤或刺伤依实物判定可返修（依检验标准判定）2 黑屏通电状态，LCD被驱动但无背光来料可返修3 B/L异物、脏污点亮状态在黑或灰色画面固定位置有点状或纤维状不良，变换视角不良现象无变化依实物判定可返修（依检验标准判定）4 B/L漏光点亮状态显示区域或边沿有高亮部分来料可返修5 B/L亮度不均点亮状态背光亮度不一致来料可返修6 B/L斑团点亮状态背光有亮/暗斑来料可返修7 B/L一角灯暗背光一角出现暗斑，LED亮度不均或损坏来料可返修8 B/L过暗亮度低于标准来料可返修9 B/L组装倾斜/翘起LCD未正确装入BLG槽制程可返修10 焊盘脱落元器件焊盘处或背光TP焊接处开裂或脱落来料可返修11 B/L水印B/L与LCD间有水雾，造成B/L导光膜表面有水印不良来料可返修4.6 TP类不良NO 不良名称图片不良现象描述不良原因判定处理方案1 TP脏污TP上下表面脏污依实物判定可返修（依检验标准判定）2 TP划伤/刺伤TP表面损伤依实物判定可返修（依检验标准判定）3 TP组装歪斜TP组装位置不正确制程可返修（依检验标准判定）4 TP触摸飘移TP触摸位置于软件识别位置不一致来料可更换返修5 TP触摸失效软件不识别触摸动作来料可更换返修6 TP翘TP与所组装的导光板或铁框之间有超出标准的间隙产生制程可返修7 TP牛顿环在显示区出现光的一种干涉图样，是一些明暗相间的同心圆环.来料可返修（依检验标准判定）8 TP组装污在TP与导光板之间有异物,如灰尘(白点、黑点)影响外观制程可返修（依检验标准判定）9 锡渣在焊接处出现多余的焊锡残留制程可返修（依检验标准判定）10 铁框变形铁框尺寸不在标准规格或部分产生扭曲依实物判定不可返修（依限度样品判定）11 FPC贴附翘起FPC有胶部分与被贴表面发生剥离制程可返修4．7 镜检不良NO 不良名称图片不良现象描述不良原因判定处理方案1 IC压力不均IC压贴时，有的BUMP无压痕制程不可返修A、可回收LCDB、报废2 IC异物IC压贴时，有异物制程不可返修A、可回收LCDB、报废3 ITO短路ITO线有两或多条连接来料不可返修4 ITO断ITO线路断开来料不可返修5 ITO脱落ITO线路有脱落来料不可返修6 ITO断ITO线路断开来料不可返修7 IC BUMP无粒子IC压贴时，有的BUMP无压痕（粒子）制程不可返修A、可回收LCDB、报废8 FPC错位ITO线与金手指未完全重合制程可返修9 IC气泡IC BUMP上有彩色气泡制程不可返修A、可回收LCDB、报废10 ITO划伤ITO线路划伤依实物判定不可返修11 ACF贴附不良ACF贴附时未完全包住IC制程不可返修A、可回收LCDB、报废12 IC压力过大IC与LCD贴附时因压力过大，导致ICBUMP变形或导电粒子压碎制程不可返修A、可回收LCDB、报废13 FPC假压金手指导电粒子未压开制程可返修14 IC破1、作业时操作手法不正确导致IC破；2、IC贴附时压破；制程不可返修A、可回收LCDB、报废15 ITO划断ITO线路断开来料不可返修16 ITO异物ITO线路有异物来料不可返修17 FPC金手指变形FPC金手指有不规则倾斜来料可返修18 FPC压贴异物FPC金手指与ITO贴附时有异物进入制程可返修19 IC错位IC BUMP未与LCDITO线重合制程不可返修A、可回收LCDB、报废20 IC未主压IC BUMP导电粒子未压开制程不可返修A、可回收LCDB、报废21 IC压反IC 上、下BUMP压反制程不可返修A、可回收LCDB、报废22 IC划伤IC BUMP划伤导至压贴时无导电粒子制程不可返修A、可回收LCDB、报废23 未L/T IC压贴区域ITO线路未切割来料不可返修24 IC压力大IC贴附时压力过大导致IC BUMP变形或导电粒子压碎制程不可返修A、可回收LCDB、报废25 夹缝玻璃屑夹缝处有玻璃屑残留来料不可返修26 IC异物IC压贴时，有异物制程不可返修A、可回收LCDB、报废27 ACF贴附不良ACF贴附时未完全包住IC制程不可返修A、可回收LCDB、报废28 FPC压贴气泡FPC贴附时有气泡制程可返修29 FPC错位ITO线与金手指未完全重合制程可返修30 FPC金手指短路FPC金手指两或多根连接在一起来料可返修。

