透射电镜的使用
- 格式:doc
- 大小:29.00 KB
- 文档页数:7
透射电镜在材料分析上的应用1概述透射电子显微镜(缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。
散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来。
由于电子的德布罗意波长非常短,透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多,可以达到0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍。
因此,使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构,比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍。
在放大倍数较低的时候,TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。
而当放大率倍数较高的时候,复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同,因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。
通过使用TEM不同的模式,可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。
2应用特点通过TEM中的荧光屏,我们可以直接几乎瞬时观察到样品的图像或衍射花样。
我们可以一边观察,一边改变样品的位置及方向,从而找到我们感兴趣的区域和方向。
在得到所需图像后,可以利用相机照相的方法把图像记录下来。
现在新一代TEM也有的装备了数字记录系统,可以将图像直接记录到计算机中去,这样可以大大提高工作效率。
3.应用3 TEM的主要功能对于材料科学的研究而言,TEM已经成为了一种不可或缺的研究工具,以至于在今天,已经很难想象没有TEM的帮助,我们如何深入开展材料科学的研究工作。
下面我简单地列举TEM在材料科学研究中的6个常见用途。
(a)利用质厚衬度(又称吸收衬度)像,对样品进行一般形貌观察;(b)利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射物等技术对样品进行物相分析,从而确定材料的物相、晶系,甚至空间群;(c)利用高分辨电子显微术可以直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影这一特点,确定晶体结构,大于100nm物体用低压、低分辨电镜即可观察。
透射电镜在量子点研究中的应用透射电镜在量子点研究中的应用透射电镜(transmission electron microscopy,TEM)是一种可以观察物质的微观结构和特性的强大工具。
在材料科学领域中,TEM被广泛应用于研究量子点(quantum dots)的结构、组成和性质。
下面将逐步介绍透射电镜在量子点研究中的应用。
第一步,制备量子点样品。
在进行TEM观察之前,需要制备高质量的量子点样品。
一种常见的制备方法是溶液法,通过控制反应条件和添加适当的配体,可以合成出具有单一尺寸和形状的量子点。
制备的量子点样品可以通过离心、过滤或其他方法得到固体或液体形式。
第二步,样品制备和加载。
为了在TEM中观察量子点,需要将样品制备成透明、薄片状。
常用的方法是将量子点溶液滴在碳膜或其他透明的支撑物上,然后将溶液挥发干燥,使量子点均匀分布在支撑物上。
接下来,将制备好的样品放置在TEM样品夹中,并加载到透射电镜内。
第三步,调整TEM参数。
在观察量子点之前,需要调整透射电镜的参数,以获得良好的图像质量。
首先,需要选择合适的加速电压和透射电镜放大倍数,使得量子点的细节能够清晰可见。
其次,调整透射电镜的聚焦、对齐和对比度等参数,以优化图像对比度和分辨率。
第四步,观察和分析。
完成参数调整后,可以开始观察量子点的结构和特性。
透射电镜可以提供高分辨率的图像,可以看到量子点的形状、大小和分布情况。
