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儿童的头影测量标准值
头影测量的标准值是根据年龄和性别来确定的，因为儿童的颅颌面结构在生长过程中会随着年龄的增长和性别的不同而发生变化。
以下是一些一般性的头影测量标准值，但请注意，这些值可能因个体差异和种族差异而有所不同：
1. 下颌位置：
- 女孩：出生后第一年会逐渐下降，然后在2-5岁时上升，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年会下降，然后在2-8岁时上升，然后在9-15岁时保持相对稳定。
2. 下颌长度：
- 女孩：出生后第一年增加最快，然后在2-5岁时逐渐减慢，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年增加最快，然后在2-8岁时逐渐减慢，然后在9-15岁时保持相对稳定。
3. 颌部生长角度：
- 女孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-5岁时逐渐减少，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-8岁时逐渐减少，然后在9-15岁时保持相对稳定。
以上只是一般性的参考值，具体的测量结果应该由专业的口腔科医生或颌面科医生进行解释。
经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年，美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。
该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片，然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓，并测量线距与角度进行测量分析。
这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里，让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代，使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。
如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。
1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出，该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。
具体为：FMA角：眼耳平面与下颌平面围成；FMIA角：下中切牙长轴与眼耳平面围成；IMPA角：下中切牙长轴与下颌平面围成。
临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。
Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要，是维持牙合关系稳定的关键因素。
所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定，他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。
所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。
但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度，如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合，下切牙内收畸形会加重，下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者，直立下切牙则会加重已存在的深覆盖，上切牙后收又会造成凹面型。
Tweed分析法测量值来自白种人群，不一定适合中国人群；对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。
临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。
吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念：即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。
通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系，为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据，同时也丰富了Tweed三角分析法，有一定临床指导价值。
Downs分析法(10项）：1.面角：面平面与眼耳平面相交之后下角2.颌凸角：NA与PA延长之交角3.A-B平面角：AB或其延长线与面平面的交角4.下颌平面角：下颌平面与眼耳平面的交角5.Y轴角：Y轴与眼耳平面相交之下前角6.牙合平面角：牙合平面与眼耳平面之交角7.上下中切牙角：上下中切牙长轴的交角8.下中切牙—下颌平面角：下中切牙长轴与下颌平面之交角9.下中切牙—牙合平面角：下中切牙长轴与牙合平面相交之下前角10.上中切牙凸距：上中切牙切缘至APo连线的垂直距离（mm），当上中切牙切缘在APo连线前方时为正值，反之为负值Steiner分析法（14项）：1.SNA角2.SNB角3.ANB角4.SND角（D点为下颌骨性联合中心）5.U1—NA角：上中切牙长轴与NA连线之交角6.U1—NA距：上中切牙切缘至NA连线的垂直距离7.L1—NB角：下中切牙长轴与NB连线之交角8.L1—NB距：下中切牙长轴至NB连线的垂直距离9.Po—NB：颏前点至NB连线的垂直距离10.U1—L1角：上下中切牙长轴之后交角11.OP—SN角：牙合平面与前颅底平面之交角12.GoGn—SN角13.SL：从颏前点向前颅底平面作垂线，其垂足至蝶鞍点的距离14.SE：从髁突最后点向前颅底平面作垂线，垂足至蝶鞍点的距离注：SL与SE两项测量相结合，可了解下颌位置的变化及下颌生长发育情况Wylie分析法（10项）：以下前四项以眼耳平面为基准平面1.Co—S：髁突后切线垂线至蝶鞍中心店垂线间之距离2.S—Ptm：蝶鞍中心垂线至翼上颌裂垂线的距离3.ANS—Ptm：翼上颌裂垂线至前鼻棘垂线的距离4.Ptm—6：翼上颌裂垂线至上颌第一恒磨牙颊沟垂线距离5.下颌长度：以下颌平面为基准平面，髁突后缘作切线垂直下颌平面，再从颏前点作切线垂直下颌平面，测量垂线间的距离以下五项从鼻根点、前鼻棘点及颏下点作线与眼耳平面平行，而测量各平行线间的垂直距离6.全面高：N—Me：鼻根点与颏下点的垂直距离7.面上部高：N—ANS：8.面下部高：ANS—Me：9.N—ANS/N—Me×100％：10.ANS—Me/N—Me×100％：。