1、目的本标准为统一公司从采购物料到产品生产过程、成品验收、出货时的品质验收标准，确保产品质量和满足客户要求而制定。

2、范围适用于深思维有限公司所有LCM（液晶显示模块）5寸以内成品检验。

3、定义3.1 缺点定义3.1.1致命缺陷（CR）：会导致使用人员或财产安全构成威胁的缺陷；3.1.2 主要缺陷（MaJ）：严重影响产品使用的外观、功能及可靠性的缺陷；3.1.3 次要缺陷（Min）：不影响产品正常使用的外观、功能及可靠性的缺陷；3.1.4 点状缺陷φ=（X+Y）/2，具体见图1；3.1.5 线状缺陷 L：表示长度，W：表示宽度，具体见图2；3.1.6 间距：两缺陷之距离≥10mm。

3.2 名词解释3.2.1 密集：在 10mm 以内有两个或两个以上的缺陷称之为密集；3.2.2 区域：3.2.2.1 显示区：显示图案的区域，即：A-A 区。

3.2.2 .2非可视区：顾客模组组装后看不到的区域注：具体区域划分见图3WY Array XD=（X+Y）/2图1 图2 图34、设备/量具电测机架、稳压电源、万用表、游标卡尺、显微镜、菲林尺、防静电手环、防静电手指套等。

5、抽样方案与检验条件5.1 抽样方案 5.1.1 生产对外观检验与电性测试进行全检，对尺寸测量每型号首检抽样测量 5Pcs 。

5.1.2 品质（OQC ）对送检的每型号抽检 5Pcs 进行外观尺寸的测量，对功能、外观抽检计划如5.2 检验条件与方法5.2.1 通常在 22±3℃，45±20%RH 的环境，光强度 750-1400Lux 下（40W 日光灯,40cm 距离左右），检验员的眼睛与模块之间的距离为 30cm ±2cm ，LCD 下面用背光源来检查（见 图4）：30cm4545040cm图 45.2.2 模块目视检验方向，按图纸规定视角方向偏离 LCD 平面法线 45°；5.2.3 采用裸眼检查，检验者需戴好防静电手环、防静电指套；5.2.4 功能测试时，产品在正常显示时用棉签或手指轻轻按压 FPC 邦定处、电子元件处、背光焊接处，检查是否存在不稳定现象。

1目的本标准由深圳市盟博科技有限公司制定，它是用于检验LCD性能及外观方面的指导性文件，详细阐述了检验条件、接受及判退的品质标准，为功能和外观检验提供科学、客观的方法。

2 适用范围本标准适用于盟博所有LCD类物料认证及来料检验过程。

3 引用文件无4 定义4.1 CRI（致命缺陷）：产品极重要质量特性不符合规范要求，此特性不合格将丧失产品使用价值或对人身有伤害的缺陷。

4.2 MAJ（主要缺陷）：产品重要质量特性不符合规范要求，此特性不合格将降低产品使用价值；4.3 MIN（次要缺陷）：一般质量特性不符合规范要求，不影响产品使用及装配。

5 抽样方案：5.1 依据GB/T 2828.1-2003 正常一次抽样Ⅱ类。

5.2 AQL取值（除特殊规定外）：CRI（致命缺陷）：0； MAJ（主要缺陷）：0.4； MIN（次要缺陷）：1.05.3 检验抽样方案转换原则（针对同一供应商同一型号的部品）5.3.1 正常检查转加严检查的条件：连续5批中有2批（包括检验不到5批已发现2批）检验不合格。

5.3.2 加严检查转正常检查的条件：连续5批合格。

5.3.3 正常检查转放宽检查的条件：①连续10批检验合格；②10批中不合格品（或缺陷）总数在界限个数以下；③生产正常；④主管者认为有必要。

以上四个条件必须同时满足。

5.3.4 放宽检查转正常检查的条件：①1批检验不合格；②生产不正常；③主管者认为有必要。

只要满足以上三条件之一。

5.3.5加严检查转暂停检查的条件：加严检验开始后，不合格批数累计达到五批。

5.3.6 抽样开箱率要求：开箱率60％，根据抽样数量，每包/盘数量、随机抽样。

6 外观检查条件6.1 环境条件：检查应在800-1200LUX的白色荧光灯下进行6.2 检查方法：目测,检查人眼应离液晶屏垂直距离大于30CM，角度为45度转动检查，时间15秒；6.3 视角判断方法：普通屏与显示屏水平面角度视角30~90度，IPS屏显示屏水平面角度成15~90度；7 LCD 区域定义7.1 外观区域定位、检验项目及判定标准：区域AA ：可视区，符号和数字显示区；区域A ：（除A 区外）可视区周围离玻璃边缘左右3MM ，上下5MM ； 区域B ：可视区外围（装机后看不到的区域，如固定框）；检验项目：要求表面平坦，无变形、刮花、划伤、裂痕、污渍、指纹、灰尘；色差；保护膜粘贴良好，无难撕现象；边缘胶框部分无压痕（小屏LCD 无此检验查项目）、变形、披锋，标识位置正确，字迹清晰，字体正常；对于带导光板的要求没有明显的压痕，划伤等。