此外,透射电镜还可以使用电子衍射技术来确定量子点的晶体结构,通过衍射斑图可以得到晶格参数和晶体对称性等信息。
第五步,性能研究和表征。
透射电镜不仅可以观察量子点的形貌和晶体结构,还可以进行性能研究和表征。
通过透射电镜可以测量量子点的光学性质,如发光强度、荧光寿命和能带结构等。
同时,透射电镜还可以通过电子能谱分析(energy-dispersive X-ray spectroscopy,EDS)等技术,确定量子点的元素组成和原子比例。
总之,透射电镜在量子点研究中发挥着重要作用。
透射电镜的使用方法《透射电镜的使用方法》嘿,透射电镜这玩意儿听起来高大上,用起来呢,就像一场奇妙的探索之旅,我来给你说说。
我有一次在实验室里用透射电镜观察材料样本,那过程真是又紧张又有趣。
首先呢,得准备好样本。
这就像准备一场演出的主角一样,不能马虎。
样本得特别薄,薄到啥程度呢?就像纸片儿似的,要是太厚了,电子就穿不过去啦,啥都看不见。
我们是用专门的制样设备把样本削啊削,磨啊磨,折腾了好久才弄好。
我当时就想,这样本可真是个娇贵的家伙。
然后就是把样本放到透射电镜里面啦。
这一步得小心翼翼的,就像把宝贝放进保险箱一样。
放好后,要调整电镜的参数。
这里面有好多旋钮和按钮,就像飞机的驾驶舱似的。
亮度得调好,太亮了就像太阳直射眼睛,啥细节都看不到,全是白茫茫一片;太暗呢,又像晚上走在没灯的小路上,黑乎乎的。
还有聚焦,这可关键啦。
我盯着屏幕,一点点转动聚焦旋钮,就像狙击手在调整瞄准镜一样,得让画面清晰起来。
有一回,我在观察一种新型合金的微观结构。
刚开始,画面模糊得很,我都急出汗了。
我慢慢调整参数,突然,画面上出现了合金那漂亮的晶格结构,就像看到了一个神秘的微观世界。
那些晶格条纹就像精心编织的蜘蛛网,整整齐齐的。
我兴奋得不行,赶紧记录下这个画面。
在使用透射电镜的时候,还得注意电压这些参数。
不同的样本可能需要不同的电压,就像不同的车需要加不同标号的油一样。
而且,用完之后,要好好清理和维护,就像照顾自己的宠物一样,这样它才能一直好好工作,下次还能为我们展现那些奇妙的微观世界呢。
总之,透射电镜用起来虽然有点复杂,但只要细心,就能发现其中的乐趣和价值。
透射电镜的原理和应用透射电镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)是一种使用电子束来对物质进行成像和分析的先进仪器。
相对于光学显微镜,透射电镜的分辨率更高,可以观察到更小尺寸的物体和更细微的细节。
下文将详细介绍透射电镜的原理和应用。
一、原理透射电镜的工作原理基于电子的波粒二象性。
当高速电子束穿过薄样品时,电子与样品原子发生散射或透射,这些散射和透射电子可以通过其中一种方式被聚焦后投射到屏幕上形成影像。
透射电镜的主要组成部分包括电子源、电子透镜系统、样品台、检测器和成像系统。
2.电子透镜系统:透射电镜中使用的电子透镜系统包括凸透镜、凹透镜和电磁透镜等,用于聚焦和控制电子束的路径。
3.样品台:样品台用于固定和支持待观察的样品。
在样品台上放置薄到几十纳米的切片样品,以便电子束能够透过。
4.检测器:透射电镜中常用的检测器包括透射电子探测器(TED)、散射电子探测器(SED)和能量散射光谱仪(EDS)等。
TED用于接收透射电子并产生明亮的影像,SED用于检测和分析散射电子的信息,EDS用于分析样品中的元素组成。
5.成像系统:透射电镜的成像系统包括投影屏幕、摄像机和电子显微图像处理设备。
通过调整电子透镜系统,可以将电子束上的信息转换成实时图像并显示在投影屏幕上。
二、应用透射电镜在材料科学、生物科学、纳米科学等领域有广泛的应用。
以下是透射电镜的几个主要应用。
1.结构表征:透射电镜可以用于观察材料的结构和形貌。
它能够提供高分辨率的图像,揭示物质的晶体结构、晶体缺陷、晶界和相界等微观结构信息。
2.成分分析:透射电镜结合能量散射光谱仪(EDS)可以分析样品中元素的组成。
EDS通过测量样品上散射电子的能量,确定样品中元素的成分和含量。
3.纳米材料研究:透射电镜可以研究和制备纳米尺寸的材料。
通过观察和测量纳米材料的形貌、尺寸和结构,可以了解纳米材料的特性和性能,并指导纳米材料的设计和合成。
