晶粒度标准评级系列图

金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×00级0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×0.5级 1.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×1.5级 2.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×2.5级 3.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×3.5级 4.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×
4.5级
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金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×5.5级 6.0级
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6.5级
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金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×7.5级8.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×
8.5级9.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×9.5级10.0级。

晶粒度检验晶粒度是晶粒尺寸大小的量度，是金属材料的重要显微组织参量。

•晶粒度检验：借助金相显微镜测定钢中实际晶粒度和奥氏体晶粒度。

•晶粒度检验包括组织显示和晶粒度测定两部分。

•奥氏体晶粒度显示是晶粒度检验工作中的难点。

F钢与A钢的奥氏体晶粒度形成及显示对于铁素体钢奥氏体晶粒的显示方法:国家标准GB/T6394-2002《金属平均晶粒度测定法》规定可使用渗碳法、氧化法、铁素体网法、渗碳体网法、直接淬硬法、网状珠光体法、相关法、模拟渗碳法等。

1 渗碳法适用范围：C≤0.25%的碳素钢及合金钢具体步骤：•将试样在930±10 o C渗碳、并保温6h，渗碳层≥1mm，并使其表层有过共析成分。

•缓冷后在渗碳层的奥氏体晶界上析出渗碳体网。

•试样冷却后经磨制和腐蚀，显示出过共析区奥氏体晶粒形貌。

晶粒度的显示：由沉积在晶粒边界上的渗碳体显示浸蚀剂：1）3%-4%硝酸酒精溶液2）5%苦味酸溶液3）沸腾的碱性苦味酸钠水溶液2 氧化法适用范围：w(C)＝0.25%-0.60%的碳钢和合金钢一般采用气氛氧化法，步骤如下：•经抛磨（用400粒度或15цm）的试样抛光面朝上置于空气炉中加热（w(C) ≤0.35%时，加热温度900℃±10℃ ；w(C)＞0.35% 时，加热温度为860℃±10℃），保温1h，然后水冷。

•根据氧化情况可将试样倾斜10o ~ 15o进行研磨和抛光，直接在显微镜上测定晶粒度。

也可在真空中加热并保温，空气中冷却或缓冷，使晶界氧化，同样进行上述处理后测定奥氏体晶粒大小的方法为真空法。

晶粒度显示:用15%盐酸酒精溶液3 铁素体网法适用范围：含碳量为0.25%-0.60%的碳素钢和合金钢。

具体步骤：•对于（w(C)≤0.35%时，加热温度900℃±10℃ , w(C)＞0.35%时，加热温度为860℃±10℃）至少保温30min，然后空冷或水冷。

•经磨制和侵蚀，显示出沿原奥氏体晶界分布的铁素体网。

晶粒度等级尺寸对照表 12级随着科技的不断发展，人们对材料的要求也越来越高。

而晶粒度是材料科学中一个非常重要的概念。

晶粒度是指材料中晶粒的大小。

在材料科学中，晶粒度对于材料的性能和性质有着非常重要的影响。

因此，科学家们提出了晶粒度等级尺寸对照表，以便人们更好地了解晶粒度的概念和分类。

晶粒度等级尺寸对照表是根据晶粒的大小将材料分为不同等级的表格。

晶粒度等级尺寸对照表12级是其中比较常见的一种。

它将材料分为12个等级，分别是：0级、1级、2级、3级、4级、5级、6级、7级、8级、9级、10级和11级。

每个等级都有其对应的晶粒尺寸范围。

0级：晶粒尺寸大于5mm1级：晶粒尺寸在2-5mm之间2级：晶粒尺寸在1-2mm之间3级：晶粒尺寸在0.5-1mm之间4级：晶粒尺寸在0.25-0.5mm之间5级：晶粒尺寸在0.125-0.25mm之间6级：晶粒尺寸在0.063-0.125mm之间7级：晶粒尺寸在0.032-0.063mm之间8级：晶粒尺寸在0.016-0.032mm之间9级：晶粒尺寸在0.008-0.016mm之间10级：晶粒尺寸在0.004-0.008mm之间11级：晶粒尺寸小于0.004mm晶粒度等级尺寸对照表12级的应用非常广泛，尤其是在材料科学和工程领域。

通过晶粒度等级尺寸对照表，人们可以更好地了解晶粒的大小和形态，从而更好地掌握材料的性能和性质。

例如，晶粒度越小，材料的强度和硬度就越高，而韧性和塑性就越低。

因此，在材料的制备和应用中，晶粒度的控制非常重要。

此外，在材料的研究和开发中，晶粒度等级尺寸对照表还可以用来评估材料的质量和可靠性。

例如，在金属材料的制备过程中，如果晶粒度过大或不均匀，就会导致材料的强度和韧性降低，从而影响材料的使用寿命和安全性。

因此，通过晶粒度等级尺寸对照表，人们可以更好地评估材料的质量和可靠性。

总之，晶粒度等级尺寸对照表12级是一个非常重要的工具，它可以帮助人们更好地了解晶粒的概念和分类，从而更好地掌握材料的性能和性质。

1概念和意义
金相指金属或合金的化学成分以及各种成分在合金内部的物理状态和化学状态；
金相试验（检验）的意义：合金的成分、加工工艺直接影响金属材料的内部组织、结构的变化，从而使机件的机械性能发生变化。