透射电镜的成像原理及应用1. 引言透射电镜是一种使用电子束来成像的仪器。
它的原理是利用电子束通过样品的透射来形成图像,并通过对电子束的探测和处理来获得样品的详细信息。
透射电镜在材料科学、生物学和物理学等领域中有广泛的应用。
2. 成像原理透射电镜的成像原理基于电子的波粒二象性,即电子既具备粒子特性又具备波动特性。
在透射电镜中,电子从电子枪中发射出来,经过加速和聚焦,形成一束射线。
这束射线通过样品后,与样品中原子和电子相互作用,发生散射和透射现象。
电子的散射会导致图像的模糊和失真,因此透射电镜通常使用薄样品来减小散射效应。
在样品的背面或透射电镜的显微镜中,放置有一个焦平面衍射器。
这个衍射器可以将透射电子的波动性转化为干涉和衍射现象,从而产生有关样品的结构信息。
这些信息通过探测器进行收集,然后通过图像处理算法生成成像结果。
3. 应用领域透射电镜在材料科学、生物学和物理学等领域有广泛的应用。
以下列举了一些常见的应用领域:3.1 材料科学透射电镜在材料科学中的应用主要用于研究材料的微观结构和性能。
通过透射电镜,可以观察和分析材料中的晶体结构、晶界、缺陷和纳米结构等。
这些信息对于材料的设计、开发和性能优化非常重要。
3.2 生物学透射电镜在生物学中的应用主要用于研究生物样品的内部结构和功能。
通过透射电镜,可以观察和分析细胞器、蛋白质和核酸等生物分子的结构。
透射电镜还可以用于研究病原体、病毒和细菌等微生物的形态和生命周期。
3.3 物理学透射电镜在物理学领域中的应用涵盖了多个子领域。
在凝聚态物理学中,透射电镜可用于研究材料的电子结构、能带和费米面等特性。
在量子力学领域,透射电镜可用于研究电子的量子行为,如量子隧穿、波函数干涉和波粒二象性等。
3.4 其他领域透射电镜还在化学、地球科学和纳米技术等领域中有应用。
在化学中,透射电镜可用于研究化学反应的过程和产物。
在地球科学中,透射电镜可用于分析地质样品的矿物组成和结构。
透射电镜使用流程The transmission electron microscope (TEM) is a powerful tool usedin the field of materials science and nanotechnology. 透射电镜(TEM)是在材料科学和纳米技术领域中使用的一种强大工具。
It allows researchers to see the internal structure of materials at a very high resolution, down to the atomic level. 它允许研究人员以非常高的分辨率,甚至到原子水平,看到材料的内部结构。
The process of using a TEM involves several steps, each of which is essential for obtaining accurate and meaningful results. 透射电镜的使用过程涉及几个步骤,每个步骤对于获得准确和有意义的结果都是至关重要的。
Firstly, the sample preparation is crucial in the TEM imaging process. 首先,样品制备在透射电镜成像过程中至关重要。
The sample must be thinly sliced to allow electrons to pass through it, and it must be free from any contaminants or artifacts that could affect the imaging process. 样品必须切成薄片,以便电子可以穿过它,并且必须没有任何可能影响成像过程的污染物或人为伪迹。
This often involves using specialized tools such as microtomes to achieve the desired thickness, as well as careful handling to prevent any damage to thesample. 这通常涉及使用专门的工具,如显微切片机,以达到所需的厚度,以及谨慎处理,以防止对样品造成任何损害。
透射电镜使用说明1、由管理员开启透射电镜,调好仪器状态,安装样品。
2、在荧光屏状态下观察样品,通过轨迹球选择观察区域,通过Brightness调节画面亮度(*逆时针旋转调亮,顺时针旋转调暗)。
3、选择好观察区域后,调弱光强,确保CCD界面上的光强度(screendensity(A/cm2))在10-12数量级,然后切换到CCD模式进一步调整。
*一定记得调弱光(顺时针)后才能切换至CCD界面,否则会打坏CCD。
4、通过Mag旋钮进一步增大放大倍数,选定好拍照区域后通过Brightness调整光强,使CCD界面中的波峰在中部比较好。
*若要增大放大倍数,直接顺时针旋Mag;若要减小放大倍数,要先顺时针旋Brightness减弱光强,然后逆时针旋Mag,否则会打坏CCD。
5、点击面板上的Focus键自动聚焦,然后使用Focus旋钮将图像调整清晰。
如果肉眼不好判断是否聚好焦,可点面板上的WOB键,用Focus调至画面不晃动即可,关WOB,准备拍照。
6、在CCD 界面点击Freeze进行拍照之后点击Save进行存储图像。
*一定要点Save,否则图像不会自动保存。
7、切换至荧光屏状态,继续寻找观察区域,然后重复步骤2-6。
*若在小范围内继续观察,可以在步骤6后调弱光强(Brightness顺时针)后,直接点击Run打开CCD继续观察拍照。
8、一个样品观察完毕后,在Stage Operation中选择下一个样品,然后重复步骤2-6。
备注:请勿自行更改任何仪器设置和参数,如需换样或有任何疑问,请联系管理员:肖媛,135********。
谢谢!2013年10月15日。
120kv冷冻透射电镜的使用操作指南第一章:概论1.1介绍1.2设备结构-主机:包括电子束部分、显微镜部分和样品台部分。
-控制台:用于设定和调整电镜的参数,如电子束强度、聚焦等。
-电脑:用于图像采集和处理。
第二章:准备工作2.1安装和校准在使用120kv(T12)冷冻透射电镜之前,需要对设备进行安装和校准。
校准包括对电子束轴和样品台的定位校准,以确保获得准确的成像结果。
2.2准备样品-样品制备:对于生物样品,需要进行特定的处理和制备工作。
这包括固定样品、包埋样品、切片样品等。
-样品处理:根据具体实验要求,可以进行进一步的样品处理,如染色、抗体标记等。
-样品装载:将样品放入样品台,并确保样品在电镜中的位置准确。
第三章:操作流程3.1打开电脑和控制台-首先,打开电脑,并启动电镜控制软件。
-进入控制台界面,检查电子束和样品台的状态。
3.2设定电子束参数-在控制台上,调整电子束的强度和聚焦。
-根据样品的要求,选择适当的加速电压。
3.3对焦调整-使用控制台上的焦距调整按钮,将样品的感兴趣区域清晰投影到屏幕上。
3.4图像采集-在屏幕上选择感兴趣的区域,并调整曝光时间和增益等参数。
-点击图像采集按钮,开始采集图像。
第四章:注意事项4.1温度控制通常情况下,120kv(T12)冷冻透射电镜可提供样品冷冻功能。
在使用中国时,需要确保样品冻结的温度恒定,并避免样品受热。
4.2安全操作在操作电镜时,应注意遵循安全操作规范。
这包括佩戴防护眼镜、避免直接观察电子束、避免触摸高压区域等。
4.3清洁和维护定期对电镜进行清洁和维护,以保持设备的工作良好状态。
这包括清洁镜片、调整样品台、清理滤网等。
第五章:故障排除5.1故障诊断当电镜出现故障时,应先通过观察和记录现象,尝试诊断故障的原因。
可能的故障原因包括电源问题、样品装载不当等。
5.2故障修复根据故障诊断的结果,采取相应的措施进行故障修复。
可能的解决方法包括重新插拔电源线、重新安装样品等。
透射电镜的使用方法及应用
透射电镜是一种能够将电子束穿透到物质内部的高分辨率成像技术,可用于研究纳米级结构和材料的微观结构。
使用方法:
1. 样品制备:首先需要准备物质样品,制备要求与透射电子显微镜(TEM)相似,即需要制备一定的薄片或纤维,通常使用离子蚀刻等技术来制备样品。
2. 接入样品:将样品放置于透射电镜样品架上,并通过真空系统移除样品表面的气体,使样品与电子束之间的相互作用减少。
3. 选择显微镜参数:设置合适的照射电压和电流,以及透射电镜的透镜系统,以确保电子束在穿过样品时能够正确地被聚焦。