2我司常用的金相检验及其它的检验标准
1．原材料检验合格标准如下：
1）显微组织标准评级图进行比较,评级图谱来自GB/T13299-91，合格判定标准：小于等于3级为合格。

常见显微组织如下：
2）晶粒度标准评级图进行比较,评级图谱来自GB 6394-2002，合格判定标准：大于等于5级为合格。

评级图谱如下：
2．焊接金相检验
焊接工艺评定的金相检验合格标准如下：
1）形状缺陷：咬边（焊接接头不良）、焊瘤、熔穿。

2）孔穴（气孔和缩孔）；裂纹。

3）没有淬硬的马氏体组织及高合金钢网状析出物和网状组织
参考图片如下：
淬硬的马氏体组织网状析出物和网状组织编制审核批准/日期。

45H-200X-11 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点Ｌ: 测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距一栏）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) –3.28845H-200X-21 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ: 测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H-200X1 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H-200X-41 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H-200X-51 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H-200X-61 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H -200X-71 截点法公式：Ｌ= Ｌ /M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288。

INA 100Cr6 断口晶粒度标准系列 QN5.82-1 描述词：100Cr6，断口晶粒度，马氏体，显微评定，显微组织，残余奥氏体
宏观评定 10：1 放大倍率 显微评定 1000：1 放大倍率
晶粒度 9 文件编号 2104/9 断口评定：细晶粒
文件编号 5043/5 显微组织—非结构马氏体 回火后标准
晶粒度 8 文件编号 2104/8 断口评定：晶粒
文件编号 5259/1 显微组织—含有可见残余奥氏体的针状马 氏体 （细针状） 残余奥氏体总含量约 15%。

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宏观评定 10：1 放大倍率
显微评定 1000：1 放大倍率
晶粒度 7 文件编号 2104/7 断口评定：晶粒
文件编号 5259/2 显微组织—针状马氏体，轻微的过热组 织。

残余奥氏体总含量约 20%。

晶粒度 6 文件编号 2104/6 断口晶粒评定（粗）
文件编号 5259/3 显微组织—粗晶针状马氏体（片状马氏 体） 。

残余奥氏体总含量约 25%。

晶粒度 5 文件编号 2104/5 断口晶粒评定（粗）
文件编号 5259/4 显微组织—粗晶针状马氏体（板条状马氏 体） 。

残余奥氏体总含量约 40%（几乎没有 任何明显可见的碳化物） 。

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关于氧化法检验钢的奥氏体晶粒度的初步试验中天特钢质管处根据中天特钢公司产品开发计划，即将开发船用锚链钢和齿轮钢系列，这些合金钢钢材出厂后，用户一般均需进行锻造及热处理，因此对钢材的原始奥氏体晶粒度要求较严，钢材出厂时需提供奥氏体晶粒度的检测数据。

为此质管处进行了检验钢中奥氏体晶粒度的检验。

一、检验方法介绍钢的奥氏体晶粒度的检验方法很多，国家标准GB/T6394-2002《金属平均晶粒度测定方法》中规定可使用渗碳法、氧化法、网状铁素体法、直接淬硬法、网状渗碳体法等。

根据钢种及质管处目前设备条件，我们选择了氧化法。

氧化法是检验钢中奥氏体晶粒度最常用的方法之一。

自1938年美国冶金学家托宾(Tobin)和肯洋(KenYon)首先使用氧化法检验钢的奥氏体晶粒度以来，已有六十多年的历史。

直到现在不少国家的工业标准中仍然把氧化法列为钢的奥氏体晶粒度的试验方法，氧化法适用于大部分钢种。

一般采用气氛氧化法。

试样在高温加热时，表层奥氏体晶界优先氧化，在晶界处形成氧化物网络，氧化法就是利用奥氏体晶界的氧化物网络来评定钢的奥氏体晶粒度的。

二、试验材料和方法试验材料选用55钢、ML40Cr钢、20MnTiB钢等碳钢和合金钢，其原始组织均为退火状态。

试样的热处理工艺是按照GB/T6394-2002标准，检验面经磨制抛光后，将抛光面朝上置于空气加热炉中加热，55钢、ML40Cr钢(碳含量＞0.35％)加热温度为860±10℃，20MnTiB钢(碳含量≤0.35％)加热温度为900±10℃，保温1h；之后试样淬水冷却。

采用氧化法时，根据氧化情况，可将试样适当倾斜10°～15°进行研磨和抛光，使试样检验面部分区域保留氧化层，用15%盐酸酒精溶液浸蚀，以显示试样表层的奥氏体晶界。

采用比较法对所有试样的奥氏体晶粒大小进行了评级。

三、试验结果氧化法所得结果列于表1中。

奥氏体晶粒度级别是在显微镜下选取具有代表性的典型视场用比较法进行评定的，见图1～图6所示。