4. 数据采集:观察样品,通过检测经过样品的电子束所受到的散射,从而获得有关样品的微观结构信息。
可以使用高分辨率成像,衍射和能谱分析等技术,以获得不同的信息。
应用:
1. 纳米材料研究:透射电镜可以用于研究各种纳米材料的形状,大小和结构,
例如奈米管和纳米颗粒等。
2. 生物医学研究:透射电镜可以用于研究组织细胞等生物样品的微观结构,可以用于细胞的超高分辨率成像,包括细胞核、细胞质和细胞器等。
3. 材料科学研究:透射电镜可以用于研究材料的晶体结构、缺陷和表面形貌等重要信息,这对材料科学的研究和设计非常有用。
4. 能源材料研究:透射电镜可以用于研究各种电池、太阳能电池、燃料电池和催化剂等能源材料的结构和性能,对于能源材料的开发和利用具有重要意义。
总之,透射电镜是一个非常强大的工具,对于研究材料学,生物医学和能源材料等领域具有广泛的应用价值。
透射电镜的使用
一、实验目的
(1) 了解透射电镜的基本结构和工作原理;
(2) 学习透射电镜的样品制备方法;
(3) 学习透射电镜的操作;
(4) 掌握透射电镜图像的分析
二、透射电镜的基本结构和工作原理
透射电镜主要作用是研究微米级到纳米级尺度上物质的微观形貌、晶体结构、成分分析,探索围观上比均匀性与物质性能的关系。
I )固体表面形貌观察;
II )颗粒大小、形状、粒度分析;
III)固体显微结构分析(形态、成分、物相);
IV )原子排列、晶体缺陷分析。
2.1 概述
在光学显微镜的完善和发展过程中,人们发现:不管如何完善光学显微镜的透镜和结构,其放大倍数和分辨率总是被限定在1000多倍和几百纳米的水平,不可能再有所新的突破。
后来,人们终于发现:是显微镜所使用的光源限制了光学显微镜的放大倍数和分辨率的进一步发展。
因为,可见光的波长在390纳米到760纳米之间,而显微镜的分辨率最多也只能是其所使用光源的半波长的大小,所以光学显微镜的理论极限分辨本领也就在200纳米左右。
2.2 透射电镜的发展史
1931年,第一台透射电镜在德国柏林诞生;
1934年,电镜的分辨率可达50nm;
1939年,西门子公司投放第一台商品电镜,分辨率优于10nm;
60s、70s,提高分辨率,东京大学拍出第一张高分辨的原子像照片;
80s,提高高压水平,100kv→200kv;
90s,计算机技术,提高自动化程度,CCD成像,远程同步观察等。
目前世界主流的大型电镜,分辨本领为2~3 埃,电压为100~500kV,放大倍数50~1200,000倍。
由于材料研究强调综合分析,电镜逐渐增加了一些其它专门仪器附件,使其成为微观形貌观察、晶体结构分析和成分分析的综合性仪器,即分析电镜。
高分辨透射电子显微镜提高透射电子显微镜分辨率的关键在于物镜制造和上下极靴之间的间隙,舍弃各种分析附件可以使透射电子显微镜的分辨率进一步提高。
但是近年来随着电子显微镜制造技术的提高,高分辨透射电子显微镜也在增加各种分析附件,完善其分析功能。
目前生产透射电镜的公司有:
日本电子JEOL: JEM 2010(F),2100F; JEM 3010,3000F
日本日立HITACHI:H-9000(F)
美国 FEI:Tecnai F 30 ,Tecnai F 20
2.3 透射电镜的工作原理
透射电镜是以波长极短的电子束作为照明光源,用电磁透镜聚焦成像,使用对电子透明的薄膜样品,以透射电子为成像信号的一种高分辨本领、高放大倍数的电子光学仪器。
透射电镜的工作原理:在高真空条件下,发射的电子在阳极加速电压的作用下,高速地穿过阳极孔,经过1~2级聚光镜汇聚成很细的电子束后均匀照射到样品上待观察的微区,因为电子束穿透能力有限,所以要求样品做得很薄,观察区域的厚度在200nm左右。
由于样品很薄大部分电子可以穿透样品,其强度分布与所观察样品区域的形貌、组织和结构相对应。
透射出的电子再经物镜、中间镜和投影镜放大后投射在观察图像的荧光屏上,荧光屏将电子的强度分布转变为人眼可见的光强分布,最终在荧光屏上显示出与样品形貌、组织和结构相对应的图像。
2.4 透射电镜的基本结构
主要功能:JEM-2010属于高分辨型透射电镜,可以进行高分辨图像观察,位错组态分析;第二相、析出相结构、形态、分布分析;晶体位向关系测定等。
CCD相机可以实现透射电子图像的数字化。
能谱仪及能量损失谱仪可以获得材料微区的成分信息。
透射电镜的结构
1)光学成像系统:
照明系统:电子枪、聚光镜;
成像放大系统:物镜、中间镜、投影镜;
图像观察:荧光屏、照相盒;
样品台
2)真空系统:机械泵,扩散泵,离子泵
3)电气系统:机械泵、油扩散泵、离子泵、真空测量仪表及真空管道
4)附件系统:
能谱仪( EDS ) Energy Dispersive X-ray spectrocopy
CCD (Charge coupled device)
能损仪(PEELS/GIF)
高角环形暗场像(HAADF)High-Angle Annular Dark-Field
dry pump station
制样设备
计算机技术和微电子技术的应用使透射电子显微镜的控制变得简单,自动化程度大大提高,整机性能提高。
在透射电子显微镜的观察与记录系统中增加摄像系统,使分析观察更加方便,而且能连续记录。
近几年慢扫描CCD相机越来越多地取代传统的观察与记录系统,将透射电子信号(图象)传送到计算机显示器上,不仅方便观察记录,而且与网络结合使远程观察记录成为可能
TEM的最主要特点是
它既可以进行形貌分析又可以做电子衍射分析,在同一台仪器上把这两种方法结合起来可使组织结构分析的实验过程大为简化。
若减小中间镜的电流,在维持像距不变的条件下使焦距和物距变长,这样就可把中间镜的物平面移至物镜的背焦面上,此时,在荧光屏上即显示出一幅反映试样晶体结构的衍射花样。
2.5 电子衍射的基本原理
电子衍射的原理和X射线相似,是以满足(或基本满足)布拉格方程作为产生衍射的必要条件。
但是,由于电子波有其本身的特性,电子衍射和X射线衍射比较时,具有下列不同的地方:
首先是电子波的波长比X射线短得多,在同样满足布拉格条件时,它的衍射角θ很小,约为10-2rad。
而X 射线产生衍射时,其衍射角最大可接近π/2。
其次,在进行电子衍射操作时采用薄晶样品,薄样品的倒易点会沿着样品厚度方向延伸成杆状,因此,增加了倒易点和厄瓦尔德球相交截的机会,结果使略为偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
第三,因为电子波的波长短,采用厄瓦尔德图解时,反射球的半径很大,在衍射角θ较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面,从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。
这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向,给分析带来不少方便。
最后,原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力(约高出四个数量级),故电子衍射束的强度较大,摄取衍射花样时仅需数秒钟。
上图为18Cr2Ni4WA钢经900℃油淬后在透射电镜下摄取的选区电子衍射花样。
该钢淬火后的显微组织是板条马氏体和在板条间分布的薄膜状残余奥氏体,得到的衍射花样中有两套斑点,一套是马氏体斑点,另一套是奥氏体斑点。
1.马氏体斑点标定(验证):图3a是一套衍射斑点
⑴测定R1、R2、R3,其长度分别为10.2mm,10.2mm和14.4mm。
量得R1与R2之间的夹角为90O, R1与R3之间的夹角为45O。
⑵用查表法,以R2/R1及R1和R2之间的夹角θ查表,即可得出晶带轴为[001]。
相对于R1的晶面是(h1k1l1),其指数为(110),与R2相对应的晶面(h2k2l2),其指数为(-110)。
⑶已知有效相机常数λL=2.05mm·nm,可求得:
d110 = d-110 = 2.05/10.2 = 0.201nm
这和铁素体相应的面间距0.202nm相近。
另一面间距
d3 = λL/R3 = 2.05/14.4 =0.142nm
此数值和铁素体d200 = 0.143nm相近,由110和-110两个斑点的指数标出R3对应的指数应是020,而铁素体中(110)面和(020)面的夹角正好是45O。
实测值和理论值之间相互吻合,从而验证了此套斑点来自基体马。